Бухардинов

Номер патента: 1157422

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Асадчиков, Бухардинов, Дембо, Козелихин, Могилевский, Слепаков, Фейгин, Шилин

МПК: G01N 23/201

Метки: автоматический, дифрактометр, малоугловой, рентгеновский

...щения первой .поворотной платформы, рычажный привод и муфту сцепления с первой новорбтной платформой, причем держатель образца снабжен кронштейном для соединения его с второй М поворотной платформой.Введение второй поворотной плат-формы с червячным приводом позволяет 2повысить разрешающую способность устройства эа счет повышения точностиугловой установки детектора, а жест.1кое еоединение держателя образцас второй платформой с помощью кронштейна позволяет автоматически вращать образец вокруг вертикальной осис одновременным поворотом детекторавокруг той же оси, что расширяетфункциональные возможности прибора.На чертеже представлен предлагае-.мый дифрактометр.Днфрактометр включает источникизлучения, коллиматор 2 первичногопучка, неподвижную...

Номер патента: 928208

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Бухардинов, Домбровский, Миренский, Резников, Хейкер, Шилин

МПК: G01N 23/20

Метки: автоматический, дифрактометр, многокружный

...кристалла относительно оси 1 на под.вижном кольце поворотного устройстваотносительно оси Х , являющегося одновременно датчиком 2 углового положения кристалла относительно этойоси,Неподвижное кольцо поворотного устройства датчика 2 углового положения Х укреплено на валу 18, с которым скреплено подвижное кольцо датчика 4 углового положения кристалла относительно оси соУстройство работает следующим об разом.Рентгеновский луч, например, от источника излучения 1 направляют на исследуемый кристалл 15, Дифрагированные лучи принимаются и регистрируются системой регистрации 6. Дляустановки кристалла в положение регистрации определенных рефлексов используется автоматический гониометрдифрактометра, позволяющий вращатькристалл независимо вокруг...

Номер патента: 843024

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Авилов, Бояндина, Бухардинов, Гусев, Имамов, Кисель, Семилетов, Яременко

МПК: H01J 37/26

Метки: анализа, иустройство, электронно-дифракционногоструктурного

...одном из кронштейнов, установленного напротив второго поворотноговала и взаимодействующего с выступомна конце указанного вала,На фиг, 1 показано устройство держателя образца, позволяющее реализовать предлагаемый способ; на Фиг. 2 схема электроннодифракционной установки,Устройство для реализации способасодержит вакуумную камеру 1, в которой установлен держатель 2 образца,обеспечивающий возможность проведения исследований.Держатель 2 состоит из столика 3,установленного на поворотном валу 4,поворотного кольца 5 с зубьями, приводимого во вращение с помощью червяка ),не показан), связанного с валом б, пропущенным внутри вала 4, установленнык на кольце 5 кронштейнов7, в которых установлен поворотныйвал 8 с рамкой для образца. Вал 8установлен...

Номер патента: 556472

Опубликовано: 30.04.1977

Авторы: Белкинд, Буланов, Бухардинов, Габидулин, Головченко, Горяинов, Корниенко, Редкозубов

МПК: G08C 9/00

Метки: код, перемещения, углового

...положительных полуволн с выходов 15 усилителя-ограничителя 4 фазового сигналаи усилителя 7 синусного опорного напряжения разрешающий сигнал с элемента И 5 поступает на генератор 15 счетных импульсов, который работает в режиме ударного возбужде ния. Длительность выходного импульса элемента И 5 при изменении фазы сигнала с усилителя-ограничителя 4 фазового сигнала от 0 до л по отношению к опорному синусному сигналу увеличивается от 0 до Т(2, где 25 Т - период опорного сигнала, а при изменении фазы от л до 2 л уменьшается от Т 2 до О.Количество импульсов Л, поступающих свыхода генератора 15 счетных импульсов на счетный вход счетчика 12 точного отсчета З 0 пропорционально длительности положительного сигнала с элемента И 5.Выходные...

Номер патента: 542219

Опубликовано: 05.01.1977

Авторы: Антощенко, Бухардинов, Габидулин, Головченко, Горяинов, Корниенко, Редкозубов

МПК: G08C 9/00

Метки: грубого, информации, кодовой, отсчетов, согласования, точного

...и, - число шагов квантования фазы точ - .,ЗОного отсчета преобразователя 1,1 - 1, 2, и - номер шага, на котором в текущий момент нахэдитсяфаза точногэ отсчета,С - величина шага квантования времен-З2нэго интервала грубого отсчета,Как видно из вышепривеценной формулыпри увеличении (уменьшении) 1 Г 1 уменьшается (увеличивается), Этэ связано с тем,что изменение фазы импульсов тэчного отсчета в пределах от О до Т (где Т - период фазэвогэ напряжения тэччэго отсчета) и,слецовательно, изменениеот "1" до й. соответствует перемещению фазы импульсовгрубогэ отсчета в пределах одного шага 5квантэвания 2 от О до Г , Из-за погрешности преобразования грубого отсчетаимеется зона возможных значений фазы импульсовгрубэго отсчета, поэтомудля исключения...

Номер патента: 502300

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Бухардинов, Миренский, Хейкер

МПК: G01N 23/207

Метки: дифрактометр, многоканальный

...устройств измерения интенсивности излучения 8, механизма 9 изменения расстояний между одномерными детекторами, содержащего телескопические втулки 10 - 13 с рычагами 14 - 17, установленные на центральной направляющей втулке 18, и вспомогательный направляющий стержень 19. Тяги приводов 20, 21 (две другие не показаны),размещены внутри центральной втулки и соединены через винтовые пары 22 и 23 (две другие не показаны) с индивидуальными приводами 24, 25,Дифрактометр работает следующим образом.Исследуемый образец устанавливается на валу привода его вращения 3. Одна из его кристаллографических плоскостей выводится в направление главной оси дифрактомегра.Верхняя платформа гониометра 2 с приводом вращения 3 образца, одномерными детекторами 4...