Контактный интерферометр пробное стекло

Номер патента: 1786369

Авторы: Костюткин, Радевич, Спорник, Туев

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 19) ц 5 6 Е ИЗОБРЕТЕН обеспечения контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им крутых поверхностей, по всей поверхности одновременно, Пробное стекло выполнено в виде регулярного волоконнооптического элемента 1, у которого входные торцы волокон расположены так, что образуют эталонную поверхность 4 и у каждого из волокон входной торец расположен перпендикулярно оси волокна, Интерференционная картина, возникающая при наложении эталонной поверхности 4 на контролируемую поверхность достали, наблюдается на поверхности 3, образованной выходными торцами волокон элемента 1, которые расположены так, что образуют поверхность, проекции которой на плоскости, перпендикулярной оси симметрии элемента 1, геометрически подобны аналогичным проекциям эталонной поверхности 4. 7 ил. ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОВЕДОМСТВО СССР(71) Гродненский государственный университет(57) Изобретение относится к измерительной технике, более конкретно к интарференционнцм устройствам, и предназначено для контроля погрешности формы полированных поверхностей и радиусов кривизны в оптическом производстве и машиностроении. Цель изобретения - повышение производительности и точности контроля путем 1786369 Ав оптическом производстве, машиностроении и т,д.Известны интерферометры для контроля радиусов кривизны и погрешностей формы полированных поверхностей, Наиболееблизким по технической сущности к предлагаемому. является контактный интерферометр - пробное стекло для контроля погрешности формы полированных поверхностей, выполненный в виде оптическогоэлемента, одна из поверхностей которогоявляется эталонной и предназначена для наложения на контролируемую поверхность 11.Недостаток известного пробного стекла- низкие производительность и точность контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им "крутых" поверхностей, иэ-за невозможностинаблюдения интерференционной картины по всей контролируемой поверхности одновременно.Цель изобретения - повышение производительности и точности контроля путем обеспечения контроля деталей, имеющих форму полусферы, полуцилиндра и подобных им "крутых" поверхностей, по всей поверхности одновременно.На фиг, 1 - 7 изображена принципиальная оптическая схема контактноо интерферометра - пробного стекла для контроля погрешности пслированных поверхностей.На фиг, 1-7 показан волоконно-оптический элемент (для контроля полусферы - фиг, 1 - 4, полуцилиндра - фиг. 5-7) в разрезе, где 1 - волоконно-оптический элемент, 2- контролируемая Деталь, 3 - поверхность, на которой наблюдается интерференционная картина, 4 - эталонная поверхность. На фиг, 1 - 4 изображено пробное стекло для контроля полусферы. На фиг. 4 - показано,что входные концы волокон расположены так, что образуют эталонную поверхность, и 10152025 30 3540 Изобретение относится к измерительной технике, более конкретно к интерференционным устройствам, и предназначенодля контроля погрешности формы полированных поверхностей и радиусов кривизны 5 у каждого из волокон входной торец расположен перпендикулярно оптической оси волокна. На фиг. 2 и 3 показано подобие проекции эталонной поверхности 4 и поверхности 3, на которой наблюдается интерференционная каргина.Контактный интерферометр - пробное стекло работает следующим образом.Волоконно-оптический элемент 1 эталонной поверхностью 4 накладывается на контролируемую поверхность детали 2. Поверхность 3 освещается равномерно любым известным способом. Интерференционная картина, возникающая между эталонной и контролируемой поверхностью и характеризующая точность изготовления контролируемой поверхности, наблюдается на поверхности 3.Применение пробного стекла в виде волоконно-оптического элемента, выполненного с торцом укаэанной формы, обеспечивает .одновременный контроль всей "крутой" по аеохности контролируемой детали, за счет чего повышаются производительность и точность контроля,Формула изобретения Контактный интерферометр - пробное стекло для контроля погрешности формы полированных поверхностей, выполненный в виде оптического элемента, одна из поверхностей которого является эталонной и предназначена для наложения на контролируемую поверхность, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения произюдительности и точности контроля, оптический элемент выполнен в виде регулярного волоконно-оптического элемента, у которого входные торцы волокон расположены так, что.образуют эталонную поверхность, у каждого иэ волокон входной торец расположен перпендикулярно к оптической оси волокна, выходные торцы волокон расположены так, что образуют поверхность, проекции которой на плоскость, перпендикулярные к оси симметрии волоконно-оптического элемента, геометрически подобны аналогичным проекциям эталонной поверхности.

Смотреть

Заявка

4787615, 02.02.1990

ГРОДНЕНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

КОСТЮТКИН ВЛАДИМИР ГРИГОРЬЕВИЧ, РАДЕВИЧ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, СПОРНИК НИКОЛАЙ МАКСИМОВИЧ, ТУЕВ АЛЕКСАНДР ФЕДОРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 9/02

Метки: интерферометр, контактный, пробное, стекло

Опубликовано: 07.01.1993

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1786369-kontaktnyjj-interferometr-probnoe-steklo.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контактный интерферометр пробное стекло</a>

Похожие патенты