Устройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ и 11 590834 Союз Советских Социалистических Республик1) Дополнительное к авт. свид-в 10.09.69 (21) 136030026-09 7 00 2) За присоединением заявки Государственный комит(23) Приори Совета Министров СССРло лолам изобретенийи открытий УДК 621,396,692(43) Опубликовано 30.01.78. Бюллетень(45) Дата опубликования описания 13.02.78(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫХ ОСНОВАНИЙ РЕЗИСТОРОВ2 оматического ектов, содерсвета и двасравнения, блоком ме я 15я Изобретение относится к технологии радиодеталей, а именно к конструктивному выполнению устройства для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов. 5Известны устройства для автобнаружения поверхностных деф жащие сканирующий источникдатчика, подключенные к блокусоединенному с исполнительнымханизма разбраковки.Однако эти устройства не обнаруживают мелких дефектов металлического слоя, нанесенного на белое керамическое основание, вследствие того, что коэффициенты отражени света от металлического слоя и от основани незначительно отличаются один от другого.Целью изобретения является создание устройства, обеспечивающего надежное обнаружение даже незначительных дефектов метал лизированной поверхности.Для этого используют источник света с поляризатором, а один из датчиков устанавливают в направлении падающего на основание светового потока и снабжают анализатором 25 поляризации.На чертеже изображена схема устройства,Точечный световой поток 1, сформированный с помощью источника 2 света и конденсатора 3, пройдя через установленный после 30 источника 2 поляризатор 4 и отразившись от прозрачной плоскопараллельной пластинки 5, попадает на поверхность исследуемого метал- лизированного основания 6 резистора. Первый отраженный световой поток 7, пройдя через пластинку 5 и анализатор 8 поляризации, через объектив 9 попадает на фотокатод датчика 10. Второй отраженный световой поток 11, отразившись от поверхности основания 6, через объектив 12 поступает на фотокатод датчика 13, установленного под тем же углом а к оси основания 6, что и датчик 10, Электрические сигналы с датчиков 10 и 13 поступают в блок 14 сравнения, подключенный к исполнительному блоку 15 механизма разбраковки (не показан).В поляризованном свете дефекты металлизпрованного слоя основания 6 будут белыми на черном фоне слоя, вследствие того, что поляризованный свет, отразившись от металлизированного слоя, пройдя через анализатор 8, гасится, а световой поток, отраженный от основания 6, деполяризуется и не гасится анализатором. В то же время та часть отраженного потока, которая направляется на датчик 13, характеризует дефект с точки зрения его отражающих свойств в обычном свете.Таким образом, устройство дает информацию о каждом дефекте по двум различным параметрам, что повышает надежность обнаружения дефектов,По характеру электрических сигналов, сни590834 Составитель Э. Фридолина Техред И, Михайлова Корректор Л. Орлова Редактор Н. Суханова Заказ 3326/14 Изд, М 176 Тираж 995 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное Типография, пр. Сапунова, 2 маемых с обоих датчиков как в отдельности, так и в виде суммы и разности, судят о наличии дефекта. Поскольку каждой группе однотипных дефектов соответствует определенная комбинация электрических сигналов датчиков, можно сортировать основания по виду дефектов. Суммирование сигналов обоих датчиков повышает чувствительность устройства к слабо выраженным дефектам и улучшается разрешающая способность.Формула изобретенияУстройство для обнаружения поверхностных дефектов металлизированных оснований резисторов, содержащее источник света и два датчика, подключенные к блоку сравнения, соединенному с исполнительным блоком, отличающееся тем, что, с целью повышения 5 надежности обнаружения дефектов, перед источником света установлен поляризатор, датчики размещены под одинаковыми углами относительно оси контролируемого основания, а один из датчиков, для которого направление 10 падающего на него отраженного от основаниясветового потока совпадает с направлением светового потока от источника света, снабжен анализатором поляризации.