Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИС ОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИН О 9) 110 1 3 о 60 ВТОРСНОМ ЕЛЬ 54) (57) УС ЕСТВА ПОВЕ ТВЕРСТИЙ и и ч а ю щ РОЙСТ ХНОСТ Гребнев,ан, В.Н. ФиН. НаумовньФ техноло Циолковско ния точ отр ажа олнена/30, 1980. ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ НИЕ ИЗО(71) Московский авиацический институт им. К.(56) 1. Авторское свидУ 938010, кл, ч 01 В 1 РЕТЕНИЯВУ целью повыш ти контроля и- аксикона вып ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАПИЛИНПРИЧЕСКИХ в. В 938010, о т -тем, что, с ности и надежносющая поверхность в виде тороида,1 1125Изобретение относится к контроль-. но-измерительным устройства, используемым для контроля дефектов поверхности цилиндрических отверстий деталей различного назначения, 5По основному авт, св. У 938010 известно устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий, содержащее последовательно расположенные на одной оптической 10 оси лазер, фокусирующую линзу, аксикон, световод, выполненный в виде кольцевых секций, выходные торцы которых скошены, а каждый выходной торец соединен с соответствующим при емником излучения 11,Однако для известного устройствахарактерны недостаточная точностьконтроля, особенно при контроле дефек 20тов поверхностей с ярко выраженнымиследами режущего инструмента, а также неудовлетворительная надежностьвыявления дефектов.Целью изобретения является повышение точности и надежности контроляУказанная цель достигается тем,что в устройстве для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий отражающая поверхность аксикона ЗОвыполнена в виде тороида.На Фиг. 1 изооражена схема устройства для контроля дефектов цилиндрических отверстий; на Фиг, 2 - разрез А-А на Фиг, 1 на Фиг. 3 - разрезВ-Б на Фиг. 1,Устройство (Фиг. 1) содержит лазер 1, Фокусирующую линзу 2, Фокускоторой расположен на поверхностиконтролируемой детали 3, аксикон 4с отражающей поверхностью, выполнен.ной в виде тороида, световод 5 кольцевого сечения с секциями 6.1-6.П,приемники 7.1-7.11 излучения.470 2Устройство работает следующим образом,.Луч лазера 1 фокусируется фокусирующей линзой 2 на контролируемую поверхность детали 3. На пути сфокусированного потока расположен аксикон 4 на тороидальной отражающей поверхности которого происходит формирование светового потока в виде кольца и дополнитепьная Фокусировка на контролируемую поверхность детали 3, Рассеянное на дефекте излучение воспринимается волоконно-оптическим световодом 5, причем каждая из его секций 6,1-6,11 воспринимает рассеянное излучение от соответствующего ей участка поверхности,Наличие скошенных торцов свето- водных секций 6.1-6.11 позволяет воспринимать излучение, рассеянное дефектами в большом телесном угле. Выходной тОрец каждой иэ секций связан с приемником 7,1-7, П излу" чения, что позволяет определить местоположение дефекта на поверхности, Сканирование всей поверхности сфокусированным по периметру световым кольцом обеспечивается при относительном поступательном перемещении устройства и контролируемой детали 3.Устройство обладает большей точностью и надежностью в связи с тем, что при Формировании кольцевого пучка зондирующего излучения на тороидальной отражающей поверхности аксикона происходит его дополнительная Фокусировка. В результате пучок на поверхности Фокусируется в линию малой ширины и большей концентрации энергии, что приводит к увеличению контраста между освещенным участком поверхнссти цилиндрического отверстия и Фоном и, тем самым, к повышению точности и надежности контроля.
СмотретьЗаявка
3549144, 04.02.1983
МОСКОВСКИЙ АВИАЦИОННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. К. Э. ЦИОЛКОВСКОГО
СУМИНОВ ВЯЧЕСЛАВ МИХАЙЛОВИЧ, ГРЕБНЕВ АНАТОЛИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, ГРЕБЕНЮК ЕЛЕНА ИВАНОВНА, ВИТМАН АЛЕКСАНДР ДМИТРИЕВИЧ, ФИГУРИН ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ, КРЕЧМАН ГЕННАДИЙ РИЧАРДОВИЧ, НАУМОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических
Опубликовано: 23.11.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1125470-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-kachestva-poverkhnosti-cilindricheskikh-otverstijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий</a>
Предыдущий патент: Способ измерения переднего угла метчика
Следующий патент: Уровень
Случайный патент: Манипулятор