G01N 21/958 — осмотр прозрачных материалов

Номер патента: 301601

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Вольп, Дорофеева, Забелышенский, Иглицын, Коло, Лагутин, Осаганова

МПК: G01N 21/958

Метки: выявления, неоднородностей, образцов1ая, оптических, прозрачных

...в материале образца, а также ряд других структурных дефектов оптического или полупроводникового материала.Регистрирующий блок 14 содержит релейную схему, интегратор, тактовый генератор, фазочувствительную схему сравнения, эталонный источник напряжения, стрелочный прибор - индикатор эталонного напряжения, триггерную схему синхронизации и кнопочное устройство оперативных переключений.Программирующий блок 18 содержит число- импульсную схему с дешифратором, тактовый генератор, преобразователь для щаговых электроприводов 7 и 8, электромеханическую систему обратной связи и два реле времени. 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 Регистрирующий блок 14 совместно с про. граммиругоц 1 им блоком 18 вполняе автоматическое измерение и регистрацию...

Номер патента: 949434

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Белянин, Буленков

МПК: G01N 21/958

Метки: внутренних, кристаллов, кристаллографической, несовершенств, ориентации, прозрачных

...образца параллельно горизонтальной оси вращения. кристалла. Операция проводится при помощи двух дуг гониометрической головки. После этого одна из боковых граней образца соответствующей ручкой становится в горизонтальное положение. Горизонтальная установка проверяется по достижению одновременности фокусировки двух параллельных ребер этой грани. Другой ручкой производят перемещение кристал. ла для введения анализируемого участка несовершенства в поле зрения окуляра микроскопа. Риску на стекле окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно ребру пересечения боковых граней кристалла 5 и фиксируют показания шкалы барабана 8. Затем ту же риску путем вращения окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно анализируемому участку...

Номер патента: 1320667

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Ибраимов, Кринов, Олейников, Палант, Соболевская, Степнов, Херсонский

МПК: G01J 1/04, G01N 21/958, H01L 21/66 ...

Метки: качества, оптически, пластин, прозрачных

...фототока усиливается усилителем 12, логарифмируется и черезблок 14 управления поступает в блок15 памяти вычислительного прибора.Затем включается реле 5 и плоская диафрагма 3 заменяется объемной 4. Вэтом положении фотоприемником 2 регистрируется излучение, прошедшеесквозь образец 11 без изменения направления и вектора поляризацииЗарегистрированный сигнал логарифмируется и через блок 14 управления поступает на схему 16 вычитания. Одновременно на схему вычитания из блока 15 памяти поступает первый сигнал.По величине разности сигналов определяется разность линейных коэффициентов поглощения материала при первом и втором измерениях.В положении, показанном на чертеже, измеряется оптическое пропускание материала (измеряются...

Номер патента: 1712843

Опубликовано: 15.02.1992

Автор: Гребнев

МПК: G01N 21/958

Метки: дефектов, оптических

...оптической детали, луч лазера рассеивается, В результате этого образуется диффузно отраженное световое поле в телесном угле около 30-40 вокруг падающего луча с центром на дефекте, Приемные торцы световода 4 воспринимают это световое поле и передают на фото- приемник 5, электрический сигнал на выходе которого регистрирует блок 6. Отсюда следует, что приемнсчй торец световода желательно иметь круговой формы для приема всего отраженного и рассеянного дефектом светового потока.Однако попадание на приемный торец световода зеркально отраженного от криволинейной поверхности контролируемой линзы, а также преломленного, отраженного плоским зеркалом 3 и повторно преломленного контролируемой линзой лучей лазера является сильной помехой приему...