Вторично-ионный масс-спектрометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1711260 А я)5 Н 01 3 49/26 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИАВТОРСКОМУ СВИ ос О(71) Институг электросварки им. Е,О.Патонаи Сумское производственное объединение(57) Изобретение относится к вторично-ионным масс-спектрометрам, предназначенным для контроля химического состава поверхности и объема твердых тел. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей, Масс-спектрометр состоит из источника первичного пучка, оптики 2-4 сбора вторичных. ионов, масс-анализатора 5, системы 8-14 энергоанализа и регистрации вторичных ионов. Отражаю1711260 5 . 22, Последний имеет электрический контзкт с электродом 1 задающим потенциал облащий электрод 12 в системе энергоанализа выполнен в виде сетки, а вместо ВЗУ используется Фотоэлектронный умножитель 19 со сцинтиллятором 16, при этом напряжения блоков питания масс-спектрометра коммутируются для анализа и регистрации положительных или отрицательных ионов, Масс-спектрометр. оснащен источником первичного смешанного пучка, состоящего из нейтральных атомов и положительных Изобретение относится к масс-спектральной технике, а более конкретно к устройству вторично-ионных масс-спектрометров, предназначенных для контроля химического состава поверхности и объема твердых тел, и может быть использовано в научно-исследовательских организациях и производственных лабораториях.На фиг. 1. показана принципиальная схема масс-спектрометра и распределение потенциала в ионно-оптическом тракте анализатора регистрации положительных ионов (сплошная линия) и отрицательных ионов штриховая линия); на Фиг, 2 - схема источника, формирующего смешанный первичный пучок, и распределение потенциала в этом источнике.Злектроды 1-4 образуют иммерсионный объектив, предназначенный для сбора, ускорения и Фокусировки в плоскости входной диафрагмы электрода 4 однополярного анализатора 5 вторичных ионов, выбиваемых из образца 6 первичным пучком, За выходной диафрагмой электрода 7 анализатора расположен ионно-электронный преобразователь с энергоанализатором электроды 8-14). За электродом-отражателем 12, выполненным в виде сетки, установлен дополнительный электрод 13, подключенный к дополнительному регистрирующему устройству (не покззано). Сетчатый ускоряющий электрод 15, сцинтиллятор 16, светопровод 17, фотокатод 18 Фотоумножителя 19 образуют систему преобразования и усиления электронного тока. Анод 20 фотоумножителя соединен с входом усилителя постоянного тока(не показан). Злектроды 4,7, 11 и 14 заземлены, а остальные (1-3, 8-12) подключены к источникам постоянного напряжения, имеющим на выходе переключатели полярности. Ускоряющий электрод 15 подключей к положительному полюсу источника высокого напряжения, а фотокатод 18 10 15 20 25 30 35 40 ионов, при этом электрод 22, задающий потенциал области ионизации в источнике, и электрод 1, задающий потенциал области, в которой расположен образец, подключены к одному и тому же полюсу источника напряжения, а камерой перезарядки служит полый электрод 23, выполняющий одновременно Функции катода источника, 1 з,п,ф-лы, 2 ил,соединен с отрицательным полюсом источника регулируемого высокого напряжения.В источнике первичного пучка фиг. 2) катод 21 размещен внутри полого электрода сти, в которой расположен образец 6. Второй катод 23 источника в отличие от стандартного ионного источника Пеннинга выполнен полым и служит одновременно камерой перезарядки. Злектроды 23-26 образуют систему формирования смешанного первичного пучка,Указанная конструкция позволяет создавать в ионно-оптическом тракте анализатора такие распределения потенциала,. которые необходимы для регистрации как вторичных положительных ионов, так и отрицательных ионов. При анализе положительных ионов сформированный иммерсионным объективом пучок разделяется по отношению массы к заряду ионов, а выделенная компонента попадает на сетчатый электрод-отражатель 12. При этом часть ионов, имеющих энергию меньше задаваемой разностью потенциалов между электродами 1 и 12, отражается от электрода-отражателя 12 и затем ускоряется к конвертирующему электроду 10. Другая, же чзсть ионов с более высокой энергией проходит через сетку и нейтрализуется на внутренней поверхности пОлого электрода 13. В этом режиме работы масс-анализатора применение сетчатого отражателя позволяет устранить фон, который в случае сплошной поверхности отражателя создается вторичными электронами и эмиттируемыми ею под действием неотразившихся положительных ионов и других частиц, прошедших через анализатор 5. Ускорение к электроду 10 положительные ионы выбивают из него электроны, которые после ускорения к ускоряющему электроду 15 регистрируются фотоумножителем 19.10 20 ройству электрод 13 позволяет измерятьионные токи без энергоанализа и усиленияфотоумножителем, что повышает динамиче 30 35 В режиме анализа отрицательных ионов необходимое распределение потенциала вионно-оптическом тракте обеспечивается изменением полярности напряжения на электродах 1.-4, 7-12. В этом режиме сетчатый отражатель обеспечивает возможность энергетического анализа отрицательных ионов, чего нельзя достичь, используя сплошной электрод, из-за ионно-электронной эмиссии с,его поверхности. Отражаемые электродом 12 отрицательные ионы, имеющие энергию в заданном интервале, ускоряются в направлении электрода 15 точно так же, как и электроны, эмиттируемые электродом 10 в режиме анализа положительных ионов. Ускоренные под действием высокого положительного потенциала электрода 15 отрицательные ионы попадают на сцинтиллятор 16, а возникающие фотоны регистрируются фотоумножителем,Подключенный к регистрирующему устский диапазон регистрируемых токов, при этом электрод 12 выполняет рольантидинатронной сетки,Источник (фиг. 2) позволяет сформировать смешанный первичный пучок, состоящий из нейтральных атомов и положительных ионов. Образовавшиеся в ионизационном пространстве внутри полого электрода 21 положительные ионы ускоряются в пространстве между электродами 22 и 23 и попадают в камеру 23 перезарядки. Часть ионов перезаряжается в нейтральные частицы без изменения энергии, поэтому из камеры 23 выходит смешанный пучок ускоренных ионов и нейтралей. Равенство потенциалов области ионизации в источнике первичного пучка и области, в которой размещен образец, приводит к тому, что заряженная компонента пучка вблизи поверхности образца имеет практически нулевую энергию. Этим обеспечивается автоматическая компенсация отрицательного заряда, возникающего в результате эмиссии с поверхности вторичных положительных ионов, выбиваемых пучком ускоренных нейтральных частиц, При положительном заряде на мишени вторичные ионы. рассеи. ваются.Предлагаемый вторично-ионный массспектрометр по сравнению с известным обеспечивает одинаковый режим анализа как положительных, так и отрицательных 40 45 50 вторичных ионов и позволяет значительно расширить динамический диапазон регистрируемых токов. При этом важно расширение этого диапазона в область малых токов за счет снижения фона в системе ионноэлектронного преобразования. Этим обеспечивается более высокая чувствительность анализа, что расширяет область применения устройства, Использование источника смешанного пучка позволяет устранить затруднения при анализе неэлектропроводных образцов, связанные с образованием поверхностных зарядов под действием первичного пучка.Таким образом, расширяются функциональные возможности, кроме того, предлагаемая конструкция легко реализуется на основе серийно выпускаемого вторично- ионного масс-спектрометра.Формула изобретения 1, Вторично-ионный масс-спектрометр, содержащий источник первичного пучка, ионна-оптическую систему вторичных ионов,масс-анализатор, отражающий и конвертирующий электроды, вторично- электронный умножитель, регистрирующее устройство и блоки питания, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, отражающий электрод выполнен в виде сетки, за которой установлен дополнительный электрод, подключенный к дополнительно введенному регистрирующему устройству, в качестве вторично- электронного умножителя использован фотоэлектронный умножитель со сцинтиллятором, перед которым помещен дополнительный сетчатый ускоряющий электрод с блоком питания, при этом блоки питания масс-спектрометра снабжены коммутатором для анализа и регистрации положительных или отрицательных ионов.2. Масс-спектрометр по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что источник первичного пучка выполнен в виде источника смешанного пучка, состоящего из нейтральных атомов и положительных ионов, при этом электрод, задающий потенциал области ионизации в источнике, и электрод, задающий потенциал области, в которой расположен образец, подключены к одному и тому же полюсу соответствующего блока питания, а катод источника первичных ионов выполнен полым с вазможностью использования в качестве камеры перезарядки.1711260 Составитель В. КащеевРедактор И.Шулла Техред М,МоргенталКорректор.й. Корол акаэ 348 Тираж ПодписноеВНИИОИ Государственного комитете по изобретениям и открытия113036, Москва, Ж, Раушская наб 4/6 ГКНТ СССР Производственно-издательский комбинат "Патент.", г, Ужгород, ул. Гагарина, 10
СмотретьЗаявка
4700615, 05.06.1989
ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОСВАРКИ ИМ. Е. О. ПАТОНА, СУМСКОЕ ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "ЭЛЕКТРОН"
ПОХОДНЯ ИГОРЬ КОНСТАНТИНОВИЧ, ЧЕРЕПИН ВАЛЕНТИН ТИХОНОВИЧ, ШВАЧКО ВАЛЕНТИН ИВАНОВИЧ, ДУБИНСКИЙ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ, ВАЙСБЕРГ ЭРНСТ ИСААКОВИЧ, ГОЛУБОВСКИЙ БОРИС ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 49/26
Метки: вторично-ионный, масс-спектрометр
Опубликовано: 07.02.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1711260-vtorichno-ionnyjj-mass-spektrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Вторично-ионный масс-спектрометр</a>
Предыдущий патент: Способ восстанавливающего контроля микроструктур
Следующий патент: Способ масс-спектрального количественного определения водорода в твердых материалах
Случайный патент: Способ обжига подины алюминиевого электролизера