Патенты с меткой «эмиссионного»

Номер патента: 189211

Опубликовано: 01.01.1966

Автор: Копейкин

МПК: G01J 3/443, G01N 25/14

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...паров и отл пита стем атич диянем их ми и частиц пропускВ известных способах эмиссионного спектрального анализа с испарением пробы и анализом конденсата на точность анализа оказывают влияние химические соединения определяемых элементов, их минералогическаяструктура и размеры частиц.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что пары пробы перед конденсациейпропускают через плазму электрической дуги,где они подвергаются действию высокой температуры. Способ позволяет снизить систематические ошибки анализа,На чертеже изображено устройство дляреализации способа,Порошковая проба или эталон, смешаннысс буферной смесью, содержащей элементсравнения, набивается в один или оба угольных электрода 1. Между электродами зажигается дуга,...

Номер патента: 195189

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Гвирцман

МПК: G01J 3/443

Метки: спектральногоанализа, эмиссионного

...при Известно устроиство для эмиссионного трального анализа жидких сред, выполи в виде полого цилиндра (тигля) с цент ным стержнем, помещаемым между уго ми электродами. Предложенное устройство отличается вестных тем, что один из электродов (к выполнен в виде трубки, расположенной ри полого цилиндра, Это позволяет пов чувствительность анализа. На чертеже приведено описываемое ройство. Устройство содержит полый цилиндр / ри которого расположена трубка 2, служ одновременно катодом, и второй элепомощи кварцевой обоймы 4. 5 Кидкая проба вводится в пространство между трубкой и цилиндром. Во время съемки устроиство устанавливают таким образом, чтобы отверстие трубки проектировалось на щель спектрографа. Устройство для эмиссионного спектрально....

Номер патента: 241560

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Дружинин, Дюков, Исаев, Невзоров, Седов, Спивак

МПК: H01J 29/58, H01J 37/10

Метки: иммерсионный, л1икроскопа, магнитный, объектив, электронного, эмиссионного

...содержащий корпус, являОщийся вякуумпой оболочкой устройства, магцитопро- ВОД, ВклоЯ 10 щи В сео 51 ДВЯ бдшл 1 ака, ОДин 5 из которы.; изолирован от корпуса, ооъектодержятел 5 ь и кяту ш 1 й Возоу 51 дениц, Отличается от известной конструкции тем, что с целью упрощс 11 Н 5 электрической схемы э,етрони 01 О микроскопа и обеспечения возможности про- О грев а объектива объектодержа тель соединен241560 Предмет изобретения Составитель Т. ГорчаковаРедактор Е, В. Семанова Техред Т. П. Курилко Коррекотр Е. Н. Зелкина Заказ 2078/4 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр, Сапунова, 2 с корпусом объектива и заземлен, а на башмак,...

Номер патента: 243885

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Фридман

МПК: H05B 31/18

Метки: спектральногоанализа, штатив, эмиссионного

...величину выбранного межэлектродного промежутка,15 ального епления юигийся и устаузел н в ви- ающего- оложенШтатив для эмиссионного спектр анализа, содержащий стойку, узлы кр и передвикения электродов, от.гича тем, что, с целью повышения точност 0 новки межэлектродного промежутка крепления противоэлектрода выполне де подпружиненного держателя, упир ся своим основанием в шаблон, расп ный на:выступе стойки.Известны штативы для эмиссионного спектрального анализа, содержащие стойку, на которой размещены узлы для крепления и передвижения электродов.Установка межэлектр одного промежуткаосуществляется с помощью шаблона, периодически вводимого в межэлектродный промежуток.Предложенный штатив отличается тем, чтоузел крепления...

Номер патента: 256305

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гибадулин, Дыкин, Журавлев, Кузовлев, Туев

МПК: G01J 3/443

Метки: спектральногоанализа, эмиссионного

...со сдвигом во времени, равным нулю,Выходная или входная щель спектротрафа 1 с помощью модулятора 2 попеременно занимает два крайних положения таким образом, что на детектор излучения 3 периодически поступает смесь спектральной линии с флюктуирующим фоном или только фон. Модулятор 2 представляет собой подвижную щель спектрографа. Приводом щели является электромагнит, питаемый от генератора б прямоугольных им пульсов, который используется в качестве опорного при переключении команд;реверсивного счетчика. В детекторе 3 энергия светового потока преобразуется в электрический сигнал, представляющий собой аддитивную смесь периодического сигнала, обусловленного спектральной линией, с флюктуирующим сигналом фона.С целью обеспечения работы...

Номер патента: 265540

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Вители, Золотарева, Калачев, Рубинович

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...изобретения Известен способ спектрального анализа, по которому элементы - примеси - возгоняют из пробы нагреванием на воздухе или в вакууме и конденсируют на подставном электроде.Предложенный способ отличается от известного тем, что нагревание и кондиционирование на подставной электрод пробы осуществляют в атмосфере газообразного галогена (например, хлора).Это позволяет повысить точность и чувствительность способа при определении труднолетучих элементов (например, платины), образующих с галогенами термически неустойчивые соединения,Вещество конденсатора (подставного угольного электрода) может служить в данном случае своеобразным реагентом, поглощая и закрепляя на себе все продукты реакции, обраи взаимодействии исследуемого алогеном....

Номер патента: 284358

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Косик, Трилесник

МПК: G01J 3/36

Метки: анализа, спектрального, фотоэлектрическое, эмиссионного

...содержит источник 1 возбужденияспектра, цолцхроматор 2, блок 3 иптегри 1)ующцх конденсаторов, входную коммутцрую 10 щую систему 4, логарцфмирующее устройство5, выходную камагутцрующую систему 6, лццсйцый высокоомпый вольтметр 7, калибровочную ячейку 8, регистрирующее устройство9, дополнительную коммутирующую систему5 10, программное устройство 11, систему 12 автоматики ц коммутации,Установка действует следующим образом,От источника 1 всзбуждецця спектра свет.полученцыц в результате электрического разряда между исследуемым образцом ц протцвоэлектродом, попадает через входную щель полихроматора 2 на дифракццоцную решетку,которая разлагает свет в спектр, Выделенныевыходными щелямц полихроматора спектральные линии посылаются ца...

Номер патента: 322702

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Агранов, Нков, Специальное

МПК: G01N 21/68

Метки: анализа, газов, спектрального, эмиссионного

...разряда. Этот разряд вызывают подачей высокочастотного си нусоидальпого напряжения и затем регистрируют спектр излучения возбужденного газа.Необходимость создавать в этом разряде пониженное давление, приводит к падению интенсивности спектральной линии и к сниже нию чувствительности.Сущность предложенного способа заключается в том, что электрический высокочастотный разряд в анализируемой смеси вызывают подачей импульсов высокого напряжения с 15 крутизной переднего фронта не меньшей 10 вггсек.При этом удается возбуждать свечение в газе, когда он имеет давление, равное атмосферному, или даже превышающее его, что 20 значительно упрощает конструкцию газоразрядной трубки,ои смеси при атозбуждается еации составляетния импульсовде...

Номер патента: 436270

Опубликовано: 15.07.1974

Авторы: Кочережкина, Мочалов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, сталей, эмиссионного

...СТАЛЕЙтельность анализа кулярные лось испонда зовань а и для спектраль- инертных зобретения дм Способ 10 за стале" нии спек с целью ности оп материал 15 аммиакаанали- буждем, что, вительруемых юсфере эмиссионн и при искро тров, о тл повышения ределения ов, анализго спектр вом и дуг и чаю щи точности состава проводят ального вом во йся т и чувс анализи в ат Изобретение относится к области методов эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов.Известны способы эмиссионногоного анализа в воздухе, атмосфереи других газов.Предлагаемый способ позволяет повысить точность анализа различных материалов. Достигается это тем, что анализ проводят в атмосфере аммиака, который под воздействием искры или дуги диссоциирует на азот и .атомарный...

Номер патента: 464791

Опубликовано: 25.03.1975

Автор: Фридман

МПК: G01J 3/00

Метки: анализа, спектрального, штатив, эмиссионного

...8 перемещения, переключающего устройства 9, содержащего подпружиненные фиксированные кнопки 10 с подпружиненной защелкой 11 иподпружиненные рычаги 12 с ограничителем13. Рукоятка 1 управления установлена накорпусе 14 штатива.5 Устройство работает следующим образом.Закрепленную исследуемую пробу на оптическую ось с определенной величиной межэлектродного промежутка устанавливают спомощью механизма 8,10 Для этого, в зависимости от направленияперемещения, нажимают соответствующуюкнопку 10 переключающего устройства 9, которая фиксируется подпружиненной защелкой 11. Фиксированная кнопка 10 передви 15 гает ограничитель 13, который освобождаетрычаг, поворачивающийся под действиемпружины до упора в ограничитель. Рычаг перемещает одно из...

Номер патента: 479996

Опубликовано: 05.08.1975

Авторы: Кварацхели, Хромилин

МПК: G01N 21/00

Метки: анализа, растворов, спектрального, эмиссионного

...показана схема устройства для 2анализа растворов.Устройство содержит фульгатор 1, источник возбуждения спектра 2, полихроматор 3,ФЭУ 4 в канале измерения, ФЭУ 5 в каналестабилизации, регистрирующий прибор 6, схему сравнения 7, источник опорного -напряжения 8, схему 9, управляющую работой фуль.-гатора,Полихроматор 3 выделяет линии анализируемых элементов и линию элемента, оказы ектрального точник возием ники и улирующийу возбуждес целью од фотопривность лирез схемы 1 на вход) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭМ АНАЛИЗСИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГРАСТВОРОВ вающего наибольшее влияние на условия возбуждения, Линии анализируемых элементов через выходные щели полихроматора выводятся на фотоумножители 4, сигнал с кото- Ь рых регистрируется измерительным самописцем 6....

Номер патента: 511540

Опубликовано: 25.04.1976

Авторы: Воробейчик, Данилов, Сокольский

МПК: G01N 21/00

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...матрицы эт поджи:.еюццос импульсов, вырабатываемых блоком поджига 13, в каждом кецдле уста", нов лены блокиров очные к опдецса торэ; 1 6,Временное управление ИВС (периодическое подксцочение и отключение источник 3 питания, вкл 1 очение блока 13 поджига,включение управляемых разделительных ксцо-. чей матрицы 10) осуществляется от блоке17 команд.Я"светительная система 2 установки, распс .", 1 нея между входной гцелью 18 спек-. гят:вого пр 1 Лорд 1 и аналитическими промежутками 8, выполнено в виде растрового конденсора.,11 е фиг, 2 изображен один из вариантов осветительной системы 2, который испхьдуется при рдсположец 1 П 1 дналитичоск.;х про межутков 8 вдоль одной прямой. пр 1 пецди% кулярцой к продольной эси входной шали...

Номер патента: 519790

Опубликовано: 30.06.1976

Авторы: Каган, Крапухин, Розенфельд

МПК: H01J 37/26

Метки: блок, линзы, микроскопа, объективной, электронного, эмиссионного

...поясняется чертежом, где - полюсный наконечник объективной лин 2 - магнитопровод объективной линзы,- обмотка возбуждения объективной лин- , 4 - катод устройства травления объекта, 5 - анод устройства травления объекта (стержневая часть держателя апертурной диафрагмы), 6 - стол апертурной диафрагмы, 7 - изолятор, 8 - объект,В канале полюсного наконечника 1 объективной линзы, включающей магнитопровод 2 и обмотку возбуждения 3, расположен цилиндрический стакан 4, выполняющий роль катода устройства травления, а анодом устройства травления служит стержневая часть 5 держателя апертурной диафрагмы, установленного на столе апертурной диафрагмы 6,Устройство работает следующим образом.При подаче напряжения на анод устройства травления 5 и...

Номер патента: 676912

Опубликовано: 30.07.1979

Авторы: Бочкова, Гардашников, Менбаев, Туркин

МПК: G01N 21/56

Метки: анализа, газов, спектрального, эмиссионного

...трубку 1 из кварцевого стекла с внутренними возбуждающими электродами 2 и 3. Разрядная трубка имеет входное отверстие 4 для подачи в нее анализируемой смеси и выходные отверстия о и о сброса смеси в зоне установки электродов 2 и 3, Спектральный детектор 7 установлен напротив аналитической зоны 8, выбранной так, что она находится на некотором расстоянии от/ г Составитель А. СубчевТехред Е. Жаворонкова Редактор И. Грузова Корректор С. файн Заказ 696/939 Изд.445 Тираж 1090 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССРло делам изооретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушскан наб., д. 4/5 Тип, Харьк. фил. пред, Патент введенных в разрядную трубку 1 электродов 2 и 3 и не имеет с ними непосредственного контакта. Спектральный детектор...

Номер патента: 853421

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Воропаев, Красильщик, Федорович, Чупахин, Шлякова

МПК: G01J 3/42

Метки: спектральногоанализа, эмиссионного

...и установлен соосно с толкателем вибратора.На чертеже приведен общий видустройства.20 Горизонтальный полый электропри помощи цангового держателяосно соединен с горизонтальнойвыходного патрубка 3, охлаждаемпри помощи водоохлаждающей руббункера 5 с внутренней конусной поверхностью. Электрод 1 в сборе с букером 5 установлен на толкателе бэксцентрикового вибратора 7, закрепленного при помощи стойки 8 на осно ванин 9. В качестве источника вибра853421 формула изобретения ИИПИ Заказ 562114 Тираж 907 Подписное илиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная ции использован электродвигатель 10.Верхний вертикальный противоэлектрод.11 установлен выше скоса 12 горизонтального электрода 1. Нижний горизонтальный электрод 1 включен анодом,верхний...

Номер патента: 930424

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Дубок, Зорина, Конаков, Королев, Пронкин

МПК: H01J 1/142, H01J 1/144

Метки: газоразрядных, давления, источников, катодов, материал, низкого, покрытия, света, эмиссионного

...потерь и, как следствие, к понижению КПД источника света и сокращению продолжительности горения. Цель изобретения - повышение КПД и увеличение продолжительности горения газоразрядных источников света низкого давления.Указанная цель достигается за счет применения материала для эмиссионного покрытия катодов, состоящего из окиси бария и окисла редкоземельного металла, когда в качестве материала покрытия используется стехиометрическое соединение состава ВазМе 40 э, где Ме - редкоземельный металл.Пример, Изготовление материала. Такое соединение может быть получено совмест ным прокаливанием оксалата бария и окса- лата редкоземельного металла при 1500 К с последующей термообработкой полученной смеси при 2000 К в течение 20 мин в...

Номер патента: 970509

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Барсов, Булычев

МПК: H01J 37/20

Метки: катодов, микроскопа, электронного, эмиссионного, юстировки

...другой стороны каретки смонтирована пружина 32, служащая для возврата каретки, упирающаяся своими торцами на каретку 9 и кронштейн 33, неподвижно закрепленный на пластине 4, Нагайке 25 смонтирован ролик 34, кинематически сопряженный с клиновидным звеном 35, . один из концов которого шарнирнс закреплен на пластине 5, а другойупирается в направляющую 14 риг, 3)Для возвратного перемещения при покачи- ЗОвании вокруг осипредусмотрена пружина 36, один конец которого закреплен напластине 5, а другой упирается в направляющую 14,35Другой корпус 37 со смонтированнымив нем двумя винтовыми парами закрепленна направляющих 14, Однц из этих парслужит для осуществления возвратно-по-.ступательного движения по оси 2. и содержитвинт 38 и гайку 39, а...

Номер патента: 1067417

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Брагин, Карабегов, Кодалашвили, Садагов, Хуршудян

МПК: G01N 21/72

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...ус тра 3 тьлслк 3:," С 3-.:.а 3 от сяросодяржащих Ве -щсс 1 н: .я.ноканале, к 1 зыходу уси -Ц : 1( Э СЛ,;а ВО ОСгс кана 1 а ПОД:,: . и -.:.:; а Вксния, Выход коТСС: С. 1 .Ц С ОДНИМ ИЗ ВХОДОВб 1(е( ", " "с.сНИ 3;.Пяке 3 ий3( ";ру, 0,1 у - ,; .;,; - бгка 10;кт(сЯ Входусл,.и; с. .,-.Тока второго канала. К.11 .к:" а;ах е:3 Вест 10 го,ця -ХЕКС; ,1 с: "Е.ЮТС" 51 а 3 1 И ЦЫЯ СПЕКТа( . :".;: " ,. . Г ЦЯОЗВОЛЯСТ ИСсвцт .,;: и,103. и "ука пламениНзн "1: - .: у(к 9.йс тво для эи(сеонного с.я.: рального налива, содержа-ес;.с. луч( я Обт 10 ра Ор,с нотс.: . э Стоп(якк ез;сзрисцо "а (: м 7 ан ного ,СЕОЙСТЕа53 ЛЯС 15, 03.:3,1 ЕЦЫЙ;(1 УГ РОШЕЕМ.СХа,1с .3; х Задач, что ОпряделяятСЯ С ЛО К - С - "0".ЛаИЯ СсЯ(ТИЕЦ т(Оглс,Ню 3 ; ячеек еа бОльшое...

Номер патента: 1087847

Опубликовано: 23.04.1984

Автор: Аполицкий

МПК: G01N 21/68

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...что в устройстве для эмиссионного спектрального анализа, состоящего из четырех электродов, соединенных с системами низковольтного питания дуги и поджигающих высоковольтных контуров, приспособление подачи порошкового материала в межэлектродное пространство, электроды установлены с нак лоном 45-55 относительно горизонтальоной плоскости и попарно между собойопод углом 45-60, а их концы расположены в одной плоскости, при этом системы низковольтного питания дуги подключены к каждой паре электродов, рас 2оложенных в перекрестном направлении,электрически не связаны между собой.На фиг.1 изображено схематическоепространственное расположение электроов; на фиг.2-электрическая схема предагаемого устройства,Устройство для эмиссионного...

Номер патента: 1092391

Опубликовано: 15.05.1984

Авторы: Огнев, Огнева, Шевченко

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, порошковых, спектрального, эмиссионного

...скоростью 15-25 об(мин в постоянном поперечном магнитном поленапряженностью 30-40 Э.На чертеже показана общая схемаустройства реализующего предлагаеььй способ.Схема включает электрод 1 с пробой (анод, противоэлектрод 2 (катод),электромагниты 3, включающие соленоиды 4 и сердечники 5 блок 6, служащий для вращения электрода 1 с пробой и включающий двигатель 7 (например РД-О 9-А), цаягу 8 для закрепле-ния электрода 1 с пробой, связаннуюс двигателем 7 при помощи передаточного мехаяизма 9,Соленоиды 4 имеют одинаковое количество ы тков (300-350). Сердечники5 изготовлены из отожженного железа,имеют диаметр -8 мм и длину 40-50 ммкаждык. Для уменьшения рассеиваниямагнитного поля полюса сердечников5, обращенные к электроду 1 с пробой,сточены на...

Номер патента: 1122944

Опубликовано: 07.11.1984

Авторы: Максимов, Рудневский, Шишов

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, летучих, неорганических, примеси, спектрального, хлоридов, щелочных, элементов, эмиссионного

...кадмия в количестве 658 10 "-12" 10 фг.На фиг, 1 показана зависимость,интенсивности линии натрия от процентного содержания кадмия в растворе; на фиг. 2 - градуировочные графики для определения натрия в исследуемом концентрате,В качестве примера реализации предлагаемого способа описан анализ летучего хлорида германия (СеС 14) на примесь Иа.Анализ по предлагаемому способупроизводится следующим образом,Концентрат примеси после вакуумной дистилляции растворяют в 2 млконцевтрированной азотной кислоты,Затем на торец основания полого катода наносят 5-б -ный раствор азотнокислого Сд в количестве 0,02 мл.Раствор высушивают под кварцевой лампой и покрывают его пленкой полистирола путем осаждения на него однойкапли 0,5 .-ного раствора...

Номер патента: 1239560

Опубликовано: 23.06.1986

Авторы: Воронкова, Климова

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, легкоплавких, спектрального, сплавов, эмиссионного

...проводится спектральный анализ по разработанным меодикам,.В предлагаемом электроде анализируемая проба легкоппавкого сплава распределена .послойно между слоями фольги из металла с высокой тепло- проводностью (медной). Проба на под-. ложке имеет однородную атруктуру благодаря быстрому охлаждению тонкого слоя расплава на структуру, бла" годаря быстрому охлаждению тонкыго слоя. расплава на фольге, имеющую высокую теплопроводность, Нослойиое95 бО2распределение пробы на предлагаемойподложке способствует более равномерному и воспроизводимому отводутепла в глубокие слои пробы в процессе спектрального анализа, чтоустраняет нестабильность температур-ного градиента и способствует ста-бильности физико-.химических процессов на электроде. В...

Номер патента: 1346984

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Брагин, Кодалашвили, Локоть, Хуршудян

МПК: G01N 21/72

Метки: анализа, световодное, спектрального, эмиссионного

...4 и 6 через соответствующие интерференционные Фильтры 9 и 10 направляется на фотоприемники 11 и 12.На Фотоприемники подаются с помощью вторых световодов 5 и 7 световые импульсы от импульсного источника 8 излучения. Частота импульсов 1-10 кГц. Сигналы с фотоприемников усиливаются усилителями 13 и 14. На выходе усилителей имеются сигналы11 = Ко К ЮФ)И) Кз С х+17+ ЙЕ)+ +У,И,к,)к,-. (ъ)КДК,К,У=К,Кц(Ь,)(ъ)К СЧЯ(й)+ + Ф,(%э о)К 4 (ф)К 11 КсРа Кд ф где К - коэффициент, характеризующий эффективность горелки изависящий от состава горючего газа, геометрии горелки и те,КК - коэффициенты, характеризующие зоны, расположенные навысоте ЬЬ от основаниягорелки;Ч"(Ь) - Функция, описывающая зависимость интенсивности эмиссионного излучения от высоты...

Номер патента: 1329369

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Ефремов, Манжай, Тарараксин, Чернов, Шемякин, Яковлев

МПК: G01N 29/04

Метки: акустико, многоканальное, цифровое, эмиссионного

...АЭ ниспадающую часть каждой полуволны.На отдельных участках фронта сигнала АЭ может иметь место уменьшениеамплитуд полуволн сигнала АЭ, обуслонленное интерференцией отраженныхволн, волн различных мод и т.пустройство регистрирует полностьюфронт сложного сигнала АЭ.Это позволяет улучшить временнуюпривязку к фронтам сигналов при определении разности времени прихода сигнала АЭ по разным каналам приема.35Так, в частности, исключается ошибкапри привязке к фронту сигнала АЭ помаксимальной амплитуде. Это достигается за счет введения первого ивторого дешифратора 40, 41 и счетчика 39 экстремальных значений. Значение кода выборки, записанного в регистре 12 максимальных значений, является порогом, при превышении которого абсолютной величиной...

Номер патента: 1448251

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Копейкин, Штепан

МПК: G01N 21/74

Метки: абсорбционного, анализа, атомизатор, атомно, тигельный, электротермический, эмиссионного

...воздуха в аналитическую зону через отверстия 2,8 и 11. Это обеспечивает существенный рост температуры аналитической зоны и уменьшает содержание в ней кислорода, что повышает правильность анализа, снижает пределы обнаружения, расширяет 48251 8круг определяемых элементов и увеличивает срок сдужбы амортизатора.Наличие в оправках 13 отверстий 145,позволяет продувать отверстия 2,8и 11, а также канавки 9 инертнымгазом, что значительно уменьшаетконцентрацию остаточного воздуха встакане 10 и вокруг него, Это повы 10 шает правильность и чувствительностьанализа, расширяет круг определяемыхэлементов и увеличивает срок службыатомизатора,Наличие дополнительного стержня -испарителя 16 повышает правильностьанализа твердых проб. Испаряясь со1стержня,...

Номер патента: 1569680

Опубликовано: 07.06.1990

Авторы: Скуратова, Трапицын

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, припоев, спектрального, эмиссионного

...в течение полупериода. Изменяя соотноше 55ние между паузой и длительностьювспышки мо".по влиять на величину поступления вещества гробы в область разряда, 11 ри Фазе поджига дуги 60 достигается максимальная интенсивность аналитических линий элементовза счет увеличения времени жизни атомо в в разряде дуги, Экспериментальноустановлено, что изменение фазы поджига также влияет и на наклон градуировочного графика, что показано втабл,2.Соотношение буфера с пробой и стандартными образцами 1:1 создает оптимальную упругость паров для выходаанализируемых элементов припоя изканала электрода в дуговой разряд ипоследующее их возбуждение.Добавка в буфер 5-122 лития в соединении 1,хОН создает требуемый энергетический режим для перевода...

Номер патента: 1649394

Опубликовано: 15.05.1991

Авторы: Васильева, Гринштейн, Кацков, Пелиева

МПК: G01N 21/74

Метки: абсорбционного, анализа, атомизатор, атомно, спектрального, трубчатый, электротермический, эмиссионного

...полости между печью и вкладышем, что позволяет дозировать пробы большого1 Г 4объема, а следовательно, снижает .-;ределы обнаружения,Диаметр отверстия внутри вкладышасоставляет 0,3-0,6 внутреннего диаметра печи. Это обусловливает незначительное экранирование вкладышемрабочего пучка света, что приводитк снижению пределов обнаружения. Вто же время сохраняется значительньпобъем полости между печью и вкладышем,Толщина стенок вкладьппа составляет 0,3 - 1,1 толщины стенок печи.Приэтом обеспечивается достаточная задержка поступления паров пробы ваналитическую зону (0,5 с). чтоприводит к росту эффективной температуры атомизации, а следовательно,к снижению пределов обнаружения,Применьшей толщине жидкая проба просачивается сквозь стенки...

Номер патента: 1651110

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Горбачев, Демин, Клейнерман, Султанбеков

МПК: G01J 3/443

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...25сигналы с элементов 14 и 15 Фотоприемника 5, на которые направлены выходные торцы световодов, также будутравны, В этом случае блок 9 сравненияразрешает выдачу сигналов с первой 30группы 13 элементов Фотоприемника 5,на которые падает спектр исследуемого вещества. В случае смещения центра изображения от центра,входной щели,2 световые сигналы, падающие на1 входные торцы световодов 3 и 4, будут , различны, сигналы с элементов 14 и 15Фотоприемника 5 также будут различны,Блок 9 сравнения в случае выходаэтих сигналов 43 заданного интервала 40Формирует сигнал запрета на считывание с блока 8 сопряжения во внешниеустройства для дальнейшего анализа.Таким образом, инФормация, считанная с Фотоприемника 5, используется в 45случае, когда...

Номер патента: 1684635

Опубликовано: 15.10.1991

Автор: Северин

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, количественного, металла, спектрального, эмиссионного

...лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, Цель изобретения - повышение воспроизводимости и точности результатов анализа. При переходе от обыскривания к экспозиции аналитический промежуток уменьшают на 0,4 - 0,6 первоначальной величины. ния в области экспозиции значительно уменьшится.Способ осуществляют следующим образом,Устанавливают по шаблону или оптическому иэображению аналитический промежуток равным Н, Включают электрический разряд на время обыскривания То. Выключают разряд, Устанавливают промежуток и параллельным смещением пробы вдоль оси вспомогательного электрода. Включают электрический разряд на время экспозиции, установленное из требований конкретно решаемой аналитической задачи.П р и м е...

Номер патента: 1693490

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Белоусов, Бородин, Ведерников, Семенов, Хитров

МПК: G01N 21/67

Метки: анализа, спектрального, эмиссионного

...тока, Так как пауза между импульсами отсутствует, новые порции анализируемого вещества в дугу не попадают и энергия второго импульса расходуется на "довозбуждение" паров вецества, удерживаемых плазмой с момента первого импульса. Это подтверждено осциллограммой 8 интенсивности аналитического сигнала,В таблице приведены результаты сгектрального определения наиболее трудноопределяемых тугоплавких металлов - гафния, циркония, тантала и ниобия (0,050 каждого). Определения выполнены на стандартнем образце И 0 (СО ЛЬ 22-70) при следующих общих условиях спектрального анализа: навеску вещества СО 15 мг смешивают с навеской 85 мг графитового порошка крупностью - 0,1 мм марки ОСЧ, смесь вводят в дуговой промежуток между угольными электродами с...