Патенты опубликованные 23.05.1985

Страница 25

Устройство оценки износа сверла на металлорежущих станках

Загрузка...

Номер патента: 1157400

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Козочкин, Смирнов, Сулейманов

МПК: G01N 3/58

Метки: износа, металлорежущих, оценки, сверла, станках

...снабжено последовательно соединенными первым пороговым элементом 5, первой линией 6 задержки, блоком 7 вычитания, вторым пороговым элементом 8, второй линией 9 задержки, реле 10 времени и электронным ключом 11. Выход детектора 4 соединен с входом первого порогового элемента 5, выходы которого соединены с входом блока 7 вычитания и входом электронного ключа 11, другой вход которого соединен с выходом второй линии 9 задержки.Устройство работает следующим образом.Датчик 1 вибраций преобразует механические колебания упругой системы станка, амплитуда которых пропорциональна износу сверла, в электрическую форму, Усилитель 2 усиливает сигнал датчика, Фильтр 3 высоких час. тот пропускает составляющие виброакустического сигнала, частоты...

Способ определения стойкости твердых сплавов при резании

Загрузка...

Номер патента: 1157401

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Аверин, Данилычев, Туманов, Черединов

МПК: G01N 3/58

Метки: резании, сплавов, стойкости, твердых

...которое ослабляет внешнее поле тем больше, чем больше намагниченность 1 образца и меньше расстояние между свободными полюсами.Размещение образца на подложке поз. воляет уменьшить влияние размагничивающего фактора тем, что основная часть магнитных силовых линий от полюсов образца проходит не по воздуху, а замыкается через подложку, Снижение влияния размагничивающего фактора позволяет более точно определять величину магнитной проницаемости образца и в конечном итоге стойкость при резании.Применение подложки из твердого сплава с коэрцитивной силой 4,0- 7,9 кА/м позволяет проводить измерения магнитной проницаемости всех промышленных вольфрамо-кобальтовых твердых сплавов по ГОСТ 3882-74, При использовании подложки с коэрцитивной силой...

Пневмометрический плотномер

Загрузка...

Номер патента: 1157402

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Арзуманов, Большаков, Калинов, Кольцов, Тачков, Черников

МПК: G01N 9/18

Метки: плотномер, пневмометрический

...памяти истинное значение величины плотности без влияния избыточного давления. Второй элемент сравнения позволяет учитывать изменение избыточного давления в аппарате, которое будет компенсироваться на первичном преобразователе, Все это обеспечивает расширение области применения.На чертеже представлена схема пневмометрического плотномера.Плотномер содержит барботажную трубку 1, соединенную с блоком 2 питания, плюсовой камерой первого элемента 3 сравнения и с плюсовой камерой первичного преобразователя 4, выход которого подключен к регистратору 5, Трубка 6 избыточного давления соединена с блоком 2 питания, минусовой камерой первого элемента 3 сравнения и плюсовой камерой второго элемента 7 сравнения. Выход первого элемента 3 сравнения...

Вискозиметр

Загрузка...

Номер патента: 1157403

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Булгаков, Лукинюк, Петров, Пищенко

МПК: G01N 11/08

Метки: вискозиметр

...камерой 7,К нижней части камеры 7 подсоединенасливная трубка 8, верхний конец которой соединен с верхней частью проточной камеры 1. В верхней части камеры 7 размещен патрубок 9 с дросселем 10, который через нормально открытые контакты 11 переключающего реле 12 соединен с атмосФерой, а черезнормально закрытые контакты 13 - с эадатчиком 14 давления. Управляющиеконтакты реле 12 соединеныс задающим генератором 15, выполненным в виде трехмембранного реле,Задающий генератор 15 соединенс реле 16 запуска генератора изменяющегося давления, выполненного в видеповторителя 17, входы которого подсоединены через дроссель 18 и напрямую к задатчику 19 давления, авыход через емкость 20 подключенк первому входу элемента 21 сравнения,второй вход...

Устройство для измерения вязкости жидкостей

Загрузка...

Номер патента: 1157404

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Бодров, Кочетов, Лазарева, Мордасов, Трофимов, Шамкин

МПК: G01N 11/08

Метки: вязкости, жидкостей

...Р, и ваккумаИзмерительный сосуд имеет кромки 9, в которые упирается,затвор 10, имеющий капилляр 11, расположенный в центре затвора 10, подпружиненного пружиной 12. К мембране 13 исполнительного механизма 3 присоединена игла 2 с упором 14, в нижней камере которо го установлена пружина 15. Клапан 16 установлен в нижней части сосуда 1. Нижний штуцер емкости 17 соединен гибким шлангом 18 с верх" ней частью иглы 2 имеющей полый канал 19, а верхний штуцер емкости 17 через регулятор 20 уровня жидкости соединен с трубопроводом подачи жидкости. Выход первого пневмореле 7 соединен с входом управления регулятора 20, а выход второго пневмореле 8 - с входом управления пульсирующего пневмосопротивления 21, вхсд которого соединен с задатчиком 22,...

Ротационный вискозиметр

Загрузка...

Номер патента: 1157405

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Роговский, Шульгин

МПК: G01N 11/14

Метки: вискозиметр, ротационный

...представлен ротационный вискозиметр.Ротационный вискозиметр содержит измерительную камеру 1 с чувствитель. ным элементом 2, выполненным в виде диска. Чувствительный элемент 2 укреплен на полом валу 3, установленном в емкости 4 на радиальном подшипнике 5 скольжения и двухстороннем радиально-упорном подшипнике (скольжения) б, который совмещен с гидродинамическим уплотнением 7.Между измерительной камерой 1 и емкостью 4 установлено малофрикционное уплотнение 8, выполненное в виде набора тонколистовых прокладок, прижимаемых промежуточным кольцом 9, снабженным радиальными канавками 10, к которым подведен патрубок 11. К двухстороннему радиально-упорному подшипнику 6 подведен второй патрубок 12, соединенный с дросселирующим устройством (не...

Способ градуировки вискозиметров

Загрузка...

Номер патента: 1157406

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Ставров

МПК: G01N 11/14

Метки: вискозиметров, градуировки

...и т.п.), и известных схем кинематн157406 3 1ческой связи (рычагов, зубчатых,цепных и ременных передач и т.п.) .На фиг1 изображена конструкция устройства для градуировкиротационного вискоэиметра, вариант; на фиг.2 - то же, с плоскопараллельными плитами.Устройство содержит подвижныйизмерительный элемент 1 градуируемого визкозиметра, неподвижный измерительный элемент 2 градуируемоговискозиметра, сосуд 3 переменногообъема, подвижный элемент 4, изменяющий объем, выполненный в видепоршня, калиброванное отверстие 5в сосуде 3.П р и м е р 1, При градуировкеротационного вискозимера по предложенному способу гидравлическоесопротивление образцовой ющкости,эквивалентное гидравлическому сопротивлению испытываемого вязкоговещества, создают в эталонном...

Устройство для определения параметров массопереноса газа в жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1157407

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Большинский, Колосков, Лапченко, Литвинов, Первушин

МПК: G01N 13/00

Метки: газа, жидкости, массопереноса, параметров

...с очень тонкими слоями жидкости. При практических измерениях достаточно достичь условий, когда величины Ьи Р имеют один порядок. При этом результаты измерений при двух значениях жидких слоев, когда Х ( соотносятся следующим образом(13) 7 57407 8Иэ условия равновесия, когда в систе- Где и " концентрация исследуемдгоме отсутствуют токи частиц, следует, компонента в газовой полосй 1 т 1 й 1 2что поток через границу 1 =Бр - У и =рти мгв - конЦентРаЦиЯ Растворенногоция растворенного газа в жидкости компонента в потоке аидкосопределяется величиной ти м.р ФИ 11( иЕсли при фиксированном .1 провестии и 11 - гЕф2 рюенп 1 р ( = ) . (11) измеРения скорости изменения объема21 г 1 газовой полости при ее растворенииСледовательно, для определения 1 О в...

Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1157408

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Безрядин, Павлова, Сотников, Шенфельд, Элькинд

МПК: G01N 13/02

Метки: жидкости, натяжения, поверхностного

...цифровыми устройствами. Регистрирующее устройство 39 снабжено счетчиком 41, регистром 42 результата, .блоком 43 задержки и регистром 44 памяти, соединенным с блоком 45 индикации, а также регист" ром 46 тарыя с кнопкой 47 ввода тары и вычитающим счетчиком 48, соединенным соответственно с регистрами результата 42 н памяти 44 регистрирующего устройства 39.Блок 40 регистрации скорости изменения нагрузки снабжен счетчиком 49, регистром 50 результата, реверсивным счетчиком 51, блоком 52 задержки и регистром 53 производной, выход 54 которого соединен с блоком 55 управления, двигателя 24, имеющего, кроме того, кнопку 56 ручной остановки.Делитель 57 служит для подачи частотыоо1,Кгде К и К - коэффициенты деления,на регистры 42 и 50...

Способ определения силы трения в подвижном сопряжении при заедании

Загрузка...

Номер патента: 1157409

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Заблоцкий, Лозовский, Павлова, Рябенко

МПК: G01N 19/02

Метки: заедании, подвижном, силы, сопряжении, трения

...фиг.1 и 2 показаны форма ихарактерные размера задира и эоныН, в которых измеряется микротвер дость материала в задире; на фиг. 35 - три этапа схемы развития эаедания в сопряжении с фиксированнымзазором и возникающие при этом силы;на фиг.б - характер изменения ор мальных сил (а) и сил тренияна трех этапах развития заеданияв сопряжении с Фиксированным зазором.Способ осуществляют следующим 50 образом.Определяется площадь нароста нзадире, коэффициент трения пматериалов деталей сопряжения в условиях, близких к реальным условиям 55 работы, но при отсутствии заеданиясмогут быть использованы аналогичныедетали или образцы, имеющие иалогичное состояние поверхности, или 3 1157409Изобретение относится к испытаниямматериалов трением и может...

Способ определения качества сцепления покрытия с подложкой

Загрузка...

Номер патента: 1157410

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Кордит, Якубович

МПК: G01N 19/04

Метки: качества, подложкой, покрытия, сцепления

...цель достигается тем,Я что согласно способу определения качества сцепления покрытия с подлож- коВ, эаключакщемуся в том, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой долокального отслоения покрытия и измеряютпараметр, характеризующий качество сцепления, нагрузку на инден"тор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а в качествепараметров регистрируют сигналы вкус.тической эмиссии при вдавливании индейтора в подложку и покрытие, посоотношению максимальных амплитудкоторых судят о качестве сцепленияпокрытия с подложкой.Способ осуществляют следующим образом.В поверхность подложки, предназначенной для напыления на нее покрытия, вдавливают под постоянной наг"рузкой...

Способ измерения влажности волокнистых материалов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1157411

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Смирнов, Федоров

МПК: G01N 19/10

Метки: влажности, волокнистых

...измерения влажности засчет устранения ошибки, связанной сплотностью материала в устройстве,при упрощении его конструкции.Поставленная цель достигаетсятем, что при способе измерения влажности волокнистых материалов, заключающемся в измерении электрофизических характеристик пробы материалапостоянной массы с постоянным уплотнением, пробу материала разрыхляют,перемешивают и помещают в контейнерс постоянными размерами, выравниваютпо высоте верхнюю поверхность материала и полученнь:й слой анализируемогоматериала варьирующейся толщины сжимают до получения толщины этого слояпостоянной заданной величины, послечего по измеренным электрофизическимхарактеристикам определяют искомыйпараметр.При этом устройство для измерениявлажности...

Способ определения добротности кристаллов искусственного кварца

Загрузка...

Номер патента: 1157412

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Дубовский, Романов, Семенов, Фотченков, Шапошников

МПК: G01N 21/00

Метки: добротности, искусственного, кварца, кристаллов

...является способопределения добротности Й кристалловискусственного кварца, включающий рризмерение поглощения кристалломИК-излучения и определение добротности по результатам измерений Я .Недостатком известного способаявляется низкая точность определения р 5добротности кристалловЦель изобретения - повышение точности определения добротности кристал.лов искусственного кварца,Поставленная цель достигается темчто согласно способу определениядобротности кристаллов искусственного кварца, включающему измерениепоглощения кристаллом ИК-излучения и определение добротности крис 35талла по результатам измерений,измеряют площадь диффузной полосыпоглощения кристалла с Максимумомв области 3400 см.Независящий от температуры уровеньакустических потеоь Й...

Устройство для регистрации фотоиндуцированного послесвечения

Загрузка...

Номер патента: 1157413

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Григорович, Конев, Мажуль, Мохорт, Слепцов, Строцкий

МПК: G01N 21/00

Метки: послесвечения, регистрации, фотоиндуцированного

.... быстродействия, надежности и упрощение конструкции,Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содержащем последовательно установленные источник света, систему светофильтров, установленный в корпус и соединенный с блоком управления блок световых затворов с рабочей камерой и фотоэлектрический. приемник излучения, соединенный с регистрирующим блоком, блок световых затворов выполнен в виде рамочной шторки с двумя неперекрывающимися окнами, расположенными на параллельных сторонах шторки, установленной подвижно в корпусе, включающем две, параллельные указанным сторонам шторки,. стенки с соосно расположенными окнами, плоскости которых перпендикулярны оптической оси устройства, причем корпус, рамочная шторка и рабочая камера...

Способ измерения разницы показателей преломления спеченных стекол

Загрузка...

Номер патента: 1157414

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Потапова, Седов, Цветков, Щавелев

МПК: G01N 21/41

Метки: показателей, преломления, разницы, спеченных, стекол

...измерения разницы показателей, преломления спеченных стекол, одно иэ которых поглощающее, включаюшем прспускание зондирующего и опорного пучков излучения через образцы, регистрацию пучков излучения, прошедщих через образец, и иэмерение угла отклонения зондирующего пучка излучения по отношению к опорному пучку, по которому судят с разнице показателя преломления спеченных стекол, зондирующий и опорный пучки излучения пропускают через образец, изготовленный иэ слоистой заготовки спеченных поглощающего и прозрачного стекол, так что плоскость спекания образует с входной и выходной гранями образца соответственно углы о и ов интервале 0Жр.90 , причем опорный пучок излучения пропускают только через один иэ спеченных слоев, при этом угол...

Фотоэлектрическое теневое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1157415

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Королев, Красовский, Крастина, Матвеев, Наумов

МПК: G01N 21/41

Метки: теневое, фотоэлектрическое

...зеркального ножа 2 и кромка световоэнращающего зеркала 3 образуют световую диафрагму. Световоэвращающее зеркало 3 расположено в передней фокальной плоскости объектива 4 перпендикулярно его оптической оси, Оптический клин б устанонлен так, что ребро двугранного угла клина параллельно рабочей кромке зеркального ножа 2, а грань, соединяющая преломляюшие поверхности1574клина, расположена на оптическойоси, причем угол к между каждойиэ преломляющих граней клина иоптической осью объектива удовлетворяет условию 50 с с--- 1,,)где 1 - расстояние между оптическойосью и той границей зеркальной поверхности ножа 2 или 1 Осветовозвращающего зеркала3, которая расположена набольшем расстоянии от оптической оси,1 - фокусное расстояние объектива...

Многолучевой интерференционный эллипсометр

Загрузка...

Номер патента: 1157416

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Пилипко

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, многолучевой, эллипсометр

...фотоприемнику,измеритель частоты, подключенныйк электронному ключу, и преобразователь интервал времени - напряжение,вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выходк электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем поляризаторы оптических развязоки дополнительный поляризатор установлены так, что оптические осиполяризаторов оптических развязоквзаимно ортогональны, а оптическаяось дополнительного поляризатораориентирована под углом к ним.На чертеже, изображена принципиальная схема предлагаемого устройства,Устройство содержит одночастотныйлазер 1, оптическую развязку, состоящую из поляризатора 2 и невэаимногофарадеевского вращателя 3, поляризатор 4, перестраиваемый одночастотный лазер 5 и...

Способ анализа веществ

Загрузка...

Номер патента: 1157417

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Байдиков, Бернер, Конопелько, Кустиков, Попазов

МПК: G01N 21/61

Метки: анализа, веществ

...исследуемого вещества в анализируемой смеси и при наличии исследуемого вещества 1,2 ь ф Недостатками известного способаявляются невысокая точность анализа,определяемая точностью установкинуля, а также сложность анализа, 45связанная с необходимостью настройкинуля и фазового сдвига.Цель изобретения - повьппениеточности, чувствительности и упрощениеанализа. ЯПоставленная цель достигаетсятем, что согласно способу анализавеществ, включающему пропусканиемодулированных со сдвигом фазы двухпотоков излучения через эталонную 5и анализируемую смеси, регистрациюрезультирующих сигналов в отсутствиии при наличии исследуемого вещества в анализируемой смеси, дополнительно, регистрируют сигналы от потоков из-лучения, прошедших через эталонную и...

Устройство для измерения фотоиндуцированной хемилюминесценции биологических объектов

Загрузка...

Номер патента: 1157418

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Белоиваненко, Владимиров

МПК: G01N 21/64

Метки: биологических, объектов, фотоиндуцированной, хемилюминесценции

...подключен к управляющему входу фотоприемника индуцированного излучения, причем выход формирователя стробирующих импульсов соединен с первыми входами логических элементов И и ИЛИ, а также с входом элемента задержки, выход которого соединен с вторыми входами логических элементов И и ИЛИ, выход логического элемента И соединен с управляющим входом основного ключевого элемента.На фиг,Показана блок-схема предлагаемого устройства; на фиг.2 - диаграммы работы формирователя стробирующих импульсов и ключевых элементов.3Устройство содержит источник 1 напряжения, источник 2 световых вспышек, оптически связанный через оптическую систему Э с фотоприемником 4 индуцированного излучения,. выход которого через ключевой элемент 5 соединен с...

Устройство для контроля жидкости в потоке на наличие механических частиц

Загрузка...

Номер патента: 1157419

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Викторов, Денежкин, Евстратов, Орлов, Филипин

МПК: G01N 15/00, G01N 21/85

Метки: жидкости, механических, наличие, потоке, частиц

...контроли 1руемого потока,Процесс контроля предусматривает обнаружение частиц размером порядка 5 мкм и выше (с учетом величинымаксимально допустимых для инъекционных растворов размеров частиц).На практике установлено, что величиназагрязненности растворов (количествочастиц в единице объема) колеблетсяв широких пределах (в одном литрераствора в пределах 1 О -10 частиц),а ьНижний предел диапазона указывает напригодность раствора к использованиюв .медицинских целях. Применение впредлагаемом устройстве фотоприемни- фка, например фотоэлектронного умножителя, обладающего интегральнымсвойством преобразования лучистойэнергии, требует наличия в зонеконтроля одной частицы(для превильной регистрации величины и количества посторонних механических...

Способ обнаружения поверхностных дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1157420

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Сумин

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных

...изделия и визу ально-оптического контроля 23,Недостатком известного способа является ограниченность его технологич ческих возможностей контролем только 55 сквозных трещин в непористых материалах и только по горизонтальным поверхностям изделий. 20 2Цель изобретения - обнаружение дефектов в пористых материалах иупрощение способа.Укаэанная цель достигается тем,что согласно способу обнаружения поверхностньм. дефектов путем нанесения на изделие пенетранта, нагрева его и визуально-оптического контроля, в качестве пенетранта используют парафин который нагревают до расплавления, выдерживают в нем изделие и, вынув, охлаждают изделие до застывания пенетранта, а о дефектах. судят по наличию белых линий или участков с мато" вым оттенком.П р...

Способ определения степени сшивки молекул полимеров

Загрузка...

Номер патента: 1157421

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Злотников, Мельников

МПК: G01N 23/00

Метки: молекул, полимеров, степени, сшивки

...сквозь исследуемый образец определяют располагая исследуемый образец в центральной части медного посеребренного волновода длиной 200 мм, прямоугольного сечения 12 х 28 мм. Образец ориентируется так, что он перекрывает все сечение волновода. Величины Ю и ч изиеряют с помощью ваттметра поглощающей мощности МЗ. Источником СВЧ- излучения служат генераторы ГЗА, ГЗи ГЗ. Затем определяют сте 1157421ЗО пень сшивки этих же,образцов методом экстрагирования в этиловом спирте в аппарате Сокслета в течение8 ч. Результаты измерений для эталонных образцов приведены в табл.1. 5Используя полученные данные, можно построить графическую зависимость 3 ев 2(К) или апроксимироватьполученные экспериментальные данныесоответствующими управлениями,г 1 риведены...

Автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1157422

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Асадчиков, Бухардинов, Дембо, Козелихин, Могилевский, Слепаков, Фейгин, Шилин

МПК: G01N 23/201

Метки: автоматический, дифрактометр, малоугловой, рентгеновский

...щения первой .поворотной платформы, рычажный привод и муфту сцепления с первой новорбтной платформой, причем держатель образца снабжен кронштейном для соединения его с второй М поворотной платформой.Введение второй поворотной плат-формы с червячным приводом позволяет 2повысить разрешающую способность устройства эа счет повышения точностиугловой установки детектора, а жест.1кое еоединение держателя образцас второй платформой с помощью кронштейна позволяет автоматически вращать образец вокруг вертикальной осис одновременным поворотом детекторавокруг той же оси, что расширяетфункциональные возможности прибора.На чертеже представлен предлагае-.мый дифрактометр.Днфрактометр включает источникизлучения, коллиматор 2 первичногопучка, неподвижную...

Способ определения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков

Загрузка...

Номер патента: 1157423

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Гейфман

МПК: G01N 24/10

Метки: поляризационных, сегнетоэлектриков, характеристик

...измерение интенсивностей линий спектра ЭПР исследуемого образца при воз" 50 действии электрического поля, исследуемый образец переводят в сегнетоэлектрическую фазу и измеряют в ней отношение интенсивностей линий спектра ЭПР, помещают дополнительный образец, аналогичный исследуемому, в изменяющееся электрическое поле, одновременно измеряют интенсивности линий спектра ЭПР дополнительного иисследуемого образцовувеличиваютнапряженность электрического полядо значения, при котором отношенияинтенсивностей линий спектра ЭПРдополнительного и исследуемого образцов совпадают, и по величине напряженности электрического .поля определяют величину спонтанной поляризации исследуемого образца,Кроме того, перевод исследуемогообразца в...

Гомодинный радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1157424

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Линев, Мочальский, Муравский, Фурса

МПК: G01N 24/10

Метки: гомодинный, парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного

...ЭПР.3 15 СВЧ-детектор 8, соединенный с выходом гомодинного канала 3 и третьим входом циркулятора 4, блок 9 регистрации и блок 10 автоматической подстройки частоты и фазы, подключен, ные к выходу СВЧ-детектора 8, блок 11 управления магнитным полем соединенный с электромагнитом 7, электронный фазовращатель 12, содержащий дополнительный циркулятор 13, вклю О ченный последовательно первым и третьим входами в гомодинный ка нал 3, и резонансную диафрагму 14 с р-д-п-диодом, подключенную СВЧ- входом к второму входу циркулятора 15 13, а выходомк четвертьволновому короткоэамкнутому отрезку волновода 15, блок 16 задания Фазы и схему 7 выборки-хранения, подключенные управляющими входами к бло ку 11 управления магнитным полем, а выходами через...

Способ определения содержания компонентов в композиционных полимерных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1157425

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Венгер, Фрайман

МПК: G01N 25/02

Метки: композиционных, компонентов, материалах, полимерных, содержания

...при этой температуре до прекращения изменения массы образца, после чего производят их дальнейший нагрев до полного прекращения потери массы и по полученным термогравиметрическим кривым, совмещенным на одном графике, определяют начальное содержание компонентов. Уравнение баланса массы для любого значения температуры внутри тем1157пературного интервала разложения всех трех образцов имеет вид11 х + 1 с(1-х) = "где х - содержание наполнителя;И - текущее значение относительнной массы наполнителя;Ус- то же, связующего;Ук- то же композиционного материала.Отсюда начальное содержание напол О нителяИ -Ис Ах(1)От.е. искомая. величина находится иэ совмещенного графика термогравимет рических кривых как отношение расстояния А по иэотерме между...

Способ анализа термически неустойчивых и высококипящих простых виниловых эфиров

Загрузка...

Номер патента: 1157426

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Сусоров, Сухинин

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, виниловых, высококипящих, неустойчивых, простых, термически, эфиров

...образом, 55В металлический стакан дифференциального микракалориметра типа Кальне, например ДАК"1 Л, помещают 2-4 г трифторэтанола и запаянную стеклянную ампулу с 0,1-0,2 г анализируемой пробы. Стакан помещают в ячейку калориметра и термостатируют при 30-60 С. По установлении теплового равновесия ампулу разбивают, приводя пробу в контакт с трифторэтанолом. Теплота, выделяющаяся в процессе химического взаимодействия реагентов, вызывает изменение температурного хода калориметра, регистрируемое в виде кривой на ленте самописца потенциометра. Ход кривой, отвечающий тепловыделению, дигитализи-руется посредством прецизионного интегратора типа ИПс выводом данных расчета площади под кривой тепловыделения на самописец.Площадь, описываемая...

Способ определения внутренних напряжений в материалах

Загрузка...

Номер патента: 1157427

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Букатый

МПК: G01N 25/16

Метки: внутренних, материалах, напряжений

...в деформированном и недеФормированном состояниях, образцыматериала нагревают, измеряют температурные зависимости температурногокоэффициента линейного или объемногорасширения и судят об искомой величине, "опоставляя результаты испытанийе50В качестве материала в недеформированном состоянии используютиспытуемый материал, подвергнутый отжигу.Способ осуществляют следующим 5 образом.Иэ материала, из которого выполнена контролируемая деталь, изготовляют два образца, один из них подвергают отжигу до полного снятиявнутренних напряжений, Размеры и форма образцов должны удовлетворятьтребованиям оборудования, с помощьюкоторого будут проводиться дилатометрические исследования. Образцыматериала нагревают и определяюттемпературный коэффиияент...

Устройство для автоматического определения коэффициента теплопроводности жидкостей и газов

Загрузка...

Номер патента: 1157428

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Акимов, Булатова, Габитов, Тарзиманов

МПК: G01N 25/18

Метки: газов, жидкостей, коэффициента, теплопроводности

...измерениями содержит логический элемент 8 И, восемь входов которого соединены с восемью входами блока, один выход - с входами двух элементов И, выход первого элемента И соединен с третьим выходом блока, выход второ-го - с вторым выходом блока и одним входом формирователя, выход последнего - с вторым входом триггера, первый вход которого соединен с девятым входом блока, а первый и второй выходы - с первым и четвертым выходами блока. Блок синхронизации содержит три формирователя, входы двух из них соединены с четвертым входом блока, а выходы - с первым входом триггера, второй вход которага соединен с выходом третьего формирователя, вход которого соединен с первым входом блока, выход триггера соединен с первым входом элемента ЗИ, второй...

Способ определения коэффициента температуропроводности электропроводящих тел

Загрузка...

Номер патента: 1157430

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Гуревич, Носарь

МПК: G01N 25/18

Метки: коэффициента, тел, температуропроводности, электропроводящих

..." - магнитная постоянная,Ом с/м.Изменение электросопротивления проводника при небольших 1,порядка нескольких градусов , иэменениях температуры пропорционально изменению7430 зтемпературы, Вследствие этого электросопротивление К постоянному токуопределяется среднеобъемной температурой проводника, а активное электросопротивление Е переменному токувысокой частоты - температурой тонкого поверхностного слоя из-эа скинэффекта. Измерение сопротивления Ки одновременно сдвига фаз,между током и напряжением высокой частотыдает воэможность для цилиндрическихобразцов ( при монотонном нагреве ихс поверхности внешним радиальнымисточником тепла ) определить перепадмежду температурой тонкого поверхностного слоя (скин-слоя ) и среднеобъемной...