G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Номер патента: 1679284

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Лакоза, Чехович

МПК: G01N 15/02

Метки: проточных, размеров, средах, частиц

...среды поступает в проточную кювету 3. Излучение лазера фокусируется оптической формирующей системой 2 на проточной кювете 3. При этом в кювете 3 формируется измерительная зона в виде полосы, ограниченной в направлении распро1679284 Формула изобретения Составитель Г.Можаров эктор И.Шулла Техред М,Моргентал Корректор М.КучеряваяЗаказ 3205 Тираж Подписное ВНИИПИ 1 осударственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/53 роизводст денно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 странения светового потока плоско-параллельными стенками кюветы, Прошедший кювету световой поток коллимируется собирающим оптическим устройством 4 и направляется в интерферометр Маха-Цендера 5....

Номер патента: 1679285

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Воронцова, Ермакова, Кузнецова

МПК: G01N 15/02

Метки: дисперсной, обратных, радиуса, среднего, фазы, частиц, эмульсий

...обратной эмульсии, является характерным для данного класса эмульсий.Способ осуществляется следующим образом.На первом этапе определяется значение п)о для класса обратных эмульсий, к которому относится исследуемая обратная эмульсия. Для этого иэ данного класса выбирается обратная эмульсия любого фиксированного и известного состава. Для этой(с где и (р) - волновой экспоне нии Ван де Хюлста;Р (п 1) - модифицирован ный фактор;р - фазовый сдвиг;а- относительный разм во - показатель прелом ной среды; нт в приближеный поправочер частиц;ления дисперсСоставитель А.Башарин Редактор И,Шулла Техред М.Моргентал Корректор М,КучеряваяТираж Подписноеенного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 13035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 аказ...

Номер патента: 1679286

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Балдин, Коденев, Соломонов, Суткин

МПК: G01N 15/02

Метки: аэрозолей, детектор, оптический

...аэрозоля из рабочей камеры в пространство за диафрагмами, что могло бы снизить быстродействие детектора и исказить результаты измерения.При отсутствии в рабочей камере частиц аэрозоля свет непосредственно от источника 1 излучения из-за диафрагмирования не достигает фотоприемника 4, При появлении в потоке аэрозоля его частицы движутся вдоль оси рабочей камеры 2 вплоть до выхода из нее в гаситель 8 излучения, освещаясь при этом со всех сторон ( с 4 лср) объемным источником 1 света, Часть света, рассеянного частицами аэрозоля в направлении фотоприемника 4, через отверстия в диафрагмах попадает на него, Сигнал с фотоприемника усиливается, обрабатывается и записывается в блоке 11 регистрации, По величине сигнала от отдельных...

Номер патента: 1679287

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Tаубер, Можегов

МПК: G01N 15/02

Метки: пористости

...в емкость 4 вмонтирован, например, Сильфон 5, В стенках емкостей 4 и 3 установлены датчики б и 7, выходы которых соединены с входом цифропечатающего устройства 8. Вместо цифропечатающего устройства может быть применен цифровой измеритель отношения давлений. Например, марки ИДМ - 0,6,П р и м е р. Определяют поровый обьем деревянного (береза) образца 2 цилиндрической формы. Длина образца= 20 мм, диаметр 30 мм. Образец плотно устанавливают в цилиндрическую обечайку 1 такой же длины и такого же диаметра, как образец.1679287 объема образца с истинным показали, что относительная погрешность отдельного измерения не превышает+0,1 при надежности 0,9,5 Формула изобретения Способ определения пористости материалов, включающий ламинарную...

Номер патента: 1679288

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Злобин

МПК: G01N 15/02

Метки: веществ, пенообразующей, поверхностно-активных, прибор, пульп, растворов, способности

...вертикально расположенных дисков 10, установленных на общем валу 11 в подшипниках 12, приводимых во вращение посредством привода (не показан), при этом диски 10 направлены вдоль боковых стенок мерного сосуда 5 и установлены между собой с зазором 13. В зазорах 13 размещены скребки 14, плотно прижатые к боковым поверхностям дисков 10. Скребки 14 соединены между собой общей течкой 15 для вывода загрязнений, закрепленной на стенке мерного сосуда 5,Пневмогидравлические аэраторы 4 снабжены водоподводящими 16 и воздухоподводящими 17 рукавами. На сливном патрубке 3 закреплены сифон 18, обеспечивающий поддержание уровня жидкости в приборе.Прибор (датчик) работает следующим образом.Аэрационную камеру 1 через патрубок 2 заполняют пульпой...

Номер патента: 1679289

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Матвеева, Миронова, Хайруллин, Цыцымушкин

МПК: G01N 15/04

Метки: высококонцентрированных, седиментационной, суспензий, устойчивости

...является повышение точности определения седиментационной устойчивости высококонцентрированных суспензий путем учета влияния давления жидкости затворения на испытуемую суспензию при падении в ней порового давления,Схема устройства представлена на чертеже.Устройство состоит из прозрачного рабочего цилиндра 1, имеющего в нижней части перфорацию, и дополнительной внутренней цилиндрической оболочки 2 из эластичного материала (например, резины). В нижнюю часть рабочего цилиндра вмонтирован дно-фильтр 3, имеющий перфорированную втулку 4 и пластинчатые пружины 5. Втулка перемещается в корпусе 6 и фиксируется в заданном положении штифтами 7. Корпус 6 представляет собой тонкостенный цилиндр, перфорированный по всей поверхности, и снабжен поплавком...

Номер патента: 1679290

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Сердюк, Чувин, Чувина

МПК: G01N 15/08

Метки: параметров, пористых, структурных

...подключен к входу реле 51 реверса, соединенному с мотор-редуктором 38, связанному с микропереключателем 52, соединенному с кнопкой 48 "Стоп" и пусковым реле 50. Устройство работает следующим образом.Образец 19 становится в рабочий измеритель 4 давления на установочный диск 21, который под действием веса образца давит на нижний тензодатчик 27, сигнал от него поступает в многоканальный преобразователь 5, регистрирующий блок 8,откладывается в памяти ЭВМ и служит для определения веса образца, что необходимо для определения величины пористости. В корпус 20 вставляется стакан 22 с поршнем и штоком 23 и с помощью винта 25 допускается, проворачивается, пружина 24 поджимает поршень 23 к образцу 19, 10 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 Включается...

Номер патента: 1679291

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Давлетшин, Коротаев

МПК: G01N 15/08

Метки: коллекторов, песчаных, проницаемости

...0,7 всей излучаемой звуковой мощности, при условии минимизации длины диапазона (эффективная ширина спектра).На фиг.1 представлена зависимость проницаемости от эффективной ширины спектра; на фиг.2 - зависимость спектральной плотности от частоты, 1679291Корреляционные отношения у на х и х на у соответственно равны 0,92 и 0,94. Регрессионный анализ результатов дает эмпирическую формулу для значений проницаемости, больших 1 мкм (фиг.1, кривая 1)( 1 ц 15,6/( Д Г - 2 ) /0,35К =10 для К 5; 15 для К 5 К = 10 полученные из условия минимизации суммы квадратов отклонений по К,Среднеквадратичные отклонения по Кдля двух указанных случаев соответственноравны п 1 =0,5,ог =8,5, Это позволяет определять проницаемость пористого вещества по эффективной...

Номер патента: 1679292

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Вольпе, Евстигнеев, Иванов, Кузнецов, Куницын

МПК: G01N 15/08

Метки: газопроницаемости, локальной, пористых

...стве которого может испольчный или цифровой омметр, етр 3, представляющий соскую высокоомную нить в ой спирали с углом раствора и межвитковым расстоянием атериалом нити служит меудельным электрическим со 1679292противлением и значительной температурой плавления, например нихром, вольфрам, Термоанемометр 3 соединяется с источником 1 тока и измерительным прибором 2 проводниками 4 со слабой зависимо стью омического сопротивления от температуры, например из канстантана, Термоанемометр 3 может быть выполнен в виде конической спирали 5 (фиг.2) из высокоомной металлической нити, намотанной 10 ча теплоизоляционный диэлектрический стержень 6 конической формы, Концы нити, образующей спираль, выводятся через осевые каналы 7 диэлектрического...

Номер патента: 1679293

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Блинов, Вторушин, Ковязин, Кузнецов, Левшин, Щербич

МПК: G01N 15/08

Метки: контактного, проницаемости, слоя

...Одновременно с этим для создания температуры тампонажного раствора, отражающей реальную величину ее в скважине, через цилиндрическую полость 20, образуемую между цилиндром 2 и корпусом 1, посредством отверстий 21 и штуцером 22 прокачивают тепло- или хладоноситель, Таким образом в установке создаются условия, в которых происходит формирование контактного слоя 37 между образцом 6 горной породы и тампонажным раствором, отражающие реальный процесс в скважине,После установления заданной температуры и давления в камере устройства к контактному слою прилегают виброволновое поле, являющееся в отличие от воздействия окружающей среды (температура, давление) технологическим воздействием, Вибровоздействие наряду с температурой, давлением,...

Номер патента: 1679294

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бочко, Буря, Киреев, Попов

МПК: G01N 15/08

Метки: пористых, пространства, пустотного, структуры, твердых, тел

...порах образуются гелеобразные проб1679294 4 Составитель Е,КармановаТехред М.Моргентал Корректор О.Кравцова Редактор И.Шулла Заказ 3205 Тираж Подписное . ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 ки, препятствующие испарению воды и выходу контрастирующего вещества на поверхность образца, смыванию и удалению при обработке его поверхности, После извлечения образца из остывшей смеси он высуши вается при комнатной температуре или для ускорения сушки помещается на один час в термошкаф с температурой не превышающей 60 С, Затем образец пришлифовывают, после чего от готов для исследования. 10...

Номер патента: 1679295

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Жуковская, Каган, Моисеенко, Синицын

МПК: G01N 15/08

Метки: гидрофильных, мембран, микрофильтрационных, полимерных, пор, размерам, распределения

...пор по размерам микрофильтрационных полимерных мембран, и может быть использовано в областях техники, где разрабатываются, производятся и применяются полимерные мембраны. Цель изобретения - повышение точности измерения. Для этого в качестве смачивающей жидкости используется водный раствор сульфонола с концентрацией 0,08-0,20, а распределение пор по размерам рассчитывают по формуле го раствора сульфонола с концентрацией 0,080, и проводят фильтрацию при(20.+ 1) С и давлении 0,3 бар, Затем постепенно повышают давление Р и с помощью расходомера измеряют скорость воздушного потока на выходной стороне влажной мембраны Чвь По достижении соотношением Чыдр 1 постоянного значения (Р=3,5 бар) начинают уменьшать давление и измеряют...

Номер патента: 1679296

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Панов

МПК: G01N 19/02

Метки: заклинивании, коэффициента, механизма, свободного, трения, хода

...перемещения по продольным направляющим качения штока 3 и закрепленной на нем пластиной 4, имитирующей рабочую площадку звездочки МСХ, соединенную с приводом вращения на чертеже не показан) цилиндрическую обойму 5, установленный на пластине 4 цилиндрический ролик 6, взаимодействующий с внутренней поверхностью обоймы, и узел нагружения ролика и обоймы, выполненный в виде шарнирно закрепленного на кронштейне рычага второго рода 7, одним концом взаимодействующего со штоком, а другим - с грузами 8,Рассматриваемое устройство снабжено фрикционным демпфером одностороннего действия 9, который содержит закрепленный на кронштейне корпус 10, размещенную в этом корпусе звездочку 11, жестко связанную через ось 12 с рычагом второго рода 7,...

Номер патента: 1679297

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Носенко, Смирнов

МПК: G01N 19/10

Метки: гигрометр

...рабочий ЧЭ(межэлектродный промежуток между рабочим 4 и общим 6 электродами) и через конт. рольный ЧЭ (межэлектродный промежутокмежду контрольным 5 и общим электродами) при постоянном расходе газа пропорционален объемной доле воды Вг,определяемой по формуле Эн 2 оОгде Эн 2 о - электрохимический эквивалент воды;С 1 - расход газа.При этом напряжение. падающее на входном сопротивлении измерителя 8, определяемое током 1 о и пропорциональное объемной доле влаги Вг в анализируемом газе, подается на измерительный прибор 7, Напряжение, подающее на резисторе 11 и определяемое током 1 р рабочего электрода, подается через резистор 13 и диод 14 на второй вход устройства 9 сравнения, а напряжение, подающее на резисторе 12 и определяемое током 1 к...

Номер патента: 1679298

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бурцева, Варикаш, Меркулов

МПК: G01N 21/23

Метки: точки, трикритической

...и с(3) срезах, на фиг, 3 - температурная зависимость спонтанной поляризации кристалла КН 4)о,д 4 Ко,оо)2 ЯО 4 вдоль направления, измеренная с помощью пирозлектрического заряда.На фиг. 4 представлены экспериментальные Л пз и рассчитанные теоретически Д зависимости спонтанного двулучепреломления от разности температур (Т - Т) кристалла (М Н 4)о,д 4 Ко,оф 304 в а (1), Ь (2) и с (3) срезах (точки, рассчитанные теоретически,обозначены символом ).На фиг, 5 представлены зависимости параметра Ь от концентрации ионов калияв кристаллах (МН 4)1-х Кхй 304 вдоль а(2),Ь(1) и с(3) кристаллографических осей.При изменении двулучепреломлениякристаллов ЦМН 4)1-х Кх 2 304 используют известную формулу Лп =Гй,где Г - разность 5хода двух волн; б - толщина...

Номер патента: 1679299

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Карлов, Тевяшев, Шитиков

МПК: G01N 21/25

Метки: изменения, массообменного, процесса, скорости

...непоглощающимся компонентами пробы, регистрируют отраженное излучение, определяют спектр колебаний поверхности и, сравнивая его с эталонным, судят об изменении скорости процесса. 2 табл. визлучение с длинои волны 10,2 мкм и частотой модуляций, равной одной из резонансных частот ячейки, направляется на поверхность жидкости со стороны газа, Зондирование поверхности с целью определения колебаний поверхности, вызванных поглощением возмущающего излучения, проводится с помощью гелий-неонового лазера с длиной волны 0,63 мкм. Определяют спектр колебаний поверхности, По частоте, соответствующей максимуму интенсивности, определяют изменение скорости массо- обменного процесса, сравнивая полученный спектр с эталонным. Эталонные спектры получают...

Номер патента: 1679300

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Кузнецов, Щипцов

МПК: G01N 21/35

Метки: гранитных, классификации, пегматитов

...1085 см, определяют структурную упорядоченность и поверхностную энергию. Относят кристаллы к мусковитовой специализации пегматитов при Л Г = -527-650 мДж/м и Р = 1,15 - 1,29, к мусковит-редко 2металльной специализации пегматитов при Ь Е = - 420-540 мДж/м и Р = 1,05-1,15, к редкометалльной специализации пегматитов при Ь Р = -360 - 480 мДж/м и Р = 0,85 - 1,05. 1 ил,30 мкм с тем, чтобы обеспечить объемных сил в поверхностных сил спектрофотометрируют их в обла 1100 см на ИКСс применен кальной приставки ИПО. Расс коэффициенты Отражения В и В 2 д мумов Р = 1040 см " и и 2 = 108 после этого - структурную упорядо Р =- и поверхностную энергию пВгГ 21679300 15 У.О У,Я 5 У.Д 7 У,Ж У,Ф Р.У 5 1 Ю Составитель Д.ПахомовРедактор И,Шулла Техред...

Номер патента: 1679301

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бородин, Веселев, Лизунов, Мокрош

МПК: G01N 21/45

Метки: показателя, преломления, прозрачных, сред

...22 сигналов, нуль-индикатора 23 и процессора 24Устройство работает следующим образом, 1679301Параллельный пучок источника 1 моно- хроматического света делится светоделительным элементом 6 на две равные части, одна из которых при помощи светоделительного элемента 2, уголковых отражателей 3 и зеркал 4 и 5 образует интерференционную картину в основном интерферометре считывающим регистрируемым устройством 21, а вторая часть при помощи зеркал 8-11 уголковых отражателей 12 и светоделительного элемента 7 - интерферирующую картину во вспомогательном интерферометре считывающего регистрирующего устройства,По заданной программе процессор 24 управляет механизмом 17 перемещения вакуумных камер 13, при этом считывание полос осуществляется...

Номер патента: 1679302

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Глебов, Киселев, Табанькова

МПК: G01N 21/53

Метки: включениями, газов, оптической, плотности

...сжатый воздух от источника сжатого воздуха. Проходящий через диафрагму 8 поток воздуха трансформируется в струю, истекающую иэ отверстия диафрагмы 8 в ограниченное пространство. В результате эжектирующего действия струи воздуха в выходном патрубке 6 исследуемый гаэ иэ газохода через пробоотборный канал 5 и патрубок 4 для подвода исследуемого газа поступает в измерительный канал 1 и покидает его через отверстия 7, подмешиваясь в струю воздуха, поступающего от источника сжатого воздуха, Луч света от источника 2 проходит через отверстие 7 одного из выходных патрубков 6, просвечивает исследуемый газ, находящийся в измерительном канале 1, и через отверстие 7 в другом. выходном патрубке 6 попадает на фотоприемник 3, на котором...

Номер патента: 1679303

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Каринь, Шестаков

МПК: G01N 21/55

Метки: вуфи, зеркального, коэффициентов, отражения, распределения, спектрального, умр-диапазонах

...иа светового лучка люминесцирующей пластинке измеряется токФЭУЪаз(Л 4) = впал(Я) Й 3 (ач) д, (1)где Вз- коэффициент отражения сферического зеркала;пад(А)- интенсивность падающего излучения; ффективность фотоп риемникПри введенной в оптический тракт люминесцирующей пластинке измеряется11(Яо) = пад(Л) Яз(420) 0) до, (2) где Вз(420) - коэффициент отражения зеркала на длине волны люминесценции 420 нм;о- коэффициент преобразования люминофора.Взяв отношения (1) и (2), получают д -4 Ь Образец введен в приемник находится люминесцирующей пл из оптического тракта 14(Ь) = 1 пад(А)Ь(Ь ГДе Вобр коэффиЦи ца на длине волны Л. При введенной в о минесцирующей пласт(3) я образ птический тракт нке измеряется Для ся и пос интенси лучения длине в...

Номер патента: 1679304

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Чернов

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркала, коэффициента, отражения

...который отражается от полупрозрачного зеркала 13, - на позиционно-чувствительный фотоприемник 14. Так как световой пучок, отразившийся от зеркала 18,проходит меньший путь при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 15, чем при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 14, то по разности выходных сигналов позиционно-чувствительных фотоприемников 14 и 15 (вычитание осуществляется в сумматорах 16 и 17) можно судить об угловом положении зеркала 18. Держатель 5 зеркала 18 поворачивают вокруг двух взаимно перпендикулярных осей, проходящих через точку пересечения лучей, таким образом, чтобы выходные сигналы сумматоров 16 и 17 стали равными нулю, При этом исследуемое зеркало 18 с высокой точностью устанавливается...

Номер патента: 1679305

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Воропай, Казак, Лугина, Надененко, Павленко, Санников, Торпачев

МПК: G01N 21/63

Метки: вторичного, излучения, интенсивности, относительного, процесса, распределения, спектрального

...излучения.Для сравнения получают выражение отклика детектора вторичного процесса при отсутствии нормировки на энергию импуль) са зондирующего излучения за время взаимодействия со. средой.Если в МК введена интенсивность 1 л, то ее изменение со временем описывается выражениемф)-1 ле , (14) где с,; - время жизни фотона в МК, рав- ное%6 Д1, ЬсА А (15)В случае известного способа ЛЬ = -21 С В качестве единицы времени берется время прохода МК Ю = ОС, Считают, что в течение этого времени энергия излучения в МК постоянна, а импульс лазера имеет длительность Ьл.После первого прохода объектом излучения измеряется заряда =2 к 1 лтое 11 г" (16) Тогда общий заряд, измеренный датчиком вторичного процесса после и проходов, составляет Ое =23 суАаеф...

Номер патента: 1679306

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Курейчик, Мавлютов, Нагулин

МПК: G01J 3/42, G01N 21/77

Метки: веществ, концентрации, спектральный

...5. Интенсивность источникасплошного спектра записывается в виде 1 сс 1 1 фъ.л (1) где Е - коэффициент, учитывающий разбаланс. источников 1 и 2. В режиме калибровки источники включаются по очереди, сначала источник 1, а потом источник 2. Регистрация по выражению (1) производится на резонансной длине волны фр. После этого источники включаются одновре" менно и начинается атомизация пробы. В этом случае интенсивность источника 1 на длине волны 1 р, записыва". ется в виде а интенсивность источника 2 на длиневолны, записывается в виде)к(с) - коэФфициент неселективкого поглощения,Х(с) - функция, описывающая неселективное поглощение.Учитывая, что регистрация прово"дится одновременно для сигналов ис"точников 1 и 2, зависимость от времени...

Номер патента: 1679307

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Автономов, Глущенко, Луков, Седунов, Уздовская, Уздовский

МПК: G01J 1/44, G01N 21/88

Метки: качества, микросеток

...коэффициентами трансформации линзы и собственными размерами нити и ячейки микросетки, Размер ширины щели не должен превышать ширины изображения отдельной нити, чтобы не уменьшилась глубина модуляции сигнала. Длина окна не должна быть меньше размера изображения ячейки, чтобы случайное попадание на окно изображения поперечной нити не приводило к существенному уменьшению сигнала. Расстояние между центрами фотодиодов должно быть не менее ширины ячейки, так как сдвиг фаз сигналов. поступающих с фотодиодов, не должен превышать величину периода сигнала, поступающего с каждого фотодиода.Устройство для контроля качества микросеток работает следующим образом.Полотно микросетки 1 устанавливается в предметной плоскости оптического блока 3, в...

Номер патента: 1679308

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Герасимов, Григорьев, Нестеренко, Федотов

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектоскопии, дефектоскопических, комплект, цветной

...мас.ч,:Этиловый спирт 80-100Диметилглиоксим 1 3аеавъВода дистиллированная 0,1100,0Обогащенный каолин 30-60,а в качестве очистителя используют дистиллированную воду 100 мас,ч,Пенетрант получаютазотнокислого натрия в вобавляют любую соль никел1679308 Составитель В,АгинскийТехред М. Моргентал Корректор М.Пожо Редактор И,Шулла Заказ 3206 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 ют до полного растворения, за жм добавляют изопропиловый спирт и раствор аммиака при перемешивании до рН 8, В качестве очистителя применяют воду. Проявитель получают растворением диметилглиоксима в спирте,...

Номер патента: 1679309

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Коробочкин, Латыпова

МПК: G01N 23/00

Метки: ксантогената, распределения

...объемом 1 мл на радиоиндикаторный анализ для определения общего количества ксантогената и параллельно измеряют оптическую плотность Дзю) для избирательного определения количества ксантогената методом Уф-спектроскопии.В таблице представлены результаты определения разрушенных Форм ксантогената1679309 Сочетание радиоиндикаторного метода и метода УФ-спектроскопии, позволяющего определять разрушеннце формц ксантогената, дает возможность использовать высокую чувствительность определения всех форм ксантогената радиоиндикаторным методом и избирательность в определении ксантогената УФ-спектроскопией.Формула изобретения Способ контроля распределения ксантогената при взаимодействии его водного Радиоиндикаторнцй метоУФ- спектроскопия...

Номер патента: 1679310

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Матюков

МПК: G01N 23/00

Метки: заряженных, облучения, образца, пучком, ускоренных, частиц

...ядро определяется синусоидальным законом сканирования, В общем случае это не всегда так, В качестве примера на фиг, 6 и 7 изображены некоторые временные зависимости, по которым также может быть осуществлено периодическое сканирование, Но уравнения типа (5) с ядром, определяемым этими функциями, не имеет решения, т.е.никакое изменение амплитуды не позволит 15 получить равномерное облучение образца,если сканирование осуществлять так, как на фиг, 6 и 7 (в частности, фиг. 7 соответствует использованию тиристорного регулятора без фильтра высших гармоник для изменения амплитуды сканирования на низких частотах),Таким образом, при медленном изменении амплитуды синусоидального сканирования от нуля до Т в соответствии с выражением (7) получают...

Номер патента: 1679311

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Габодзе, Лазарев, Мелик-Гайказян, Пирцхалава, Тихонов, Филиппович

МПК: G01N 23/04

Метки: интроскопии, радиационной

...в момент прохождения объектом 8 контроля эоны контроля, Возрастание интенсивности ионизирующего излучения, вызванное различными причинами, увеличивает дозу ионизирующего излучения, поглощенную объектом 8 контроля в момент прохождения им зоны контроля, что может привести к нежелательным последствиям, например засвечиванию фотоматериалов, перевозимых в багаже. Поэтому в устройстве в случае возрастания интенсивности ионизирующего излучения оно автоматически перекрывается,В устройствах для радиационного контроля с зоной контроля открытого типа перекрывать ионизирующее излучение также необходимо при случайном попадании человека в зону контроля, поэтому в устройстве автоматически перекрывается ионизирующее излучение, когда в зону...

Номер патента: 1679312

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Бабенко, Вайсман, Минина, Пельтек, Сова, Утенкова

МПК: G01N 23/20

Метки: восстановления, концентрата, молибденового, степени

...В процессе обжига молибденосодержащего концентрата молибден из окисла Мо 20 з переходит в карбид благодаря присутствию кокса в шихте,В результате непрерывно увеличивается содержание МорС и интенсивность его регистрируемого рефлекса. В то же время уменьшается содержание графита в смеси и интенсивность его рефлекса, Следовательно, нормированная интенсивность 1 мо 2 с1 испытывает, будучи отношением возрастающей величины к уменьшающейся, более сильное изменение, чем 1 мо 2 с, при изменении степени восстановления концентрата. Поэтому способ благодаря указанному дополнению имеет более высокую чувствительность и точность, особенно на более поздних стадиях процесса восстановления, что обнаружено при экспериментальной проверке,Определяют...

Номер патента: 1679313

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян

МПК: G01N 23/20

Метки: дилатационных, исследования, монокристаллов, несовершенств, рентгеноинтерферометрический

...от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего кристалла, получают1 11 оьь ЮьоКопо - Ив1. В двухкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первого и второго кристаллов отличаются одно от другого, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или второго кристалла.2. В трехкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первых двух(первого и второго) или последних двух (второго и третьего) кристаллов одинаковы, но отличаются от межплоскостных расстояний оставшегося (третьего или первого) кристалла, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего...