G01N 21/67 — с использованием электрической дуги или разрядов

Номер патента: 1239560

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Воронкова, Климова

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, легкоплавких, спектрального, сплавов, эмиссионного

...проводится спектральный анализ по разработанным меодикам,.В предлагаемом электроде анализируемая проба легкоппавкого сплава распределена .послойно между слоями фольги из металла с высокой тепло- проводностью (медной). Проба на под-. ложке имеет однородную атруктуру благодаря быстрому охлаждению тонкого слоя расплава на структуру, бла" годаря быстрому охлаждению тонкыго слоя. расплава на фольге, имеющую высокую теплопроводность, Нослойиое95 бО2распределение пробы на предлагаемойподложке способствует более равномерному и воспроизводимому отводутепла в глубокие слои пробы в процессе спектрального анализа, чтоустраняет нестабильность температур-ного градиента и способствует ста-бильности физико-.химических процессов на электроде. В...

Номер патента: 1242775

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01N 21/67

Метки: дуги, плазму, подачи, порошковых, проб

...в виде дуг на расстоянии3-7 мм один от другого, Верхние концы пар электродов 5 и 6 подсоединяются кэлектрически несвязанным генераторам высоковольтного импульсногоразряда (ГВИР),50 775 2дух, аргон и т,п), вход которого.осуществляется через транспортнуютрубку 3. Затем включают привод 10вращения, приводящиймагнитопроводно вращение, эа счет которого приводятся в движение стержнч 7, которыеначинают вращаться прижатые магнитным полем к дну рабочей камеры 1, Врезультате движения стержней 7 происходит энергичное дробление, истирание, перемешивание распыляемого порошка, отбрасывание его к стенкамрабочей камеры и переведение порошка во взвешенное состояние, При этомлишь ничтожная часть мелкодисперсного порошка увлекается газовым потофком и...

Номер патента: 1249411

Опубликовано: 07.08.1986

Автор: Северин

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, вещества, качественного, спектрографического

...г - кволны линии,На чев. РжРОбоз ач;.:..1 и;1волны данной сг)ектраг).нс)я с)т поч )пН) ст упеньк ,чернений. С:аг ст 1,с зависимстью .,которых ца:"сле(пп РСООТВЕТСТВУ 1 ОГВРГ,; 1)1Г" Г Дс ННОГО ИНТ РОВ Гг, 1- и.порядка, исключ;".как прин ядсге)1(сц 11 (э,го 1:;,; , ; ) яОТОЖДРСТВЛЕН)1 Е О "Г ;" ) 1изводят как обы-г)1.П р И М Е ., 11)Р;1) с СЕ(Ыприменен ггри устано:.;(г (: )1ра в образ-ях стя:н: .:Одуги переменного .Ок;ДГ, сила тока 12дифракспектрограф Г(," Р со сме.(нымиками. Анализ сводится )с с) ож;гнию наиболес чувствите;(Нныхра В 249, 6778 и В 2)9, 77)3 ико расположенные спектральныежелеза делают невозможным обнследовых количеств по спектруго порядка, Поэтому анализ цп1хам, и Отопестлс.Не( .;В(Г 1 х ся Г н:1 й, о т л и". а...

Номер патента: 1254361

Опубликовано: 30.08.1986

Авторы: Гражулене, Золотарева

МПК: G01N 21/67

Метки: матрицах, примесей, спектрального, среднеи, труднолетучих

...очень важно при определении следовых количеств элементов. эстет",ееттрттцття фторида цинка (19 гф,24 ь) в ета 1 тттзируеттой пробе Янляется50 оптттматтьттсй, так как тз этом случае итттсттсттвттостт сттсктральцьх линий молцбдеца, вольфрама, титана, циркоцтттт, ццобия, тантала и гафния имеет максимале цсе значение, При содержании г.пР ь образце меньше 197 его цедостаточтто для полного фториронацця трудцолотутих примесей, при содержании ттР 1)о.ттьше 24% тачццает скетзываться эффект разбавления пробы, что такжеведет к сттижеетттто интенсивности спектральных линий и, следовательно, к нежелательному повьцттеттттто пределов обнаружения труднолетучих элементов-примесей.П р и и е р 1. Б качестве осцогыбыл использован графцтоньцт...

Номер патента: 1259161

Опубликовано: 23.09.1986

Авторы: Гороховский, Низовцева, Червякова

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, электрод

...прои.,однтельностиНа чертеже изображен дисковый электрод для определения содержания углерода в сталях с рисками на рабочей поверхности.Благодаря тому, что на рабочую поверхность дискового электрода наносят поперечные риски под угломо40-50, увеличивается площадь дугового пятна на дисковом электроде, вследствие чего в 2,5-3 раза увеличивается время свечений .пиний углерода, сами линии видны четче и легко сравнимы.При нанесении на рабочую поверхность дисковогс электрода рисок под углом 40 и50" площадь дугового пятна меньше, а значит и время свечения линий меньше, чем в слуд очае 40 ,А50 , Эти зависимости установлены экспериментально,Результаты опытов приведены в таблице. Таким образом, нанесение поперечных рисок на рабочую поверхност...

Номер патента: 1303910

Опубликовано: 15.04.1987

Авторы: Дьяконов, Котельников, Стенин

МПК: G01N 21/67

Метки: визуального, спектрального, сталях, углерода

...9,гайка 10 прижима дискового электрода.Углерод определяли в сталях типа08 Х 18 Н 10, 1 Х 18 Н 9 Т, 12 Х 18 Н 9 Т, ст. 10,ст, 08, ст. 10 кп, 12 Х 13, ЭИ 496, 1Х 16 Н 9 И 2, Использовали стилоскоп СЛ35"Спектр", Параметры стилоскопа: индуктивность "0" мГн, емкость разрядного контура 20 мкф, ток разряда 6 А.Скорость вращения дискового противоэлектрода изменяли от 0 до 0,8 см/с; 40шероховатость О,05-0,09 мм, аналитический промежуток 0,8 мм. Использовали линии углерода С 1657,8 нм,С 2658,2 нм и линия железа Р 659,29 нм,железа. Данные приведены в табл.1 и 2. 45Влияние шероховатости материалаэлектрода на повьппение чувствитель-.ности определения углерода приведено в табл.1. 10 2Если шероховатость отсутствует, то при любой исследуемой...

Номер патента: 1318864

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01N 21/67

Метки: анализе, подачи, порошковых, проб, спектральном

...срезающего ножа 4. 64 2Устройство работает следующим об-разом.Шток 14 через поршень 13 равномерно подает пробу 12 в рабочую камеру 3 к срезающему ножу 4. От источника избыточного давления (0,10,5 атм) в рабочую камеру 3 черезотверстие 10 и многозаходную винтовую канавку 9 равномерно подают распыляющий газ (воздух, аргон и,т.п.),выход которого осуществляется черезтранспортную трубку 6. Затем включают электродвигатель 2, приводящийпо вращение срезающий нож 4. В результате вращения срезающего ножа 4происходит срезание, дробление, истирание, перемешивание распыляемогопорошка, отбрасывание его к стенкамрабочей камеры и переведение порош-.ка во взвешенное состояние, При этомлишь ничтожная часть мелкодисперсного порошка увлекается газовым...

Номер патента: 1326964

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Карчевская, Петров

МПК: G01N 21/67

Метки: мышьяка, обогащения, продуктах, рудах

...При повышении или снижении тока дуги эа пределами 6,4-6,6 А результат определения соответственно завышается или эанижается при оптимальном составебуферной смеси. При оптимальном токе 10 15 20 25 30 35 10 45 50 55 дуги при варьировании процентного содержания компонентов буферной смесиопределяемые содержания мьппьяка находятся вне допустимых значений.И р и и е р, Определение мьппьякав Государственных стандартных образцах,100 мг Государственного стандартного образца и 1 г буферной смеси всоотношении 1:10 (состав смеси 5 сернокислого кадмия, 5 . сернокислоголития и 90 угольного порошка) насыпают в плексигласовый стакан, добавляют 2-3 стальных шарика диаметром1,5-2 мм, Аналогично готовят сериюобразцов сравнения, Перемешиваниепроизводят в...

Номер патента: 1330520

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Гурин, Огнев, Огнева

МПК: G01N 21/67

Метки: атомов, источников, концентрации, металлов, нестабильных, поля, света

...монокристаллов.Интервал концентраций, для которого определялись поля, соответствовал содержаниям в пробе исследуемых элементов 1 10 -1 10 вес 7. Основой для приготовления образцов служили щелочно-галоидные соединения натрия и калия. Образцы смешивали с угольным порошком и испаряли из канала нижнего электрода дуги переменного тока (=10-12 Л), дуговой промежуток поддерживался во времени экспозиции постоянным - 5 мм, время испарения, после которого регистрировали спектр, соответствовало 1, 5, 15, 20 с с момента зажигания дуги. Форму электродов задавали глубиной канала 4-10 мм, диаметром канала 1-3 мм и толщиной стенки канала. 0,5-2 мм. Для зондирования пространства испольэовали безэлектродные лампы.1Составитель Б. ШироковТехред...

Номер патента: 1337740

Опубликовано: 15.09.1987

Автор: Малюшко

МПК: G01N 21/67

Метки: концентраций, элементов

...основного состава (трапп, габбро, базальт), Эталонная коллекция пород состоит из 22 образцов. В нее входят стандартные образцы (СОС): магматические породы ультраосновного, основного, среднего, кислого, щелочного состава, а также грейзен и пегматит.По ориентировочным концентрациям породообразующих элементов определенным по твердым графикам, для всех эталонных пород составлена классификационная таблица (табл. ), в которой каждый из типов пород описан с помощью изменяющихся хотя бы по одному из породообразующих элементов граничных условий, характеризующих степень концентрирования (наличие определенных минеральных форм) основных компонентов в каждом из изученных типов пород (по мере поступления стандартных образцов классификационная...

Номер патента: 1346952

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01J 3/10, G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального

...не менее чем тремя верхними 1 - 3 и тремя нижннии 4 - б электродами, концы которых расположены в двух параллельных горизонтальных плоскостях, и приспособление 7 для подачи порошкового материала 8 в межэлектродный промежуток. Напряжение к парам электродов 1 и 5, 2 и 6, 3 и 4 подведено от одной фазы через разделительные трансформаторы 9 - 11, в цепи вторичной обмотки которых последовательно с межэлектродными промежутками подключены катушки индуктивности связанные индуктнвно с генера торами 12 - 14 высоковольтных импульсов, которые обычно используются для поджига дуги в спектральном анализе (типа генератора Свитницкого) . Кон 2 б денсаторы С, С , С предохраняютразделительные трансформаторы 9,10, 11 от прохождения через них высоковольтных...

Номер патента: 1350568

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Артемьев, Головко, Зорин, Паздерский, Сапрыкин

МПК: G01N 21/67

Метки: веществ, углеродсодержащих

...Плазмообразующий газ Аг(аналит, линия 388,3 нм) Без добавки Без добавки С добавкой азота 2,5 Е озота С добавкой 27 азотаазота 1 10 2 10 5 10 5 10 Метан Окись углерода 5 10 1 10 210 1 10 Двуокись угле- рода 5 10 3 10 8 10 5 10 Недостатком известного способаявляется также плохая воспроизводимость результатов определения углеродсодер нш х веществ. Это вызвано тем, , иропукты разложеИэобретеиис относит я ки ион хроматографии и может быль ис иользовано для анализа высокочистых воспроизводимости результатов анализа.Присутствие 0,01-10 об.7. азота в плаэмообразующем газе значительно Как видно иэ табл, 1, использование предлагаемого способа дает возможность снизить предел обнаружения углеродсодержащих соединений на 1-2 порядка....

Номер патента: 1374104

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Койфман, Недугова, Савичев, Шугуров

МПК: G01N 21/67

Метки: буферная, вольфрамовых, концентратах, примесей, смесь, спектрографического

...компонентов на результаты спектрографического анализа эа счет стабилизации температуры кипения, так как основным определяющим зту 25 температуру фактором является концентрация в расплаве сурьмы и серы,В табл. 1 приведены составы буферных смесей.Пробы вольфрамового концентрата 30 и образцы сравнения смешивали с буферными смесями 1, 2 и 3 (табл, 1) и буферной смесью по прототипу в соотношении 1: 1, Пробы сжигали в дуге переменного тока силой 15 А; спектры фотографировали на спектрографе ДФСс решеткой 600 штр/мм, использовали трехлинэовую систему освещения щели, ширина которой 0,015 мм, Промежуточная диафрагма 3,2 мм. Аналитические линии, нм:Вх 306,7Я 303,4Бп 266,1Пределы определяемых концентраций, Е:В 1 0,001-0,15Б 0,001-0,01Яп...

Номер патента: 1386888

Опубликовано: 07.04.1988

Авторы: Громаков, Игнатьев, Кириллова, Колобов, Назарова, Орлова, Смирнов, Цапенко, Шевцова

МПК: G01N 21/67, G01N 31/12

Метки: германия, диоксиде, элементов

...отношению к массе пробы приводит к пассивации поверхности частиц диоксида гармания, препятствует полноте отгонки матричного элемента и переводу . примесей в сульфатсодержащие соединенияОбработка аналитической пробы парами хлороводородной кислоты необходима для отгонки германия в виде тетрахлорида и дальнейшего его перевода в слабодиссоциируемое соединение - гексахлоргерманиевую кислоту.При обработке пробы парами хлороводородной кислоты при температуре ниже 225 С и времени обработки менее 2 ч не достигаются полнота отгон-ки тетрахлорида германия и образование гексахлоргерманиевой кислоты, аопри температуре выше 230 С и более 2,5 ч происходит термическое разложение образовавшейся гексахлоргерманиевой кислоты с образованием исходного...

Номер патента: 1411651

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Дегтев, Кожевникова, Махнев

МПК: G01N 21/67

Метки: бария, буферная, микроколичеств, смесь, спектрального, стронция

...электрод затачиват на усеченный конус, а в нижнем для абивания смесей высверливают отверстие лубиной 4 и диаметром 3 мм. Г 1 очернение чиий Ва 455, 4 нм, г 460,7 нм; Хп 334,6 нм; Си 327,4 нм; Ад 338,3 нм замеряют на микофотометре НФО. Аналитические лиНии фотометрируют с учетом прилегающего фона, так как действие носителя различно зависимости от определяемого элемента.Экспериментальные данные (фиг. 1 и 2) Свидетельствуют о том, что из рассматриваемых буферных смесей С-Се 02, С - (Х)аС 1, .:-СсО наиболее перспективная смесь с носителем СТО. Из фиг. 2 видно, что предлагаемый носитель по сравнению с классическими СеОь .Х 1 аС 1 обеспечивает максималь;ую интенсивность спектральных линий бария и стронция. При оптимальном содержании...

Номер патента: 1536281

Опубликовано: 15.01.1990

Автор: Иванов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализе, вещества, подачи, пробы, спектральном, эмиссионном

...И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОБ ПОДАЧИ ПРОБЫ ВЕЩЕСТВАИОННОМ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИретение относится к обланого анали. а состава веИзобретение относится к спектральным анализам состава веществ.Цель изобретения - устранение з рязнения пробы и повышение точности анализа за счет исключения канала подачи пробы при массовом анализе различных веществ.На фиг. изображено устройство; на фиг. 2 - вид А на фиг.1.Устройство содержит бронзовую пластину 1, трубку 2 для подачи ламинарного потока воздуха, кюветы 3 для проб, сердечник 4 электромагнита, ось 5, ограничитель б, пружины 7, втулки 8, катушку 9, магнитопровод 10, постоянный магнит 11, электроды 12, стальную пластину .13,подвиж ную часть вибратора 14, размещенные под углом к горизонтальной...

Номер патента: 1562798

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, лазерного, локального, спектрального

...возрастает в 3-5 раз при испарении одного и того же количества исследуемого вещества по срав-нению с известным способом (прототип) возЬуждения спектра при локально-ла" зерном спектральном анализе. Устройство позволяет осуществить загорание двух высоковольтных разрядов в момент поступления исследуемого, вещества в их межэлектродные промежутки, повысить коэффициент использования исследуемого вещества, увеличить время пребывания атомов определяемых элементов в зоне возбуждения, т.е, повысить чувствительность локаль. но-лазерного анализа.Увеличение размеров высокотемпературной зоны способствует не только повышению чувствительности анализа, но и повышает точность анализа, как за счет снижения нижней границы определяемых содержаний, так и за...

Номер патента: 1562799

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Гордеев, Гришнова, Моисеев, Салганский, Шишов

МПК: G01N 21/67

Метки: алкильных, анализа, высокочистых, группы, металлов, соединений

...охлаждения. Углеводороды через патрубок 11 удалялись из зоны реакции. Поскольку упру."5 1562799 6 гость пара примесных металлов значи- вестным, следует, что содержа ние алютегьно ниже, чем у цинка, они кон- миния и магния, определяемых предла-". центрировались на графитовом коллек- гаемым способом, в 1 О раз превышает торе 12. После отгонки через деструк- концентрацию тех же примесей, опретор-концентратор 1 г диэтилцинка кон деленных известным способом. Анализ центраты примесей из ампул 1 и 4, по- известным способом дает заниженные лученные в результате двухстадийно- результаты по содержанию примесей го концентрирования, извлекали и ана- алюминия и магния в образце диметиллизировали атомно-эмиссионным мето" кадмия. Пределы обнаружения...

Номер патента: 1569680

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Скуратова, Трапицын

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, припоев, спектрального, эмиссионного

...в течение полупериода. Изменяя соотноше 55ние между паузой и длительностьювспышки мо".по влиять на величину поступления вещества гробы в область разряда, 11 ри Фазе поджига дуги 60 достигается максимальная интенсивность аналитических линий элементовза счет увеличения времени жизни атомо в в разряде дуги, Экспериментальноустановлено, что изменение фазы поджига также влияет и на наклон градуировочного графика, что показано втабл,2.Соотношение буфера с пробой и стандартными образцами 1:1 создает оптимальную упругость паров для выходаанализируемых элементов припоя изканала электрода в дуговой разряд ипоследующее их возбуждение.Добавка в буфер 5-122 лития в соединении 1,хОН создает требуемый энергетический режим для перевода...

Номер патента: 1599724

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального

...- прпкатодное усилениеспектральных линий.Устройство работает следующим образом.Предв ят в движеникалибр,)т струей газа, например воздуха, ис) следуемый материал 16, например геологическую порошковую пробу крупностью менее 20 мкм, сверху между рабочими концами электродов 4 и 5, расстояние между которыми больше диаметра струи подаваемого газа. Через боковые отверстия в трубе 2 производятотсос газа из корпуса 1 камеры сгораНия. Далее подают напряжение на трансФорматоры 7=8 и генераторы 13 и 14высокочастотных импульсов. В межэлектродных промежутках 3,5 и 4,6 возниКают высокочастотные разряды, ионизирующие межэлектродное пространство,что приводит к возникновению дуговыхразрядов между электродами 3,5 и4,6,Плазмы этих разрядов пространстЬенно...

Номер патента: 1498199

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Баранова, Данилин, Каплан, Миронцева, Назарова, Разумова, Ходина

МПК: G01N 21/67

Метки: микропримесей

...линии определяемого элемента 8 и фона 8 и вычислляют разноств почернения д 8"8 л,. 30По трем параллельным значениям раз".ности поче рнений Й 8 Й 8 ,В 8 з, полученным по трем спектрогрвммам, снятымдля каждой пробы, находят среднееарифметическое Д 8 .35П р и м е р 2, Навеску тонко измельченной пробы красного фосфорамассой 0,4 г помещают в кварцевуюочашку и сжигают при температуре 700 С.в течение 4 мин при расходе кислорода 400,5 л/мин. Далее ход анализа, как впримере 1. Результаты анализа приведены в таблице,П р и м е р 3, Нввеску тонко измельченной пробы красного фосфорамассой 0,4 г помещают в кварцевуюочашку и сжигают при температуре 800 Св течение 3,5 мин при расходе кисло"рода 0,6 л/мин. Далее ход анализаквк в примере 1. Результаты...

Номер патента: 1665286

Опубликовано: 23.07.1991

Авторы: Максимов, Рудневский

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, висмута, примесей, растворах, свинца, спектрального

...газов, стабилизации разряда и фокусирования излучения на щель спектрографа перед экспозицией катод с пробой обжигают в течение 60 с при силе тока 75 мА. Затем постепенно ток увеличивают до 600 мА и фотографируют спектр в теч ние 120 с при ширине щели спектрогра ИСП - 28, равной 18 мкм, Аналитическ линии В 1 306,7 нм с энергией возбуждения 4,04 эВ и РЬ 1 283,3 нм (4,37 эВ) фотометрируют на микрофотометре. Градуировочные графики для определения В и РЬ, построенные в случае осуществления1665286 р Л 6 р Составитель О. БадтиеваРедактор В. Данко Техред М.Моргентал Корректор М. Демчи Заказ 2388 Тираж 410 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям Ф 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 НТ СС атент", г. Ужгород,...

Номер патента: 1668923

Опубликовано: 07.08.1991

Автор: Лысинов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, порошковых, спектрального

...продавливать вязкую массу анализируемого материалачерез калибровочное отверстие либо заполнить специальную форму, уплотнить и послеизвлечь штабик,1668923 Составитель Б. ЛысиновТехред М.Моргентал Корректор О. КундрикРедактор И. Шулла Заказ 2652 Тираж 384 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат нПатент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 К роме того, для предотвращения загрязнения пробы материалом предыдущей ,пробы применяемая для этого оснастка должна быть разового использования или тщательно очищаться. Связующее вещество также не должно содержать определяемых элементов,Целью изобретения является снижение трудоемкости...

Номер патента: 1684635

Опубликовано: 15.10.1991

Автор: Северин

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, количественного, металла, спектрального, эмиссионного

...лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, Цель изобретения - повышение воспроизводимости и точности результатов анализа. При переходе от обыскривания к экспозиции аналитический промежуток уменьшают на 0,4 - 0,6 первоначальной величины. ния в области экспозиции значительно уменьшится.Способ осуществляют следующим образом,Устанавливают по шаблону или оптическому иэображению аналитический промежуток равным Н, Включают электрический разряд на время обыскривания То. Выключают разряд, Устанавливают промежуток и параллельным смещением пробы вдоль оси вспомогательного электрода. Включают электрический разряд на время экспозиции, установленное из требований конкретно решаемой аналитической задачи.П р и м е...

Номер патента: 1693490

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Белоусов, Бородин, Ведерников, Семенов, Хитров

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...тока, Так как пауза между импульсами отсутствует, новые порции анализируемого вещества в дугу не попадают и энергия второго импульса расходуется на "довозбуждение" паров вецества, удерживаемых плазмой с момента первого импульса. Это подтверждено осциллограммой 8 интенсивности аналитического сигнала,В таблице приведены результаты сгектрального определения наиболее трудноопределяемых тугоплавких металлов - гафния, циркония, тантала и ниобия (0,050 каждого). Определения выполнены на стандартнем образце И 0 (СО ЛЬ 22-70) при следующих общих условиях спектрального анализа: навеску вещества СО 15 мг смешивают с навеской 85 мг графитового порошка крупностью - 0,1 мм марки ОСЧ, смесь вводят в дуговой промежуток между угольными электродами с...

Номер патента: 1755133

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Гордеев, Моисеев, Павлычева, Салганский, Шишов

МПК: G01N 1/28, G01N 21/67

Метки: анализа, атомно-эмиссионного, высокочистого, оксида, пробоподготовки, цинка

...печь, включают нагрев и поддерживают температуру печи 700 С. Температуру контролируют при помощи хромель-алюминиевой термопары. При та- ких условиях достаточно 3 ч для того, чтобы осуществить полностьюостаток не должен превншать 10 киассопереносоксида цин. ка из стеклоуглеродной пробирки. в верхнюю не обогреваемую часть реактора, где основа в виде кристаллов цинка осаждается на стенках реактора и центральной трубке.5 Включают нагрев печи и перекрываютпоток водорода, извлекают центральную трубку и достают пинцетом пробирку со дна реактора. Выгружают угольный коллектор из пробирки и анализируют его атомно эмиссионным дуговым спектрографическимметодом. В качестве электрода используют фасонные угли марки "ОСЧ 7 - 4" (тип и...

Номер патента: 1762197

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Левыкин, Лившиц, Пелезнев

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, металлов, спектрального, сплавов, фотоэлектрического

...из алюминиевого сплава и с дифракционной решеткой на стеклянной подложке (К = 0,04 мкм/мм К) аппаратной функцией д 100 мкм и работающий при колебаниях температуры+ 40 оС, то предлагаемый способ позволяет уверенно находить аналитические линии при наличии реперных линий в спектре, расположенных с плотностью - одна линия на1000,04 40В качестве реперных линий могут использоваться, например, линии спектра основы анализируемого сплава.Если же спектр основы не позволяет выбрать достаточного количества линий,удовлетворяющий формуле(1), то в качествереперных линий могут быть использованы линии спектра железа, имеющие достаточную плотность по спектру. В последнем случае этот спектр может регистрироваться отдельно от спектра анализируемого...

Номер патента: 1803834

Опубликовано: 23.03.1993

Автор: Бойко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, вдувания, методом, просыпки, спектрального

...в результате чего коромысло устанавливается в среднем положении, В случае изменения скорости воздушного отсоса равновесие нарушается; коромысло отходит от среднего положения, воздействуя на соответствующий датчик. Сигнал датчика поступает на вход блока управления, который посредством заслонки 1 изменяет скорость воздушного отсоса до первоначального 10 положения, т,е. до возвращения коромысла в среднее положение, Изменение величины силы тока в катушке магнитоэлектрического преобразователя посредством блока управления также приводит к дисбалансу сил, 15 действующих на лепесток 14, вследствие чего скорость воздушного отсоса изменяется на величину, пропорциональную изменению силы тока в катушке, Таким образом, скорость воздушного...

Номер патента: 1819349

Опубликовано: 30.05.1993

Авторы: Алтухов, Григорьева, Малюшко, Матухина

МПК: G01N 21/67

Метки: агрохимических, вивианита, залежей, свойств, торфяных

...органического вещества, в том числе АТФ (аденозинтрифосфорной кислоты), являющейся биологическим резервуаром энергии живого организма,АТФ + Н 20 - АДФ 1+ НЗР 04++ 100000 калорий; где + АДФ - аденозиндифосфорная кислота, которая в свою очередь превращается в АФМ (аденозинмонофосфорную кислоту) АДФ+ Н 20 - АМФ+ НэР 04+10000 калорий,Особенно бурное разрушение АТФ происходит в отсутствии калия. При этом локальное выделение большого количества энергии и ортофосфорной кислоты может способствовать процессу образования неорганического фосфата железа. Как правило, в составе вивианитов и торфовивианитов (поз. 4,3 см. табл.2) отсутствует К 20, В большей части изученных торфов и вивианитовых торфов (поз.1 и 2. см, табл,2) К 20...

Номер патента: 1822947

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Головко, Малиголовка, Паздерский, Сапрыкин, Сушко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...катода 2 анализируемое вещество.Снова откачивают камеру и затем заполняют ее гелием. Подают анодное напряжение,величину которого выбирают ниже порогазажигания самостоятельного разряда, Припомощи выключателя 9 подают электрический ток на катод-испаритель. За счет высокой температуры вокруг катода образуется облако атомных паров и термических электронов, эмитируемых катодом, Энергия термоэлектронов недостаточна для возбуждения атомов большинства анализируемых элементов, но в электрическом поле термоэлектроны могут приобретать определенную энергию, Если энергия ускоренных электронов превышает энергию возбуждения атомов определяемых элементов, но ниже энергии иониэации атомов инертного газа, заполняющего камеру, то излучение состоит...