Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в вуфи умр-диапазонах

Номер патента: 1679303

Авторы: Каринь, Шестаков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХсОциАлистическихРЕСПУБЛИК 182155 МЪ. цкамр И О БРЕТЕН ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬ(56) Карин М.Г. Оптические свойства и зонная структура редкоземельных полупроводников. Автореф. дис, на соиск, учен, ст. кандфизико-математических наук. - Л 1986, с6 - 8,(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЗЕРКАЛЬНОГО ОТРАЖЕНИЯ В ВУФИ УМР-ДИАПАЗОНАХ Изобретение относится к оптическому приборостроению и спектральным исследованиям и может быть использовано при создании аппаратуры для регистрации и исследований спектров отражения (пропускания) преимущественно в области длин волн ВУФ- и УМР-диапазонов.Цель изобретения - повышение точности измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения твердых тел.На чертеже представлена оптическая схема спектрофотометрической установки для осуществления предлагаемого способа.Установка состоит из источника 1 ВУФ- излучения, вакуумного монохроматора 2 с дифракционной решеткой 3 и фотометрической камеры 4, в которой расположены образцы 5 в кассетном держателе 6, сферическое зеркало 7, пластина 8 с нане(57) Изобретение относится к области оптического приборостроения и спектральных исследований, Цель изобретения - повышение точности измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения твердых тел. Проводятся измерения как и исследуемой спектральной области, так и в длинноволновой области, в которой коэффициенты зеркального отражения могут быть измерены с высокой точностью, что позволяет, используя отношения сигналов опорного и отраженного от образца пучков в обоих спектральных диапазонах, устранить влияние дрейфа. чувствительности фотоприемного устройства, 1 ил. сенным слоем люминофора 9 и приемник 10излучения, вне камеры находится регистрирующая система (не показана), а и б указыавааааЪвают различные положения приемника Оееизлучения 10 во время измерений.Способ осуществляется следующим об- йОразом. СдОбразец выведен. иэ оптического трак- С)тв и приемник находится в положении а., га 1При выведенной иа светового лучка люминесцирующей пластинке измеряется токФЭУЪаз(Л 4) = впал(Я) Й 3 (ач) д, (1)где Вз- коэффициент отражения сферического зеркала;пад(А)- интенсивность падающего излучения; ффективность фотоп риемникПри введенной в оптический тракт люминесцирующей пластинке измеряется11(Яо) = пад(Л) Яз(420) 0) до, (2) где Вз(420) - коэффициент отражения зеркала на длине волны люминесценции 420 нм;о- коэффициент преобразования люминофора.Взяв отношения (1) и (2), получают д -4 Ь Образец введен в приемник находится люминесцирующей пл из оптического тракта 14(Ь) = 1 пад(А)Ь(Ь ГДе Вобр коэффиЦи ца на длине волны Л. При введенной в о минесцирующей пласт(3) я образ птический тракт нке измеряется Для ся и пос интенси лучения длине в статисти отношен спектра пр х парных июминесце з монохро вычисляют ияАиВи каждой точки ледовательны вностей света выходящего олны 1, затем ческие значен иеоизводитзмерений нции и изматора на ся средне- берется их) = пад(Л)"Ь(420)Вобр(420)д О(Д 4), (4 ДЕ Вобр(420) - КОЭффИЦИЕНт ОтРажЕНИЯ Налине волны люминесценции 420 нм.Взяв отношения (3) и (4), получают 5 10 15 20 25 30 35 из которого коэффициент отражения образЦа Вобр(Л)ОПРЕДЕЛЯЕтСЯ КаКВоб (Л)12 %о31Предлагаемый способ позволяет с высокой точностью получить абсолютные значения коэффициентов зеркального отражения, так как использует при измерении коэффициент отражения исследуемого образца на одной длине волны в видимой или ближней ультрафиолетовой областях, где измерения коэффициента зеркального отражения могут быть осуществлены с высокой точностьюл 0,01 при использовании, например, люминофоров из салициловокислого натрия.Формула изобретения Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в ВУФ- и УМР-диапазонах, заключающийся в том, что в каждой точке спектра измеряют интенсивности 11 Яо), 12( 3 о) преобразованных в более длинноволновое излучение опорного и отраженного от образца пучков, отл ич а ю щи йс я тем, что, с целью повышения точности, дополнительно в каждой точке спектра измеряют интенсивности 1 зД 4) и 14(4) непреобразованных опорного и отраженного от образца пучков, причем проводят последовательное измерение интенсивностей 11 фо), 1 з(Ьопорных пучков и интенсивностей фо) 14(Л) пучков, отраженных от образца, при этом измерения интенсивностей опорных и отраженных от образца пучков проводят нэ одном фотоприемнике, а о распределении коэффициентов зеркального отражения судят по соотношениюи(А)гдеВ(Ло) - коэффициент зеркального отражения образца для преобразованного излучения,1679303 едактор И.Шул Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10 каз 3206 ВНИИПИ Составитель Е,ПетросянТехред М.Моргентал Корректор М,Пож Тираж Подписноеарственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5

Смотреть

Заявка

4630593, 02.01.1989

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681

КАРИН МИХАИЛ ГЕОРГИЕВИЧ, ШЕСТАКОВ ИГОРЬ БОРИСОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 21/55

Метки: вуфи, зеркального, коэффициентов, отражения, распределения, спектрального, умр-диапазонах

Опубликовано: 23.09.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1679303-sposob-izmereniya-spektralnogo-raspredeleniya-koehfficientov-zerkalnogo-otrazheniya-v-vufi-umr-diapazonakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения спектрального распределения коэффициентов зеркального отражения в вуфи умр-диапазонах</a>

Похожие патенты