Патенты с меткой «дилатационных»
Рентгеноинтерферометрический способ исследования дилатационных несовершенств монокристаллов
Номер патента: 1679313
Опубликовано: 23.09.1991
Авторы: Абоян, Безирганян, Хзарджян
МПК: G01N 23/20
Метки: дилатационных, исследования, монокристаллов, несовершенств, рентгеноинтерферометрический
...от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего кристалла, получают1 11 оьь ЮьоКопо - Ив1. В двухкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первого и второго кристаллов отличаются одно от другого, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или второго кристалла.2. В трехкристальных интерферометрах, когда межплоскостные расстояния отражающих плоскостей первых двух(первого и второго) или последних двух (второго и третьего) кристаллов одинаковы, но отличаются от межплоскостных расстояний оставшегося (третьего или первого) кристалла, период муаровых картин зависит от того, падает ли первичная волна со стороны первого или третьего...