Крутякова
Способ определения радиуса эффективного пятна облучения
Номер патента: 1685146
Опубликовано: 23.03.1993
Авторы: Крутякова, Смирнов
МПК: G01N 21/17
Метки: облучения, пятна, радиуса, эффективного
...образуется область повреждения, состоящая иэ нескольких, случайным образом расположенных в фокальной плоскости линзы микроразрушений. Например, в виде полостей размерами10 мкм. ГРаница этой области ггт бУдетсоответствовать возникновению микроразрушения при интенсивности О, а изменение ее размеров при изменении интенсивности на оси пучка Оо в пределах 0=(5-10)0 будет определяться законом изменения О(г). Верхняя граница значений интенсивности (5-10)0, соответствующая образованию макроразрушения, обусловлена тем, что размеры макроразрушений в обьеме прозрачного материала (в отличие от размеров области повреждения поверхности непрозрачных легкоповреждаемых материалов, используемых в вышеперечисленных способах для определения Вэ на...
Способ определения порога плазмообразования на поверхности твердого тела
Номер патента: 1735744
Опубликовано: 23.05.1992
Авторы: Крутякова, Смирнов
МПК: G01N 21/00
Метки: плазмообразования, поверхности, порога, твердого, тела
...поверхностных дефектов, нагретыхдо высоких температур, триболюминесценцией и другими, При превышении некоторого порогового значения интенсивности ц.вблизи поверхности материала развиваетсяплазма оптического разряда, То значениеинтенсивности ц, при котором регистрируется возникновение плазмы, называется порогом плаэмообразования, который вбольшинстве практически важных случаевотождествляется с порогом оптическогопробоя поверхности, 45Установлено, что зависимость интенсивности свечения от интенсивности лазерного излучения для многих материалов(например, щелочно-галоидные кристаллы,фтористый барий, фтористый литий, стекло 50К, плавленый кварц и другие) в областизначений интенсивности цсецц и ццносит различный характер и в двойном...
Способ измерения порогов объемного оптического пробоя прозрачных материалов
Номер патента: 1475328
Опубликовано: 23.09.1990
Авторы: Крутякова, Смирнов
МПК: G01N 17/00
Метки: объемного, оптического, порогов, пробоя, прозрачных
...существующих источннкон излучения. 2Образец облучают серией и лазерных импульсов с гауссовым распределе нием интенсивности с различными произвольными значениями интенсивности Ч;=Ч 1.,Ч , превьгаающими пороговуюоблучая каждый .раэ новое место образца, Далее для каждого значения интенсивности Ч; подсчитывают числоБ, микроразрушений, появнншихея в ис следуемых областяхкристалла после облучения. Результаты измерений Б; и 1. аппроксимируют линейной эависимостью Н=К 1 пп+Ь, значения параметров которой К=ТгСЬ и Ь=-юг СЫпЧ рассчитынают методом наименьших квадра- тов1475328 4вались образцы размерами в 1 О раз меньше тех, которые требуются при измерениях иэвестныии способами. формула и э о б р е т е н и я где Ь,К - параметры линейной...
Способ определения состава поглощающих включений
Номер патента: 1522082
Опубликовано: 15.11.1989
Авторы: Крутякова, Смирнов
МПК: G01N 21/39
Метки: включений, поглощающих, состава
...Д1 (1расстояние между ПВ, которое можноопределить, зная концентрацию включе"ний С, как 1 1/ с, то при о " (М, 8)возникнет несколько микроразрушений,каждое из которых будет обусловленонагревом наиболее опасных включений.Возникновение микроразрушений позволяет надежно и однозначно визуализировать включения, наиболее опасныес точки зрения оптической прочностипри данном режиме облучения,Далее облучают ту область материа-.ла которую хотят исследовать, с интенсивностью, околопороговой для визуализации наиболее опасных включений, т.е. (1-5) о (М,ь) - Ч ф (М)регистрируют спектр свечения, сопровождающий образование микроразрушений,и, поскольку спектр свечения в такомрежиме облучения отражает элементныйсостав вкжочений, определяют...
Устройство для снятия изоляции с концов ленточного кабеля
Номер патента: 1464233
Опубликовано: 07.03.1989
Авторы: Крутякова, Мыльников
МПК: H02G 1/12
Метки: изоляции, кабеля, концов, ленточного, снятия
...25 рычага 20.Зксцентрик 23 снабжен фиксатором 26 положения, состоящим из установленного в одной из щек кронштейна 19 с возможностью вращения и застопоренного от горизонтального перемещения винтом 27, винта 28, на который навернут подпружиненный пружиной 29 Фиксатор 30 с возможностью наворачивания на винт 28, и венца 31, на наружной цилиндрической по" верхности которого имеются зубья 32 прямого рифления. Поверхность фиксатора 30, контактирующая с зубчатым венцом 31, выполнена вогнутой с зубьями прямого рифления, аналогичными зубьям 32 на венце 31.На передней поверхности кронштейнов 19 нанесены шкалы 33, а на торцовых поверхностях венцов 31 - риски-указатели 34 с целью визуального контроля за регулированием глубины врезания ножей...
Устройство для поштучного отделения заготовки от стопы и подачи в зону обработки
Номер патента: 1388155
Опубликовано: 15.04.1988
Авторы: Крутякова, Уткин
МПК: B21D 43/00, B30B 15/30
Метки: заготовки, зону, отделения, подачи, поштучного, стопы
...12 с тремя точечными опорами 3, расположеннуюпараллельно штоку 7 и несущую упор 14.Упор 14 годвижно установлен во втулке 15,закрепленной на кронштейне 11, снабженгайкой 16, выполняющей роль ограничителядвижения упора 14 во втулке 15 и, следовательно, пластины 12 и контргайкой 17. Накронштейне 11 закреплена одним концомпластинчатая пружина 18, взаимодействующая другим концом с упором 14, а среднейсвоей частью - с подвижным регулируемымупором 19. Упор 19 подвижно установлен вовтулке 20, закрепленной на кронштейне 11.На основании 5 закреплен кронштейн21, несущий гайку 22, в которую ввернутвинт 23, несущий кулачок 24, выполненныйв виде усеченного конуса. На винт 24 навернута контргайка 25. Устройство работает следующим образом.Гайка 16...
Устройство для снятия изоляции с концов ленточного кабеля
Номер патента: 1345279
Опубликовано: 15.10.1987
Авторы: Железов, Крутякова, Муравин, Симагин
МПК: H02G 1/12
Метки: изоляции, кабеля, концов, ленточного, снятия
...приводов, выполненных в виде установленных на торцах штанг 11 роликов 14,взаимодействующих с копирами 15, рас,положенными на подвижной плите 5. Надругом торце штанг 11 закреплены пружины 16 кручения, с помощью которых,губки 13 поджаты к ножам "10,На подвижной плите 5 смонтированытолкатели 17, ролики 18 которых контактируют с плоскостями 19 корпусов 9Устройство работает следующим образом.Обрабатываемый .пенточный кабельзахватом 20 протягивают с бухты (непоказана) через горизонтально расположенные зажимы 7, После продольногоразреза изоляции жил, осуществляемогов процессе протягивания кабеля на за"данную длину, и мерной резки кабеляустройствами (не показаны), размещенными между зажимами 7, одновременнымповоротом на осях 6 зажимов 7 на...
Устройство для поштучного отделения заготовки от стопы и подачи в зону обработки
Номер патента: 1297974
Опубликовано: 23.03.1987
Авторы: Крутякова, Уткин
МПК: B21D 43/00, B30B 15/30
Метки: заготовки, зону, отделения, подачи, поштучного, стопы
...количества подаваемыхзаготовок, имеющий кронштейн 11,пластину 12 с тремя точечными опорами 13, расположенную параллельноштоку 7 и несущую упор 14,30 Упор 14 подвижно установлен во втулке 15, закрепленной на кронштейне 11. На кронштейне 11 закреплена одним концом пластинчатая пружина 16, взаимодействующая другим концом с упором 14. На основании 5 закреплен кронштейн, несущий гайку 17, в которую ввернут винт 18, несущий кулачок 19, выполненный в виде усе ченного конуса. На винт 18 навернута контргайка 20.Устройство работает следующим образом.Упор 14 устанавливается на требуемую высоту винтом 18 так, чтобы между поверхностью одной заготовки 2 и контактом конечного выключателя 8 зазор 6 был меньше толщины заготовки 2. При движении...
Способ измерения порогов объемного оптического пробоя прозрачных материалов
Номер патента: 1187023
Опубликовано: 23.10.1985
Авторы: Крутякова, Райхман, Смирнов
МПК: G01N 17/00, H01S 3/00
Метки: объемного, оптического, порогов, пробоя, прозрачных
...Б.А. РайхманСмирнов621.375.8 (088.8)Горшков Б.Г. и др. Размерныйт и статистика лазерного разрущелочно-галоидных кристалловище волны 10,6 мкм. - Квантоваяоника, 1981, т. 8,1, с. 148 Алешин И,В. и др. Оптическая прочность слабопоглощающих материалов. Л., Изд-во, ЛДНТП, 1974, с. 12.Крутяков В.П. и др. Свечение щелочно-галоидных кристаллов под действием излучения с ) = 10.,6 мкм. ЖТФ, 1978, т, 48,4, с. 844-852. (54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОРОГОВ ОБЪЕМНОГО ОПТИЧЕСКОГО ПРОБОЯ БО , 1187023 ПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ, заключающийся в облучении материалов лазерным излучением, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью сокращения времени измерений, материал облучают по крайней мере двумя сериями лазерных импульсов с одинаковой интенсивностью в каждой...