Гоганов

Номер патента: 1695834

Опубликовано: 15.12.1992

Автор: Гоганов

МПК: H01J 47/08

Метки: блок, газоразрядный, детектирования, излучения, ионизирующего, электролюминесцентный

...поверхности окна 3 выбирается в зависимости от решаемых задач, технологической целесообразности и себестоимости,Наиболее интенсивное свечение при ксеноновом газовом наполнении корпуса 1 происходит в ультрафиолетовой (УФ) области длин волн. Кванты УФ радиально проходят через окно 3 и выбивают из фотокатода 13 фотоэлектроны, которые собираются на аноде 14, Собранный на аноде 14 заряд поступает на предусилитель с низким уровнем шумов, а после него на типичную электронную систему обработки сигнала, используемую, например, в газовых пропорциональныхых счетчиках.В газовом обьеме корпуса 1 с ксеноновым выполнением под воздействием квантов рентгеновского излучения линии МпКсу заряд первичного электронного блока близок к 280 электронам,...

Номер патента: 1768041

Опубликовано: 07.10.1992

Авторы: Агеев, Гоганов, Малюков, Наумов, Рейзис, Щелоков

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристаллов, ориентации, слитков

...поворота цилиндров) при случайном прикосновении к щели коллимационной системы поворота цилиндра не произойдет, поскольку от шероховатой поверхности человеческой кожи нет интенсивного зеркального отражения светового пучка.В известном техническом решении используется пружинный затвор для перекрывания пучка рентгеновских лучей от радиоактивного источника, что позволяет обезопасить при контроле ориентации слитков персонал от облучения. Однако для надежной работы этого устройства с возможно слабой пружиной для утапливания цилиндрического затвора необходимо приложить усилие, превышающее 7 г. Следовательно, при контроле ориентации монокристаллических (например, кремниевых) пластин диаметром - 76 мм и толщиной1 мм, по крайней мере, один...

Номер патента: 1599732

Опубликовано: 15.10.1990

Авторы: Гоганов, Гуткевич, Имамов, Ломов, Новиков

МПК: G01N 23/20

Метки: искажений, монокристалла, приповерхностных, слоев, совершенного, структурных

...0,5-50 нм.Способ осуществляется следующимобразом.Для исследуемого кристалла выбирается семейство дифракционных плоскостей, составляющих с поверхностьюкристалла угол ) ( 9 ь, Поскольку интенсивность ПБП тем выше, чем меньшеугол отклонения от точного угла Брэгга, то следует выбирать (8 -(О) ".о Бг-. 1 - 3, а для повышения локальности необходимо, чтобы значение (6 ьр+ Ц)обыло близко к 90 . Для стандартныхполупроводниковых кристаллов, используемых в промьппленности, удобно выбирать следующие отражения: при ориентации поверхности 1111 - отражение (311) и излучение М, Со, Ре,а при ориентации 100) - отражение(311), (400) и излучение Сц. При использовании стандартныхисточников излучения монохроматизация падающего пучка не...

Номер патента: 1420491

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Агеев, Гоганов, Захарченко

МПК: G01N 23/20

Метки: макронапряжений, рентгенографического

...8,а для фиксации устройства в рабочемположении - держатель 12,Устройство работает следующим образом.,С помощью держателя 12 устанавливают контрольную плоскость 13 платформы 3 параллельно плоскости образца 11 и соьмещают ось 0 дифрактометрического устройства с поверхностьюобразца 11 используя индикатор 7 сизмерительньы щупом 8 Источник 1 ус"танавливают в парные отверстия 9 наплатформе 3, имеющие например, маркирОВКУ пРЕ". В.зтОМ СЛУЧаЕ УГОЛ МЕждуисточником 1 и неподвижно установленным на платформе 3 1 ТЧ-детектором 2оравен 2=180 -6где 6- уголВульфа Брегга для излучения источника и выбранного Оптимального отражения ЬИ.) исследуемого материалаРе),Фиксатор 6 устанавливают в однночь ое сквозное Отвепстие ".,0 с аналогич нОЙ маркировкой е Угол...

Номер патента: 1203414

Опубликовано: 07.01.1986

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

Номер патента: 1170335

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

...3 и 4, 4 и 5 плотно примыкают друг к другу, кристяллографические плоскости а 1 а в кристал" лах 1-5 расположены под разными угла"Ю ми п, с относительно рабочей поверхности кристалла Б,Линейный размер с/Ч; каждого кристалла К; удовлетворяет соотношению25к- "к(2 Ы со 59 зл Ч где Ь - расстояние между центром 30кристалла и источником рентгеновских лучей,1 -1 - минимальная разность длинрволн К - линии анализируемого элемента, и К в .линии 35этого же элемента или элемента с атомным номером Е;6 - угол Вульфа-Брэгга,а кристаллографические плоскости,по крайней мере в двух кристаллах, 40расположены под разными углами о относительно рабочей поверхности кристалла. Рабочая поверхность Б каждого кристалла плоская, а уголь, длякаждого кристалла...

Номер патента: 1080225

Опубликовано: 15.03.1984

Авторы: Гоганов, Овчинников

МПК: H01J 47/06

Метки: варианты, газоразрядный, детектор, его, излучения, ионизирующего, координатно-чувствительный

...передних фронтов импульсов напряжения.1080225 4кий шунт 5 представляет собой проводящий слой непосредственно нанесенный на нитевидную подложку 6. Резистивный слой 7 анодного электрода 2отделен от проводящего слоя защитным диэлектрическим покрытием 8.Электрический шунт 5 соединен срезистивным слоем 7 посредством напыленного металлического контакта 9.10 При выполнении детектора по третьему варианту (фиг. 3), электрический шунт представляет собой проводящую нить 10, размещенную внутринитевидной подложки 6 вдоль ее оси.15 Металлический контакт 9 соединяетразистивный слой 7 анодного элект, -рода 2 с электрическим шунтом.иДетектор работает следующим образом.При попадании излучения в газовыйобъем детектора происходит ионизаи ция газа....

Номер патента: 1052956

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Агеев, Гоганов, Казанский, Комяк

МПК: G01N 23/20

Метки: варианты, его, заданного, кристалла, кристаллографических, ориентации, отклонения, относительно, плоскостей, поверхности, среза, угла

...разности измеренных углов 2.5 Наиболее близким кпредлагаемомуявляется способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора 13Недостаток способа состоит в том,что необходимо поворачивать исследуемый кристалл для лоиска отражения и нахождения углового положения его максимальной интенсивности, что существенно снижает экспрессность анализа. Кроме того, точность определения угла отклонения таким способом зависит от точности изготовления узлов, обеспечивающих поворот и определение углового поло.ения кристалла,...

Номер патента: 908195

Опубликовано: 23.08.1982

Авторы: Бабанова, Гоганов, Клименская, Лепик, Топоркова

МПК: H01J 47/06

Метки: излучения, ионизирующего, координатно-чувствительной, регистрации, счетчик

...содержит корпус 1 прямоугольного сечения, заполненный газообразной смесью ксенона с метаном, на оси которого расположена резистивная анодная нить 2, укрепленная в торцевых стойках 3. Анодная нить 2 состоит из изоляционного ВОлОкна 4, на которое ннесена резистивная оболочка 5 с защитным слоем б, удельное сопротивление которого не менее, чем в тысячу раз больше сопротивления резистивной оболочки 5. В качестве изоляционного волокна 4 может быть использовано бесщелочное стекло марки ШСБ, а резистивная оболочка 5 и защитный слой б преимущественно выполнены из водного раствора ЬЬС 1 з и ЬпС 145 Н 20, в соотношении 4 вес. ч. ЬЬС 1 на 100 вес. ч, ЬпС 145 Н 20 и 70 вес, ч.55 С 1 з на 30 вес. ч. ЬпС 145 Н,О соответственно. При этом удельное...

Номер патента: 533164

Опубликовано: 07.03.1982

Авторы: Гоганов, Комяк, Шульц, Элькинд

МПК: H01J 47/00

Метки: газоразрядный, детектор, излучения, ионизирующего, электролюминесцентный

...иметь размеры, большне по сравнению с,выходным окном. Для увеличения эффективиоспи оветосбора внутренняя поверхность корпуса и входного окна может быть покрыта свето- отражателем (например, окисью мапния), Вкутрь корпуса детектора в зону 5 поглощения ионизирующего излучения помещена электронно-отклоняющая система 6, выполненнаянапример, в виде ислеобразучощего тонкого металлического цилиндра. Отклоняющая система может быть выполнена также в виде кольцевого магнита, расположенного снаружи ксрпуса детектс. ра, Г 1 лоский электрод 7 совместно с входным окном 2 (электродом) и электронно. отклоняющей системой 6 образуют электронно-фокусирующую систему детектора. Электрод 7 выполнен из материала с больжим коэффициентом,прапускания электронов...

Номер патента: 901704

Опубликовано: 30.01.1982

Авторы: Гиманов, Гоганов, Захарченко, Сиухин

МПК: F17C 3/00

Метки: детектора, излучения, криостат, полупроводникового

...в спектральных пиках к счету в Фоне Со Звременем это приводит к заметному снижению чувствительности анализа,в особенности для легких элементов.Цель изобретения - увеличение срока службы при стабильной работе охлаждаемого детектора излучения засчет предотвращения загрязнения детектора,Поставленная цель достигается тем,что в криостате для полупроводникового детектора излучения конец хладопровода, соединенныи с детектором, выполнен с винтовой канавкой, в которой размещен слой сорбента,На фиг. 1 изображен криостат, общий вид; на фиг. 2 " узел 1 на фиг. 1Криостат содержит наружный вакуум"ный кожух 1 с рабочей камерой 2, ва"куумный объем 3, сообщающийся с объемом рабочей камеры 2, радиационный рзэкран 4, криоадсорбционный насос 5,служащий...

Номер патента: 894503

Опубликовано: 30.12.1981

Авторы: Гиманов, Гоганов, Ефанов, Иванов, Комяк, Лютцау

МПК: G01N 23/223

Метки: анализатор, зондом, рентгеновский, рентгеновским, флуоресцентный

...направлении рентгено.-оптической оси 4 зонда, перпендикулярной держателю 5 образца, и снабжена механизмом б, для ее возвратноцостуаательного перемещения перпендикулярно этой оси. Детектор 7 рент-геновского излучения выполненныйв виде полупроводникового детектора сориентирован соответственно эаданномУ углу отбора вторичного рентгеновского излучения от образца иподключен к измерительновычислительному блоку 8 для анализа Флуоресцентного излучения образца, зарегистрированного детектором.Дня проведения элементного анализа вдоль линии на поверхности образца или по всей его поверхностидержатель Ь образца снабжен средствами для плоского механического перемещения образца по двух координатам, необходимая точность установки рентгеновского зонда...

Номер патента: 682803

Опубликовано: 30.08.1979

Авторы: Гоганов, Комяк, Менбаев, Хейкер

МПК: G01N 23/207

Метки: дифрактометр, рентгеновский

...отсчета расстояния между трубкой и держателем в простейшем случае содержат неподвижную направляющую с отсчетной шкалой, установленную вдоль рентгеноскопической оси дифрактометра, и установленную на направляющей подвижную каретку, на которой закреплена рентгеновская трубка 1,Поток излучения от источника 1 падает на укрепленный в держателе 2 анализируемый образец с линейными размерами поперечного сечения Р; дифрагированный на образце поток излучения попадает в координатно-чувствительный детектор 4 (линейное разрешение Вдет которого равно размеру одной детектирующей ячейки), расположенный на измерительной окружности 4 на расстоянии г от держателя 2 образца (радиус окружности 4), где и регистрируется соответствующий ему сигнал.При...

Номер патента: 545906

Опубликовано: 05.02.1977

Авторы: Гоганов, Дмитриев, Евграфов, Комяк, Талалай, Хейкер

МПК: G01N 23/20

Метки: анализатор, многоканальный, рентгеновский

...дифрактометра источником рентгеновского излучения может быть рентгеновская трубка с колл иматором, а диспергирующим элементом - исследуемый образец, например поли- кристалл, установленный по касательной к фокальной окружности 5. В случае использования анализатора в качестве рентгеновского спектрометра источником рентгеновского излучения 1 может быть исследуемый образец, испускающий первичное излучение пли вторичное (флуоресцентное) излучение при его облучении от рентгеновской трубки, а диспергирующим элементом 2 - дифракционная вогнутая решетка с радиусом кривизны, равным радиусу фокальной окружности.Детектирующее устройство 3 представляет собою выполненный в едином корпусе счетчик, изогнутый по фокальной окружности 5 и...

Номер патента: 458747

Опубликовано: 30.01.1975

Авторы: Вайнштейн, Гоганов, Дмитриев, Комяк, Лубе, Малахова, Миренский, Резников, Хейкер

МПК: G01N 23/20

Метки: дифрактометр, многоканальный

...в заданном угловом ицтервае (илц за задацное время), вместе с цоаза. 10 25 с и Институт кристалло циальное конструкторско им. А. В. Шубникова и бюро рентгеИзооретецие относится к области рентгеновской дифрактометрии.Известны многоканальные дифрактометры, содержащие линейный детектор излучения, Однако детектор может регистрировать тольо одну слоевую линию при сьемке по методу вращающегося моцокристалла,Цель изобретения - повышение эксцрессцости сьемки (что особенно важно цри исследовании кристаллов, разрушающихся под действием излучения),Цель достигается тем, что в предлагаемом дифрактометре блок детекторов излучения выполнен в виде дискретного набора одномерных детекторов излучения, расположенных параллельно друг другу, и...

Номер патента: 374981

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Гоганов, Детектор, Ком, Лиисович

МПК: G01T 1/16

Метки: 374981

...детекторы рентгеновского излучения, содеряащие филыр, счетчик излучения и вторичный излучатель. Рабочий скачок поглощения материала, из которого выполнен вторичный излучатель, находится в более длипповолповой области сектора, чем раоочий скачок материала филыра.Известные детекторы имеют заметную регистрацию в нерабочем диапазоне длин волн, что обусловлено частичным прохождением фонового излучения через фильтр с последующим возбуждением флуоресцепции вторичного излучателя, Максимум регистрации фонового излучения приходится на длину волны, которая в два раза короче, чем длина волны рабочего диапазона. При регистрации спектра излучения исследуемого химического элемента могут быть обнаружены только те спектральные линии,...