Способ контроля формы поверхности вращения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1627828
Автор: Степин
Текст
-М 3 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ ВИДЕТЕЛЬСТ А ВТОРСН ролируеповоротдят .илируемо коцечц баэиро поворота при зт(и .3 ерие 1 ц цз -коцечник 3 персмепается пб поверхности коцтр(цру( мой детали 5. Поизвестному улу Ф между осью поворота базир(ьзочного столика и птоком2, радиусу сферы змерительцого наконечника 3 и показашям от( ет огоустройств( скреплеццого ( бз(.(ро(ецым столиком, и измерителяперемещения, скреплеццого со щтоком 2, рассчитывают форму контролируемой лета- Жли, Предложенный способ упрощаетроцесс коцтроля, так как пере(е(ецие измерительного накоцечцика 3 о Споверхнос(и коцтролируемой детали 5осуществляется только смепениембазировочцого столша. 1 ип,ОСУДАРСТ 8 ЕККЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И 0 РЫТИЯМПРИ ГКНТ ССО(57) Изобретеше отцосится к змерительцой технике и может быть использовацо для контроля формы щлифованцых и полироваццых сферических и ас(ерическх поверхностей. 1 ельюизобретения является упрощеше процесса коцтроля за счет перемещенияизмерительного цакоцечшка по поверхности контролируемой детали путем смещения базировочцого столика.Контролируемую деталь 5 устанавливают ца базировочцый столик так,чтобы ее оптическая ось (или центркривизны для сферической формы контмой еталц) се адпа с. ос а базировочного столика. В оп такт с по в(рхс т и кои т й детали 5 цзмерител( цй к 3 и цашшают (ремепать очцый столпк в(л си еоИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы шлифованных и полированных сферических и асферических поверхностей, в гом числе параболических, гиперболических и эллиптических,11 ел.ю изобретения является упрощение процесса контроля за счет перемещения измерительного наконечника по поверхности контролируемой детали путем сещеция бязировочцого столика.Иа чертеже представлена функциональная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.устрс йствл содержит бязирс вочцый столик ,не показано), установленный с возможное.тью поворота и смещения вдоль оси, пяряппе;ьной оси поворота, отс етцлс устройство (це показано), скрепленное с бязирлвочцым столиком, автоклллимяциоццьп микроскоп 1, визирная ось которого совмещена с осью поворота бязировочнлго столика, шглк 2, устацсэвлеццгп плп острым углом М к Оси поворота бязировочцо- ГО СТОЛха С ВЛЗМЛЖЦОСтЬЮ СМЕЩЕНИЯвдоль оси егл си;метрии, измерительный няклцешик 3, выплгсненцый сферичесюм и скреплеццый сл штоком 2, измеритеп:, 4 11 еремегения, скрепленный со птока. 2.Способ осугествляют следующим образом.Контролируемую деталь 5 устанавливают ця бязирлвлчный столик так, чтобы центр кривизны сферической контролируемои детали 5 или Оптическая ось, если контролируемая деталь 5 ясферическая, совпадали с осью поворота базирлвлчнлго столика, ПРИ ЭТ ОМ КСсЦТРЛ.Ь ЦЕНТРИРОВаЦИЛпроводят с 1 сзмлцеэю явтлкОллпмя 1 И 111 н ногс. микроскопа 1. Зягем вводят вконтакт с поверхностью контрочируемой детали 5 измерительный наконечник 3 и снимают отсчет по измерителю 4 перемещения. После легл базировочцый столик начинают переме 1 ятьвдоль оси егл поворота, при этом измерительный наконечник 3 переме 1 яется по поверхности контролируемой детали 5. Постоянный контакт измерительного наконечника 3 с поверхностью контролируемой детали 5 обеспечивается под действием силы тяжести при вертикальном расположении лси поворота базировочного столика, илиже специального устройства, задающего измерительное усилие.5При перемещении базировочного столгка снимают показания отсчетного устройства и измерителя 4 перемещения,По известному углу 0, радиусусферы измерительного наконечника 3,показаниям отсчетцого устройства иизмерителя 4 перемещения легко вы-.числить форму контролируемой детали,при этом в качестве нуля при определении координат точек контролирумой поверхности целесообразно выбирать точку, когда измерительный наконечник окажется в контакте с вершицли пс 1 нерхцости контролируемой детали 5 (ц ллжецие,показанное пунктирной линией ня чертеже)При контроле формы детали 5 в разНЫХ СЕЧЕШНХ баэирсц 1 лцЫй СТОЛИК ПОворачивяют ца зяаццый угол и повторяют измерения. Возможен также одновременный поворот бязировочцого столика и его сменение вдоль оси поворота,Таким образом предлагасзмый способупрощает процесс контроля, так какперемегение измерительного цаклне- ника по плверхнлсти коцтрллируемлйдетали осуществляют только смещением базцловочногл столика.Ф о р м у л а и з о б р е т е н и яСпособ контроля формы поверхно 35сти вращения, заключающийся в том,что совмегают ось симметри контролируемой поверхности с осью ее поворота, вводят в контакт с поверх 40ностью вращения измерительный наконечник, осуществляю перемещениеизмерительного наконечника по поверхности вращения и измеряют егоположение, после англ; лвлрячиваютповерхность вращешя ц повторяют45измерения, я зятем ряссчтывяютоткллнецие формы поверхности вращения от цлмццяльнлй, л т л и ч а юш и й с я тем, чтл, с целью упропения процесса контроля, перемегение измерительного наконечника поповерхности врагения прл зводят перемеще 1 шем поверхности вращениявдоль Оси ее поворота, измерительный наконечник выполняют сферическим, я измерение егл положения1,осуществляют и направлении, Образующем острый угол с осью симметрииповерхности вря 1 ения,
СмотретьЗаявка
4445251, 22.06.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6681
СТЕПИН ЮРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24
Метки: вращения, поверхности, формы
Опубликовано: 15.02.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1627828-sposob-kontrolya-formy-poverkhnosti-vrashheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля формы поверхности вращения</a>
Предыдущий патент: Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Следующий патент: Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка
Случайный патент: Магнитный материал