Способ исследования микроструктуры образцов эластомеров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)5 601817 ПИСАНИ ЗОБ И Т К АВТОР испытаниямам исследоов эластомеретение относится ов, а именно к спо кроструктуры обра материа вания м ров,Цел ние чув ба. ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР У СВИДЕТЕЛЬСТВУ(54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ ЭЛАСТОМЕРОВ(57) Изобретение относится к испытаниямматериалов. Целью изобретения является ью изобретения является повыше твительности и упрощение спасо Способ осуществляется следующим образом.Образец из испытуемого эластомера нагружают одноосным растяжением по деформации 20 - 50 для придания микромолекулам эластомера осевой направленности. После этого растянутый образец помещают в вакуумную камеру для предотвращения действия на образец активных продуктов фотолиза воздуха при деструктинном воздействии. В камере создают вакуум и воздействуют на образец деструктирующим фактором, а именно ультрафиолетовым излучением в диапазоне волн 150 - 400 нм. повышение чувствительности и упрощение способа, Образец из испытуемого эластомера нагружают одноосным растяжением по деформации 20 - 50. После этого образец помещают в вакуум и воздействуют в вакууме на него светом с длиной волны 150 - 400 нм. За счет облучения на поверхности образца образуется хрупкий слой. При снятии нагрузки на поверхности образуются микроскладки, шаг которых определяют под микроскопом. По величине шага судят о влиянии света и глубине структурно-измененного слоя. Образец облучают в течение определенного промежутка времени, После облучения образец извлекают из камеры и снимают растягивающую нагрузку, За счет ультрафиолетового воздействия указанных длин волны происходит фотохимическое воздействие, т.е, поглощение молекулами кванта света и их возбуждение с последующей дезактивацией. При этом образуются макрорадикалы, которые создают дополнительные связи, приводящие к увеличениюжесткости участка поглощения на глубину длины волны света. Жесткость остального обьема образца не меняется. При снятии нагрузки образец сжимается. За счет большей жесткости поверхностного деструктирующего слоя он приобретает складчатую микроструктуру. Величина шага складок зависит от влияния и длины волны деструктирующего фактора и свойств материала (чем короче длина света, тем меньше глубина его проникновения и меньше шаг складок). Обра1711040 Составитель Г. РотницкийТехред М,Моргентал Корректор Т,Малец Редактор Н. Гулько Заказ 334 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 зующиеся складки и их шаг изучаются под микроскопом.П р и м е р. Резину на основе каучукаСКТВрасщгивают. до 30% рефоомации. Помещадт в камеру и создают5 вакуум 16 мм рт.ст. ОблучаюФ его лампой ПРКдлиной волны 250 - 400 нм в течение 30 мин, Снимают нагрузку и под , микроскопом с увеличением в 200 раз измеряют величину шага, равную 12 мкм, 10 По этой величине судят о влиянии света и глубине разрушенного структурного слоя. Формула изобретения Способ исследования микроструктуры образцов эластомеров, по которому образец нагружают одноосным растяжением до заданной деформации, воздействуют деструктирующим фактором, разгружают и измеряют микроструктуру, о тл и ч а ю щи й с я тем, что, с целью повышения чувствительности и упрощения способа, нагружения производят до деформации 20 - 50, а в качестве деструктирующего фактора используют ультрафиолетовое излучение в диапазоне длин волн 150 - 140 нм в вакууме.
СмотретьЗаявка
3189519, 07.01.1988
НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "МОЛНИЯ"
МИЛИНЧУК АНДРЕЙ ВИКТОРОВИЧ, СКУРАТ ВЛАДИМИР ЕВГЕНЬЕВИЧ, ХРУЩ БОРИС ИВАНОВИЧ, ДОРОФЕЕВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ, СЕДОВ ВЛАДИМИР ВИКТОРОВИЧ, ЮРЦЕВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, ШТИТЕЛЬМАН МИХАИЛ ИСААКОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 17/00
Метки: исследования, микроструктуры, образцов, эластомеров
Опубликовано: 07.02.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1711040-sposob-issledovaniya-mikrostruktury-obrazcov-ehlastomerov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования микроструктуры образцов эластомеров</a>
Способ измерения вязкости и модуля упругости слоя жидкости на твердой поверхности
Номер патента: 1099247
Опубликовано: 23.06.1984
Авторы: Бабак, Дехтяренко, Резниченко, Соколов
МПК: G01N 11/00
Метки: вязкости, жидкости, модуля, поверхности, слоя, твердой, упругости
...ширины 15зазора между поверхностями от времени поджима 1 на фиг. 3 и фиг. 4 - данные экспериментальных результатов.Устройство содержит прозрачныеобразцы 1 и 2 (пластины, изогнутые в 2 Овиде цилиндров), помещенные в жидкуюсреду 3 и приводимые в контакт путемнагружения образца 1 силой поджимавозникающей при пропускании тока3, измеряемого миллиамперметром 4, 25через динамометр магнитоэлектрической системы (ИЭС) 5, оптический микроскоп 6 для наблюдения контакта образцов 1 и 2 в отраженном свете гелий-иеонового лазера 7, анализатор ЗО8 изображения, сигнал с которого подается на ЭВМ 9.Способ осуществляется следующим образом.Производится формирование адсорб ционных слоев ПАВ на твердой поверхности образцов путем выдержки образцов 1 и 2 в...
Устройство для определения размеров волны внеконтактной деформации при деформирующем протягивании отверстий
Номер патента: 1579667
Опубликовано: 23.07.1990
Авторы: Арцыбашев, Козлов, Сулаков, Щедрин
МПК: B23D 43/00, B24B 39/00
Метки: внеконтактной, волны, деформации, деформирующем, отверстий, протягивании, размеров
...измерительные элементы 3 - 5, первый измерительный стержень 6 расположен перед деформирующим 35 элементом, последний (и+2)-й измерительный стержень 7 расположен после деформирующего элемента на расстоянии, равном ., от элемента 6. Внутри полой оправки закреплены стержни 8 и 9, на которых уста новлены упругие пластины 10 - 13, на упругих пластинах наклеены тензометрические датчики 14 в 19, на полой оправке закреплена цилиндрическая обойма на аналогичных осевом Х и угловом р шагах, в тех же точках соосно установлены измерительные ч 5 стержни 21 и 22 и упругие пластины 23 - 26,на которых также наклеены тензодатчики 27 - 30, обрабатываемая заготовка или образец 31 устанавливается на опорный элемент 32. Контакты тензометрических датчиков...
Способ определения длины волны внеконтактной деформации
Номер патента: 963738
Опубликовано: 07.10.1982
Авторы: Захаренко, Кодрик, Мельниченко
МПК: B23D 43/00
Метки: внеконтактной, волны, деформации, длины
...Фиг. 2 показана кинематика способа.Сущность способа заключается втом, что деформирующий элемент 3 совершает осевое перемещение со скоростью У относительно обрабатываемойдетали. При этом за деформирующимэлементом образуется волна внеконтактной деформации АВС,для измерениядли. ны которой за деформирующим элементом3 одновременно с ним со скоростью Чотносительно обрабатываемой детали 40осуществляется осевое перемещениевтулки 4, диаметр которой равен диаметру обработанного отверстия поверхнему полю допуска.При попадании абразивосодержащего 45пятна, нанесенного на внутреннююповерхность обрабатываемой детали,в зону волны внеконтактной деформации АВС оно будет перемещаться отно"сительно деформирующего элемента и 5 Овтулки по траектории,...
Образец для исследования деформаций при прокатке
Номер патента: 1249321
Опубликовано: 07.08.1986
Авторы: Бринза, Пасынкеев, Шелехов
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, исследования, образец, прокатке
...4 о его линии соответственно:араллельно и перпендикулярно ооразующим тела трубы. Термостабилизацию растра осуцеств якт нагревом трубы. После охлаждения ее до 18 С внутренн 00 поверхность трав 5 т 17 /О-ныГ раствором соляной кислоты в течение 5- - 45 1 О мин и повторно нагревают до 400 - 420 С; в инертной атмосфере. Нагретуо трубу заполняют расплавом 5 вес.оо 5 п и 95 вес.,д РЬ и выдерживают 2- 5 мин, после чего упомянутый расплав заменяют сурьмянистым свинцом. Это обеспечивает получение прослойки порядка 0,1 мм ГеЬп, способствук)- щей прочной связи трубы с отливкой свинца и одновременно пластифицируюшей свойства формирующегося впоследствии слоя ока;ины, приближая их к свойствам горячей окалины.После охлаждения полученную заготовку...
Составной образец для исследования деформаций
Номер патента: 1608420
Опубликовано: 23.11.1990
Автор: Потапенков
МПК: G01B 5/30
Метки: деформаций, исследования, образец, составной
...этим точкам.На чертеже представлен составной образец для исследования деформаций в процессе его нагружения, разрез.Составной образец содержит пакет 1 пластин, образующий консольную балку, и две упругие прокладки 2 и 3, выполненные из упругого материала большей податливости, наример иэ резины, и прилегающие к наружным поверхностям пакета 1 пластин. В одной из упругих прокладок 2 выполнены сквозные отверстия 4, координаты центров которых совпадают с координатами заданных точек измерения деформаций.Наружные поверхности упругих прокладок 2 и 3 взаимодействуют с опорными поверхностями 5 и 6 приспособления 7 для консольного крепления образца. В одной из этих поверхностей 5 также выполнены сквозные отверстия 8, соосные с отверстиями 4 в...
Предыдущий патент: Способ исследования структуры порового пространства
Следующий патент: Способ исследования трения материалов
Случайный патент: Устройство для конференц-связи