Устройство для измерения геометрических параметров огранки прозрачных ювелирных камней
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1566202
Автор: Доронин
Текст
(21) 4603451/24-2 (22) 09,11, 88 (46) 23,05,90, Вю (71) Всесоюзный, н ский и проектно-к ститут ювелирной нинградского прои единения "Русские (72) В,Л. Доронин (53) 531.74(088.8 (56) Авторское св У 1402025,.кл, С лУ 19аучно-исследовательонструкторский инпромьппленности Лезводственного объсамоцветы" идетельство СССР 01 В 9/00, 1 988.(57) Изоуглы накллирных к ретение она огр мней. Ц вьппение позволяет измерять нки прозрачных юве ль изобретения явпроизводительности дновременного изобтраженных от. граней велирного камня, и экране. Размещают яетсязмерен путем ения пучко уемого юки их н контрол Фокусир ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОЙСТВО ДЛЯ ИЗЖЕРЕНИл ГЕОМЕ ПАРАМЕТРОВ ОГРАНКИ ПРОЗРАЧ НЫХ КАМНЕЙ контролирующий ювелирный камень б в приспособлении 5, расположенном в центре кривизны полусферического экрана 4. Последовательно направляют пучок света от осветителя 1 через телесистему 2 и диаФрагму, формирую-, щую пучок с заданным поперечным се" чением, сначала на рундист контролируемого камня, а затем на его верх, Наблюдают на внутренней стороне полусферического экрана 4 положение следа пучков, отраженных от граней ювелирного камня, и по положению их, относительно измерительной сетки, нанесенной на внутренней стороне экрана, судят об углах наклона огранки. При Формировании изображений следа ф пучка, отраженного от верха ювелирного камня, пучбк предварительно пропускают через длиннофокусный объектив, (, фокус которого равен диаметру сферического экрана, обеспечивая фокусировку пучков, отраженных от граней ювелирного камня, на экране. 1 ил.1 566202Формула изоб ретения Составитель Н. Солоухин Техред М.Дидык Корректор М,Максимишинец Редактор Н.Бобкова Заказ 1214 Тираж 486 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 Изобретение относится к измеритЕльной технике и может быть использовано при измерении углов наклона огранки ювелирных камней.5Целью изобретения является повышение производительности измерения путем одновременного изображения сфокусированных пучков на экране, отраженных от граней контролируемого 1 О ювелирного камня.На чертеже приведена принцпиальная схема устройства .Устройство содержит осветитель 1, телесистему 2, диафрагму с переменным отверстием (не показана), съемный объектив 3, экран 4, выполненный в виде полусферы, на внутренней стороне которохо нанесена измерительная сетка, а в его центре имеется от верстие, совмещенное с оптической осью устройства, и приспособление 5, предназначенное для размещения контролируемого ювелирного камня. Приспособление 5 с ювелирным камнем разме щают в центре кривизны экрана.Устройство работает следующим образом.Предварительно устанавливают контролируемый камень (вставку) 6 в при п способление 5. Формируют телесистемой 2 и переменной диафрагмой пучок света от осветителя 1, диаметр которого меньше диаметра рундиста контролируемого камня.Подвижками приспособления 5 совмещают ось камня с осью освещающего пучка, затем по измерительной сетке визуально определяют положение восьми рефлексов, характеризующее углы наклона граней низа, не меняя положение вставки 6, в ход освещающего пучка вводят съемный длиннофокусный объектив 3, которььй позволяет освещать вставку б сходящимся пучком, ко торый Фокусируют после его отражения от вставки на поверхности экрана 4, а телесистемой 2 и диафрагмой Формируют пучок, имеющий после прохождения объектива 3 размер сечения в плоскости вставки, превосходящий диаметр рундиста исследуемого камня, после чего наблюдают положение сфокусированных рефлексов, полученных при отражении от граней верха, на поверхности экрана, По положению этих рефлексов определяют величину углов на-, клона верха вставки б, Полученные данные позволяют оценить соответствие геометрических параметров (углов наклона вставки) заданным требованиям.В результате применения устройства за счет уменьшения размеров рефлексов в плоскости экрана и одновременного их формирования значительно упрощается определение центров рефлексов и повышается производительность процесса измерений. Устройство для измереНия геометрических параметров огранки прозрачных ювелирных камней, содержащее последовательно установленные осветитель, телескопическую систему, диафрагму с переменным отверстием, экран с измерительной сеткой, выполненный с отверстием в его центре, и прибоспособление для установки контролируемого ювелирного камня, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью,повьппения производительности измерения, оно снабжено сменным длнннофокусным объективом, установленным,.перед отверстием экрана, экран вьцолнен в виде вогнутой полусферы с радиусом, равным половине фокусного, расстояния длиннофокусного объектива, и его центр совмещен-с приспособлением для установки ювелирного камня.
СмотретьЗаявка
4603451, 09.11.1988
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНО КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ ЮВЕЛИРНОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ ЛЕНИНГРАДСКОГО ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ОБЪЕДИНЕНИЯ "РУССКИЕ САМОЦВЕТЫ"
ДОРОНИН ВЛАДИМИР ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/08
Метки: геометрических, камней, огранки, параметров, прозрачных, ювелирных
Опубликовано: 23.05.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1566202-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-geometricheskikh-parametrov-ogranki-prozrachnykh-yuvelirnykh-kamnejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения геометрических параметров огранки прозрачных ювелирных камней</a>
Предыдущий патент: Способ определения перемещения
Следующий патент: Способ контроля диаметра прозрачных протягиваемых изделий
Случайный патент: Теплоизоляционный элемент