Устройство для измерения параметров поверхностных состояний в мдптранзисторах

Номер патента: 1409004

Авторы: Бусыгин, Григорьев

Описание

Устройство для изменения параметров поверхностных состояний в МДП-транзисторах, содержащее клеммы для подключения затвора, стока, истока и подложки испытуемого прибора, криостат с датчиком температуры, импульсный генератор, источник напряжения и блок регистрации и обработки данных, один из входов которого подключен к выходу датчика температуры, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено вторым источником постоянного напряжения, преобразователем ток - напряжение и операционным усилителем, причем выход операционного усилителя подключен к первому входу блока регистрации и обработки данных и к клемме для подключения затвора испытуемого транзистора, первый источник постоянного напряжения подключен к клемме для подключения стока испытуемого транзистора, клеммы для подключения истока и подложки испытуемого транзистора подключены к входу преобразователя ток - напряжение, выход которого подключен к неинвертирующему входу операционного усилителя, к инвертирующему входу которого подключены выходы второго источника постоянного напряжения и импульсного генератора, соединенные между собой.

Заявка

4042791/21, 26.03.1986

Красноярский государственный университет

Бусыгин В. М, Григорьев А. Г

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: мдптранзисторах, параметров, поверхностных, состояний

Опубликовано: 20.07.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1409004-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-poverkhnostnykh-sostoyanijj-v-mdptranzistorakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров поверхностных состояний в мдптранзисторах</a>

Похожие патенты