Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 641275
Авторы: Маркарян, Мартиросян
Текст
(5) М. Кл, О 01 В 11/ЗО Государственный комитет ссср оо делом изаоретений и открытий(72) Авторы изобретения Р. Б, Мартиросян и С, Р, Маркарянс Г Ереванский политехнический институт имени Карла Маркса(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ПРИ ОБРАБОТКЕ ЕЕ НА СТАНКЕИзобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям, основанным на явлении интерференции света.Известен способ определения качества обработки поверхности, заключающийся в том, что на исследуемую поверхность направляют скользящий по поверхности пучек световых лучей и по отношению спектральных коэффициентов отражения этих лучей от исследуемой и эталонной поверхностей судят о средней высоте неровностей поверхности.Такой способ определения шероховатости поверхности приемлем только для матовых стеклянных шлифованных поверхностей.Известен способ измерения шероховатости поверхности при обработке ее на станке, заключающийся в том, что на исследуемый участок поверхности направляют световой пучок лучей н наблюдают интерференционную картину 2).При этом на измеряемую поверхность накладывают плоское стекло. Интерференционная картина возникает в результате образования воздушного клина между плоско- параллельной стеклянной пластиной и контролируемой поверхностью,К недостаткам данного способа относятся: невозможность оценки шеро".оватости цилиндрических поверхностей;субъективность оценки яркости интерференционной картины наблюдателем;невозможность измерения точной велнчи.ны высоты неровностей поверхности;внесение в результат измерения погреш.ности, обусловленной неточным изготовлением плоскопараллельной стеклянной плас.тины.1 В Целью изобретения является увеличениеточности и упрощение измерения шероховатости поверхности и пределах Кк -- 0,8 - 20 мкм.Поставленная цель достигается тем, чтоопределяют угол падения луча на исследуемый участок поверхности, длину волны; соответствующую цвету интерференционной картины исследуемого участка поверхности, угловые параметры режущего инструмента и по ним судят о шероховатости поверхности, 2 ОПредложенный способ поясняется чертежом.Пучок параллельных лучейлампы 2накаливания направляют на исследуемую поверхность 3 детали 4 в плоскости, перпен641275 Формула изобретения резрохогами учас- дено Составитель П, К)Текред О. ДуговаяТираж в 6ИПИ Государственного коинтво делам изобретений н о5, Москва, ЖРзушскаяППП Патентэ, г. Ужгород,ровКорректор Л.Подписноеета СССРткрьпийнаб., д. 4/5ул. Проектная,Редактор А, МурадянЗаказ 7494/35ЦНИ еселовская 3Фнл над дикулярной следам от токарной, фрезерной, строгальной или шлифовальной обработки, Глаз 5 наблюдателя и лампу 2 накаливания располагают в той же плоскости на нормали к исследуемому участку обработанной поверхносги 3. Затем одновременно переме. щают относительно закрепленной на столе 6 станка детали 4 до появления интерференционной картины в блике на исследуемом участке поверхности 3. Определяют длину волны 1, соответствующую цвету интерферен 1 О ционной картины на исследуемом участке, угол 1 падения луча на данный участок и геометрию режущего инструмента и по ним судят о шероховатости новерхиости.Явление интерференции обусловлено сп. тическими свойствами поверхности, Пучок 15 лучей, отразившись от соседних микронеровностей, имеющих направленное расположе. ние, приобретенное в результате обработки, начинает ннтерферировать нз.за геометрически разных отрезков пути, проходимых двумя отраженными лучами.Числовое значение высоты неровностей в случае токарной, фрезерной и строгаль- нМ обработок вычисляют по формуле где - длина волны;2= Л Я - условие, при котором воно наблюдение интерференции;р - главныйугол в плане резца;р - вспомогательный угол в планеца;1 - угол падения луча.Предложенный способ можно исповать для предварительной оценки шеватости поверхности, шлифованной крна металлической связке, для которыхтие связки в процессе микрорезания св к минимуму, Приблизительное значение ве личины К, определяют по формуле1,гвв В сов(1 - )2где в - среднее значение угла заострения вершин зерен для данных зернистости и абразивного материала.Предложенный способ позволяет без снятия детали со станка точно измерить шерохо. ватость поверхности, полученной прн точении, фрезеровании, строганин, и предварительно оценить шероховатость поверхности, полученной при круглом или плоском шлифовании. Данный способ обладает повышенной точностью по отношению к существующим способам оценки шероховатости на рабочих местах. Способ измерения шероховатости поверхности при обработке ее на станке, заключающийся в том, что на исследуемый участок поверхности направляют световой пучок лучей и наблюдают интерференционную картину, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности н упрощения измерения шероховатости поверхности в пределах й =0,8 - 20 мкм, определяют угол падения луча на исследуемый участок поверхности, длину волны, ссютветствующую цвегу интерференционной картины исследуемого участка поверхности, угловые параметры режущего инструмента и по ним судят о шероховатости поверхности.Источники информацигР принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР102321, кл, б 01 В 11/30, 1953.2. Авторское свидетельство СССР238798, кл. б 01 8 1/30, 1967.
СмотретьЗаявка
2437697, 23.05.1977
ЕРЕВАНСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. К. МАРКСА
МАРТИРОСЯН РАФИК БАЛАБЕКОВИЧ, МАРКАРЯН СЕРГЕЙ РУБЕНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: обработке, поверхности, станке, шероховатости
Опубликовано: 05.01.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-641275-sposob-izmereniya-sherokhovatosti-poverkhnosti-pri-ee-obrabotke-na-stanke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения шероховатости поверхности при ее обработке на станке</a>
Предыдущий патент: Фотоэлектрическое устройство для контроля прямолинейности
Следующий патент: Пневматическое устройство для измерения диаметра резиновых колец
Случайный патент: Диаметральный вентилятор