Способ измерения параметров нейтронного излучения
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Заявка
1840962/25, 27.10.1972
Кукарин А. И, Николаев О. А
МПК / Метки
МПК: G01T 3/00
Метки: излучения, нейтронного, параметров
Опубликовано: 10.04.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-513563-sposob-izmereniya-parametrov-nejjtronnogo-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров нейтронного излучения</a>
Предыдущий патент: Способ производства гильз
Следующий патент: Устройство для выдачи оправок
Случайный патент: Способ получения сухой, концентрированной термоустойчивой спиртовой тифозно-паратифозной вакцины