H01J 37/252 — приборы для анализирования пятна с помощью электронных или ионных лучей; микроанализаторы

Номер патента: 1705914

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Артамонов, Самарин, Яковлев

МПК: G01N 21/66, H01J 37/252

Метки: параметров, электрофизических

...СЧИКРОНЦОс ОДс.тектора 10 на 0 ор.й о;Гсвреец - НО ПОДЯЕТСЯ О,ОРЦОЕ ГЯПРГЕНИЕ С ГЕНСг - ратора 15, В 1 Ячсгст;е син:.рониого де тектоРа 10 и 13 О;ет гс г хпс 111,30- ван дете;Гор "181 - 2. 1 остоГ:Гсигнял С дЕ 01;Тора Г;,с.Тс.".саг.т ца кодрс Г"- Стр" -Ора - гс:сопс Г гЕГО ГдтдГ 1 ОМЕТра(типа ЛЕЦ 4-003)а вкод . Подается 40НапрЖЗНИЕ . -г 3 ЗЕРТЕ б 10 К;г,П р и 1 е р 1. Изгосцли эыпптиЧЕСКОЕ ЗЕ 1 г,ас-О ИЗ ОПТИЧЕСКОГО СтЕКЛа Кс отр-:;3.;им по.;рьтГе из Ялюц - ниеной пен;1 покрТс:"Г пленкой фто-45 р,СОГО Г ц1 Гдс,0 ЬГ, ПЛя предо,раСи 5 от ст)еГГя, В спектральной поз.120-120 н: коз 11 ГГсиецт страж.зсия тз:с Иос.р:ности составлне 0,8;исие" Р ЗОР;азЯ 160 .ГГ. 50 Расстояне с,т сер 55 и зеркала (от):ерс - т;1 г дис НГСд .:с ГСОПО 1) дО...