Патенты с меткой «электрофизических»

Страница 2

Устройство для исследования электрофизических процессов при термическом разложении полимерных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1103139

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Красиков, Шабес

МПК: G01N 27/46

Метки: исследования, полимерных, процессов, разложении, термическом, электрофизических

...электрод, причем прорези образуют канал для прохода газа, а штуцер подвода соединен с внутренней полостью герметичной цилиндрической емкости.На чертеже представлена принципиальная схема устройства.Образец 1 с установленной в ней термопарой 2 расположен в держателе 3 образца и помещен в измерительную ячейку, Держатель электродов выполнен в виде герметичной цилиндрической емкости с двойными боковыми стенками, образуемой тремя коаксиальными трубками - внутренней 4, разделительной 5 и внешней 6. Внутренняя 4 и разделительная 5 трубки имеют продоль ные прорези по периметру. Трубки 5, б и 4 закреплены соосно и герметизированы сторцов заглушками 7, а держатель 3 образца установлен и закреплен во внутренней трубке 4 через подвижное,...

Измеритель электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1109612

Опубликовано: 23.08.1984

Авторы: Григулис, Пориньш, Силиньш

МПК: G01N 22/00

Метки: измеритель, параметров, полупроводниковых, электрофизических

...параметров по 33 уцро 33 опцико 3333 х мате -РИаЛОВ, СОДЕРжаЩЕМ ЩЕЛЕБОЙ ИЗЛУЧатсгПсоедцненг 3 ь 3 с СВЧ гецг ратором ц иг 3 ди-,Окатором, щелевой излучатець выполненв виде отрезка цссцм.3 г 3 т 3 цчцо 3 полос -КОБОЙ лиц 3 пгр 33 эСрац 3333 у 3 де 3 Пластинекоторой прореза 3 о це менее двух из -лучаю 3 ццх еле Ряс цело":ец.ь 3 Х друот друга на расстоянии Л /2, приэтом дл 3 гца каждой 33 злучающей щелиравна 3, а ширина (0,1-0,0)Л,Где 3 длина г 3 олцы 3 отрезке цесимметричной полоског 3 ой пицци.бНа Фиг. 1 приведена конструкцияизмерителя электрофизических параметро 3 полупроиодциковь 3 Х материалов, на Фиг.2 - разрез Л-Л ца Фиг.1;на Фцг.3 - разрез В-В ца Фиг.1.55ИзморТе 3 эпектрофизическцх параметров г 3 ог 3 прг 333 одццког 33 х...

Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов

Загрузка...

Номер патента: 1116398

Опубликовано: 30.09.1984

Авторы: Иванов, Хаханин

МПК: G01R 27/26

Метки: датчик, образцов, параметров, цилиндрических, электрофизических

...нагреве,Цель изобретения - измерениеэлектрофизических параметров цилиндрических образцов при их радиационномнагреве и улучшение фокусировки лучистой энергии на цилиндрическом образце.Поставленная цель достигается 25тем, что в датчик для измерения электрофизических параметров цилиндричес,ких образцов,содержащий коаксиальныйрезонатор, внутренний проводник которого имеет осевое отверстие и снабжен зазором, расположенным в среднейчасти внутреннего провоцника, введенисточник лучистой энергии, размещенныйнапротив осевого отверстия, диаметркоторого в месте расположения зазораявляется запредельным для рабочейчастоты коаксиального резонатора,При этом диаметр осевого отверстиявыполнен увеличивающимся по гиперболическому закону по мере...

Устройство для контроля геометрических и электрофизических параметров изделий

Загрузка...

Номер патента: 1126864

Опубликовано: 30.11.1984

Авторы: Лазарев, Федосенко, Шатерников

МПК: G01N 27/90

Метки: геометрических, параметров, электрофизических

...генератор, связанный с ним первичный преобразователь, два канала для раздельного выделения активиой и реактивной составляющих сигнала, подключенные к выходу первичного преобразователя, и индикатор, каждый из каналов выполнен в виде последовательно соединенных 64 2амплитудно-фаз ового детектора, накопителя импульсов, порогового элемента и счетчика импульсов, подключенных к соответствующему входу индикатора, фаэосдвигающей цепочки и блокаумножения, выхоцы которых подключены соответственно ко вторым входамамплитудно-фазового детектора и порогового элемента, а входы - к выходу высокочастотного генератора ивторому входу счетчика импульсов.На чертеже изображена блок-схемапредлагаемого устройства.Устройство для контроля...

Устройство для измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1053597

Опубликовано: 30.12.1984

Автор: Лошкарев

МПК: H01L 21/66

Метки: параметров, полупроводниковых, электрофизических

...выполненного в виде двухвстречно включенных источников 1 и2 тока, образца 3 полупроводника,переменного резистора 4, первой схемы 5 деления, схемы 6 извлеченияквадратного корня, второй и третьейсхем 7 и 8 деления соответственно,регистраторов 9 и 10, подвижностии концентрации основных носителейзаряда соответственно и магнита 11.Устройство работает следующим образом.Источники тока 1 и 2 создают падения напряжения на образце 3 и переменном резисторе 4, противоположные по знаку. В отсутствие магнитного поля с помощью переменного резистора 4 в точке Я устанавливаетсянапряжение, равное нулю относительно общей шины. При этом падение напряжения Од на образце 3 и переменном резисторе 4 будет одинаковым повеличине. На регистратор 9...

Датчик электрофизических параметров полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 1148006

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Катанухин, Медведев, Петров, Скрыльников

МПК: G01N 22/00, H01L 21/66

Метки: датчик, параметров, полупроводников, электрофизических

...носителей заряда.Целью изобретения является измерение подвижности свободных носителей заряда.Поставленная цель достигается тем, что в датчик электрофизических параметров полупроводников, содержащий цилиндрический СВЧ-резонатор,на одной.из торцовых стенок которого расположен индуктивный штырь, а на другой выполнено измерительное отверстие, в которое введен свободный конец индуктивного штыря, а также элементы связи цилиндрического СВЧ- резонатора, с СВЧ-генератором и индикатором, введен соленоид, который охватывает ципиндрический СВЧ-резонатор в области измерительного отверстия и установлен соосно с индуктивным штырем.Торец соленоида расположен в плоскости наружной поверхности торцовой стенки с измерительным отверстием.Торцовая...

Устройство для измерения геометрических и электрофизических параметров неферромагнитных проводящих изделий

Загрузка...

Номер патента: 1221615

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Буров, Евсигнеев, Меледин, Шишкин

МПК: G01R 27/00

Метки: геометрических, неферромагнитных, параметров, проводящих, электрофизических

...1. Изменяя усиление усилителя 8 переменного напряжения, подключенного к измерительной катушке 4, добиваются равенства напряжений, снимаемых с амплитудных детекторов 9 и 10. При этом на выходе индикатора 12 нулевое напряжение (стрелочный индикатор покажет ноль, а при использовании светового индикатора загорится соответствующего цвета лампочка). Устройство готово к работе.При установке вихретокового преобразователя 1 на контролируемое изделие напряжение на измерительных катушках 3 и 4 изменяется на различные величины, причем относительные изменения напряжения на измери-. тельной катушке 4 меньшего диаметра оказываются больше, чем на измерительной катушке 3 большего диаметра, если катушки расположены в одной1.221 плоскости. В свободном...

Устройство для определения электрофизических свойств

Загрузка...

Номер патента: 1226239

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Денисов, Ляшенко, Петров

МПК: G01N 25/32

Метки: свойств, электрофизических

...виде выводится на регистратор 11. Устройство позволяет проводить определение электрофизических свойств оксидных материалов в двух режимах; изотермическом и изо. барическом.Б изотермическом режиме устройство работает следующим образом.Все параметры процесса заложены в программе, подцерживаются и измеряются автоматически при выполнении заданных в программе условий. С заданной в программе скоростью программатор 1 О через интерфейс 8 осущестзияет разогрев снлитового нагревателя 7, а также исследуемого образца 4 до температуры изотермической выдержки, заложенной в программе. После достижения температуры эксперимента программатора 10 через интерфейс 8 механизмом б дискретных перемещений, который соединен с корпусом 1, передвижением...

Вихретоковое устройство для контроля электрофизических параметров

Загрузка...

Номер патента: 1229672

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Родин, Улитин

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковое, параметров, электрофизических

...и сумматор 11, второйвхоц которого является входом управляемого компенсатора 4, а выход -его выходом.Опорный вход управляемого блока 5обработки сигналов подключен к управляемому генератору 1, а входы управления управляемого генераторауправляемого синтезатора 6 частоты,управляемого делителя 10 напряженияи управляемого блока 5 обработки сигналов предназначены для подключенияк управляющей системе (не показана).Устройство работает следующимобразом. 9672 2По входам управления управляемогогенератора 1 (фиг. 1) задаются частота Я и амплитуда тока возбуждениявихретокового преобразователя 2, апо входам управления преобразователя3 частоты - частота,= Я-Г . Сиг"онал С внутретокового преобразователя 2 поступает на один вход балансного...

Установка для исследования электрофизических свойств волокнистых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1402912

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Левитова, Пугачев, Секанов

МПК: G01N 27/22

Метки: волокнистых, исследования, свойств, электрофизических

...и станиной установки расположен датчик 11 давления, фиксирующий усилие, действующее на объект измерения, С помощью .гибкой трубки 12, заполненной силеконовым маслом, давление передается на образцовый манометр 13, На станине прибора расположены коаксиальные разъемы 14, позволяющие производить подключение разных пар электродов к измерительному прибору. Первичный преобразователь окружен экраном 15,Установка работает следующим образом.Измеряемый волокнистый матерйал помещают между плоскими электродами 2 первичного преобразователя 1 и сжимают подвижной верхней гранью 3, которая перемещается с помощью враще - ния микрометрического винта 4 маховиком 10. Усилие контролируется по образцовому манометру 13. При достижении фиксированной...

Устройство для бесконтактного измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1497593

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Аношин, Базин, Кабак, Сагинов

МПК: G01R 31/265, H01L 21/66

Метки: бесконтактного, параметров, полупроводниковых, электрофизических

...легированными слоями толщиной0,5 мкм,д расположен в зазоре .равном толщине с структуры б, ",.ежду внешней поверхностью резонатора 1 и металлической пластиной 7 (диском), перекрывающей в плане отверстис 4 связи4 эПри измерении электрофизических параметров (удельного и слоеного сопротивления) двухслойной структуры с субмикронным легированным слоем методом малых возмущений для определе 5 О ния удельного сопротивленияподложки толщиной о и слоеного сопротивле- ния К легированного слоя используются следующие Формульп(1: А 1 (1/, - 1/Р,)-", (1)К,= В 1 (1 Ка/О,), .(2) где А,В,К (2 ( К( 3) - постоянныг для данного резонатора диаметра отверстия связи и материала подложки,измеряемые при калибровке резонатора 1 по эталонным образцам;Я -...

Способ определения электрофизических параметров слоев арсенида галлия

Загрузка...

Номер патента: 1187650

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Братишко, Огурцова, Филиппов

МПК: H01L 21/66

Метки: арсенида, галлия, параметров, слоев, электрофизических

...параметров А, К, Чг, входящих в (2), определяют экспериментально при анодировании в электролите, состоящем из этиленгликоля и ЗХ- ного водного раствора лимонной кислоты, смешанных в соотношении 2:1.Этот электролит обеспечивает хорошую воспроизводимость параметров А и К, слабо растворяет анодный оксид арсенида галлия.При анодировании О рассчитыва-. ют по формуле (1), а Й,определяют 4 п по измеренной на микроинтерферометре МИИвысоте ступеньки, покрытой отражающим слоем алюминия. На каждой ступеньке производится по 20 измерений. Дисперсия результатов не превышает 2,2 ф 10"мкм. Путем обработки экспериментальных данных методом наименьших квадратов было получено значение А= (20 + 1) К/В, 50Толщину йс, также определяют на ИИИпо высоте...

Способ определения электрофизических характеристик полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 1578770

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Борисов, Дюков, Кибалов, Файфер

МПК: H01L 21/66

Метки: полупроводников, характеристик, электрофизических

...квантов 1,3 эВ. Свет модулирован частотой 1 к Гц, Ге гистрируемое п ространственное разрешение сигнала 0,1 мкм, Коэффициент усиления выбирался равным 20, Далее понижали 1 ок зонда и его энергию до выхода регистрируемОго сигнала в насыщение, Для пластины КДБэто 0,1 нА и 15 кВ соотвутственно, Для пластины КДБ,1 насыщейие достигалось при токе 50 пАи энергии 2 кэВ., Далее изменяли частоту модуляции в диапазоне 0,1 - 10 Гц. Уменьшение сигнала фотоЭДС наблюдалось при частотах выше 5 кГц, При частоте 1 кГц в полосе 3 Гц снимали зависимость сигнала фотоЭДС от интенсивности освещения (кривая 11 на фиг, 2). По значению насыщения сигнала определяли поверхностные потенциальные барьеры участков поверхности, т,е. наведенной фотоЭДС. Измеренные...

Способ определения электрофизических характеристик проводящих каналов на ганице раздела полупроводник диэлектрик

Загрузка...

Номер патента: 1507138

Опубликовано: 30.04.1991

Авторы: Байрамов, Веденеев, Ждан

МПК: H01L 21/66

Метки: ганице, диэлектрик, каналов, проводящих, раздела, характеристик, электрофизических, —полупроводник

...Б- падение напряжения между потенциальными 45контактами к каналу и ЭДС Холла Н.По измеренным величинам рассчитываюткоэФфициент Холла К и электропроводИность проводящего канала МДП-транэистора .1 С- 6= - , - (1)н 1 Вф = Н Ьгде 4 - электролроводность каналаьВ - величина магнитной индукциис 55- отношение расстояния с межЬду потенциальными контактами к ширине Ь проводящегоканала.электрическая емкость единичной площади диэлектрика;заряд электрона. где С,Используемая при измерениях экспериментальная установка обеспечивает воэможности автоматического измерения Ки программного изменения 0 , что необходимо для реализации условия КсопзС. Неравновесное заполнение ЭС создают следующим образом,На затвор подают напряжение +30 В,отвечающее...

Устройство для измерения электрофизических параметров токопроводящих сред

Загрузка...

Номер патента: 1659820

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Богданов, Легкобыт, Рябцев

МПК: G01N 27/02

Метки: параметров, сред, токопроводящих, электрофизических

...входе фазового детектора 4 отличную от 9 ОО, При этом на выходе фазового детектора 4 формируется сигнал, равный произведению сигналов на обоих его входах, Этот сигнал поступает на вход интегратора 6, где происходит его интегрирование, На выходе интегратора 6 формируется сигнал определенной полярности, в зависимости от разности фаз на первом и втором входах фазового детектора 4. Сигнал с выхода интегратора 6 поступает науправляющий вход генератора 1 переменной частоты и изменяет частоту генератора таким образом, чтобы его частота стала равна частоте резонанса контураС вихретокового преобразователя 2.В режиме изменения прикладывают катушку вихретокового преобразователя 2 к поверхности исследуемой среды, например к поверхности металла,...

Устройство для неразрушающего контроля электрофизических характеристик магнитных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1666994

Опубликовано: 30.07.1991

Автор: Солоухин

МПК: G01R 33/05

Метки: магнитных, неразрушающего, пленок, характеристик, электрофизических

...кассет разной длины позволяет осуществить регистрацию ферромагнитного резонанса на двух частотах с последующим расчетом эффективного поля анизотропии Нфф и гиромагнитного отношения у по формулам1666994 И( йб 2 т 1Н 2 - Нгде б, Ь - частота СВЧ;Н 1, Н 2 - величина полей ФМР на частотах соответственно б и 12.На фиг. 1, 3 представлена конструктивная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2, 4 - конструкция кассеты.Устройство содержит цилиндрический резонатор 1, размещенный между полюсами 2 источника постоянного магнитного поля так, что ось цилиндра совпадает с направлением постоянного магнитного поля. Резонатор 1 состоит из цилиндрического корпуса 3, к которому по направляющим 4 с одной стороны устанавливается кассета 5 для подложки, а...

Криостат для исследования электрофизических свойств полупроводниковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1686280

Опубликовано: 23.10.1991

Авторы: Мазов, Нечунеев, Пятов

МПК: F25D 3/10

Метки: исследования, криостат, полупроводниковых, свойств, электрофизических

...насосом, охлаждают жидким азотом и опускают в сосуд Дьюара. Охлаждение объектодержателя осуществляется через хвостовой элемент 5. Установку температуры осуществляют с помощью нагревателя 8. Температуру измеряют термометром 9,Предлагаемый криостат позволяет регулировать температуру по линейному, квадратичному, ступенчатому законам. Мини. мальная рабочая температура 4,5 К,Цилиндрическая обечайка 12, установленная между стенкой и объектодержателем,обеспечивает экранировку образца 6 от колебаний температуры газообразного гелия за счет равновесности ее температуры, обусловленной постоянством температуры верхней и нижней частей. Колебания температуры газообразного гелия происходят из-за испарения жидкого гелия, попадания воздуха через...

Устройство для измерения электрофизических параметров материалов

Загрузка...

Номер патента: 1705914

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Артамонов, Самарин, Яковлев

МПК: G01N 21/66, H01J 37/252

Метки: параметров, электрофизических

...СЧИКРОНЦОс ОДс.тектора 10 на 0 ор.й о;Гсвреец - НО ПОДЯЕТСЯ О,ОРЦОЕ ГЯПРГЕНИЕ С ГЕНСг - ратора 15, В 1 Ячсгст;е син:.рониого де тектоРа 10 и 13 О;ет гс г хпс 111,30- ван дете;Гор "181 - 2. 1 остоГ:Гсигнял С дЕ 01;Тора Г;,с.Тс.".саг.т ца кодрс Г"- Стр" -Ора - гс:сопс Г гЕГО ГдтдГ 1 ОМЕТра(типа ЛЕЦ 4-003)а вкод . Подается 40НапрЖЗНИЕ . -г 3 ЗЕРТЕ б 10 К;г,П р и 1 е р 1. Изгосцли эыпптиЧЕСКОЕ ЗЕ 1 г,ас-О ИЗ ОПТИЧЕСКОГО СтЕКЛа Кс отр-:;3.;им по.;рьтГе из Ялюц - ниеной пен;1 покрТс:"Г пленкой фто-45 р,СОГО Г ц1 Гдс,0 ЬГ, ПЛя предо,раСи 5 от ст)еГГя, В спектральной поз.120-120 н: коз 11 ГГсиецт страж.зсия тз:с Иос.р:ности составлне 0,8;исие" Р ЗОР;азЯ 160 .ГГ. 50 Расстояне с,т сер 55 и зеркала (от):ерс - т;1 г дис НГСд .:с ГСОПО 1) дО...

Способ определения электрофизических параметров цилиндрических проводящих изделий

Загрузка...

Номер патента: 1744631

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Себко, Сиренко

МПК: G01N 27/90

Метки: параметров, проводящих, цилиндрических, электрофизических

...нихретоковых преобразователя 1 - 3 с первичными(возбуждающими) 4 - 6 и вторичными (измерительными) 7 - 9 обмотками, перестралваемый генератор 10 синусоидальныхколебаний, амперметр 11, частотомер 12,измеритель 13 разности фаз, два вольтметра 14, 15 переменного тока, переключатель16. фун кцио и ал ьн ый прео ар аэонател ь 17функции нп, де итель 18, перемножитель19, вольтмегр 20 постоянногс тока, Преобраэонаталь 2 выполнен с переменным регулируемым числом витков вторичнойобмотки 8;н виде вариометра) и содержитрегулятор 21 числа витков, Возбуждающиеобмотки 4 - 6 соединены последовательносогласно и подключены к ныходам генератора 10 через амперметр 11. Частотомер 12подключен к выходам генератора 10. Вторичные обмотки 7 и 8 соединены...

Способ определения электрофизических параметров полупроводников

Загрузка...

Номер патента: 1805512

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Ильичев, Масалов, Подшивалов

МПК: H01L 21/66

Метки: параметров, полупроводников, электрофизических

...потока через соленоид.Способ реализуется следующим образом, Контролируемая полупроводниковаяпластина 10 помещается около торца соленоида 1. Светодиод 5 через световод 4 освещает небольшую часть площади пластины10, находящуюся в рабочей области соленоида 1, прерывистым излучением, Частота прерываний определяется генератором 6. Под действием излучения периодически изменяется эффективная магнитная проницаемость освещаемой части полупроводника. Это приводит к периодическому изменению магнитного потока через соленоид и появлению на его выводах напряжения, которое регистрируется регистрирующим прибором 2, Переменная емкость 9 используется для подстройки резонансной частоты контура на частоту генератора 6, Параметры выходного сигнала...

Способ определения электрофизических параметров двухнагрузочного мгд-генератора

Номер патента: 1338752

Опубликовано: 30.04.1994

Авторы: Исэров, Калнини, Орлов, Шарапов

МПК: H02K 44/08

Метки: двухнагрузочного, мгд-генератора, параметров, электрофизических

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДВУХНАГРУЗОЧНОГО МГД-ГЕНЕРАТОРА, заключающийся в том, что измеряют значения тока и напряжения каждого подключенного к МГД-генератору инверторного моста и вычисляют матрицу внутренних сопротивлений, величины ЭДС, токов короткого замыкания, коэффициенты нагрузки частей МГД-генератора, отличающийся тем, что, с целью упрощения в процессе стационарной работы МГД-генератора, непрерывно измеряют мгновенные значения тока и напряжений каждого инверторного моста, определяют средние значения тока и напряжений, а также амплитуды и фазы токов и напряжений по крайней мере одной из гармоник каждого инверторного моста, например несущей.

Датчик электрофизических параметров полупроводниковых материалов

Номер патента: 1212156

Опубликовано: 15.06.1994

Авторы: Ахманаев, Данилов, Медведев, Петров

МПК: G01N 22/00

Метки: датчик, параметров, полупроводниковых, электрофизических

ДАТЧИК ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащий цилиндрический СВЧ-резонатор квазистатического типа, на одной из торцевых стенок которого закреплен один конец индуктивного штыря, другой конец которого размещен в соосном с ним отверстии, выполненном в другой торцевой стенке, а также элементы связи цилиндрического резонатора с источником СВЧ-энергии и индикатором и механизм осевого перемещения индуктивного штыря, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, торцевая стенка, на которой закреплен индуктивный штырь, выполнена в виде концентрически гофрированной металлической диафрагмы, а механизм осевого перемещения индуктивного штыря - в виде катушки индуктивности с соосно...

Способ определения электрофизических параметров межфазовой границы электролит полупроводник

Номер патента: 1538827

Опубликовано: 10.02.1996

Авторы: Божевольнов, Яфясов

МПК: H01L 21/66

Метки: границы, межфазовой, параметров, электролит, электрофизических, —полупроводник

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МЕЖФАЗОВОЙ ГРАНИЦЫ ЭЛЕКТРОЛИТ - ПОЛУПРОВОДНИК, включающий пропускание через границу основного импульса тока, измерение приращения напряжения на границе, пропускание дополнительного импульса тока противоположной полярности, длительность и амплитуду которого выбирают из условия обеспечения равенства нулю суммарного заряда, вносимого основным и дополнительным импульсами тока, и определение искомых величин электрофизических параметров по калибровочным зависимостям, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измерение приращения напряжения на межфазовой границе производят в интервале между началом основного и концом дополнительного импульсов, определяют величину интеграла приращения...

Способ измерения электрофизических параметров полупроводников и устройство для его реализации

Номер патента: 822705

Опубликовано: 27.08.1996

Автор: Федосов

МПК: H01L 21/70

Метки: параметров, полупроводников, реализации, электрофизических

1. Способ измерения электрофизических параметров полупроводников, основанный на приложении к одной поверхности полупроводникового элемента постоянного и модулированного электрического поля изменяющегося вдоль поверхности, измерении поперечного электрического напряжения имеющего частоту модуляции, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измерений, поддерживая пространственный период переменного электрического поля постоянным, измеряют зависимость поперечного электрического напряжения от частоты модулированного электрического поля, по которой судят о параметрах поверхности полупроводника.2. Устройство для реализации способа по п.1, содержащее полупроводниковую пластину с диэлектрическим слоем,...

Способ определения электрофизических параметров неосновных носителей заряда в базе транзистора

Загрузка...

Номер патента: 1818981

Опубликовано: 20.10.1996

Авторы: Варданян, Гуюмджян, Рштуни

МПК: G01R 31/26

Метки: базе, заряда, неосновных, носителей, параметров, транзистора, электрофизических

...в зависимости от магнитного поля, а 1, поддерживаетсяпостоянным):в 21. 1гг фВсоя (и В),ст г К(Г)(4)Из отношения выражений (1) и (3)получают подвижность ННЗ1 ви = - агссоя(В В ).гВ ст ст(5)а из выражений (2) и (4) - время жизниННЗ в базе транзисторав вВ В И - Уст ст т ттв вВ -В ы ыст ст т т(6)Имея значения,и и г, рассчитывают диффузионную длину ННЗ по формуле-- итгде 1. - диффузионная длина ННЗ.На чертеже представлена структура контролируемого транзистора в магнитном поле.П р и м е р, Измерения времени жизни, подвижности и диффузионной длины ННЗ в базе проводились для мощных транзисторов ТК-63, ТК-100 и ТК-63, Результаты измерений сведены в таблице. Там же приведены значения ти и Е, рассчитанные по формулам (6),(5) и (7)...