Затолока

Способ определения параметров сверхзвукового потока

Номер патента: 1074221

Опубликовано: 27.06.2000

Авторы: Затолока, Чиркашенко, Юдинцев

МПК: G01M 9/00

Метки: параметров, потока, сверхзвукового

Способ определения параметров сверхзвукового потока, включающий помещение в поток генератора ударной волны и гребенки зондов для измерения давления, относительное перемещение генератора и гребенки зондов, измерение давлений торможения и параметров невозмущенного потока и расчет параметров по известным зависимостям, отличающийся тем, что, с целью расширения экспериментальных возможностей при измерениях в трехмерных потоках за счет определения углов наклона ударной волны, а также повышения точности, дополнительно измеряют координаты каждого из зондов при пересечении им ударной волны.

Устройство автоматического управления горной машиной

Загрузка...

Номер патента: 1423737

Опубликовано: 15.09.1988

Авторы: Затолока, Зиновьева, Райхман, Резников

МПК: E21C 35/24

Метки: горной, машиной

...блока 25 сигналы принимают значение "1" (1 с = 1), открывается соответствующий ключ и светится индикатор с надписью "СК". Если впроцессе работы узла 41 Бчй яч" = 1,диагностирование элементов силовогоконтура прекращается. Это способствует повышению достоверности диагностирования,Т,1 ри 1 = 0 и М= М = 0 происходит диагйостировацие состояния гидроцилиндра управления наклоном чашкиосновного насоса гидропривода подачи,осуществляемое узлом 42, Если при постоянной скорости подачи, равной уставкеа скорости, происходит срабатывание регулятора (о = 1), идентиФицируется отказ гидроцилиндра, сигнал на первом выходе узла 42, четвертом выходе блока 24 и четвертОмвходе блока 25 равен "1", открывается соответствующий ключ и светится25 индикатор с...

Способ изготовления полупроводниковых детекторов ионизирующих излучений

Загрузка...

Номер патента: 1102410

Опубликовано: 30.08.1987

Авторы: Даненгирш, Ефремов, Затолока, Пчелинцев

МПК: H01L 21/02

Метки: детекторов, излучений, ионизирующих, полупроводниковых

...300-400 С, а затем резкоохлажденному до комнатной температуры(закалка), возникшие при закалке элек трически активные дефекты отжигаютсяв вакууме полностью за приемлемоевремя, только начиная с температурыо120 С, Минимальная продолжительностьотжига при этой температуре, необходимая для снижения концентрации дефектов закалки до уровня, при котором они не влияют на качество детекторов и ионизирующих излучений (менее10 ф см ), составляет 16-20 ч. При ЗОменьшей температуре продолжительностьотжига дефектов закалки резко возрастает и составляет, например при температуре 110 С, около 200 чПроведение такого длительного отжига в про 35цессе изготовления детекторов является нежелательным, поскольку это резко увеличивает время изготовления...

Фильтр для агрессивных газов

Загрузка...

Номер патента: 1282880

Опубликовано: 15.01.1987

Авторы: Вестфаль, Дмитриев, Доронина, Ермашов, Затолока, Раковский

МПК: B01D 46/54

Метки: агрессивных, газов, фильтр

...вкладыш с одинаковыми по конфигурации верхним и нижним проходными каналами, последовательно установленные в вкладыше и укрепленные в опорных сетках фильтруюшие элементы, отличающийся тем, что, с цельо увеличения плогцади фильтрации и производительности фильтра, он снабжен вертикальной разделительной перегородкой, прикрепленной к верхней и нижней противоположным частям боковой поверхности вкладыша, выполненного в виде полого цилиндра, при этом вход верхнего и выход нижнего каналов размещены на торцах вкладыша, а выход верхнего и вход нижнего каналов - на перегородке.2. Фильтр по п, 1. отличающийся тем, что, с целью обеспечения коррозионной стойкости, фланцы, уплотнения, вкладыш с перегородкой и опорные сетки выполнены из...

Устройство для группирования предметов

Загрузка...

Номер патента: 979217

Опубликовано: 07.12.1982

Автор: Затолока

МПК: B65B 35/40

Метки: группирования, предметов

...И Р( Ж Ин Ык крн:нтс пну 7 1 тифт) внр(ссов;1:1 иКроинГсИНИ с.1 СЖИ Г 1 НОрО"СЛ 51 ОсТ 1 В3 ОГс),КВ 1.,15 КОЕ 3 Г ЕОЕГВВНОГО 10 45КсЕ 151 В 31 И МО,СИ:ТВТ с Нс Кд)(И Л 0 Кже 5 и р:енс н в 1 рорези, Выполненнов етснке ннтвел 2 111 естерня 16 ияс е олин3 с б, с 111. )(1 1 О ) В б о)(11 с е т с р с1 в1 ИИЛС(ИСТ 3 С Ирн ИО,1 Но И(1 ороГС ВКс 1,5,О,И Н Н313 О (И и Оборо 1, С ОЛ КТС,е 1Нврнирно с И,НИСЕ 1 Н; Крон 1:с 3 н( 1;,Крс 13 ЛСИ 1 Ы,1 Н(1 СЧКОС 1 р ЖИН:2,5 11 ИНрЖИН;1 всС10.1 К;3,1 Ь . 1 1,ни Г(11,111 тифт .)Бирс ее)и в .р 1;К с н 1; итаны рабочие чертежи. Накопитель изготовлен и проходит опытные испытания.Формула изобретения1. Устройство для группирования предметов, преимущественно пачек дрожжей, содержащее питатель для предметов,...

Реле давления

Загрузка...

Номер патента: 603864

Опубликовано: 25.04.1978

Авторы: Затолока, Лукьяненко, Пащенко, Розанов

МПК: G01L 19/12

Метки: давления, реле

...по нему 1 плечоь рычага. Все это понижает чувствительность реле давления,Бель изобретения - повышение чувстви" тельности реле.Указанная цель достигаетсяреле давления, содержащем корпутельный элемент, например сильфный с нажимным алементом, и два микропереключателя, микропереключатели смонтированы на кронштейнах, поджатых пружинами к опорам, которые размещены на направляющей и двух регулировочных винтовых осях, расположенных параллельно в одной плоскости, при атом нажимной эле603864 мент расположен между толкателямн микропереключателей которые сориентиоованы зеркально друг к другуТакое расположение микропереключателей. а также возможность их перемещения 5 позволили отказаться от регулировки позиций срабатывания реле с помощью сжатия...

Источник сравнения для фотоэлектронного прибора

Загрузка...

Номер патента: 378729

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Андреев, Затолока, Оксентьевич

МПК: G01J 5/02

Метки: источник, прибора, сравнения, фотоэлектронного

...на фиг, 2 в электронный блок.Фотопирометр состоит из объектива 1, диафрагмы 2 поля зрения с двумя одинаковыми отверстиями для лучисть)х потоков от объектов измерения 3 и источцика сравнения лампы 4 с двумя нитями накала 5 и б, коцденсора 7, модулятора 8, фотоприемника 9 и электронного блока 10.Лучистый поток от об ьекта измерения 3 фокусируется объективом 1 на диафрагму 2 поля зрения, а затем падает на фотоприсмник 9, Лучистый поток от лампы 4 фокусируется конденсором 7 в плоскость своего отверстия в диафрагме поля зрения 2, а затем падает на тот же фотоприемник 9. Оба поток модулируются модулятором 8.Нить накала б лампы 4 включена в цеп обратной связи электронного блока 10 и является основным источником сравнения, нить накала 5 в...