Способ определения качества сцепления покрытия с подложкой

) (57 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(71) Куйбышевский ордена ТрудовогКрасного Знамени политехническийинститут им.В,В.Куйбышева(56) 1. 1.АсЬев, 1979, 110, У 3,р.237-253,2. Ви 11 еИп 1 арап Яосе 1 у ойРтесавоп Епупеегп 8, 1980, 4,р, 167-168 (прототип). ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТ ПОКРЫТИЯ С ПОДЛОЖКОЙ, 3 лючаюшийся в тои, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой до локального отслоения йокрытия и измеряют параметр, характеризуеяций качество сцепления, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения, нагрузку на индентор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а-в качестве параметра регистрируют сигналыустической эмиссии при вдавливании индентора в подложку и покрытие,л ных аиплипо соотношению максима ьтуд которых судят о качестве сцепления покрытия с подложкой.Изобретение относится к испыта"тельной технике, а именно к спосо"бам определения качества сцепленияпокрытий с подложками.Известен способ измерения адгеэии тонких полимерных пленок к металлу, заключающийся в том, что впленку, нанесенную на металлическую подложку, вдавливают инденторпод увеличивающейся нагрузкой, одно" .Овременно регистрируют под микроскопом появление интерференционных колец, возникающих. вокруг инденторапри нарушении контакта между пленкой и подложкой, и по величине наг- цруэки и геометрическим характеристикам интерференционных колец судятоб адгевии 111 .Недостатком этого способа является ограниченность его использования 20из-за невозможности испытания покрытий, твердость которых выше твердости материала подложки, так как привдавливании индеитора в покрытиене образуется интерФеренционных колец,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности и достигаемо"му результату является способ определения качества сцепления покрытияс подложкой, заключающийся в том,что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под увеличивающейся нагрузкой до локального отслоения покрытия и измеряют параметр,зхарактеризующий качество .сцепленияпокрытия с подложкой. Б качестве параметра измеряют величину максимальной разрушающей нагрузки и диаметротпечатка индентора на покрытии 121 щНедостатком известного способа является низкая точность определениякачества сцепления покрытия с подлож"кой из-за сложности определения разрушающей нагрузки, которая колеблется при внедрении индентора в различных точках одной поверхности покры"тия, и трудности точного определениядиаметра отпечатка индентора на покрытиях с шероховатой поверхностьюиэ-за наличия гребешков и впадин,Цель изобретения - повышение точности определения качества сцепленияпокрытия с подложкой.Поставленная цель достигается тем,Я что согласно способу определения качества сцепления покрытия с подлож- коВ, эаключакщемуся в том, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой долокального отслоения покрытия и измеряютпараметр, характеризующий качество сцепления, нагрузку на инден"тор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а в качествепараметров регистрируют сигналы вкус.тической эмиссии при вдавливании индейтора в подложку и покрытие, посоотношению максимальных амплитудкоторых судят о качестве сцепленияпокрытия с подложкой.Способ осуществляют следующим образом.В поверхность подложки, предназначенной для напыления на нее покрытия, вдавливают под постоянной наг"рузкой индентор, регистрируют приэтом сигналы акустической эмиссии иопределяют их максимальную амплитуду.Наносят на поверхность подложки испытуемое покрытие одним из известныхспособов и вдавливают в него индентор под той же постоянной нагрузкой,с которой вдавливали индентор в подложку. Выдерживают покрытие под нагрузкой до его локального отслоенияи при этом регистрируют сигналы акустической эмиссии при вдавливании индентора в покрытие.Поддержание нагрузки постояннойпри вдавливании индентора в подложкуи покрытие обеспечивает идентичностьусловий проведения испытаний,При вдавливании индентора в покрытие в момент потери сцепления последнего с подложкой возникает максимальный сигнал акустической эмиссии,который и характеризуется максимальной амплитудой. По соотношению мак"симальных амплитуд сигналов акусти-,ческой эмиссии при вдавливании индентора в подложку до нанесения нанее покрьвия и в покрытие судят окачестве сцепления покрытия с подложкой,При этом, чем больше величина отношения максимальной амплитуды сигнала акустической эмиссии при вдавливании индентора в покрытие к максимальной амплитуде сигнала акустической эмиссии при вдавливании индентора в подложку, тем больше адгезия покрытия к подложке и, следовательно, выше качество сцепления покрытия с подложкой.57410 ЖСоставитель В.СвиридовРедактор АД 1 ищкина Техрад М.Пароцай Корректор А.Обручар Заказ 3359/41 . Тираж 897 ПодписноеВНИИПИ Государетвенного комйтета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раущская наб.,д.4/5 Филиал ППН "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 3 .11П р и м е р. В подложку, выпол неиную из материала Р 18, вдавливают индентор под постоянной нагрузкой 4 кг и регистрируют возникающие при этом сигналы акустической эмиссии, поступающие с пьезоэлемента индентора через усилитель на инцика. тор. Наносят на подложку на установ. ке для ионно-вакуумного напыления типа УРМЗ-026 износостойкое покрытие ТьН.;При этом поддерживают нап" .ряжение на стадии очистки 1300 В и-5выступ 310 мм рт.ст., а на стадии формирования покрытия - напряжение 100 В и вакуум 510 мм рт.ст. Время нанесения покрытия 10 мин. После нанесения покрытия в него вдавливают индентор под той же постоянной нагрузкой (4 кг и регистрируют сиг налы акустической эмиссии от внедрения нндентора в покрытие. Находят на диаграммах максимальные амплитуды сигналов акустической эмиссии от внедрения индентора в подложку н покрытие и по их соотношению судят о качестве сцепления покрытия с подлож" 10 кой,Изобретение позволяет повыситьточность определения качества сцепленйя покрытия с подложкой за счет обеспечения одинаковой нагрузки на 15 подложку и покрытие и точной регист"рации максимальных амплитуд сигналов акустической эмиссии.