Способ измерения толщины плоских мелкодисперсных кристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1668846
Авторы: Гаврилов, Коварский, Новгородская, Твалчрелидзе
Текст
)5 О 01 В 5/06 носится к иэмерительбыть использовано для Изобрете ной технике и определения кристаллов и ды, аллов на сетке, дения и темпе-. и определяют акции по завиз фракцию кристремя его прохожужающей средылщину каждой фр воздух че измеряю ратуру о среднюю си мости кристаллов -й ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКН 1 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБР АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Государственный всесоюзный проектный и научно-исследовательский институтнеметаллорудной промышленности(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЪПЛОСКИХ МЕЛКОДИСПЕРСНЫХ КРИСТАЛЛОВ(57) Изобретение отной технике и может ие относится к измеритель- может быть использовано для толщины мелкодисперсных оской формы, например слюЦель изобретения - повышение производительности и точности измерения за счет применения при фракционировании раствора ацетон-толуола,Способ заключается в том, что разделяют кристаллы на фракции в потоке жидкости по скорости восходящего потока, затем каждую фракцию помещают в раствор ацетонтолуола, перемешивают в растворе, сливают полученную смесь на пористую сетку, выдерживают ее на сетке в течение времени, достаточного для селективного испарения сначала ацетона, а затем толуола, измеряют общую высоту кристаллов на сетке, создают разрежение, пропускают определения толщины мелкодисперсных кристаллов плоской формы, например слюды. Целью изобретения является повышение точности измерения. Способ измерения толщины мелкодисперсных кристаллов, заключающийся в том, что осуществляют разделение кристаллов на фракции по размерам в восходящем потоке жидкости, после чего каждую фракцию помещают в раствор ацетон-толуола, содержащий 3 части ацетона и 1 часть толуола, перемешивают раствор и высушивают фракцию путем пропускания через нее воздуха, давление которого поддерживают ниже атмосферного, определяют удельную поверхность в каждой фракции и определяют толщину кристаллов в каждой фракции,. СОд 60000 СОЪ3 ьгде д - средняя толщина(фракции, мкм;Ч - плотность кристаллов, г/см;Яуд - удельная поверхность кристаллов-й фракции, см 2/г,Слипание мелкодисперсных плоскихкристаллов устраняется нейтрализациейэлектростатических сил сцепления междуповерхностными зарядами плоских кристаллов путем помещения кристаллов в раствор ацетон-толуола, содержащий 3 ч,ацетона и 1 ч. толуола, сливания полученнойсмеси на сетку и выдерживания ее на сетке1668846 Составитель В. ЕгоровТехред М,Моргентал Корректор О. Кундрик Редактор О, Головач Заказ 2648 ТиражПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва. Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбина "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 в течение времени, досточного для селективного испарения сначала ацетона, а затем толуолэ, Выбор компонентов раствора обусловлен снижением диэлектрической проницаемости, повышением смачиваемости поверхности кристаллов и повышением ис, паряемости раствора. Формула изобретения Способ измерения толщины плоских мелкодисперсных кристаллов, заключаю-щийся в том, что разделяют кристаллы на , фракции по размерам и определяют толщину кристаллов в каждой фракции, о тличающийся тем,что,сцельюповышения производительности и точности измерения, разделение кристаллов нэ фракции осуществляют в восходящем потоке жид кости, после чего каждую фракцию помещают в раствор ацетон-толуола, содержащий три части ацетона и одну часть толуола, перемешивают, сливают раствор и высушивают фракцию путем пропускания 10 через нее воздуха, давление которогоподдерживают ниже атмосферного, определяют удельную поверхность каждой фракции и с ее учетом определяют толщину кристаллов,15
СмотретьЗаявка
4697629, 30.05.1989
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ВСЕСОЮЗНЫЙ ПРОЕКТНЫЙ И НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ НЕМЕТАЛЛОРУДНОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
НОВГОРОДСКАЯ ТАМАРА ИОСИФОВНА, КОВАРСКИЙ ВЛАДИМИР АДОЛЬФОВИЧ, ТВАЛЧРЕЛИДЗЕ ИРИНА АЛЕКСАНДРОВНА, ГАВРИЛОВ ВИКТОР ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/06
Метки: кристаллов, мелкодисперсных, плоских, толщины
Опубликовано: 07.08.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1668846-sposob-izmereniya-tolshhiny-ploskikh-melkodispersnykh-kristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины плоских мелкодисперсных кристаллов</a>
Предыдущий патент: Концевая мера длины
Следующий патент: Устройство для измерения геометрических параметров деталей
Случайный патент: Способ прессования капусты в дошниках или силосной массы в силосных ямах и устройство для осуществления этого способа