G02B 27/52 — фазо-контрастная оптика

Номер патента: 91875

Опубликовано: 01.01.1951

Автор: Бурмистров

МПК: G01M 11/02, G01N 21/41, G02B 21/14 ...

Метки: испытательные, микроскопов, тесты

...хрома, коцдецсироваРРого и вакууме ш фоОГ 3)дфпЧСС 1(ИС Ц;ООРЯЖСЦИЯ 1 ССОВ Цс ХРОМ ИРОВЯПП 1 Х СЛ 05 Х Ко;1. гОИ,ОБ 13;Смол., рУГс слои ( воск и рдзлицыс Грмпт 11) цри цсОбхо,Тимох ллитсги цом травлении и осооенцо выцслачивди осгаот от с.кла, 3 1 остепеццым опускаисм Б кСлоту фазового клип;1 пс и)лу чаются 3 з-зд действия капиллярных сцл ца смдч 133 схост, сгеклд в х ких 1 ромсжугкх (е)к (у птр 1 хя 13. ) )р 3 с 3 елль,.,л 51 пог 31 р(13.13 ии фдзоОГО кли 133 т 11)к( цс Го )5 1 С 51 пз.зд пслосттоГН 01 их твеРДОСТ 1.11 Г) с л м с т п 3 0 б р с т с и и 511. И(п 1 т(;ццье (.с 1;л 5 коптрол 51и к Г)оско 0, ы пол псцв иыс и Би;с системы штрихов, цацсссццых ца прозра цуо основу и рясполо)ксцньх рупца.1 и 0 чсть 11)см ияправлениям к...

Номер патента: 998998

Опубликовано: 23.02.1983

Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Шаров

МПК: G02B 27/00, G02B 27/09, G02B 27/52 ...

Метки: оптический, прибор

...кромки основного,.вспомогательных и дополнительных но-.жей фуко выставляются параллельно5 008008 6входным щелям 11-14 по их иэображе, 55 и 56 полностью перекрыты кромниям в плоскости визуализируюшей диаф-. ками ножей 34 и 39, при смещении этихрагмы 32. Основной ЭЗ и вспомога- изображений одно или два из них выходяттельные 34-36 ножи фуко частично пе- . иэ за кромок ножей Э 4 и 39. Одноизображе фрекрывают иэображения 41-48 плечние выходит только в том случае, когда смекрестообразных диафрагм, а дополнитель- шение происходит вдоль оси Х или вдольные ножи фуко 37-40 - изображения . осн У. Суммарная площадь открытых49-56 плеч диафрагм. После визуали-. частей плеч, а следовательно, и осверующей диафрагмы световые лучи, отра-...

Номер патента: 1027669

Опубликовано: 07.07.1983

Авторы: Бугаенко, Витриченко, Дудинов, Цветкова

МПК: G02B 27/52

Метки: прибор, теневой

...и регистрирующее устройство, оптически сопряженное с исследуемым объектом, на полуволновуюФаэовую пластину нанесено поглощающее металлическое покрытие с градиентом плотности, перпендикулярнымфаэосдвигающей ступени пластины,имеющее нулевое пропускание на линии фазового скачка, причем пластина выполнена из двух различных сортов оптического стекла, у которыхдля средней длины волны рабочегоспектрального интервала производныепо длине волны отношений показателяпреломления к длине. волны равны между собой.На фиг, 1 показана оптическая схема теневого прибора; на фиг. 2устройство волуволновой амплитудноФазовой пластины и вид зависимостиее амплитудного пропускания от координаты вдоль оси, перпендикулярнойфазосдвигающей ступени...

Номер патента: 1059530

Опубликовано: 07.12.1983

Авторы: Камалов, Сухоруких, Харитонов, Чекменева, Шаров

МПК: G01N 21/00, G02B 27/52

Метки: исследования, неоднородностей, оптический, прибор, прозрачных

...и увеличивается погрешность определения параметров исследуемой неоднородности, Наи более сильно этот недостаток прибо. - ра проявляется при исследовании слабых неоднородносТей, например, потоков разреженного газа в аэродинамических установках. Цель изобретения - повьааение точности измерения оптических характеристик прозрачных неоднородностейПоставленная цель достигается.тем, что в оптическом приборе для исследования прозрачных неоднородностей, содержащем четыре осветительных и четыре приемных канала, первый коллиматор с диафрагмой, установленной в его передней Фокальной плоскости и включающей две щели, выполненные в диагонально расположенных квадрантах диафрагмы, второй коллиматор с диафрагмой, установленной в его задней Фокальной...

Номер патента: 1562687

Опубликовано: 07.05.1990

Автор: Клева

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G02B 27/52 ...

Метки: объекта, поверхности, формы

...схема, реализующая способ определения формы поверхности. Схема содержит кювету 1 с плоской стеклянной стенкой 2, помещенные в кювету 1 исследуемый объект 3 и контрольный объект 4, светоделитель 5, формирующий из коллимированного пучка 6 копучки, зеркалои фотоаппарат 9ерферограммы.об осуществляется следующимметодом двух экспозиций, заполняя кювету перед первой и второй экспозициями жидкостями с различным коэффициентом преломления. 511 осле фотохимической обработки фотопластинку 8 с записанным голографическим изображением устанавливают на прежнее место в оптической схеме, убирают светоделитель 5 и Фотоаппара том 9 регистрируют интерферограмму одовременно для поверхностей исследуеМого 3 и контрольного 4 объектов. ПоЛучают фотографию...