Способ контроля неровности поверхности

Номер патента: 838331

Авторы: Белый, Говорун, Кошеленко, Охрименко

ZIP архив

Текст

Союз Советскнк АНИЕ Соцналнстнческнк РеслублнкК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нительное к авт. свид-ву 2) Заявлено 21.09.79 (21) 2820913/25 1)М Кл 601 В 11/3 киприсое нием Гееударственнмй кемктет(72) Авторы изобретения ордена Ленинаим, Т.Заявитель иевс СОБ КОНТРОЛЯ НЕРОВНОСТИ ПОВЕРХНОС 4 да Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а более конкретно к бесконтактным, неразрушающим способам измерения параметров отступления поверхности от прямолинейности, и может быть использовано в океанографии, строительстве, инженерной геодезии, геофизике и картографии.Известны бесконтактные неразрушающие способы измерения параметров профиля поверхности, основанные на облучении исследуемой поверхности пучком света, приеме отраженного пучка света и измерении его характеристик, в частности - интенсивности 11.Данные способы измерения параметров прямолиейности поверхности имеют ограниченные функциональные возможности, а именно: измеряют среднеквадратичную высоту микронеровностей на исследуемой поверхности порядка длины волны света и совершенно непригодны для измерения среднеквадратичных размеров макронеровностей, которые видны невооруженным глазом.Наиболее близким к предлагаемому, является способ контроля неровности поверхсударственный университет .Шевченко ности, заключающийся в том, что контролируемую поверхность облучают световым потоком, измеряют величину отраженного потока и определяют неровность поверхносг.а Недостатком данного способа являетсянеприменимость его в случае контроля поверхностей с макронеровностями.Цель изобретения - расширение виконтролируемых поверхностей.Поставленная цель достигается тем, чтомодулируют во времени облучающий поток, последовательно измеряют амплитуду переменной составляющей отраженного от контролируемой поверхности потока на двух отличных одна от другой частотах, облучают эталонную поверхность модулированным во времени излучением, измеряют величину потока излучения, отраженного на двух отличных одна от другой частотах, определяют среднеквадратичное отклонение контролируемой поверхности от эталонной и по Ф нему судят о неровности поверхности.На чертеже схематически изображеноустройство для реализации предлагаемого способа.838331 1. Воронцов Л. И. Фотоэлект 1,ическиесигналы, контроля линейных величин. М.,Машиностроение, 1965, с. 86 - 89.2. Авторское свидетельство ОХР508670, кл. С 01 В 11/30 1972 (прототип). Составитель Н. Ч аик Техред А. БойкасТираж 642 ИИПИ 1 осударствеиного ком по делан изобретений н о 5, Москва, Ж - 35, Раущска ППП Патентэ, г. Ужгород,ича Корректор Г. РешетниПодписноеСССРРедактор Н. Вол Заказ 440355русмой поверхности от эталонной и по немусчдят о неровности поверхности. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе

Смотреть

Заявка

2820913, 21.09.1979

КИЕВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ГОСУДАРСТВЕННЫЙУНИВЕРСИТЕТ ИМ. T. Г. ШЕВЧЕНКО

БЕЛЫЙ МИХАИЛ УЛЬЯНОВИЧ, КОШЕЛЕНКО ВИКТОР ПАВЛОВИЧ, ОХРИМЕНКО БОРИС АНДРЕЕВИЧ, ГОВОРУН ДМИТРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/30

Метки: неровности, поверхности

Опубликовано: 15.06.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-838331-sposob-kontrolya-nerovnosti-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля неровности поверхности</a>

Похожие патенты