Патенты с меткой «эмиссионном»
Устройство для измерения интервалов времени при акустико эмиссионном контроле
Номер патента: 991288
Опубликовано: 23.01.1983
Автор: Анисимов
МПК: G01N 29/04
Метки: акустико, времени, интервалов, контроле, эмиссионном
...нормально открытый ключ 10, ирезультаты измерения.АТсохраняютсяв блоке 5 памяти требуемое время, Если принятый первым сигнал (на выходеодного из каналов 1 и 2 приема) недостаточен (по измеряемому параметру) дляизмерений дТ, то сигнал на выходефункционального преобразователя 8 уменьшается ниже уровня срабатььания триггера 9 Шмита раньше, чем пройдет интервал времени йТдру. При этом сигнал, соответствующий заднему фронтуимпульса триггера 9 Шмидта поступитчерез открытый ключ 10 в шину фСбросф,и устройство возвратится в исходное состояние,Устройство содержит каналы 1 и 2(и, каналов) приема сигналов, а такжесоединенные последовательн блок 3 формирования интервалов времени, блок 4заполнения счетными импульсами и блок5 памяти, выходы...
Устройство для локализации дефектов в изделиях при акустико эмиссионном контроле
Номер патента: 1024827
Опубликовано: 23.06.1983
Автор: Анисимов
МПК: G01N 29/04
Метки: акустико, дефектов, изделиях, контроле, локализации, эмиссионном
...электроакустический преобразователь расположен в центре. Они соответственно соединены с усилительными трактами 6-10. Вместе с электроакустическими преобразователями они образуют пять одинаковых каналов, третий из которых соответствует центральному электроакустическому преобразователю, Блок 11 логикии блок 12 локализации входами подключены к выходам этих каналов. Дешифратор 13 подключен к выходам блока .12 локализации. Счетчики 1415 соединены с соответствующими выходами дешифратора 13 через ключи 1617. Первый выход блока 1),.ло" гики соединен с управляющим входом ,блока 12 локализации, а второй выход подключен к блоку 18 задержки, выход дополнительного ключа 20 подключен к соединенным вместе управляю.щим входам ключей 1617. Блок 21...
Устройство для смены образцов в сверхвысоковакуумном эмиссионном микроскопе
Номер патента: 1050010
Опубликовано: 23.10.1983
Авторы: Андерсонс, Бадунс, Пасторс, Пумпурс
МПК: H01J 37/20
Метки: микроскопе, образцов, сверхвысоковакуумном, смены, эмиссионном
...столика, а держатели образцовжестко соединены с дополнительнымизубчатыми рейками, перпендикулярными 5оптической оси и связанными с предметным столиком,На Фиг. 1 показано предлагаеМоеустройство, продольный разрез; нафиг. 2 - то же,поперечный разрез. бОУстройство содержит шесть тиглей1 с образцами, закрепленными в держателях 2 образцов и размещенными в1эйранированных камерах 3 на предметном столике 4. Держатели 2 образцов 65 закреплены на концахдополнительных зубчатых реек 5, приводимых в движение зубчатым механизмом б, состоящим из зубчатого колеса 7, шестерен 8 и 9, переменно входящих в зацепление с неподвижными зубчатыми секторами 10 и 11. Строго определенное положение зубчатого колеса 7 и шестерен 8 и 9 достигается фиксирующим...
Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе
Номер патента: 1317289
Опубликовано: 15.06.1987
Метки: анализе, визуальном, расшифровки, спектральном, спектров, эмиссионном
...16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17, Между реб - ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.Устройство работает следующимобразом, 5 фотопластинки 6. При этом спектры 50 55 5 10 15 20 25 30 35 40 Для проведения анализа спектрыисследуемых проб и эталонов фотографируются на Фотопластинках на расстоянии друг от друга несколькобольшим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительноменьше исследуемой фотопластинки 6и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых прирасшифровке спектров. На предметныйстолик 4 закрепляется исследуемаяфотопластинка р вверх эмульсионнымслоем, а...
Способ подачи пробы вещества при эмиссионном спектральном анализе
Номер патента: 1536281
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Иванов
МПК: G01N 21/67
Метки: анализе, вещества, подачи, пробы, спектральном, эмиссионном
...И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОБ ПОДАЧИ ПРОБЫ ВЕЩЕСТВАИОННОМ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИретение относится к обланого анали. а состава веИзобретение относится к спектральным анализам состава веществ.Цель изобретения - устранение з рязнения пробы и повышение точности анализа за счет исключения канала подачи пробы при массовом анализе различных веществ.На фиг. изображено устройство; на фиг. 2 - вид А на фиг.1.Устройство содержит бронзовую пластину 1, трубку 2 для подачи ламинарного потока воздуха, кюветы 3 для проб, сердечник 4 электромагнита, ось 5, ограничитель б, пружины 7, втулки 8, катушку 9, магнитопровод 10, постоянный магнит 11, электроды 12, стальную пластину .13,подвиж ную часть вибратора 14, размещенные под углом к горизонтальной...
Способ возбуждения спектра при эмиссионном спектральном анализе
Номер патента: 1827592
Опубликовано: 15.07.1993
МПК: G01N 21/67
Метки: анализе, возбуждения, спектра, спектральном, эмиссионном
...30, Расстояние между верхней и нижней группами электродов - 20 мм, В качестве источника питания использован высоковольтный двенадцатифазный трансформатор 13 с Опик = 10 кВ и фзз = 0,1 А. К фазам 1 -12 трансформатора 13 электроды подсоединены через индуктивные балластные сопротивления 14 таким образом, что к двум последующим фазам подключены соответствующие верхний и нижний электроды: к фазеподключен электрод 1, к фазе 2- электрод 7, к фазе 3 - электрод 2, к фазе 4 - электрод 8, к фазе 5 - электрод 3, к фазе 6 - электрод 9 и т.д. Расстояния между электродами Цмм) в каждой группе и между группами Н (мм) связаны с фазовым током фаз, (А) соотношениемЙ = - 5 фаз, ( = 1.00 мм/А,НСпособ осуществляют следующим образом,На концы электродов...