Способ определения чистотыобработки поверхности изделий

О П И С А Н И Е 11794369ИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Республик(22) Заявлено 17.01,79 (21) 2713421/25-28 (51) М.Кл. 6 01 В 11/30 заявки с присоединен судлрственный комит Пр нор итет о делам изобретений и открытий(53) ано 07,01.81. Бюллетень1ликования описания 22.01,81 3) Опубли ата опу 2) Авторы изобретен ниенко и И, Н. Михальч 71) Заявитель 4) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ2 контролируемую ловерхт вокруг оси, перпендикупадения светового потоИзобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к оптическим методам измерения шероховатостей поверхностей.Известны оптические опособы определения чистоты обработки поверхности ,изделий, основанные на том, что,на контролируемую поверхность направляют световой поток и регистрируют световой лоток, отраженный от .контролируемой поверхности, определяя чистоту обработки по,изменениям, которые претерпевает световой поток при отражениями от контролируемой поверхности 1,Однако этот способ обладает невысокой точностью определения чистоты поверхности или требует дорогостоящего и сложного в использовании Оптического оборудования (интерферометры).Наиболее близким ло технической сущности,к предлагаемому изобретению является способ определения чистоты обработки поверхности изделий, заключающийся в том, что световой поток направляют на контролируемую поверхность и регистрируют отраженный от этой поверхности световой поток 2.При измерении,ность повор.ачиваюлярной плоскости жа, и регистрируют значения углов наклона контролируемой поверхности, для которых отношение интенсивностей отраженныхпотоков принимает определенные значения.В этом способе, исключается неточность измерений, связанная с зависимостью интенсивности отраженного пучка света отсвойств материала, из которото состоит конъролируемая поверхность.10 Однако данный способ не исключает необходимости измерения абсолютных значений интенсивностей отраженных световыхпотоков, что .вносит,в определение чистотыобработки,поверхности ошибки. Кроме того,15 способ имеет ограниченную номенклатуруконтролируемых изделий, так как он .не позволяет без дополнительных затрат времени,оборудования и энергии контролировать поверхности изделий, .имеющих крупные габариты или сложную форму,Целью изобретения является повышениеточности определения чистоты обработкиповерхностей и расширение .номенклатурыконтролиоуемых изделий.25 Это достигается тем, что .в фиксированной плоскости и на фиксированном расстоянии от основного светового потока направляют дополнительный световой поток на,контролируемую поверхность, фокусируютзО эти световые потоки,в одну точку кантро 794369Ь 15 1 О 20 25 зо 35 40 45 50 Ег -г фа - 1 д 1 55 лируемой поверхности, перемещают световые потоки в одном направлении в указанной плоскости относительно контролируемой поверхности, регистрируют моменты изменения интенсивностей отраженных световых потоков и по разности расстояний, на которые перемещается каждый световой поток между моментами изменения интенсивностей отраженных потоков, и углам наклона световых потоков к контролируемой повеохности определяют чистоту обработки поверхности.На фиг. 1 изображена структурная схе,ма устройства (вариант, выполнения), реализующего предлагаемый способ; на фиг.2 - схема, поясняющая способ.Устройство содержит узел 1 источников световых потоков, электромеханический узел 2 привода, блок д фотоприемников, блок 4 считывания, обработки сигналов фотоприемников и индикации результатов олределения чистоты обработки поверхности и контролируемую поверхность 5.На фиг. 2 имеются следующие обозначения: Уь У, - положения источников световых потоков при лервом изменении интенсивности отраженных потоков; Уь l - новое,положение источииков при,втором изменении интенсивности каждого из отраженных потоков; . ь 1- расстояния, пройденные каждым источником от первого изменения О интенсивности отраженного потока данного источника до второго измене,ния ь г интенсивностями каждого источника соответственно; а, у - углы световых пото,ков 1 г, Е к контролируемой поверхности 5; отрезок ВК=Ь - высота элемента АВС(неровности контролируемой повврхности); вектор Р указывает направление перемещения источников в плоскости Р их размещения (на фиг. 2 плоскость Р параллельна контролируемой поверхности). Значение г (фиг. 2) вычисляется из вы- ражения Слособ осуществляется следующим образом.Световые потоки от узла 1 источников световых потоков фокусируют в одну точку контролируемой поверхности 5 (фиг. 1).Узел 1 приводят в движение с ломощью узла 2,привода. Отраженный от .контроли,руемой,поверхности 5 световой поток регистрируют в блоке 3 фотоприемников, сигнал с которото поступает в блок 4, куда также поступают данные о скорости перемещения из узла 2 привода и из узла 1 о величине углов наклона световых потоков к контролируемой поверхностен 5. В блоке 4 проводится усиление сигналов с фотоприемников, фиксация моментов изменения уровня этих сигналов и вычисление расстояния, на которое перемещаются источники между изменениями интенсивности отраженных потоков, затем по разности этих расстояний 1. и Е, при известных углах наклона а и у лотоков вычисляются параметры чистоты обработки поверхности.Предлагаемый способ повышает точность определения чистоты ловерхностей за счет исключения измерения абсолютных значений интенсивностей и расширяет .номенклатуру изделий, чистота обработки которых может быть определена путем исключения операции поворота изделий, поверхность которых контролируется. Формула изобретения Сяособ определения чистоты обработки поверхности изделий, заключающийся в том, что световой поток .направляют на контролируемую поверхность и регистрируют отраженный от этой поверхности световой поток, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения и расширения номенклатуры контролируемых,изделий, в фиксированной плоскости и на фиксированном расстоянии от основного светового потока, направляют дополнительный световой, поток на контролируемую поверхность, фокусируют эти световые потоки в одну точку контролируемой поверхности, перемещают световые потоки,в одном направлении в указанной плоскости относительно контролируемой поверхности, регистрируют моменты изменения,интенсивностей отраженных световых потоков и,по разности расстояний, на которые перемещается каждый световой поток между моментами изменения интенсивностей отраженных потоков, и углам наклона световых потоков к контролируемой поверхности определяют чистоту обработки поверхности. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. Авторское свидетельство СССР250465, кл, Сг 01 В 11/30, 1968.2. Авторское свидетельство СССР508670, кл. Сг О 1 В 11/30, 1972 (прототип).794369 Составитель Л. Лобзова Техред В, Серякова Корректор И, Осиповская Редактор М. Стрельникова Заказ 1754/61 Изд.135 Тираж 672 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Тип, Харьк. фил, пред. Патент