Способ контроля качества линз и объективов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1645809
Автор: Гусев
Текст
(19) (1) 55 6 01 В 9/04, 11/24 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ К АВТОРСКОМУ С СТВ о-техническии инецова при Томском верситете ренчук Л,Не, 1987, т. Иэв.М 8,54) СПОСОБ КОН И ОБЪЕКТИВОВ 57) Изобретение атно измерительной техник пользовано для контр ТРОЛЯ ТВА ЛИНЗ льноть исинз и ится к конт и может б ля качестваИзобретение отно измерительной техни пользовано, в частн качества линз и обьект занятом их изготовлен Целью изобретен ние чувствительности личения контраста полос.сится к контрольно - ке и может быть исости, для контроля ивов в производстве, ием.ия является повыше- контроля эа счет уве- интерференционных объектива 14 имы 15,едующим обра 00 О а из воэ- изующего Устройс точник свет коллимирую 7. матовое сдвига, узе мого обьек регистрируаеей ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(56) Гусев В,Г, и Кондвузов. Приборостроенс. 57. На чертеже изображена оможных схем устройства, репредлагаемый способ,тво включает когерентный иса 1, светоделитель 2, зеркало 3.щую систему линз 4, 5, линзы 6, стекло 8 с механизмом 9 его л 10 крепления контролируета с механизмом 11 его сдвига, ющую среду (фотопластинку) 12,обьективов в производстве, занятом их изготовлением, Цель изобретения - повышение чувствительности контроля эа счет увеличения контраста интерференционных полос. На одной оси устанавливают диффузный рассеиватель, контролируемый объект и регистрирующую среду. Освещают обьект через диффузный рассеиватель сходящейся сферической волной когерентного излучения и прошедшее излучение записывают на голограмму. После этого смещают рассеиватель и обьект в одном и том же направлении в своих плоскостях и вновь записывают прошедшее излучение на голограмму. Путем пространственной фильтрации с помощью обьектива формируют интерференционную картину, по которой осуществляют контроль качества. 1 ил,апертурная диафрагма 13регистратор интерферограмСпособ реализуется слзом,Когерентное излучение от источника 1 с помощью светоделителя 2 делится на два канала: канал формирования опорного пучка и объектный канал. В канале формирования опорного пучка излучение, отразившись от зеркала 3, расширенное колимирующей системой линз 4. 5, направляется на фотопластинку 12. В канале формирования обьектной волны с помощью линз 6, 7 формируется фронт сходящейся сферической волны с радиусом кривизны в плоскости матового стекла 8, равным расстоянию 11 от него до главной плоскости контролируемого обьекта, помещенного в узел 10 крепления. Расстояние 1 выбирают иэ условия 11121. а расстояние 2 от главной плоскости конт 1 б 45809ролируемого объекта до фотопластинки 1211выбирают из условия 1 г1 -где 1- фокусное расстояние контролируемого объекта,Записывают голограмму за время первойэкспозиции. Перед второй экспозициейсдвигают матовое стекло 8 с помощью механизма 9 его сдвига и узел 10 крепленияконтролируемого объекта с помощью механизма 11 его сдвигна в одном направленииперпендикулярно оптической оси на вели, чины, удовлетворяющие соотношениюа = -Ь, где а - величина сдвина матовогостекла 8; Ь - величины сдвиГа узла 10 крепления контролируемого объекта, После проявления и закрепления фотопластинки 12восстанавливают голограмму и с помощью обьектива 14 с апертурной диафрагмой 13, установленных на расстоянии11 = 1 г. От голог 9 аммы, ст 9 оят изо11бражение зрачка контролируемогообъектав плоскости регистратора интерферограммы 15 и регистрируют интерферограммусдвига при проведении пространственнойфильтрации с помощью апертурной диафрагмы 13, по которой осуществляют контроль качества исследуемого объекта,По сравнению с прототипом предлагаемый способ позволяет повысить чувствительность контроля. Так как чувствительностьконтроля пропорциональна величине сдвига контролируемого объекта, то в предлагаемом способе выполнение условия 111 21способствует увеличению величины сдвига,Это объясняется тем, что в способе - прототипе с увеличением величины сдвига контролируемого объекта увеличиваетсятребуемая величина сдвига матового экрана, следовательно, и величина сдвига междуфронтами волны его освещения, что приводит к возрастанию частоты интерференционных полос, локализующихся в плоскостипроведения пространственной фильтрации.Это обстоятельство в свою очередь приводит к необходимости уменьшения диаметраапертурной диафрагмы в плоскости пространственной фильтрации, а следовательно, к возрастанию размера спекла вплоскости регистрации интерферограммы,соответствующей контролируемому обьек 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 ту, Увеличение же размера спекла приводик падению контрастности интерференцион ной картины. В предлагаемом способе при увеличении масштаба интерференционной картины, локализующейся в плоскости проведения пространственной фильтрации, увеличивается необходимый диаметр апертурной диафрагмы, следовательно, уменьшается размер спекла в плоскости регистрации, что позволяет увеличить величину сдвига контролируемого объекта, -ем самым увеличить чувствительность контроля,Формула изобретения Способ контроля качества линз и объективов, заключающийся в том, что устанавливают на одной оси диффузный рассеиватель, контролируемый объект и регистрирующую среду. освещают контролируемый объект через диффузный рассеиватель сходящейся сферической волной когерентного излучения с радиусом кривизны ее фронта в плоскости рассеивателя, равным расстоянию от рассеивателя до главной плоскости контролируемого обьекта, записывают на регистрирующей среде голограмму прош;дшего через контролируемый объект излучения, смещают в одном и том же направлении рассеиватель и контролируемый объект в плоскостях их размещения, записывают на той же регистрирующей среде голограмму прошедшего излучения и с помощью объектива регистрируют при восстановлении двухэкспозиционной голограммы интерференционную картину, по которой судят о качестве контролируемого объекта о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, при установке расст яние 1 от рассеивателя до главной плоскости контролируемого объекта и расстояниег от главной плоскости контролируемогообъекта до регистрирующей среды выбирают из соотношений 11 21, 1 г 1 11/(11 - 1), где 1 - фокусное расстояние контролируемого объекта, а при регистрации интерференционной картины осуществляют пространственную фильтрацию с помощью апертурной диафрагмы объектива на расстоянииотт голограммы, удовлетворяющем соотношению111= - 1 г1 - тРедакт ар каз 1552 Тираж 395 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открыт113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 и ГКНТ СССР роиэводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10
СмотретьЗаявка
4711137, 10.05.1989
СИБИРСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. Д. КУЗНЕЦОВА ПРИ ТОМСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ ИМ. В. В. КУЙБЫШЕВА
ГУСЕВ ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24, G01B 9/04
Метки: качества, линз, объективов
Опубликовано: 30.04.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1645809-sposob-kontrolya-kachestva-linz-i-obektivov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества линз и объективов</a>
Предыдущий патент: Бесконтактный индуктивный датчик расстояния до поверхности объекта
Следующий патент: Целевой знак для центрирования объекта
Случайный патент: Каркас сейсмостойкого здания