Способ измерения параметров магнитного поля

Номер патента: 1521063

Авторы: Петухов, Хвостов

Описание

Способ измерения параметров магнитного поля, включающий одновременное измерение приращений компонент вектора магнитной индукции и компонент тензора градиента магнитной индукции при помощи сверхпроводниковых магнитометра и градиентометра, установленных на подвижном основании, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем измерения полных значений компонент и модуля вектора магнитной индукции, полных значений компонент тензора градиента магнитной индукции, дополнительно измеряют приращения пяти компонент тензора градиента магнитной индукции и приращения трех компонент вектора магнитной индукции при различных положениях подвижного основания относительно вектора магнитной индукции Земли, определяют сумму квадратов приращений компонент вектора магнитной индукции, начальные и полные значения компонент вектора магнитной индукции, определяют модуль вектора магнитной индукции и направляющие косинусы в системе координат, связанной с подвижным основанием, затем определяют значения приращений компоненты тензора градиента магнитной индукции вдоль вектора магнитной индукции, по значениям приращений компоненты тензора градиента магнитной индукции вдоль вектора магнитной индукции и значениям направляющих косинусов определяют начальные и полные значения компонент тензора градиента магнитной индукции путем суммирования найденных начальных значений с измеренными приращениями.

Заявка

4373628/21, 04.12.1987

Научно-производственное объединение "Рудгеофизика"

Петухов Ю. М, Хвостов О. П

МПК / Метки

МПК: G01R 33/035

Метки: магнитного, параметров, поля

Опубликовано: 10.01.2000

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1521063-sposob-izmereniya-parametrov-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров магнитного поля</a>

Похожие патенты