Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 590649
Автор: Терехов
Текст
Юоюе Соеетскиц Социалистических Реси 1 блик(22) Заявлено 27.06,75 (21) 2153924/2551) М, Клз б 011 Ч 21/02 аявкиприсоединен Государственный комитет Совета Министров СССР ио делам изобретенийи открытий(43) Опубликовано 30.01.78, Б (45) Дата опубликования опис 531,715 (088.8)(71) Заявитель 4) СПОСОБ ОБНАРУ)КЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ Используя изделие в качестве катода, создают дуговой разряд между изделием и элект родом. Поверхность изделия подвергается дуговой очистке, при этом дефекты раскрываются, в их зоне происходит усление шероховатости поверхности, что делает пх хорошо различимымп на фоне очищенной дугои поверхно сти.Особенно эффективно применение для этихцелей вакумного дугового разряда.После обработки изделия его поверхностьосматривают, например, с помощью оптичес ких средств.Предлагаемый способ позволяет за короткое время выявлять поверхностные дефекты металлических изделий,Формула изобретенияСпособ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий, заключающийся в то:с, что поверхность изделия осматривают, например, с помощью оптических средств, о тл и ч а ю щ ц й с я тем, что, с целью повышения эффективности обнаружения, поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов. 20 Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения поверхностных дефектов, напримерволосовин, закатов, трещин, на металлических изделиях, например на проволоке, трубах,прутках.Известен метод выявления поверхностныхдефектов на поверхности металлических изделий путем осмотра контролируемой поверхности, например, с помощью оптическихсредств 11.Недостатком этого метода является егонизкая эффективность, обусловленная, в частности, тем, что дефекты поверхности, особенно мелкие, практически неразличимы нафоне поверхности изделия. Кроме того, обнаружение поверхностных дефектов путем осмотра изделия требует обязательной предварительной очистки поверхности изделия, например, путем длительного травления в растворах кислот.Целью изобретения является повышениеэффективности обнаружения поверхностныхдефектов.Для этого по предлагаемому способу поверхность изделия предварительно обрабатывают дуговым разрядом, используя контролируемое изделие в качестве одного из электродов,Способ осуществляется следующим обра3 Источники информации,принятые во внимание при экспертизеРедактор О. Юркова Корректор Л. Денискина Г 1 одписное Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 3259/9 Изд, Мз 181 Тираж 1109 НПО Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Рашуская наб д, 4/5
СмотретьЗаявка
2153924, 27.06.1975
ТЕРЕХОВ ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, металлических, обнаружения, поверхностных
Опубликовано: 30.01.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-590649-sposob-obnaruzheniya-poverkhnostnykh-defektov-metallicheskikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения поверхностных дефектов металлических изделий</a>
Устройство для обнаружения дефектов поверхностей
Номер патента: 1800332
Опубликовано: 07.03.1993
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностей
...выявлены относительно простым фотоприемником из 35 фотоэлементов, размещенных в линию от центра изображения.Устройство работает следующим образом.Контролируемые изделия 3 устанавливаются в базирующие приспособления 2 транспортера 1 вне зоны контроля. Транспортер 1 непрерывно перемещает их через зону контроля в зону сортировки, Источник 5 света с помощью линз 4 через светоделительный элемент 6 освещает зону контроля, причем освещенные поля двигаются вместе с движением линз 4. Вытянутая форма источника 5 света и, следовательно, освещенных полей обеспечивает их взаимное наложение и непрерывность и равномерность освещения зоны контроля,По мере прохождения изделий через зону контроля пучки отраженного от них света, сформированные линзами 4,...
Фотоэлектронное устройство обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 835209
Опубликовано: 27.02.1996
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности, фотоэлектронное
ФОТОЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ, содержащее излучатель, фотоприемник, расположенный в ходе лучей зеркально отраженного светового потока, измерительный усилитель, соединенный входом с выходом фотоприемника, и дополнительный фотоприемник, установленный в ходе лучей диффузно отраженного светового потока, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности контроля, оно снабжено дополнительным усилителем и управляемым сопротивлением, включенным в цепь отрицательной обратной связи измерительного усилителя и соединенным управляемым входом с выходом дополнительного усилителя, вход которого соединен с выходом дополнительного фотоприемника.
Способ обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 1239568
Опубликовано: 23.06.1986
Авторы: Горелов, Космодемьянский, Сорокин
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
...в процессе изготовления изделия,на выходе порогового элемента 10получают сигнал о (С) и по его наличию судят о годности или негодности контролируемого изделия.В связи с тем, что по предлагаемому способу компенсируется коррелированная составляющая шумов, определяемых шероховатостью поверхностиизделия, увеличивается величина отношения сигнал-шум и повышается надежность, обнаружения дефектов на поверхности изделий,П р и м е р. Способ реализуют в макете для контроля механических дефектов поверхности. стальных изделий, изготовленных на автоматических роторных линиях вытяжными операциями. Габаритные размеры изделий: диаметр й .= 6,мм, длина Й = 60 мм, частота обработки поверхности И = 0,63 мкм. Корреляционную функцию коэффициента...
Устройство для обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 1548725
Опубликовано: 07.03.1990
Авторы: Желязков, Клусов, Котляров, Лущенко, Сорокин
МПК: G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
...поверхности цилиндрическихпластмассовых деталей, наличие которых недопустимо . К ним о тносятся: пятна с пониженным коэдЬипиентом отражения при одинаковой чистоте отработки поверхности (посторонние включения); пятна с понышенньмкоэФЬициентом отражения при одинаковой чистоте обработки поверхности(посторонние включения); механическиедефекты (трещины, сколы, задиры, участки с пониженной чистотой обработкиповерхности); участки с повышеннойчистотой обработки поверхности; дефекты с плавными переходами междубездефектными участками и дефектами(вмятины, буг ры); наплывы лака, маслянная пленка толщиной и = (0,1-1)мм,Контролируемое иэделие базируетсян центрах и вращается с угловой скоростью И . На поверхности изделия .формируется световой...
Устройство для обнаружения дефектов поверхности
Номер патента: 1659796
Опубликовано: 30.06.1991
Авторы: Клусов, Котляров, Сорокин, Трифонов, Федоров, Чистяков
МПК: G01N 21/47, G01N 21/88
Метки: дефектов, обнаружения, поверхности
...света), управляемого кор ректором, добиваются того, что .при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные значения амплитуд перемен н ь 1 х составляющих оптических сигналов, определяемые рельефом контролируемой поверхности, равны между собой, При отсутствии автоматического устройства корректором является оператор-контролер.Устройство работает следующим образом.1659796 2 значений флуктуаций интенсивности зеркальной и диффузной составляющих светового потока, подающих на фотоприемник, Выравненные зеркально отраженные световые потоки зеркалом 4 подаются на вход фотоприемника 5, расположенный в ходе лучей диффуэно-отраженного светового потока. С помощью выравнивателя (поляриза. тора) 3 добиваются...
Предыдущий патент: Способ определения адгезии материалов
Следующий патент: Способ фотометрического определения олова в сплавах на медной основе
Случайный патент: 158680