Чулок

Номер патента: 1027189

Опубликовано: 07.07.1983

Авторы: Лобанцова, Лунин, Мкртычан, Рутман, Сокова, Чулок

МПК: C10M 1/32

Метки: жидкость, металлов, механической, смазочно-охлаждающая

...охлаждениетела;9, - температура нагретого тела(С);т - текущее время (с);С - время начала охлаждения телао.т - темп охлаждения (с).В условиях регулярного режима охлади дения тепловое поведение системы при, Таким образом, предлагаемая СОЖимеет охпаждающую способность на 7-14%выше, чем известная и может найти широ;кое применение на машиностроитепьныхпредприятиях з 1021 охлаждении характеризуется вепичинойтемпа охлаждения Ф, который свидетельствует об относительной, скорости изменения температуры тепа и зависит от фи.зических размеров и усповий охпажаенияна поверхности тепа. Еспи физическиесвойства и геометрические размеры охпажааемого тепа остаются неизменными,то темп охпажаения будет однозначнохарактеризовать охлаждаюшую способность...

Номер патента: 1027188

Опубликовано: 07.07.1983

Авторы: Антонова, Келарев, Ковальский, Лобанцова, Лунин, Мкртычан, Чулок

МПК: C10M 1/32

Метки: жидкость, металлов, механической, смазочно-охлаждающая

...0,5-1,5Минеральное масло 98,5-99,5Указанная присадка имеет следующую формулу:,637 0,2 9,00 х данных ,5-1,5 мас.% ечимет по- коэффициенсравнению с высокими Известно, чиашенными . сма , облегчают процспосрбствуют ув жущего иистру коэффициента т мый материал 3 , 10271 ют из смеси гексан-бенэол (12;1), Получают 89,3 г (84% от теоретического),Т. пл. = 82-83 С.Найдено, %: С 61,73; Н 7,21; М 13,82; СР 17,37. 5С НофСЕ 2Вычислено, %1 С 61,61; Н 7,33; М 13,69; СР 17,60.ИК-спектр (в КВп): 3360, 3300 (8 Н), 2980 (СН ), 2875 (СН),1565, 1 О 1520, 1345 (триазиновое кольцо),1420, 1020, 990, 870, 800, 790 (С-СР)Смаэываюшие свойства указанных со- ставов СОЖ оценивают по их влиянию на коэффициент тренияпары инструментальный...

Номер патента: 590834

Опубликовано: 30.01.1978

Авторы: Склярский, Тесеоглу, Чулок

МПК: H01C 17/00

Метки: дефектов, металлизированных, обнаружения, оснований, поверхностных, резисторов

...лизированного основания 6 резистора. Первый отраженный световой поток 7, пройдя через пластинку 5 и анализатор 8 поляризации, через объектив 9 попадает на фотокатод датчика 10. Второй отраженный световой поток 11, отразившись от поверхности основания 6, через объектив 12 поступает на фотокатод датчика 13, установленного под тем же углом а к оси основания 6, что и датчик 10, Электрические сигналы с датчиков 10 и 13 поступают в блок 14 сравнения, подключенный к исполнительному блоку 15 механизма разбраковки (не показан).В поляризованном свете дефекты металлизпрованного слоя основания 6 будут белыми на черном фоне слоя, вследствие того, что поляризованный свет, отразившись от металлизированного слоя, пройдя через анализатор 8, гасится, а...

Номер патента: 405132

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Скл, Табачников, Чулок

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, поверхности, резисторов, фотоэлектронное

...длину,10 15 20 25 30 35 40 равную длине детали 1, и ширину, соизмеримую с диаметром минимального дефекта, формируется осветителем 3 и падает на исследуемую поверхность.Формирование луча осуществляется следующим образом, Световой поток от источника света 4 преобразуется в параллельный пучок лучей конденсором 5 и линейно поляризуется поляризатором 6, Поляризованный луч 2 формируется до прямоугольного сечения щелевой диафрагмой 7, отражается от элемента автоколлимации 8 и, пройдя через объектив 9, попадает на поверхность исследуемой детали 1, Отраженный луч 10 также проходит (в обратном направлении) объектив 9 и элемент автоколлимации 8, а затем попадает на качающееся зеркало 11, которое разворачивает изображение луча 10 в плоскости...

Номер патента: 347815

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Скл, Тесеоглу, Чулок

МПК: G01N 21/21, H01C 17/00

Метки: металлизированных, оснований, поверхности, резисторов

...и мо ет быть использовало в производстве резис оров. Известцые способы контроля поверхности металлизированных оснований резисторов, основанные на использовации поляризованного света, имеют недостаточную точность контроля и це предоставляют возможности их авгоматизации.Предлагаемый способ не имеет этих недостатков и отличается от известных тем, что производят поляризациоццый анализ интенсивности луча, отраженного от контролируемой поверхности, причем фазовые сдвиги компоцентов луча сводят к минимуму.Предлагаемый способ заключается в том, что поверхность исследуемой детали с помощью спиральной развертки освещают точечным лучом, диаметр которого соизмерим с размерами мицимальцых дефектов. Отраженный луч подается на фотоприемццк. На...

Номер патента: 280676

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Скл, Тесеоглу, Чулок

МПК: G01N 21/55

Метки: бесконтактного, неразрушающего, поверхности, тонких, цилиндрических

...вращении детали с максимальными выводами вокруг оси вследствие радиального биения вывода световой луч соскальзывает с исследуемой поверхности, что приводит к появлению ложных сигналов на выходе системы.Целью изобретения является создание такого способа обнаружения дефектов поверхности аксиал.цых выводов радиодеталей, который бы позволил автоматизировать процесс контроля, Для этого луч света проецируется осветителем, формируется до прямоугольного се чецця достаточно малой ширины ц большойдлины.Прц вращении детали влияние биения выводов нс сказывается благодаря боой длине сечения прямоугольного луча. Ширина лу ча выбирается соизмеримой с размерамц минимальных дефектов.На чертеже схема 1 ическц показано распо.ложсцце выво;та исследуемой...