Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях, включающий шлифование, полирование и химическое травление, отличающийся тем, что, с целью повышения качества выявления карбидной фазы, поверхность образца после шлифования подвергают импульсному лазерному облучению с плотностью энергии излучения в пятне фокусировки (0,8-2)·102 Дж/см2.
Заявка
4122313/02, 19.09.1986
Физико-технический институт АН БССР
Астапчик С. А, Бабушкин В. Б, Голубев В. С
МПК / Метки
МПК: G01N 1/32
Метки: быстрорежущих, выявления, инструментальных, микроструктуры, сталях
Опубликовано: 20.12.2013
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1455853-sposob-vyyavleniya-mikrostruktury-v-bystrorezhushhikh-i-instrumentalnykh-stalyakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления микроструктуры в быстрорежущих и инструментальных сталях</a>
Предыдущий патент: Пусковой механизм гидроударной установки
Следующий патент: Способ получения композиционных лент
Случайный патент: Устройство для деления многочлена на многочлен