Патенты с меткой «микроструктуры»

Номер патента: 1370560

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Волынец, Стеченко, Усачева

МПК: G01N 33/04

Метки: белково-жировых, изучения, микроструктуры, молочных, препаратов, приготовления, продуктов

...эпоксидной смолой, Наличие менеевязкого спирта способствует болееглубокому и полному проникновению 10 1 г 20 25 30 35 40 45 50 5560 3 13705эпоксидной смолы в препарат, Применение центрифугирования после каждогоэтапа пропитки также облегчает проникновение эпоксидной смолы в препарат,5Экспериментально установлено,что трехэтапная пропитка препаратовсмесью абсолютного спирта (с концентрацией 99,9 - 1007) и эпоксидной смолы (на первом этапе в соотношении3:1, на втором и третьем " 1:1 и1:3) дает возможность сохранить всеэлементы ультрамикроструктуры продуктов и определить их размеры, Придругих соотношениях спирта и эпоксидной смолы наблюдаются разрывы оболочек жировых шариков, что ухудшает качество готовых препаратов.Экспериментально...

Номер патента: 1464063

Опубликовано: 07.03.1989

Авторы: Владимирская, Колтыгин, Никитин, Чудинов, Ширяева

МПК: G01N 1/32

Метки: благородных, выявления, металлов, микроструктуры, сплавов

...проСпособ включает тепобразца в парах дифв течение 5-10 с.особом выявляютсяристалла иридия, подий - рутений (253),иридий - осмий, Травяется при 200-300 С.димости травлениепри температурах,ратуре плавления ислов,146 н на. Вь 1 церживают 5-10 с, образец вымают, промывают водой. При анализ микроструктуры хорошо видны грацы зерен, их величина, форма и4063 При температуре ниже 140 С ниодин из благородных металлов и егосплавов с дифторидом ксенона не взаимодействует.Таким образом, предлагаемый способ позволяет выявить микроструктуру благородных металлов и их сплавов при температурах, при которых 10 не происходит изменение их структуры,и для осуществления способа нетребуется специального оборудова ния. При известном способе иэ-за необходимости...

Номер патента: 1476342

Опубликовано: 30.04.1989

Авторы: Ватник, Кристаль, Рабинович

МПК: G01N 1/32

Метки: металла, микроструктуры, оптических, помощью, средств

...полосы ватным тампоном, смоченным реактивом, с фиксированием времени начала травления.Травление первой полосы проводят до момента потери шлифом металлического1476342 Формула изобретения Составитель М. ШелагуровРедактор М. Келемеш Техред И. Верес Корректор А. ОбручарЗаказ 2116/43 Тираж 790 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям прн ГКНТ СССР113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 блеска (т.е, до начала равномерного потускнения поверхности). В данном случае это время составляет т)=10 с. После этого полосу промывают водой, спиртом, тщательно просушивают и закрывают фильтровальной бумагой, Вторую полосу подвергают воздействию...

Номер патента: 1557477

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Казанская, Орлова, Прутков

МПК: C23F 1/00, G01N 1/32

Метки: алюминий, выявления, композиционного, микроструктуры, сталь, электролит

...АМ 6-АД 1-12 Х 18 Н 10 Т путем электролитического травления в течение 20-, 50 с при плотности тока 0,5-1,5 А/см и температуре 20 С. При электролитическом травлении в предлагаемом ние микроструктуры основных слоеви переходной эоны, что достигаетсядополнительным содержанием солянойкислоты и синтанола. Электролит содержит, г/л: хромовый ангидрид5-6; азотная кислота (1 = 1,42 г/смз)120-150; соляная кислота (1- 1, 19 г/см) 400-480; аммонийкремнефтористый 100-. 120; синтанол1-2; вода до 1 л. В электролите отчетливо выявлена микроструктуравсех составляющих слоев и переходныхзон композиционного материалаАМ 6-АД 1-12 Х 18 Н 10 Т путем электролитического травления в течение 2050 с при плотности тока 0,51,5 А/см и температуре 20 С. 1 табл...

Номер патента: 1587332

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Грудин, Сафронова, Шмакова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...линии более яркой, чем остал ьное изображение.До фокусировки изображения наблюдаемой поверхности используют расфокусировку оптической системы микроскопа, получая белый ручеистый узор 1 неконтакта, лежащий выше плоскости изображения, это и будет изображением микрорельефа в недофокусе,В фокусе наблюдают микроструктуру, расположенную точно в плоскости изображения данного микроскопа, при этом визуализируется четкое изображение реплики 2 от материала закалочного диска и контуры 3 наиболее крупных каверн.После фокусировки выполняется пере- фокусировка, заключающаяся в визуализации предметной плоскости, совпадающей с дном наиболее крупных каверн и каналов топологии 4 дна каверны и лежащей ниже плоскости изображения реплики. В перефокусе, как...

Номер патента: 1587333

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Василенко, Плотников, Сафронова

МПК: G01B 11/30

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...в объект,на котором формируется смешанный амплитудно-фазовый контраст, визуализиро 5 вать который можно традиционнойфокусировкой или расфокусировкой, Такимобразом, любой дефект внешней поверхности аморфной ленты позволяет найти "условный" фокус.10 После определения "условного" фокусаполучают восстановленное изображениепенообразной структуры ленты в точках, находящихся по оптической оси микроскопавыше и ниже "условного" фокуса, а расстоя 15 ние между выбранными точками определяют по соотношению Л= - 0,3 о/лА, где 1 О -размер наименьшей фазовой неоднородности, А - длина волны используемого излучения (численный коэффициент 0,3 следует изучета средней величины погрешности метода), Это соотношение справедливо при наблюдении фазового...

Номер патента: 1589146

Опубликовано: 30.08.1990

Автор: Татаринова

МПК: G01N 15/08

Метки: исследования, микроструктуры, поверхности

...прибор 4, аный электрод 2 - к положитполюсу, Создают условия одигазонасыщения эталонного оисследуемой поверхности. Мверхностью 1 и электродом 2 создается высокий вакуум. Измеряют токи через вакуумный промежуток в зависимости от прикладываемого напряжения. По этим результатам строятвольтамперные характеристики для исследуемой поверхности и эталонного образца. В качестве эталонного образца и исследуемой поверхности были выбраны никелевые порошковые фольги размером 30 мм, причем пористость эталонной фольги была предварительно определена другими методами и составляла 80- 85%, Измерительный электрод диаметром 10 мм устанавливался на расстоянии 1,6 мм от фольги. Измерения токов для обеих фольг проводилось через одно и то же время...

Номер патента: 1597670

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Аксенова, Дормидонтова, Кириллова, Кшнякин, Щетинина

МПК: G01N 1/30, G01N 15/00

Метки: декорирования, микроструктуры, основе, поверхностной, связующих, стеклопластиков, эпоксидных

...Формула и э о б р е т е н и я Как видно из таблицы, предлагаемый способ позволяет повысить контра тность между наполнителем,полиЭО Характеристикаповерхности шлийа ТемпеВремя обработки,мин Концентрацияводногораствора, мас.Е Активная к полимерной матрицезощкость Способ ратураобработки,фс Раствор марганцовокислогокалия 0)20 80 24 Контрастная четкая граница между наполнителем, матрицей и дейектом структуры стеклопластика (трещиной)То же Предл агаемый 25264 0)25 850,30 9020 То же иГраница между наполнителем,матрицей и дефектом структуры стеклопластика не контрастна, ЛеЬекты замаскированы Извест- Ацетонный Составитель А.РожковТехред М, Ходанич Редактор А.шандор Корректор И.Шароши Заказ 3046 Тираж 498 ПодписноеВНИИПИ Государственного...

Номер патента: 1608467

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Бобоедов, Боброва, Коляда

МПК: G01N 1/28, G01N 1/32

Метки: выявления, микроструктуры, реактив, сварных, соединений, сплавов, титановых

...марганцем. Целью изобретения является одновременное выявление избыточных фаз и границ зерен сплава, что достигается дополнительным введением в реактив едкого кали и плавиковой кислоты. Реактив содержит, масф: пикриновая кислота 0,21-0,35; плавиковая кислота 0,8 - 1,0; едкий кали 6,4-9,7; вода - остальное. На образцах, изготовленных из наплавок и сварных соединений титанового сплава, содержащего 12-160 марганца при комнатной температуре в течение 3 - 15 с в предложенном реактиве четко выявлены границы зерен и избыточные фазы. 2 табл. новом сплаве с марганцем одновременно выявляются границы зерен и избыточные фазы, чта невозможно достичь при использовании известного реактива.Формула изобретения Реактив для выявления...

Номер патента: 1613988

Опубликовано: 15.12.1990

Авторы: Стерлядкин, Шлыков

МПК: G01W 1/14

Метки: жидкокапельных, микроструктуры, облаков, осадков, тумана

...потоками воздуха. при(с 1 можно выразитем коэффициент Формы капли, равный отношению полуоси вращения С, к полуоси а=1,1) =-1; коэффициент, определяемый относительной, диэлектрической проницаемостью жидкости с; и ее коэффициентом поверхностного натяжее капли, равном Ч, ее ный сферческий диаметрПри скачкообразном измеенности поля, например от а до Е 1, все капли начнут1613988 колебаться с амплитудой ЦЬФ-Я,определяемой начапьной формой капли) 1+6 в поле напряженностью Е .При форме капель, близкой к сферической И Ф 1), а это условие выполняется в атмосфере любых капель вплотьдо Е 5 10 В/м, частота собственныкколебаний хорошо описывается формулой,Рэлея,афюючотность жидкости;исло, описывающее модебаний, п=23,4;ытянутой капли возбужосновная...

Номер патента: 1659473

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Ермилова, Пехташева

МПК: C12N 1/20, C12Q 1/18

Метки: bacillus, suвтilis, бактерий, волокнистых, деструктор, макро-и, микроструктуры, поликапроамидных, уровне, штамм

...в определенных условиях может прогрессировать.Повреждения класса В обьединяют более сильные проявления деструкции: глубокую испещренность, вэдутия, утонения, повреждения стенки. Подобные повреждения влияют не только на изменение структуры, но и на изменение свойств волокна: падает механическая прочность, увеличивается удлинение при разрыве.Для повреждений класса С характерны такие виды, как расслоение, глубокое местное повреждение стенки, распад до отдельных конгломератов. Появление таких повреждений свидетельствует о глубокой биологической деструкции структуры волокна на всех ее уровнях.Изменение показателя биодеструкции в интервале 0 К 0,3 соответствует начальным изменениям поверхности волокон; в интервале О,З К 3,55 - деструкции не...

Номер патента: 1374922

Опубликовано: 30.07.1991

Автор: Охонин

МПК: G01N 21/64

Метки: исследования, микроструктуры, образца

...реализовать уменьшение заселенности возбужденного сос-, тояния световым воздействием, Такие образцы должны быть хотя бы частично прозрачны для ннициирующего (возбуждающего) излучения, тушащего дополпитЕльного излучения и излучения спонтанной люминесценции, Нужными свойствами обладает широкий класс веществ -ЬЬ кристаллов, стекол, растворов органических красителей и т.д в частности веществ, близких к используемьи в рабочем теле лазеров. где 1 - расстояние от зеркала до объекта, 9 - длина волны; Ь г - предельный разрешаемый размер.Например, при % = 6000 А; 1 1 см; Ьг = 60 А имеем Ь= 100 см. Для достаточной устойчивости нулевых плоскостей стоячих волн требуется также, чтобы максимальный угол флуктуаций направления пучков света от...

Номер патента: 1711040

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Дорофеев, Милинчук, Седов, Скурат, Хрущ, Штительман, Юрцев

МПК: G01N 17/00

Метки: исследования, микроструктуры, образцов, эластомеров

...света и глубине структурно-измененного слоя. Образец облучают в течение определенного промежутка времени, После облучения образец извлекают из камеры и снимают растягивающую нагрузку, За счет ультрафиолетового воздействия указанных длин волны происходит фотохимическое воздействие, т.е, поглощение молекулами кванта света и их возбуждение с последующей дезактивацией. При этом образуются макрорадикалы, которые создают дополнительные связи, приводящие к увеличениюжесткости участка поглощения на глубину длины волны света. Жесткость остального обьема образца не меняется. При снятии нагрузки образец сжимается. За счет большей жесткости поверхностного деструктирующего слоя он приобретает складчатую микроструктуру. Величина шага складок зависит...

Номер патента: 1742669

Опубликовано: 23.06.1992

Авторы: Галушко, Ларионов, Черницын

МПК: G01N 1/32

Метки: выявления, микроструктуры, никеля, основе, сплавов

...далее ионное травление шлифа в среде аргона. Ионное травление пзооводят при давлении а,;,гона 104 - 10 мм рт,ст. при напряжении 0,8 - 1,5 кВ и токе 15 - 25 мА в течение 15 м: н На образцах из сплава ЭП 741 НП были выявлены границы зерен, карбида, двойники зерен, а также выделения у -фазы внутри зерен. жения неудовлетворительна и часть информации о микроструктуре утрачивается,Цел; изобретения - повышение качества выявления микроструктуры сплавов на основе никеля путем создания более развито о рельефа при травлении структурных составляющих сплавов.Для этого в предлагаемом способе на О поверхность исследуемого шлифа предва- (. рительно наносят вакуумным напылением ) слой из хпорида натрия толщиной 1 - 5 мкм, после чего осуществляют...

Номер патента: 1753334

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Кундас, Столяров

МПК: G01N 1/32

Метки: выявления, металлов, микроструктуры, сплавов

...отжига вины анализируемой поверхности на глуби- Ы и т.д. ну порядка 30 мкм, т,е. на глубину, 3 ьЦель изобретения. - выявление про- -превышающую максимальную. величину странственной структуры зерен образца,зерна молибдена, непрошедшего рекриП р и м е р. Предложенный способ опро- сталлизованный отжиг. бован для выявления микроструктуры мо- После проведейия двух электройолиролибдена марки МЧ. Обрабатывался образец вок осуществляется химическое травМение размером 1,2 х 20 х 0,6 мм, Поверхность об- всей анализируемой поверхности в реактиразца (1,2 х 20 мм) подвергалась механиче- ве, содержащем на 100 мл дистиллирован- ской обработке с помощью шлифованных ной воды 15 г красной кровяной соли и 2 г бумаг и алмазных паст различной зернисто-...

Номер патента: 1762234

Опубликовано: 15.09.1992

Авторы: Бондарев, Брянцева, Калантаров, Карпова

МПК: G01N 33/34

Метки: бумаги, исследования, микроструктуры, стереоскопического

...микроструктуры образца, образуют изображение мнимой марки и используют его при стереонаведении и измерении элементов микроструктуры поверхности образца бумаги.Способ реализуется с помощью микроскопа, представленного на чертеже.Стереомикроскоп содержит основание 1, оптическую головку 2 с двумя окулярными трубками 3, установленную на стойке 4, осветитель 5. В окуляры 6 окуля рных трубок 3устанавливают измерительные марки 7 иоптические клинья. Для перемещения оптической головки 2 служит микрометрический5 винт 8 с индикатором 9. Предметный столик10 снабжен двумя микрометрическими винтами 11 и 12, В окулярных трубках 3 оптические клинья указаны позицией 13,Способ определения микроструктуры10 бумаги осуществляют следующим...

Номер патента: 1793404

Опубликовано: 07.02.1993

Автор: Стерлядкин

МПК: G01W 1/14

Метки: дождя, микроструктуры

...коэффициента формы капель. Так,при горизонтальном освещении при коэффициенте формы отношение вертикальногоразмера капли к горизонтальному) у= 0,7оптимальный угол регистрации рассеянногоизлучения составляет 20, а при у=0,95 этот(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛ СТРУКТУРЪ ДОЖДЯ(57) Область использования. метеорология,Сущность изобретения;излучение света посылают горизонтально или вертикально ирегистрируют импульсы рассеянного излу-чения под углом, соответственно, 21 4. 4или 27+ 4, а о размере каждой капли судятпо фсрме импульсов рассеянного излучения. 1 ил,угол равен 23 О. В среднем дождевые каплидиаметром 1 - 5 мм имеют форму от у=0,7-0,95и могут испытывать дополнительную вибра-Яцию Лу от 0,05 до 0,2, С учетом вибрациикапель диапазон изменчивости...

Номер патента: 1798816

Опубликовано: 28.02.1993

Авторы: Дудчик, Комаров, Константинов, Кумахов, Соловьев, Тишков

МПК: G21K 1/00, H01J 35/00

Метки: микроструктуры, резисте, формирования

...излучения материалом указанного слоя. 1 ил,Система для формирования на резисте структуры дифракционной решетки работает следующим образом,На мишень для генерации рентгеновского излучения направляют пучок электронов 2 (фиг. 1), Мишень выполнены из слоя материала, например меди, который нанесен на подложку шаблона. Излучение выходит из мишени в основном в направлении углов скольжения О) 0 м, где 0 м - критический угол полного внешнего отражения фотонов с энергией и а от границы раздела вакуум-слой материала мишени, Толщина слоя мишени и ее длина 2 выбраны из условия, чтобы излучение, выходящее из ми 1798816равной= б 1/О, т,е, такая, что фотоныиспытывают по крайней мере одно отражение от слоев 5.Максимальное значение толщинышаблона...

Номер патента: 1780599

Опубликовано: 15.10.1994

Автор: Тихонов

МПК: G01W 1/00

Метки: капельных, микроструктуры, облаков, туманов

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ КАПЕЛЬНЫХ ОБЛАКОВ И ТУМАНОВ, заключающийся в том, что в среду последовательно посылают зондирующие импульсы линейно поляризованного излучения со взаимно перпендикулярными плоскостями поляризации, поочередно принимают приемником излучения основную и ортогональную компоненты отраженного излучения каждого из импульсов, выделяют излучение, обусловленное однократным рассеянием, определяют профили степени деполяризации и величины коэффициента обратного рассеяния, по которым судят о фазовом состоянии облаков и туманов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения функциональных возможностей за счет одновременного дополнительного определения распределения капель по размерам и оценки величины...

Номер патента: 1455853

Опубликовано: 20.12.2013

Авторы: Астапчик, Бабушкин, Голубев

МПК: G01N 1/32

Метки: быстрорежущих, выявления, инструментальных, микроструктуры, сталях

Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях, включающий шлифование, полирование и химическое травление, отличающийся тем, что, с целью повышения качества выявления карбидной фазы, поверхность образца после шлифования подвергают импульсному лазерному облучению с плотностью энергии излучения в пятне фокусировки (0,8-2)·102 Дж/см2.