Патенты с меткой «пробное»

Номер патента: 73029

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Лившиц

МПК: H01H 47/14, H04M 3/04

Метки: пробное, реле

...выхода триключена к обшей точке обмоток, свободные концы которых находятся под потенииалами разного знака, чтобы при отсутствии пробы выхода преобладали ампер-витки вспомогательной обмотки, а при пробе выхода последняя шунтировалась и реле возбуждалось ампер-вит ками основной обмотки.Двухобмоточное пробное реле состоит из двух обмоток 1 и П, включенных навстречу друг другу.Обмотка 1 является основной, а обмотка 11 вспомогательной, Число витков обмотки 11 больне числ 1 витков обмотки 1, поэтому до подкл 1 очения пробного реле к пробной цепи, анинй поток, создаваемый р 1 зиостыо ампер-витков Оосих обмоток, будет иметь направление, обусловлсш 1 ое м. д. с. обмотки 11.При проос выхода обмотка 11 шунтирустс 5, в первой жс Оомотке ток...

Номер патента: 207994

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Черныш

МПК: H04M 3/00

Метки: пробное, реле, электронное

...б последовательно включеНа чертеже приведена принципиальная схе- но четыре стабилитрона, а при срабатываниима предлагаемого электронного пробного ре- реле шунтируется только один из этих стабиле, привилегированного и непривилегирован- литронов, то напряжение срабатывания релебудет не менее суммы напряжений пробоя чеПробное реле 1 (привилегированное проб- о тырех стабилитронов, а напряжение на выхоное реле) содержит последовательно соеди- де при работе реле будет мало отличаться отненные стабилитроны 2 и 3, включенные в на- суммь. напряжений трех стабилитронов 8, 9правлении, обратном их проводимости, уси- и 10.литель постоянного тока на полупроводнико- Поэтому проба занятости выхода, которыйвом триоде 4 типа р - а - р и шунтирующий 25...

Номер патента: 493028

Опубликовано: 25.11.1975

Авторы: Грубе, Лившиц, Янов

МПК: H03K 17/60

Метки: пробное, реле, электронное

...падения напряжения на диодах15, 16 и равен обычно 0,5-0,7, что обеспечивает надежное запирание транзисторов 3, 304 в исходном состоянии.Между базами транзисторов обоих плечвкдючен диодный делитель на диодах 17 и18, средняя точка которого является входом пробного реле. Такае включение деди- Мтеди обеспечивает логическую связь обоихплеч, а также позволяет образовать различные делители напряжения по уровнюотносительно входа как в рабзчем, так ив нерабочем состоянии,Коллекторы транзисторов 1-4 являютсявыходами электронного пробного реле имогут использоваться как индивидуадьно(четыре выхода), так и путем сочетания,их в различных комбинациях(24 комбинации).вПри включении в плечо еще одного третьего транзистора с двумя...

Номер патента: 1229978

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Кришянис, Курчакова, Либауэр, Янов

МПК: H04Q 3/48

Метки: маркера, пробное

...из последовательно включенных контактовблока 6 фиксации соединений. Присвободности соединителя 8 входящих комплектов создаются цепи удержания ранее сработавших реле блока 9 пробы направлений и блока 11 пробы исходящих комплектов, цепь срабатывания реле соединения 8 входящих комплектов, пробная цепь кодового приемника 4 номера входящего комплекта, первый вход первого ключа 5. Одновременно на второй вход первого ключа 5 1 О поступает положительная полярность напряжения питания при наличии сигналов на обоих. входах первого ключа 5, а с его выхода поступает положительная полярность через замкнутые кон такты реле блока 6 фиксации соединений на вход второго ключа 7. На первом выходе второго ключа 7 появляется отрицательная полярность,...

Номер патента: 1278761

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Контиевский, Кукс, Лесникова, Лошманова, Тевелев

МПК: G02B 3/02

Метки: асферическое, пробное, стекло

...порядков, выпуклых и вогнутых, диаметром до 1000 мм и крутизной до 30Цель изобретения - повышение точности контроля крупногабаритных поверхностей.На чертеже изображено пробное стекло, изометрия.Асферическое пробное стекло выполнено в виде тела вращения имеющего асерическую рабочую поверхность 1 заданной Формы, дуговую линию 2, нанесенную на границе световой зоны, отсчетную шкалу 3, нанесенную на рабочую поверхность в радиальном направлении, нерабочую полированную поверхность 4, плоскую или сферическую.На контролируемой детали вблизи границы световой зоны (за ее пределами) наносят реперную линию, представляющую окружность (или часть ее) радиусом, равным радиусу дуговой линии 2, Пробное стекло накладывп;.т рабочей поверхностью 1 на...

Номер патента: 1786369

Опубликовано: 07.01.1993

Авторы: Костюткин, Радевич, Спорник, Туев

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, контактный, пробное, стекло

...- повышение производительности и точности контроля путем обеспечения контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им "крутых" поверхностей, по всей поверхности одновременно.На фиг, 1 - 7 изображена принципиальная оптическая схема контактноо интерферометра - пробного стекла для контроля погрешности пслированных поверхностей.На фиг, 1-7 показан волоконно-оптический элемент (для контроля полусферы - фиг, 1 - 4, полуцилиндра - фиг. 5-7) в разрезе, где 1 - волоконно-оптический элемент, 2- контролируемая Деталь, 3 - поверхность, на которой наблюдается интерференционная картина, 4 - эталонная поверхность. На фиг, 1 - 4 изображено пробное стекло для контроля полусферы. На фиг. 4 - показано,что входные концы волокон...