Способ измерения размеров дефектов

Приоритет осударственныи комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий(43) Опубликова К 620.17 6 (088,8 5) Дата опубликования описания 06.07,7 22) Авторы изобретеии С.В.Семерхано-с Целью изобре ние точности иэ ориентированных Цель достига лагаемому спосо ное относительн время распростр соответствующих контроле прямым лучами, а велич ют по Формулеышеся п икал тения являетмерення вертдефектов.ется тем, что побу измеряют минио момента иэлучеанения эхо-сигналпервым максимуми однажды отражину дефекта опред льов,м прннымелярисоединением заявки М Изобретение относится к областинеразрушающего контроля и может бытьиспользовано для измерения размеровдефектов при ультразвуковой дефектоскопии,Известен ультразвуковой способ измерения размеров дефектов, заключающийся в том, что искатель перемещаютпо поверхности изделия, излучают ультразвуковые импульсы, принимают эхогналы от дефекта, измеряют амплитуу и регистрируют время распостранения ультразвукового сигнала в двухточках траектории 11,15Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению является способ ультразвукового контроля, заключающийся в том, что наклонным искателем в контролируемом иэделии .возбуждают ультразвуковые колебания, принимают эхо-сигналы от дефекта и зеркально-отраженные от дефекта,и поверхности изделия измеряют их амплитуду и время распространения, срав нивают амплитуды всех отраженных сигналов, а по результатам сравнения судят о характере дефекта 21 .Недостатком этих двух способов является незначительная точность измере" З 0ния размеров дефектов в связи с тем,олютная величина амплитудынала зависит от многих факто"рмы дефекта, его ориентации и с-с2а -ГгС+ т 1 а СОЗа С где 1, -. время распространенияоультразвуковых колебаний в искателе;время, соответствующеепервому максимуму амплнтуды зхо-снгнала приконтроле прямым лучом;время, соответствующеепервому максимуму амплитуды эхо-снгнала понконтроле однажды отраженным лучом;619850 ствующих первым максимумам при контроле прямым и однажды отраженным лучами,а величину дефекта определяют по формуле дв 21 +Т- СОбосс гГ огдео Формула изобретения Т -В сов осИсточники информации, принятые вовнимание при экспертизе: 1, Гурвич А.К, и Ермолов И,Н.фультразвуковой контроль сварных,швовф Техника, с. 286-287, Киев,1972. 2. Авторское свидетельство СССР9 461361, кл,01 й 29/04, 1973. Состав Техред ль Т ГолЧужихк редакторЗаказ 449ЦН хи р Е.ПаппШ ктосноеров С 40ИПИ Г Тираж 1112 арственного комитета по делам. изобретенийМосква ЖРаушс ПодпСовета Миниси открытийкая наб. д. фПат ПП Уж нтУ Ул. Проектная 6 - угол ввода ультразвуковых колебаний в контролируемое изделие;С - скорость ультразвуковыхколебаний в материалеконтролируемого изделия; б - толщина контролируемого 5изделият. -8сова с На чертеже представлена схема реалиэации данного способа, на которой 10показаны искатель 1, контролируемоеиэделие 2 и дефект 3,Способ заключается в следующем.В контролируемом изделии 2 с помощьюискателя 1 возбуждают ультразвуковые 15колебания, принимают эхо-сигналы отдефекта 3, перемещая по поверхностииэделия искатель, измеряют время рас-,пространения эхо-сигиала в точке А,соответствующей первому максимуму ам- иплитуды эхо-сигнала при контроле прямым лучом, Измеряют также время распространения эхо-сигнала при контролеоднажды отраженным лучом, и по расчетной Формуле определяют размер дефекта.а Способ измерения размеров дефектов, заключающийся в том, что в контролируемом иэделии с помощью наклонного ис- ЗО кателя возбуждают ультразвуковые импульсы, принимают эхо-сигналы от деФекта, измеряют их амплитуду и время распространения, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с цеМью повьааения точности иэМереиия вертикально ориентированных дефектов, измеряют минимальное относительно момента излучения время распространения эхо-сигналов, соответ; время распространенияультразвуковых колебанийв искателе;время, соответствующеепервому максимуму амплитуды зхо-сигнала при контроле прямым лучом;время, соответствующеепервому максимуму амплитуды эхо-сигнала при,контроле однажды отраженным лучом;угол ввода ультразвуковых колебаний в контролируемое иэделие;скорость ультразвуковыхколебаний в материалеконтролируемого издедия;толщина контролируемогонзделня 1