Патенты с меткой «вторично-ионный»

Номер патента: 1711260

Опубликовано: 07.02.1992

Авторы: Вайсберг, Голубовский, Дубинский, Походня, Черепин, Швачко

МПК: H01J 49/26

Метки: вторично-ионный, масс-спектрометр

...на внутренней поверхности пОлого электрода 13. В этом режиме работы масс-анализатора применение сетчатого отражателя позволяет устранить фон, который в случае сплошной поверхности отражателя создается вторичными электронами и эмиттируемыми ею под действием неотразившихся положительных ионов и других частиц, прошедших через анализатор 5. Ускорение к электроду 10 положительные ионы выбивают из него электроны, которые после ускорения к ускоряющему электроду 15 регистрируются фотоумножителем 19.10 20 ройству электрод 13 позволяет измерятьионные токи без энергоанализа и усиленияфотоумножителем, что повышает динамиче 30 35 В режиме анализа отрицательных ионов необходимое распределение потенциала вионно-оптическом тракте...