Способ определения диаметра сферических и цилиндрических дефектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Сфввтскнн Соцналнстнмескнн Республик(51) М. Кл. 001 й 29/О явкис присоединением асударатвенний канат Соаата Мнннетраа ССС аа делам нзюбрвтеннйн аткрмтнй(43) Опубликовано та опубли 72) Авторы . изобретен, А. Буденков и Л. И. Хакимов Челябинский поли Заявител(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАМЕТРАСФЕРИЧЕСКИХ И БИЛИНДРИЧЕСКИХДЕФЕКТОВ Изобре щему кон эовано дл .диаметра дефектов. ние относится к не ожет быть испол сте кта пос оп ределения размеультразвуковых торому по степеей ультразвуковой тре дефекта 1, еляется диаметр остью, поскольку олны зависит между излучатеа дефеолеб огласно кия прошедшо диаме аний лабле т судя о пр та с туда енот и волнь Однак экой точ дефеампли прошедш расс тояни ж м. и весриультразвукового контролясферических и цилиндрическ В ультразвуковой дефектоскопии тен способ определения диаметра ческих и цилиндрических дефектов с помощью сдвиговых ультразвуковых заключающийся в том, что излучаю тразвуковую воину в направлении д та, принимают и анализируют отраж от него сигнал 21. 5,07,78,Бюллетень26 (53) УДК 620.179,16 (088.8)вання описания 08,06,78 хнический институт им. Ленинског омола Данный способ является наиболее близким к изобретению по технической сущности н достигаемому эффекту,По индикатриссе рассеяния определяютэквивалентный размер дефекта, Этот метод, требующий построения огибающих. последовательности эхо-сигналов, получаемых при соответствующих перемещенияхискателя, знания диаграммы направленности искателя, размера искателя, расстояния от центра излучения отражателяс учетом коэффициента затухания ультразвука в исследуемом материале, расчетаиндикатриссы рассеяния по соответствующей формуле на ЭВБМ и дальнейшего анализа по определению конфигурации и размеров дефекта, очень громоздкий дажедля дефектов с круглой индикатриссойрассеяния - цилиндров и сфер, что о ра- О ничивает его широкое; внедрение впрактику контроля.Цель изобретения - повышение производительности контроля.Для этого предлагаемым способом 5 измеряют интервал времени дФ между,гу(/Фг Ф НИИПИ Заказ 3902/3 ираж 1112 Подписио ампулъаом, отраженным от дефекта, и импульсом, полученным за счет огибаиаа дефекта ультразвуковой волной при ее двухкратной трансформации на поверхности дефекта, и диаметр дефекта определяют по формулеь 1 Ч, +ф2 где 1( в -- отношение скорости рэлеев-.1 ОЧской волньгк скорости сдви-.говой волны;41 - временной интервал.На чертеже представлена схема проведе,ния контроля. Ультразвуковым преобрвзова 1 телем 1 в контролируемую деталь 2 в направлении дефекта 3 посылают импульс сдвиговой ультразвуковой волны, Отражен- ный эхо-сигнал состоит из нескольких20 импульсов, временное расстояние между которыми зависит от диаметра дефекта. Это связано с тем, что сдвиговая волна, падающая на дефект, частично отражается от дефекта (луч 4) и кроме того при скольжении по поверхности дефекта (луч 5). возбуждает на ней поверхностную волну, пробегающую по теневой стороне дефекта и вновь преобразующуюся в сдвиговую волну, принимаемую преобразователем в виде второго импульса. Зондирующий импульс должен быть коротким, твк квк для. длйтельного сигнала оба отраженных импульса накладываются друг на дру-, га и расшифровка информации о размере 35 дефекта затрудняется, Лабораторные испытания метода при помощи описанной установки показали, что метод позволяет уверенно различатьотверстия диаметром 1,5 мм и 1,6 мм, т,е. измерять с точностью до 0,1 мм.Очевидно, что точность и диапазон измеряемых диаметров определяется выбором длительности импульсов и часта той их заполнения.ф ормула изобретенияСпособ определения диаметра сферических и цилиндрических дефектов с помощью сдвиговых ультразвуковых волн, заключающийся в том, что излучают ультразвуковую волну в направлении дефекта, принимают и анализируют отраженный от него сигнал, о т л и ч в ю щ и й с я тем, что, с целью повышения производительнос-д ти контроля, измеряют интервал времени А между импульсом, отраженным от дефекта, и импульсом, полученным за счет огибания дефекта ультразвуковой волной при ее двухкратной трансформации на поверхности дефекта, и диаметр дефекта определяют по формулевС чкч1+ - В2где-- отношение скорости рэлеЧевской волны к скорости сдвиговой волны;Ь 1 - временной интервал между импульсами.Источники информации принятые вовнимание при экснертизе:1, Шрайбер Д, С, Ультразвуковаядефектоскопия, М., Метвллургияф, 1965,с. 79-84.
СмотретьЗаявка
2348116, 19.04.1976
ЧЕЛЯБИНСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМЕНИ ЛЕНИНСКОГО КОМСОМОЛА
БУДЕНКОВ ГРАВИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ХАКИМОВА ЛЯЛЯ ИБРАГИМОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектов, диаметра, сферических, цилиндрических
Опубликовано: 15.07.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-615410-sposob-opredeleniya-diametra-sfericheskikh-i-cilindricheskikh-defektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диаметра сферических и цилиндрических дефектов</a>
Предыдущий патент: Установка для испытаний объектов в акустических полях
Следующий патент: Способ количественного определения трибутилфосфата
Случайный патент: Запорное устройство