G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Способ спектрального анализа
Номер патента: 1599724
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/67
Метки: анализа, спектрального
...- прпкатодное усилениеспектральных линий.Устройство работает следующим образом.Предв ят в движеникалибр,)т струей газа, например воздуха, ис) следуемый материал 16, например геологическую порошковую пробу крупностью менее 20 мкм, сверху между рабочими концами электродов 4 и 5, расстояние между которыми больше диаметра струи подаваемого газа. Через боковые отверстия в трубе 2 производятотсос газа из корпуса 1 камеры сгораНия. Далее подают напряжение на трансФорматоры 7=8 и генераторы 13 и 14высокочастотных импульсов. В межэлектродных промежутках 3,5 и 4,6 возниКают высокочастотные разряды, ионизирующие межэлектродное пространство,что приводит к возникновению дуговыхразрядов между электродами 3,5 и4,6,Плазмы этих разрядов пространстЬенно...
Способ определения альдегидов
Номер патента: 1599725
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: G01N 21/78
Метки: альдегидов
...поливинилового спирта.Образец полимерацеталя ПВС отмывают от глутарового альдегида многократным переосаждением из раствораэтанола и промыванием дистиллированной водой, Оставшийся сорбированный. ГА определяют как описано впримере 1, но для определения берут навеску 2,5 г и добавляют к ней100 мл этанола и 2 мл раствора ДНФГ,Количество оставшегося сорбированного ГА соответствует 0,0006%,П р и м е р 4 Определение сорбированного глутарового альдегидапосле дополнительного его введенияв отмытую пробу поливиниловаго спирта.В навеску отмытого образца полимерацеталя ПВС, полученного в примере 9 дополнительно вводят 0,125 мгГА в виде водного раствора, что соответствует его содержанию 0,025%,Определение проводят так же как впримере 1. Содержание ГА...
Способ количественного определения анионных поверхностно активных веществ
Номер патента: 1599726
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Болелый, Доленко, Куличенко, Пилипенко, Рыбчук
МПК: G01N 21/78
Метки: активных, анионных, веществ, количественного, поверхностно
...предлагаемый интервал. Определениевыполняется по примеру 1 с использованием буферных растворов с соответствующим значением рН. В качестве АПАВиспользован додецилсульфат натрия,Данные, представленные в табл, 2,показывают, что определение АПАВ попредлагаемому способу в интервалерН 3,0-7,0 позволяет повысить чувствительность способа, Так, относительная погрешность определения додецилсульфата натрия в предлагаемоминтервале рН составляет 1,1-8,3%,Реализация способа при значениях рН,выходящих за предлагаемый интервал,не приводит к повышению чувствительности способа, Так, при рН 8,0 наблюдается быстрое исчезновение окраскирастворов вследствие перехода окрашенной формы малахитового зеленого всоответствующее бесцветное основание,Это...
Способ количественного определения поливинилпирролидона
Номер патента: 1599727
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: G01N 21/78
Метки: количественного, поливинилпирролидона
...плотности полученного раствора, 35по которой судят о концентрации определяемого соединения, о т л и -ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюповьппения чувствительности, точности 40и с елек тив ности оп ределения, к анализируемой пробе добавляют буферныйраствор с рН 6, а в качестве цветореагента - насыщенный водой бутанольный раствор конго красного, имеющий 45оптичеСкую плотность 1,5, в объемномсоотношении 1:4.5, смесь встряхивают, отделяют водную фазу и измеряют ее оптическую плотность при длиневолны 490 нм. ность фотометрируемого раствора ста- бильна 24 ч.П р и м е р. Точную навеску ПВП, равную 016000 г, растворили в воде в мерной колбе вместимостью 100 мл доводили объем водой до метки, 10 мл полученного раствора переносили в мерную колбу...
Устройство для контроля дефектов плоских текстильных материалов
Номер патента: 1599728
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Бузин, Иванов, Шведов, Якимушкин
МПК: G01N 21/892
Метки: дефектов, плоских, текстильных
...перемещения сканирующего элемента 5 осуществляется медленное сканирование, а за счет вращения диска 3 быстрое сканирование, Контроль дефектов полотна 16 осуществляется возвратно-поступательным перемещением сканирующего элемента 5 в направле-. нии, перепендикулярном направлению перемещения полотна 16, и прерывисто-поступательным перемещением узкого пучка света (за счет вращения диска 3) в том же направлении (после отражения от зеркала 6).1Узкий пучок света, отразившись от полотна 16, попадает на зеркало 7 и далее через собирающую линзу 9 на Фотоприемник 1 О, При выработке бездефектного полотна изменение величины светового потока узкого луча, падающего .на фотоприемник 1 О, определяется неровнотой этого полотна по плотности. При...
Состав для цветной дефектоскопии
Номер патента: 1599729
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Бугаев, Бугаева, Якименко
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектоскопии, состав, цветной
...смол - диметилформамид (ДМФА), формулы (СН) МСНО при следующем соотношении компаундов, мас.Е:МЭА ДМФА Окраска раствора 141,1 41,6 142,1 97,00 95,00 102,71 1 00,59 3 2,07 5,00 3,44 10,00 6,88 Бесцветная 90,00 95,29 85,00 89)99 80,00 84,70 75,00 79,40 15,00 10,32 20,00 13,76 25,00 17,20 143,4, 145,8, 144,4 143,9 Этот состав не только растворяетгерметизирующий компаунд на основеэпоксидных смол трансформаторов,дросселей, линий задержек, оболочкукабелей и пр., но и в случае перегорания или пробоя медных проводников(или проводников из медьсодержащихСплавов) образует харакретное фиолеТово-синее окрашивание н месте перегорания витков,Состав готовится простым смешиваНием расчетных количеств моноэтанолемина (МЭА) и диметилформамида...
Рентгенотелевизионный дефектоскоп
Номер патента: 1599730
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Головин, Лопаев, Назаренко, Румянцев
МПК: G01N 23/04
Метки: дефектоскоп, рентгенотелевизионный
...2 непревышает число Фотоэлементов в строке матрицы ПЗС Еи кратно двум,т,е. 2,( Е уровня ос тупаителей 7 и ляя соная в яов виде цифличин буферныеинфо рматания,тся цифщ кодов чере ы 15 и 17 по ные входы бл ровсхециона открыты упает н ка 18 вычи о Формируе 1 ходе которо На цифроефек 10 , наличи уемом фотоэлемент в виде Ч "- ЕБ 1Условие в анализир представим матрицы 2 В момент перехода к обзор + 1)-ой строки строчный гпульс высокого логического с выхода блока 5 управления ет на управляющие входы нако 12 и 14, буферных схем 15 и вход регистра 24 памяти, обн держимое последнего. Накопле накопителях 12 и 14 информац 2ровой код числа Пг -целью упрощения конструкции дефектоскопа необходимо выбирать вели чину Хкратной двум, т,е, Х = 2 д, Тогда...
Способ получения изображения исследуемого сечения томографируемого объекта при веерной геометрии проникающего излучения
Номер патента: 1599731
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Уткин
МПК: G01N 23/08
Метки: веерной, геометрии, излучения, изображения, исследуемого, объекта, проникающего, сечения, томографируемого
...долженбыть в г 1 раз меньше, чем интервалследования реперных импульсов. Этонеобходимо для того, чтобы вся производная проекции быпа оцифрована доначала измерений следующего цикла. После того, как данные измерень 1,осуществляется восстановление проек-,ции в ЭВМ 20 по следующему алгоритму;Р (и) = Р .(п) + Р (и)О 0 9где и = 1,211 - номер отсчетав проекции;1Р п) - пространственная проВизводная проекции дляугла 6;Р 8(п) - проекция для угла .Исследование начальных нулевых условий Р (О) = О возможно в силу то 8го, что значение проекции по концам равно 0 (нулевь 1 е краевые условия).После того, как все проекции восстановлены, они логарифмируются и обрабатываются одним из возможных алгоритмов вычислительной томографии (например, обратного...
Способ определения структурных искажений приповерхностных слоев совершенного монокристалла
Номер патента: 1599732
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Гоганов, Гуткевич, Имамов, Ломов, Новиков
МПК: G01N 23/20
Метки: искажений, монокристалла, приповерхностных, слоев, совершенного, структурных
...0,5-50 нм.Способ осуществляется следующимобразом.Для исследуемого кристалла выбирается семейство дифракционных плоскостей, составляющих с поверхностьюкристалла угол ) ( 9 ь, Поскольку интенсивность ПБП тем выше, чем меньшеугол отклонения от точного угла Брэгга, то следует выбирать (8 -(О) ".о Бг-. 1 - 3, а для повышения локальности необходимо, чтобы значение (6 ьр+ Ц)обыло близко к 90 . Для стандартныхполупроводниковых кристаллов, используемых в промьппленности, удобно выбирать следующие отражения: при ориентации поверхности 1111 - отражение (311) и излучение М, Со, Ре,а при ориентации 100) - отражение(311), (400) и излучение Сц. При использовании стандартныхисточников излучения монохроматизация падающего пучка не...
Рентгеновский дифрактометр
Номер патента: 1599733
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Калышенко, Колеров, Мишин, Скрябин, Юшин
МПК: G01N 23/207
Метки: дифрактометр, рентгеновский
...и нижнего ярусов 9, 10 10 до получения разностного сигнала, равного нулю. Затем методом последовательных приближений с помощью механических перемещений источника 1 излучения, вспомогательного коллимационного 15 приспособления 2, разделительной пластиныы 3 и кронштейна 8 детекторов добиваются "располовинивания" пучка в горизонтальной и вертикальной плоскостях, о чем судят также по отсутствию разностного сигнала 20 на выходе блока 25. В ходе "располовинивания" пучка настройку электронных схем каналов 13, 14 не изменяют.По окончании юстировки устанавливают определенный (минимальный) угол паде ния первичного пучка на образцы в держателе 4, задавая минимальную толщину анализируемого слоя, т,е, верхнюю границу "залегания" слоя заданной...
Способ изготовления излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа
Номер патента: 1599734
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Бланк, Миренская, Нартова, Шевцов
МПК: G01N 1/28, G01N 1/38, G01N 23/223 ...
Метки: анализа, излучателей, рентгенофлуоресцентного
...шнейными размерами частиц не более 300 мкм. На веску З,ОООО г порошковой пробы анализируемого вещества смешивают с 9,00 г Флюса, содержащего 253 карбоната лития и 757. метафосфата лития, полученного так, как описано в примере 1, но с выдержкой при 670 С в течение 50 мин.Смесь помещают в тигель из стекло- углерода, который устанавливают в муфельную печь, нагретую до 900 С и заполненную газообразным диоксидом углерода. При этой температуре тигель99734 о Время обработТемпература, С Свойства плавняки, мин Гигроскопнчен,газовые включенияГигроскопичен 670 10 20 30 670 670 670 Гигроскопичен прихраненииНе гигроскопичен придлительном хранении 670 50 670 5 15 с содержимым выдерживают 20 мин. Далее поступают, как указано в примере 1.П р и м е р 3,...
Способ послойного оже-анализа химического состава твердых тел
Номер патента: 1599735
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Будинавичюс, Пранявичюс, Тамулевичюс
МПК: G01N 23/227
Метки: оже-анализа, послойного, состава, твердых, тел, химического
...текущей координаты по глубине.Способ осуществляется следующим образом.На исследуемый образец направляют пучок электронов и регистр руюи т бжеспектры. Послойное распыление осу; ществляют с помощью ионного пучка, .энергию которого периодически меняют частности контролю химического состава твердых тел как на его поверхности, так и в глубинных слоях, Цель изобретения - увеличение точности измерения текущей координаты по глубине, Способ послойного Оже-анализа химического состава твердых тел основан на анализе энергий и количестве Оже-электронов, излучаемых твердым телом при облучении его пучком уско,ренных электронов, и послойном распылении ионным пучком, Распыление осуществляется ионным пучком, энер гия которого периодически меняется...
Устройство для изучения физических свойств горных пород при высоких давлениях и температурах
Номер патента: 1599736
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Пильчин
МПК: G01N 25/02
Метки: высоких, горных, давлениях, изучения, пород, свойств, температурах, физических
...в поЛожение, при котором их поверхности,обращенные внутрь камеры 1, составляют единую плоскость с поверхностя 15ми крышек 3 и 4, находящимися в контакте с фланцами 7, После этогос устройства снимаются все крепления8 за исключением одного крепленияна каждой плоскости, которые ослабЛяются так, чтобы крышки 3 и 4 моглиВращаться вокруг них. Вращая их, открывают оба конца камеры 1. Послеэтого загружают в камеру 1 исследуемую пластичную горную породу (например, снизу под давлением) так, чтобыпоперечное сечение загружаемого объема было больше поперечного сеченияКамеры 1, что обеспечивает отсутствие пустот с воздухом внутри пластичной породы и на ее границах со стенками камеры 1. После выхода пластичЙой породы из противоположного...
Устройство для измерения энергии механохимических превращений веществ
Номер патента: 1599737
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Горбачев, Кукушкин, Платонов, Рухман
МПК: G01N 25/02
Метки: веществ, механохимических, превращений, энергии
...буферную жидкость(не показана), служащую для уменьшения теплового сопротивления зазорамежду цилиндрами 2 и 5 и термобата-,реями 14 и 15Термостатом 17 устанавливают температуру проведения испытаний,Затемприводом 6 вращения через шестерни9 и 8 и вал 7 производят деформирование образца, результатом чего является механохимическое превращениев образце с выделением или поглощением энергии, которую необходимо измерить, и, кроме того, выделение теплоты от введенной механической энергии.Одновременно с вращением вала 7 вращается вал 10 и происходит трениетела 3 о контртело 4, при этом такжевыделяется тепловая энергия,При деформации образца возникаетмеханический момент, который стремится повернуть цилиндр 2 вокруг еговертикальной оси, при этом...
Способ определения надкавитационного запаса жидкости и устройство для его осуществления
Номер патента: 1599738
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Резников
МПК: G01N 25/08
Метки: жидкости, запаса, надкавитационного
...использовании капиллярно-пористого покрытия на внутренней по" верхности (фиг. 3) действующей силой циркуляции являютсясилы поверхностного натяжения.Формула изобретения1. Способ определения надкавитационного запаса жидкости, включающий получение парожидкостной смеси тогоже состава и определение разностипараметров жидкости в потоке и в полученной смеси, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью упрощенияопределения и повышения точности информативности, часть потока жидкостиотводят при давлении трубоподвода,нагревают до температуры, превышающейтемпературу кипения при данном давлении, и возвращают в трубопровод,а в качестве регистрируемых параметров используют температуры жидкостив потоке и в зоне парожидкостной смеси.1 2. Устройство...
Устройство для определения тепловлагозащитных свойств обуви
Номер патента: 1599739
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Коваленко, Малашенко, Свидер, Черняк
МПК: G01N 25/18
Метки: обуви, свойств, тепловлагозащитных
...12, при этом клапан 15 находится в положении "Закрыто". В основании камеры 1 герметично ус- . танавливают измерительный блок 2, подключают к вторичной аппаратуре (на Фиг. 1 не показана) его измерительные средства, Включают программное устройство 7 и набирают в соответствии с планом работ программу изменения во времени температуры на изотермической поверхности термобатареи 4, Соединяют водяной теплообменник б с холодильным агрегатом 8. После этого с помощью датчика 5 контролируют температуру поверхности термобатареи 4. В соответствии с показаниями диффузионно-проницаемого тепломассомера 9 определяют заданные начальные значения коэффициентов тепло- и массоотдачи с поверхности капил"лярно-пористого имитатора 3. При этом одновременно...
Способ измерения теплопроводности веществ
Номер патента: 1599740
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Василькивский, Вента, Пистун, Рогоцкий, Юсык
МПК: G01N 25/18
Метки: веществ, теплопроводности
...с теплопроводящим элементом со стороны исследуемого образца; тепловое сопротивление элемента, контактирующего с теплопроводящимэлементом со стороныэталонного образца; тепловое сопротивлениетеплопроводящего элемента;нижний и верхний предел предполагаемого диапазона измерения К /К - И, И , соотгветственно;отношение тепловых сопротивлений образца и эталона. где Кц К/К условия равновесия данной мостовой схемы;К, К - коэффициенты, устанавливающие зависимостьмежду теплопроводностьюХ 8 ,а элементов 8и 9 итеплопроводящего элемента 2 (К,=3,/фт ю Кг аг/т )Тепловые сопротивления элементов 8 и 9 К а и Ка рассчитывают предва 1рительно в завйсимости от необходиМого диапазона измерения по формулам П р и м е р. Необходимо...
Способ определения теплоты сгорания горючих газов
Номер патента: 1599741
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Карасов, Плавинский
МПК: G01N 25/22
Метки: газов, горючих, сгорания, теплоты
...Заказ 3138 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101 4 реде того же газообразного окислителя.,Перед подачей пробы горючего газа М бомбовый калориметр определяют состав газа по компонентам, например с5 помощью газоанализатора и определяют тепло, которое мажет выделиться при сгорании этого газа, исходя из удельных теплот сгорания горючих компонентов, входящих в состав газа, взятых из таблиц, с учетом объемных долей этих компонентов в газе.Затем расчитывают количество образ" цового вещества, которое необходимо сжечь вместе с горючим газом, так, чТобы при этом ход калориметрического...
Психрометр
Номер патента: 1599742
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: G01N 25/62
Метки: психрометр
...влажности по разнице температур сухого 1 и увлажняемого 2 тер 1599742мометров. Боковые стенки измеритель,;ных капилляров 3, не участвующие в передаче световой информации к фото" приемникам 5, выполнены светонепроницаемыми, причем рабочая жидкость 9 термометров 1 и 2 также светонепроницаемая, имеет коэффициент объемного расширения, неизменный .по всему ее объему.1 ОПсихрометр работает следующим образом.Лучи от источника 4 света, проходя через собирающие линзы 7 и не заполненные светонепроницаемой рабочей жидкостью 9 прозрачные части измери. тельных капилляров З,сухого 1 и увлажняемого 2 термометров, Фокусируются на входных торцах световодов 6, размещенных на каждом шаге квантова" 20 ния, и, пройдя по световодам 6, попадают на...
Способ тепловой дефектоскопии
Номер патента: 1599743
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Панов
МПК: G01N 25/72
Метки: дефектоскопии, тепловой
...эвтектической прослойки. В условиях общего нагреваметалл не имеет упругих свойств и разрушение в участках эвтектики не происходит. при локальном нагреве под воздействием высокой температуры эв1599743 Тектическая фаза, расположенная поГраницам зерен, подплавляется илирасплавляется. Поскольку матрица ос"тается в твердом состоянии, то приохлаждении под влиянием растягивающих напряжений происходит разрыв жидкой прослойки. В зависимости от количества эвтектики, жесткости контура и других причин образуются либоТрещины, наблюдаемые визуально, либомикротрещины, Для их выявления осуЩествляют локальный нагрев многократво. В таблице приведена кинетика разития микротрещины в трещину подвлиянием многократного нагрева. В процессе эксплуатации...
Солемер
Номер патента: 1599744
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Воскресенский, Холкин
МПК: G01N 27/00
Метки: солемер
...15. Помещают кондуктометрический преобразователь 3 в термостат, задают различные значения температуры в пределах рабочего диапазона измеряемых температур и регистрируют соответствующие значения компенсационного сигнала с выхода преобразователя 17, соответствующие уравновешиванию. По результатам измерений строят градуировочные графики.В режиме измерения элемент 12 связи заполняется исследуемой жидкостью, элемент 11 связи - образцовой, обе жидкости имеют температуру окружающей среды. Сигнал от генератора 1 переключателем 2 направляют в обмотку 5, при этом в элементе 11 связи протекает ток 1, а в элементе связи 12 - ток 1,.Разность матричных потоков, со здаваемых токами 1 и 1 , создает ток на выходе обмотки 8, который усиливается в...
Радиочастотный способ определения структурных изменений поверхностей в контакте
Номер патента: 1599745
Опубликовано: 15.10.1990
Автор: Хатиашвили
МПК: G01N 27/00
Метки: изменений, контакте, поверхностей, радиочастотный, структурных
...своем экране фиксирует весь спектр. При этом возможно использование записи спектра на двухкоординатном самописце, Время, необходимое для перестройки молекул в поверхностном сло например для жидкости, несколько микросекунд, поэтому практически мгновенно получаем спектр электрома нитного излучения на экране импульс ного анализатора спектра,П р и м е р . Берут два вещес с различными химическими потенци .ми, а именно ртуть и дистиллирова - ную воду, и приводят их в соприкосновение. Капля ртути может соприкасаться с водой либо при поднятий жид кости, либо при опускании капилляра со ртутью, либо когда ртуть выкапы"1599745 ния и следящих устройств, что даетвозможность судить о динамике изменений в перестройке и движении молекул в поверхностных...
Устройство для измерения отношения удельных электропроводностей жидкостей
Номер патента: 1599746
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: G01N 27/02
Метки: жидкостей, отношения, удельных, электропроводностей
...усилителя 2 также возникает напряжение. Цепь, образованная последовательным соединением ячеек 5 и 10, Находится под напряжением, равным разности напряжений на выходах усилителей 1 и 2, При этом через токоподводящие электроды обеих ячеек протекаЕт ток 1, который практически не от" .ветвляется через потенциальные электроды 8 и 9 во внешнюю цепь ввиду большого входного сопротивления операционных усилителей 1 и 2, он не ответвляется также во внешнюю цепь и через потенциальные электроды 13 и 14 ввиду большого входного сопротивления измерителя 4 напряжения. Но через потенциальные электроды 8 и 9 осуществляется отрицательная обратная связь обоих усилителей, Поэтому ввиду очень большого коэффициента усиления операционных усилителей 1 и 2...
Способ контроля сплошности диэлектрических покрытий
Номер патента: 1599747
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Кособоков, Мясникова, Мясоедов
МПК: G01N 27/20
Метки: диэлектрических, покрытий, сплошности
...контроля сплошностилирующих покрытий на металлах преимущественно толщиной до 30 мкм. Цель изобретения - повышение чувствительности способа и упрощение его, Способ основан на пропускании электрического тока через образец с покрытием и перемещаемьп 1 по нему заостренный графитовый электрод с твердостью 4-7 кг/мм, и усилием прижатия к поверхности образца 2-4 кг/мм, Сплошность покрытия определяют по величинетока. 1 ил. С окрашенным образцом 1 ктировал графитовый электрод 2 в виде заостренного стержня с твердостью 4-7 кг/мм 2 при усилии прижатия к образцу 2-4 кг/мм, который перемещалсч по его поверхности. На электрод подавалось напряжение от источника 3 постоянного тока. При наличии дефекта в покрытии стрелка регистрирующего прибора 4...
Способ определения количества свободной воды в материале
Номер патента: 1599748
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Гораздовский, Невзлин
МПК: G01N 27/22
Метки: воды, количества, материале, свободной
...темпераохлаждения образцаФ1599748 же точки фазового перехода воды на фиксированной частоте. Положительное1 значение температуры выбирают в диапазоне 0-1 С, как можно ближе к +О С. Это нужно для уменьшения погрешности, вызванной температурным коэффициентом диэлектрической проницаемости воды, который составляет 0,2-0,4 единицы на градус Пельсия. При величине 10 диэлектрической проницаемости воды порядка 80 единиц (81 при 20 С) погрешность в установке температуры0на 1 С даст погрешность определения количества свободной воды 0,25-0,57.По аналогичной причине отрицательную температуру выбирают в диапазоне от -0 до -1 С. Измерение диэлектриоческой проницаемости производят через 30-40 мин после превращения сво бодной воды в лед.Нагревают...
Поточный влагомер измельченных листостебельных материалов
Номер патента: 1599749
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Балашов, Королева, Лахесоо, Ниглас, Порев, Соболев
МПК: G01N 27/22
Метки: влагомер, измельченных, листостебельных, поточный
...1 крепится насадка 10 из токонепроводящего материала, на которой установлен наружный кольцевой электрод 11, соединенный проводником 1 О с измерительным прибором,Длина насадки определяется по формуле0,75 Ей 15Эта формула получена"экспериментальнои учитывает изменение длины насадкив зависимости от ее диаметра 0 и коэффициента трения Г о ее стенку,При значениях коэффициента трения Г,соответствующих влажности материала10 - 20%, длина насадки изменяется впределах +2,5%. К фланцу насадки 10при необходимости крепят другой цилиндр или конус 12, заканчивающийсявыводнымотверстием для материала.Влагометр, установленный в потокематериала, например под шнеком 2смесителя измельченных кормов, работает следующим образам,Включают привод 8 шнека 2 и...
Устройство для электрохимических исследований
Номер патента: 1599750
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Ашкинази, Божевольнов, Николаев, Соколов, Филановский
МПК: G01N 27/26
Метки: исследований, электрохимических
...в токосъемнике отсутствуют вращающиеся относительно друГ друга детали, т.е. исключается подвижный (вращающийся) токосъем, Поэтому рабочая поверхностьдиска 2 (электрода) выведена из застойной зоны (зоны, где относительнаяскорость электролита и электродаравна 0), что исключает образованиевоздушных пузырей на рабочей поверхности электрода. При этом гидродинамика раствора ничем не отличаетсяот известной (метод дискового электрода) и, следовательно, сохраняетсяважнейшее свойство - равнодоступностьрабочей поверхности электрода,П р и м е р. Корпус 3 устройствабьш выполнен из фторопласта в видецилиндра радиусом 30 мм и высотой60 мм. Направляющий цилиндр-держатель -корпус 1 был выполнен из пентапласта и свободно вращался в отверстиикорпуса.Диск...
Способ изготовления индикаторного электрода электрохимического датчика газа
Номер патента: 1599751
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Афанасьева, Дагаев, Никитина, Сморчков
МПК: G01N 27/30
Метки: газа, датчика, индикаторного, электрода, электрохимического
...восстановления илиокисления в соответствующей электрохимической системе и может бытьиспользовано в химической, нефтехимической, газо- и нефтеперерабатывающей промышленности, а также дляконтроля загрязнения окружающей среды Целью изобретения является повышение чувствительности, стабильностии динамических характеристик электрохимического датчика, Цель достигается тем, что индикаторный электродперед обработкой в растворе подвергают воздействию давления силой 100500 Н/м Сущность изобретения заключается в том, что при обработке чувствительного электрода воздействием удар. ной нагрузки происходит изменение . структуры металла, образование большого числа деффектов и дислокаций в кристаллической решетке металла. При этом происходит увеличение...
Способ блаженко-дубовского измерения химического состава среды и устройство для его осуществления
Номер патента: 1599752
Опубликовано: 15.10.1990
МПК: G01N 27/416
Метки: блаженко-дубовского, состава, среды, химического
...П,и на него подают линейно изменяющееся напряжение, которое,суммируясь с напряжением измеряемогосигнала (О), достигает определенной величины отпирания (П п 0 р )а 25величину измеряемого сигнала определяют по интервалу времечи от началалинейного нарастания напряжения ГЛИНдо достижения 0 е При Этом токВлияющий на сохранность физико-химч."ческих свойств среды, протекает черезячейку 6 только в момент равенстванапряжения на входе усилителя 1 велиЧине 0 д , а в остальное время циклаизмерения тока чет,Работа устройства измерения заключается в следующем,На выходе источника 5 смещенияустанавливается напряжение Пием,обеспечивающее закрытое состояние. усилителя 1. Блок 2 управления даетразрешение генератору 3 на Формирование пилообразного...
Способ определения активности катализатора для реакции дегидрирования
Номер патента: 1599753
Опубликовано: 15.10.1990
Авторы: Даньшина, Кировская, Юрьева
МПК: G01N 27/416
Метки: активности, дегидрирования, катализатора, реакции
...КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯИПРИ ГКНТ СССР(57) Изобретение относится к бам определения катализаторов рирования на основе алмаэопод полупроводниковых соединений А В , А В , А В , Целью иэобр является повышение экспрессно соба. Анализируемый катализат мещают в адсорбат ( в соотнош 1:100), выдерживают 1 ч при и ном встряхивании и определяют электрического состояния. Кат считают активным, если значен изо лежит в диапазоне 6,0-6,6 Фик зависимости АрН = (рц )Ь рИ = рН - рН к (чертеж). Точка пересечения прямой с осью рН дает точку рН - иэоэлектрического состояния,характерную для исследуемого катализатора. Катализатор считается активным, если рНи лежит в интервале6,0-6,6,Использование предлагаемого способа позволяет сократить...