Устройство для измерения параметров поверхностных состояний в мдптранзисторах
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Заявка
4042791/21, 26.03.1986
Красноярский государственный университет
Бусыгин В. М, Григорьев А. Г
МПК / Метки
МПК: G01R 31/26
Метки: мдптранзисторах, параметров, поверхностных, состояний
Опубликовано: 20.07.1999
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1409004-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-poverkhnostnykh-sostoyanijj-v-mdptranzistorakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров поверхностных состояний в мдптранзисторах</a>
Предыдущий патент: Способ получения алкилбензолов
Следующий патент: Судоподъемный понтон
Случайный патент: Опора качения для поступательного движения