Способ определения добротности кристаллов искусственного кварца

Номер патента: 1269021

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Ефимов, Комиссаренко, Мельник, Синявская, Филиппов, Яцимирский

МПК: G01N 33/50

Метки: глюкозы, индикаторных, крови, полос

...бумагу пропитывают 1% -ным раствором 6:-толидина в этаноле 20при соотношении 0,7-1,0 г растворана 100 см 7 бумаги, высушивают при 30 С втечение 15 мин.На полученную бумагу наносят смесь следующего состава.Вода 60 мп25Глюкоэооксидаза изРеп 1 сШ 3.ап чЫа 3.е,РЫор 1. е 1 Входа 0,2 гПероксидаза 0,05 гфосфатный буфер 2 М(50% водная дисперсия) 22 гоСмесь, содержащую указанные компоненты, при комнатной температуреперемешивают стеклянной палочкой илис помощью магнитной. мешалки в течение 5"7 мии. В результате должна по"лучиться однородная эмульсия кремового цвета, которая характеризуетсяплотностью=1,038 г/см и вязкор3стью=2,957 сП.Соотношение смеси к бумаге 1 0 гУ1,5 г на 100 см . После сушки в течение 40 мин при комнатной темпера- ф...

Номер патента: 1141348

Опубликовано: 23.02.1985

Авторы: Генкин, Лопырев

МПК: G01R 29/08

Метки: диапазона, излучения, субмиллиметрового, электромагнитного

...помещенного в резонатор,воздействие на него исследуемымэлектромагнитным излучением и опреде-оление по результатам воздействияуровня электромагнитного излучения,измеряют количество электронов,испускаемых слоем слабо связанныхэлектронов, а уровень Р электромагнитного излучения определяют поформуле О Р-в - Ь у С О 60где и - количество электронов, испус-каемых в единицу времени поддействием электромагнитногоизлучения;добротность резонатора; добротность резонатора, определяемая поглощением электромагнитного излучения толькоповерхностными электронами;Ы, - угловая частота электромаг-.нитного излучения;11 - постоянная Планка.При этом формирование слоя слабосвязанных электронов осуществляютна поверхности сверхтекучей пленкигелия, смачивающей...

Номер патента: 1737263

Опубликовано: 30.05.1992

Автор: Ломаш

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, муаровых, объекта, определении, полос

...деформаций объекта, заключающемся в том, что на поверхность исследуемого деформируемого объекта наносят растр, освещают растр, экспонируют отраженным светом фотоматериал и регистрируют картину муаровых полос, объект экранируют от посторонней засветки, освещение производят стробоскопическим источником света, а экспонирование осуществляют с момента начала, деформи-.рования объекта до окончания деформирования.Предлагаемый способ получевых полос при определении деобъекта реализуется следующимЗаказ 1883 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина, 101 На поверхность исследуемого...

Номер патента: 1659869

Опубликовано: 30.06.1991

Авторы: Бахтин, Глухов, Костюченко, Перк

МПК: G01P 13/04

Метки: диффузно, направления, объекта, отражающего, перемещения

...зеркальное иэображение точки занимает положениегз + Л Г = г - 2(г, и+Л и) (й+ Л и)- - 2 (р+Л р)(Я+ Ли),т,е, смещается на величинуЛг=-2 ,г, Л и ) + (г, и)-Р Л и(г, Л и) -2 Л Р 7 й+ Л и).В предположении малости угла поворота:ЛР/Р, ЛР/(г) 1, 1 Ли,Условие, заключающееся в том, чтоплоское зеркало ориентируют так, чтобынормаль ир к поверхности объекта в исследуемой точке была параллельна плоскоСти зеркала, обеспеЧивает наличие ввекторе Л г нормальной компоненты, коллинеарной с вектором Оп.8 л= 2 г., Лй)+(г,и)+ Р) Ли, и компоненты, вносящей вклад в тангенциальнуюсоставляющую перемещения:бг" =-2(г, Лп) и,Обе компоненты вносят дополнительную разность, хотя и в общем случае оказывают влияние на число интерференционныхполос в окрестности...

Номер патента: 1499283

Опубликовано: 07.08.1989

Автор: Ловинский

МПК: G01R 31/26

Метки: излучателя, излучения, полупроводникового, потока

...1 О (точка "в" на фиг.2 а), измеряют с помощью вольтметра 4 соответствующее ему значение напряжения прямого смещения.(фиг.26).После этого от генератораподают на излучатель 2 последовательную серию одиночных прямоугольных импульсов прямого тока с той же амплитудой 1 и тем же смещением 1 , но с уменьшающейся от импульса к импульсу длительностью Т (на фиг.2 а), при этом после прохождения каждого из импульсов определяют отличие между предыдущим и последующим значениями напряжения прямого смещения с, фиг.26). Указанную подачу серии импульсов прямого тока ведут до тех пор, пока не будет достигнуто равенство между зна" чениями О, = 1, = О, (фиг.2 б, точки "г") и фиксируют значение длительности импульса прямого тока Т (Фиг,2 б).5 149Указанное...