Устройство для контроля отклонений от прямолинейности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(21) 4457304/28 (22) 07.0788 (46) 15.05.91. Вюл (71) Хабаровский и СУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯИ ГКНТ СССР ОПИСАНИ К АВТОРСКОМУ олит ехниче с к иститут(56) Авторское свидетельство ССУ 557263, кл. 0 О 1 В 11/ЗО, 197 БРЕТЕНИЯ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ 11 РЯИОЛИНЕЙНОСТИ(57) Изобретение относится к измери-тельной технике. Цель изобретения -повышение точности контроля. Устройство содерхит корпус 1, оптическийблок регистрации, выполненный из последовательно установленных на однойоптической оси наблвдательного микроскопа 2 и пентаприэмы 3, жестко1 Ь 49261 5О15 соединенной входной и выходной гранями с трехгранной прямоугольной призмой 4 и установленной с возможностьюперемещения микрометрическим винтом5. В корпусе 1 установлен источниксвета - лазер б, ось луча совмещена соптической осью устройства, по ходулуча последовательно установлена система 8 коллимирующей оптики, жидкостный компенсатор 9 углов наклона,дифракционная пластина 1 О. Иарка выполнена из зеркал,установленных подуглом 90 друг к другу с возможностьюперемещения микровинтом вдоль направляющей. Устройство и марку взаимноориентируют и зануливают отсчет. ЧеИзобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля непрямолинейности, неплоскостности оптическим методом, 25 и предназначено для контроля поверхностей крупногабаритных объектов,а также дпя установки ряда объектовотносительно референтной плоскости встанкостроении, судостроении, энер гомашиностроении и других отраслях промышленности.Цель изобретения - повышение точности контроля за счет умножения измеряемой величины.35На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для контроля отклонения от прямолинейности; на фиг.2- марка.Устройство содержит корпус 1, в 40 котором установлен оптический блок регистрации, выполненный иэ последовательно установленных на одной оптической оси наблюдательного микроскопа 2 и пентапризмы 3, совмещенной вход- , 45 ной и выходной гранями с трехгранной прямоугольной призмой 4 и установленной с возможностью перемещения при помощи мнкрометрического винта 5. В корпусе 1 установлен также источник света - лазер б, луч которого введен, например, при помощи светоделительного кубика 7 в оптический блок регистрации, причем ось луча совмещена с оптической осью устройства. По ходу луча последовательно установлена система 8 коллимирующей оптики, жидкостный компенсатор 9 углов наклона и дифракционпая пластина 10. Устройстрез делительный кубик 7, лазерный лучпопадает на входные грани пентаприэмы 3, затем - на экран наблюдательного микроскопа 2, где Формируется согласованная интерференционная картинав виде прямых светлых и темных полос.При смещении марки на величину Ь падающий луч лазера отражается в обратном направлении со смещением 2 Ь. Отраженный луч, попадая на пентаприэмы 3, 4, разворачивается в направлении экрана наблюдательного микроскопа 2, каждая часть луча отклоняетсяот оптической оси на величину 2 Ь,а взаимное отклонение частей луча равно 4 Ь. 2 ил. во также содержит марку, выполненную иэ двух зеркал 11 и 12, установленных под углом 90 друг к другу, котоорые могут при помощи микровинта 3 перемещаться вдоль направляющей 14.Устройство работает следующим образом.На начальнув точку конструкции устанавливают устройство для контроля отклонений от прямолинейности, плоскостности, приводят его в рабочее положение, На конечной точке конструкции устанавливают марку, приводят ее в рабочее положение. Затем марку и устройство взаимно ориентируют и зануливают отсчет, Этому соответствует, то, что лазер б излучает узконаправленный световой пучок, который согласовывается системой 8 коллимирующей оптики, приводится в строго отвесное положение жидкостным компенсатором 9 углов наклона и формируется дифракционной пластиной 10. Через светоделительный кубик 7 сформированный лазерный луч попадает на входные гранистрого по оптической оси пента- призмы 3 и трехгранной прямоугольной призмы 4, пройдя которые, луч (единой поперечной структурой) попадает на зеркала 11 и 12 марки в зону их сопряжения затем, отразившись, по тому же пути возвращается на светоделительный кубик 7. пройдя который, попадает на экран наблюдательного микроскопа 2, где Формирует интерференционнув картину в виде прямых светлых и темных полос, причем карти" на согласована. 11 ри смещении марки5 64 на величину Ь падающий луч лазера 6 отражается в обратном направлении со смещением 2 Ь. Отраженный луч, попа" дая на пентапризму 3 и прямоугольную призму 4, разворачивается в направлении экрана наблюдательного микроскопа 2, при этом каждая часть луча отклоняется от оптической оси на величину 2 Ь, а взаимное отклонение частей луча равно 4 Ь. В плоскости экрана наблюдательного микроскопа 2 формируется рассогласованное изображение .интерференционной картиньп, т.е. части интерференционной картины (верхняя, нижняя) расходятся одна относительно другой на величину 4 й. Используя микрометрический винт наблюдательного микроскопа 2, измеряют величину рассогласования, поделив ее на .четыре, получают величину смещения марки.Компоновка марки и устройства в процессе работы может быть и другой. В этом случае на начальную и конечную точки устанавливают марку и устройство ориентируют, зануливают от счет их, а затем марку последовательно переносят по исследуемым точкам и 926 6определяют отклонение от прямолкйейности исследуемых точек по высоте.5 Формула изобретенияУстройство для контроля отклонений от прямолинейности, содержащеемарку, источник света и оптическийблок регистрации, выполненный в видепоследовательно установленных на одной оптической оси наблюдательногомикроскопа и пентапризмы, о т л и -ч а ю щ е е с я тем, что, с цельюповышения точности контроля, оно снабжено прямоугольной призмой, жесткосвязанной с входной и выходной гранями пентаприэмы и установленной свозможностью перемещения вдоль опти ческой оси, и дифракционной пластиной, расположенной по ходу излученияисточника света, марка выполнена ввиде двух зеркал, жестко установленных под углом 900 друг к другу с воз можностью перемещения вдоль оптической оси, а источник света располо"жен в оптическом блоке регистрациина оптической оси и выполнен в виделазера., Составитель Л.Лобзоваактор Е.Конча Текред Л.Кравчук Корректор Л.Патай роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 10 Закай 1511 . ИИИПИ Госуд Тираж 394твенного комитета и113035, Москва, Жзоб Ра Подписноеениям и открытиям при ГКНТ СССРкая наб д. 4/5
СмотретьЗаявка
4457304, 07.07.1988
ХАБАРОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ПИМШИН ЮРИЙ ИВАНОВИЧ, ХОРОШИЛОВ ВАЛЕРИЙ СТЕПАНОВИЧ, НИКИТИН АНДРЕЙ ВЯЧЕСЛАВОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24
Метки: отклонений, прямолинейности
Опубликовано: 15.05.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1649261-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-otklonenijj-ot-pryamolinejjnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля отклонений от прямолинейности</a>
Предыдущий патент: Способ контроля оптических асферических поверхностей вращения второго порядка
Следующий патент: Интерференционный преобразователь угла
Случайный патент: Способ проводки направленных скважин