Патенты с меткой «несовершенств»

Номер патента: 949434

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Белянин, Буленков

МПК: G01N 21/958

Метки: внутренних, кристаллов, кристаллографической, несовершенств, ориентации, прозрачных

...образца параллельно горизонтальной оси вращения. кристалла. Операция проводится при помощи двух дуг гониометрической головки. После этого одна из боковых граней образца соответствующей ручкой становится в горизонтальное положение. Горизонтальная установка проверяется по достижению одновременности фокусировки двух параллельных ребер этой грани. Другой ручкой производят перемещение кристал. ла для введения анализируемого участка несовершенства в поле зрения окуляра микроскопа. Риску на стекле окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно ребру пересечения боковых граней кристалла 5 и фиксируют показания шкалы барабана 8. Затем ту же риску путем вращения окулярного микрометра 7 устанавливают параллельно анализируемому участку...

Номер патента: 1490569

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Годзиковский, Назаров, Цывин

МПК: G01N 3/20

Метки: несовершенств, образец, упругости

...1,2,,3,4 пересекались в центре "0" перемычек 5,6. При этом пара пластин 1,2установлена параллельно паре пластин 3,4, Захватные части 7,8 образцавыполнены в виде двух перпендикулярных плоскости пластин 1-4 плит, которые жестко соединень с концами парпластин 1,2 и 3,4 так, что образуютсовместно с ними и перемычками 5,6параллелограмм, На наружные поверхности пластин 1-4 укрепляют (наклеивают) тензорезисторы 9. На одной из перемычек 5 выполняют прилив дпя крепления на нем указателя перемещений ввиде жесткого стержня 10, Для наблюдения за перемешением конца стержняустанавливают какой-либо оптическийизмеритель 11 перемещений, напримеркатеточер, раэерный интерферометри т.п. Тензореэисторы 9 электрическисоединяют через коммутатор 12 с прибором...

Номер патента: 1679313

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян

МПК: G01N 23/20

Метки: дилатационных, исследования, монокристаллов, несовершенств, рентгеноинтерферометрический

...от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего кристалла, получают1 11 оьь ЮьоКопо - Ив1. В двухкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первого и второго кристаллов отличаются одно от другого, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или второго кристалла.2. В трехкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первых двух(первого и второго) или последних двух (второго и третьего) кристаллов одинаковы, но отличаются от межплоскостных расстояний оставшегося (третьего или первого) кристалла, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего...