Павлычева

Номер патента: 1755133

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Гордеев, Моисеев, Павлычева, Салганский, Шишов

МПК: G01N 1/28, G01N 21/67

Метки: анализа, атомно-эмиссионного, высокочистого, оксида, пробоподготовки, цинка

...печь, включают нагрев и поддерживают температуру печи 700 С. Температуру контролируют при помощи хромель-алюминиевой термопары. При та- ких условиях достаточно 3 ч для того, чтобы осуществить полностьюостаток не должен превншать 10 киассопереносоксида цин. ка из стеклоуглеродной пробирки. в верхнюю не обогреваемую часть реактора, где основа в виде кристаллов цинка осаждается на стенках реактора и центральной трубке.5 Включают нагрев печи и перекрываютпоток водорода, извлекают центральную трубку и достают пинцетом пробирку со дна реактора. Выгружают угольный коллектор из пробирки и анализируют его атомно эмиссионным дуговым спектрографическимметодом. В качестве электрода используют фасонные угли марки "ОСЧ 7 - 4" (тип и...

Номер патента: 1742634

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Кит, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: спектрограф

...расстоянием е, удовлетворяющим1условию е= (1+,иу+иу ), где г - радиус кривизны решетки; К - частота штрихов в вершине решетки; Л - средняя длина волны спектрального диапазона; К - рабочий порядок спектра, у - координата в меридиональном сечении решетки;,и,и - коэффициенты неравномерности шага решетки, коэффициенты,и, м неравномерности шага решетки удовл творяют условиям,и = (0,012+ 0,27 К Л К) г+и =0,037 - 0,163 К Л К) /г, а расстояние б отрешетки до регистрирующего устройства -условиюб = г 1,0037 - 0,014 к Л й+0,058 (3( Л ИЦ,На фиг. 1 изображена оптическая схемаспектрографа; на фиг. 2 - сферическая дифракционная решетка.Спектрограф содержит последовательно расположенные по ходу лучавходную щель 1, сферическую дифракционную решетку...

Номер патента: 1689379

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Грошев, Иванова, Кронман, Кулик, Куц, Лешина, Нисневич, Павлычева

МПК: C08F 214/06, C08F 218/08, C08F 6/24 ...

Метки: водной, дегазации, сополимеров, суспензии

...оценки доли остаточных мономеров. Результаты опытов дан в табл.1. Представленные в табл,1 данные свидетельствуют о том, что практически в очень мягких условиях достигается высокая эф- ф фективность процесса удаления мономеров; О (доля ВХ снижается почти нэ два порядка, а (ф ВА - на один). ЯП р и м е р ы 6-10 (для сравнения). ( 1 Указанные примеры 6 и 7 аналогичны соответственно примерам 2 и 4, но вместо окислителя - газообразного хлора берут инертный гаэ - азот. в примерах 9, 10 - воздух.П р и м е р ы 11-18, Способ осуществля- ф ют по примеру 1 при разных условиях дегазации,Результаты опытов представлены в табл,2,П ри ме р 19. Осуществляют по примеру 1, Расход газообразного хлора 4 л/ч, Хлор1685379 Формула изобретения Таблица 1 При...

Номер патента: 1520357

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Нагулин, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: спектрограф

...аберрационные характеристики в широком спектральном диапазоне, ,2 ил, Ъ вююафф+ 20 ф 81 (КЛо Мо)3Р 2,921 - 3,309 (КЛо Мо) .+ Оф 441 (КЛ о Мо)у - координата в меридиональном сечении решетки; а переменное расстояние 1 между штрихами удовлетворяет соотношению+ Оь 13 (КЛо Мо)3 гУстройство работает следующим об 25разом,Излучение от входной щели 1 падает на сферическую дифракционную решетку 2 под углом = -0,13683 +, в общем случае штрихи радиусаРов Р у и переменное расстояние 1между штрихами 1 = - (1 + ру + )у),35Мгде уо - радиус кривизны штриха в вершине решетки, а Р, р, 1 - некоторые постоянные, Дифрагированное излучение фокусируется на поверх ности регистрации 3, на которой, например, расположены несколько...

Номер патента: 1358538

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Кит, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: спектрограф

...позволяет создать высококачественный спектральныйприбор, сочетающий работу в широкойспектральной области с вьйоким качеством иэображения. Устройство работает следующим об разом. Излучение от входной щели 1 падает на сферическую дифракционнуюЪрешетку 2 под углом с. Решетка 2 имеет в общем случае штрихи радиуса щ-Р, и переменное расстояние межо фду штрихами 1= -(1+У+9 У ), гдерадиус кривизны штриха в вершине решетки; Р, р,- некоторые постоянные, Дифрагированное излучениепро ходит через полевую линзу 3 и фокусируется на плоскости регистрации устройства 4. Фокусировка на плоскости обеспечивается тем, что коэффициент д, характеризующий фокусировку 5 О в меридиональной плоскости, и расстояние й от решетки до регистрирующего...

Номер патента: 1105005

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Нагулин, Павлычева, Прокофьев

МПК: G01J 3/18

Метки: голографической, решеткой, спектрограф

...и решеткой так, что угол у между отрезком, соединяющим центр плоского зеркала с центром. щели и нормалью к решетке, определяется из соотношения1 г г------ ( -- вп 1, - вп 1 Й, д где г - радиус решетки;а параметры голографирования 1 и углы падения лучей из источников голографирования в центр решетки; И,и Й - расстояния от центра решетки до источников голографирования в меридиональной плоскости; й, и д- расстояния от центра решетки до источников голографирования в сагиттальной плоскости (соответствуют условиям минимума аберраций). При этом дополнительный оптический элемент может быть выполнен в виде плоского зеркала, установленного так, что нормаль к решетке проходит через его центр под углом 45 , или в виде коноденсора,...

Номер патента: 1094432

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Нагулин, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: спектрограф

...аберрации.Кроме того, коррекционные воэможности данного спектрографа значительно уменьшает необходимость плоской поверхности фокусировки спектра,чта, в свою очередь, ведет к сужениюрабочего спектрального диапазона.Целью изобретения является увеличение светосилы, расширение спектрального диапазона и улучшение.качества изображения.Указанная цель достигается тем,что в спектрографе, содержащем последовательно расположенные по оптической оси входную щель, вогнутуюдифракционную решетку с криволинейными штрихами и переменным расстоянием между ними и регистрирующее .устройство, штрихи. решетки выполнены с радиусом кривизны уф р:. 1;56 г + 1,1 у,переменное расстояние между штрихами 551 выбрано согласно соотношению.1(У) = 1(1-2,210 4.у ++ 0,8...

Номер патента: 1272127

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Балясникова, Гимушин, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: спектрограф

...= г (О 063 соя ч+ 9,96 сояз- 31,74 сов )от входной щели и на расстоянииЙ = г (2,643 сов Ч - 2 1,34 соя++ 78,3 соя Ч)от регистрирующего устройства, Штрихи решетки имеют радиус кривизны, меняющийся по законуР =Г(0,09 сояР - 23,1 сов++ 217,2 сову) (1 - у),ЗОа переменное расстояние между штрихами изменяется согласно соотношению- 1,1-1,4410 (сов ч 1 )у ++соя Р 10 у 3 (1)Устройство работает следующим образом.Излучение от входной щели 1 падает на торическую решетку 2 под углом 1 . Дифрагированное излучениефокусируется на плоскости регистра,ции 3.Коэффициент при у в соотношении(1) (-1,44 10 сов ч в) характеризует фокусировку в меридиональной плоскости, и расстояние до плоскости регис тр ации,Й = г (2,643 соя у,34 соя Р++ 78,3 сов)...

Номер патента: 724941

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Нагулин, Павлычева

МПК: G01J 3/18

Метки: дисперсией, скрещенной, спектрограф

...у определениз условия компенсации астигматизма оптической системы,На чертеже приведена оптическая схемапредлагаемого спектрографа.Он включает щель 1, коллиматор 2,му 3, дифракционную решетку-эшеллемерное зеркало 5 и регистрирующее уство б.Работа устройства заключается в следующем.Световой пучок, прошщель 1, после коллиматдпспергирующий блок,камерного зеркала на 0,8расстояния для полученияности изображения спектра,Диспергирующий блок состоит из эшелле4 и установленной передней призмы 3, осуществляющей вспомогательную дисперсию724941 Формул а изобретенияСпектрограф со скрещенной дисперсией, 30 содержащий последовательно распо 1 оженПО Поиск каз 145/1 Изд, Мо 210 Подписи раж шог 1)афии, пр. Сапунова, 2 3в иправлении, отличном от основной...

Номер патента: 445670

Опубликовано: 05.10.1974

Авторы: Высоцкий, Павлычева, Тиличенко

МПК: C07D 105/02

Метки: 10-оксо-4а-гидрокси10, фосфапергидроантрацена

...охлаждении смеси ледяной водой прибавляют 60 мл концентрированной соляной кислоты, через5 мин еше 60 мл и еше через 5 минЗО мл этой же кислоты. Смесь охлаждают таким образом, чтобы температура ее 20йе превышала 50 С.Через 20-30 мин после приливаниясоляной кислоты баню убирают. При этомотемпература смеси поднимается до 57 Си держится на этом уровне 30-40 мин,После этого смесь перемешивают еше 2 часпри комнатной температуре, нагревают наоводяной бане до 90 С.с целью удаленияизбыточного фосфина и . охлаждают. 30Для выделения продукта реакции смесьразбавляют 300 мл дистиллированной воды, экстрагируют 300-400 мл хлороформав несколько приемов, экстракт сушат прокаленным сульфатом магния, фильтруют иупаривают на водяной бане в...

Номер патента: 281452

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Александров, Герега, Дергунов, Павлычева

МПК: C07C 267/00

Метки: бас-(тригидрокарбилстаннил

...комнатной температуре и перемешивании приливают раствор 0,88 г цианамида в 30 лтл эфира. Реакционную смесь выдерживают 4 час. Далее растворитель отгоняют, а остаток перегоняют в вакууме, Выделяют 8,9 б г (95%)Х 5 - бис- (триэтилстаннил) - карбодиимидас т. кип. 150 в 1 С (4 - 5 лглг рт. ст,), т. пл.2 б - 27 С.Найдено, % 1 ч б,05; 6,03.С таНзо%- г 1Вычислено, %: Х б,20.10 Спектральный анализ подтверждает получение целевого продукта.П р и м е р 2. К раствору, содержащему4,05 г гндроокиси триэтилолова в 15 лгл эфира,прп комнатной температуре и перемешивании15 приливают раствор цианамида в количестве0,33 г в 15 лгл эфира, Реакционную смесь выдерживают 4 час. Затем отгоняют растворитель, а остаток перегоняют при давлении 4 -5 лглг рт. ст....