Способ измерения параметров импульса ионизирующего излучения
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Заявка
3894743/25, 02.04.1985
Институт сильноточной электроники СО АН СССР, Томский политехнический институт
Вайсбурд Д. И, Семин Б. Н, Серобян Е. С
МПК / Метки
МПК: G01T 1/10
Метки: излучения, импульса, ионизирующего, параметров
Опубликовано: 27.01.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1281011-sposob-izmereniya-parametrov-impulsa-ioniziruyushhego-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров импульса ионизирующего излучения</a>
Предыдущий патент: Композиция для обработки монокристаллов силленитов
Следующий патент: Приемник механических колебаний
Случайный патент: Устройство для передачи и приема телевизионных сигналов