G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Способ градуировки вискозиметров
Номер патента: 1157406
Опубликовано: 23.05.1985
Автор: Ставров
МПК: G01N 11/14
Метки: вискозиметров, градуировки
...и т.п.), и известных схем кинематн157406 3 1ческой связи (рычагов, зубчатых,цепных и ременных передач и т.п.) .На фиг1 изображена конструкция устройства для градуировкиротационного вискоэиметра, вариант; на фиг.2 - то же, с плоскопараллельными плитами.Устройство содержит подвижныйизмерительный элемент 1 градуируемого визкозиметра, неподвижный измерительный элемент 2 градуируемоговискозиметра, сосуд 3 переменногообъема, подвижный элемент 4, изменяющий объем, выполненный в видепоршня, калиброванное отверстие 5в сосуде 3.П р и м е р 1, При градуировкеротационного вискозимера по предложенному способу гидравлическоесопротивление образцовой ющкости,эквивалентное гидравлическому сопротивлению испытываемого вязкоговещества, создают в эталонном...
Устройство для определения параметров массопереноса газа в жидкости
Номер патента: 1157407
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Большинский, Колосков, Лапченко, Литвинов, Первушин
МПК: G01N 13/00
Метки: газа, жидкости, массопереноса, параметров
...с очень тонкими слоями жидкости. При практических измерениях достаточно достичь условий, когда величины Ьи Р имеют один порядок. При этом результаты измерений при двух значениях жидких слоев, когда Х ( соотносятся следующим образом(13) 7 57407 8Иэ условия равновесия, когда в систе- Где и " концентрация исследуемдгоме отсутствуют токи частиц, следует, компонента в газовой полосй 1 т 1 й 1 2что поток через границу 1 =Бр - У и =рти мгв - конЦентРаЦиЯ Растворенногоция растворенного газа в жидкости компонента в потоке аидкосопределяется величиной ти м.р ФИ 11( иЕсли при фиксированном .1 провестии и 11 - гЕф2 рюенп 1 р ( = ) . (11) измеРения скорости изменения объема21 г 1 газовой полости при ее растворенииСледовательно, для определения 1 О в...
Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкости
Номер патента: 1157408
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Безрядин, Павлова, Сотников, Шенфельд, Элькинд
МПК: G01N 13/02
Метки: жидкости, натяжения, поверхностного
...цифровыми устройствами. Регистрирующее устройство 39 снабжено счетчиком 41, регистром 42 результата, .блоком 43 задержки и регистром 44 памяти, соединенным с блоком 45 индикации, а также регист" ром 46 тарыя с кнопкой 47 ввода тары и вычитающим счетчиком 48, соединенным соответственно с регистрами результата 42 н памяти 44 регистрирующего устройства 39.Блок 40 регистрации скорости изменения нагрузки снабжен счетчиком 49, регистром 50 результата, реверсивным счетчиком 51, блоком 52 задержки и регистром 53 производной, выход 54 которого соединен с блоком 55 управления, двигателя 24, имеющего, кроме того, кнопку 56 ручной остановки.Делитель 57 служит для подачи частотыоо1,Кгде К и К - коэффициенты деления,на регистры 42 и 50...
Способ определения силы трения в подвижном сопряжении при заедании
Номер патента: 1157409
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Заблоцкий, Лозовский, Павлова, Рябенко
МПК: G01N 19/02
Метки: заедании, подвижном, силы, сопряжении, трения
...фиг.1 и 2 показаны форма ихарактерные размера задира и эоныН, в которых измеряется микротвер дость материала в задире; на фиг. 35 - три этапа схемы развития эаедания в сопряжении с фиксированнымзазором и возникающие при этом силы;на фиг.б - характер изменения ор мальных сил (а) и сил тренияна трех этапах развития заеданияв сопряжении с Фиксированным зазором.Способ осуществляют следующим 50 образом.Определяется площадь нароста нзадире, коэффициент трения пматериалов деталей сопряжения в условиях, близких к реальным условиям 55 работы, но при отсутствии заеданиясмогут быть использованы аналогичныедетали или образцы, имеющие иалогичное состояние поверхности, или 3 1157409Изобретение относится к испытаниямматериалов трением и может...
Способ определения качества сцепления покрытия с подложкой
Номер патента: 1157410
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 19/04
Метки: качества, подложкой, покрытия, сцепления
...цель достигается тем,Я что согласно способу определения качества сцепления покрытия с подлож- коВ, эаключакщемуся в том, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой долокального отслоения покрытия и измеряютпараметр, характеризующий качество сцепления, нагрузку на инден"тор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а в качествепараметров регистрируют сигналы вкус.тической эмиссии при вдавливании индейтора в подложку и покрытие, посоотношению максимальных амплитудкоторых судят о качестве сцепленияпокрытия с подложкой.Способ осуществляют следующим образом.В поверхность подложки, предназначенной для напыления на нее покрытия, вдавливают под постоянной наг"рузкой...
Способ измерения влажности волокнистых материалов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1157411
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 19/10
Метки: влажности, волокнистых
...измерения влажности засчет устранения ошибки, связанной сплотностью материала в устройстве,при упрощении его конструкции.Поставленная цель достигаетсятем, что при способе измерения влажности волокнистых материалов, заключающемся в измерении электрофизических характеристик пробы материалапостоянной массы с постоянным уплотнением, пробу материала разрыхляют,перемешивают и помещают в контейнерс постоянными размерами, выравниваютпо высоте верхнюю поверхность материала и полученнь:й слой анализируемогоматериала варьирующейся толщины сжимают до получения толщины этого слояпостоянной заданной величины, послечего по измеренным электрофизическимхарактеристикам определяют искомыйпараметр.При этом устройство для измерениявлажности...
Способ определения добротности кристаллов искусственного кварца
Номер патента: 1157412
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Дубовский, Романов, Семенов, Фотченков, Шапошников
МПК: G01N 21/00
Метки: добротности, искусственного, кварца, кристаллов
...является способопределения добротности Й кристалловискусственного кварца, включающий рризмерение поглощения кристалломИК-излучения и определение добротности по результатам измерений Я .Недостатком известного способаявляется низкая точность определения р 5добротности кристалловЦель изобретения - повышение точности определения добротности кристал.лов искусственного кварца,Поставленная цель достигается темчто согласно способу определениядобротности кристаллов искусственного кварца, включающему измерениепоглощения кристаллом ИК-излучения и определение добротности крис 35талла по результатам измерений,измеряют площадь диффузной полосыпоглощения кристалла с Максимумомв области 3400 см.Независящий от температуры уровеньакустических потеоь Й...
Устройство для регистрации фотоиндуцированного послесвечения
Номер патента: 1157413
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Григорович, Конев, Мажуль, Мохорт, Слепцов, Строцкий
МПК: G01N 21/00
Метки: послесвечения, регистрации, фотоиндуцированного
.... быстродействия, надежности и упрощение конструкции,Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содержащем последовательно установленные источник света, систему светофильтров, установленный в корпус и соединенный с блоком управления блок световых затворов с рабочей камерой и фотоэлектрический. приемник излучения, соединенный с регистрирующим блоком, блок световых затворов выполнен в виде рамочной шторки с двумя неперекрывающимися окнами, расположенными на параллельных сторонах шторки, установленной подвижно в корпусе, включающем две, параллельные указанным сторонам шторки,. стенки с соосно расположенными окнами, плоскости которых перпендикулярны оптической оси устройства, причем корпус, рамочная шторка и рабочая камера...
Способ измерения разницы показателей преломления спеченных стекол
Номер патента: 1157414
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Потапова, Седов, Цветков, Щавелев
МПК: G01N 21/41
Метки: показателей, преломления, разницы, спеченных, стекол
...измерения разницы показателей, преломления спеченных стекол, одно иэ которых поглощающее, включаюшем прспускание зондирующего и опорного пучков излучения через образцы, регистрацию пучков излучения, прошедщих через образец, и иэмерение угла отклонения зондирующего пучка излучения по отношению к опорному пучку, по которому судят с разнице показателя преломления спеченных стекол, зондирующий и опорный пучки излучения пропускают через образец, изготовленный иэ слоистой заготовки спеченных поглощающего и прозрачного стекол, так что плоскость спекания образует с входной и выходной гранями образца соответственно углы о и ов интервале 0Жр.90 , причем опорный пучок излучения пропускают только через один иэ спеченных слоев, при этом угол...
Фотоэлектрическое теневое устройство
Номер патента: 1157415
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Королев, Красовский, Крастина, Матвеев, Наумов
МПК: G01N 21/41
Метки: теневое, фотоэлектрическое
...зеркального ножа 2 и кромка световоэнращающего зеркала 3 образуют световую диафрагму. Световоэвращающее зеркало 3 расположено в передней фокальной плоскости объектива 4 перпендикулярно его оптической оси, Оптический клин б устанонлен так, что ребро двугранного угла клина параллельно рабочей кромке зеркального ножа 2, а грань, соединяющая преломляюшие поверхности1574клина, расположена на оптическойоси, причем угол к между каждойиэ преломляющих граней клина иоптической осью объектива удовлетворяет условию 50 с с--- 1,,)где 1 - расстояние между оптическойосью и той границей зеркальной поверхности ножа 2 или 1 Осветовозвращающего зеркала3, которая расположена набольшем расстоянии от оптической оси,1 - фокусное расстояние объектива...
Многолучевой интерференционный эллипсометр
Номер патента: 1157416
Опубликовано: 23.05.1985
Автор: Пилипко
МПК: G01N 21/45
Метки: интерференционный, многолучевой, эллипсометр
...фотоприемнику,измеритель частоты, подключенныйк электронному ключу, и преобразователь интервал времени - напряжение,вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выходк электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем поляризаторы оптических развязоки дополнительный поляризатор установлены так, что оптические осиполяризаторов оптических развязоквзаимно ортогональны, а оптическаяось дополнительного поляризатораориентирована под углом к ним.На чертеже, изображена принципиальная схема предлагаемого устройства,Устройство содержит одночастотныйлазер 1, оптическую развязку, состоящую из поляризатора 2 и невэаимногофарадеевского вращателя 3, поляризатор 4, перестраиваемый одночастотный лазер 5 и...
Способ анализа веществ
Номер патента: 1157417
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Байдиков, Бернер, Конопелько, Кустиков, Попазов
МПК: G01N 21/61
...исследуемого вещества в анализируемой смеси и при наличии исследуемого вещества 1,2 ь ф Недостатками известного способаявляются невысокая точность анализа,определяемая точностью установкинуля, а также сложность анализа, 45связанная с необходимостью настройкинуля и фазового сдвига.Цель изобретения - повьппениеточности, чувствительности и упрощениеанализа. ЯПоставленная цель достигаетсятем, что согласно способу анализавеществ, включающему пропусканиемодулированных со сдвигом фазы двухпотоков излучения через эталонную 5и анализируемую смеси, регистрациюрезультирующих сигналов в отсутствиии при наличии исследуемого вещества в анализируемой смеси, дополнительно, регистрируют сигналы от потоков из-лучения, прошедших через эталонную и...
Устройство для измерения фотоиндуцированной хемилюминесценции биологических объектов
Номер патента: 1157418
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Белоиваненко, Владимиров
МПК: G01N 21/64
Метки: биологических, объектов, фотоиндуцированной, хемилюминесценции
...подключен к управляющему входу фотоприемника индуцированного излучения, причем выход формирователя стробирующих импульсов соединен с первыми входами логических элементов И и ИЛИ, а также с входом элемента задержки, выход которого соединен с вторыми входами логических элементов И и ИЛИ, выход логического элемента И соединен с управляющим входом основного ключевого элемента.На фиг,Показана блок-схема предлагаемого устройства; на фиг.2 - диаграммы работы формирователя стробирующих импульсов и ключевых элементов.3Устройство содержит источник 1 напряжения, источник 2 световых вспышек, оптически связанный через оптическую систему Э с фотоприемником 4 индуцированного излучения,. выход которого через ключевой элемент 5 соединен с...
Устройство для контроля жидкости в потоке на наличие механических частиц
Номер патента: 1157419
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Викторов, Денежкин, Евстратов, Орлов, Филипин
МПК: G01N 15/00, G01N 21/85
Метки: жидкости, механических, наличие, потоке, частиц
...контроли 1руемого потока,Процесс контроля предусматривает обнаружение частиц размером порядка 5 мкм и выше (с учетом величинымаксимально допустимых для инъекционных растворов размеров частиц).На практике установлено, что величиназагрязненности растворов (количествочастиц в единице объема) колеблетсяв широких пределах (в одном литрераствора в пределах 1 О -10 частиц),а ьНижний предел диапазона указывает напригодность раствора к использованиюв .медицинских целях. Применение впредлагаемом устройстве фотоприемни- фка, например фотоэлектронного умножителя, обладающего интегральнымсвойством преобразования лучистойэнергии, требует наличия в зонеконтроля одной частицы(для превильной регистрации величины и количества посторонних механических...
Способ обнаружения поверхностных дефектов
Номер патента: 1157420
Опубликовано: 23.05.1985
Автор: Сумин
МПК: G01N 21/91
Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных
...изделия и визу ально-оптического контроля 23,Недостатком известного способа является ограниченность его технологич ческих возможностей контролем только 55 сквозных трещин в непористых материалах и только по горизонтальным поверхностям изделий. 20 2Цель изобретения - обнаружение дефектов в пористых материалах иупрощение способа.Укаэанная цель достигается тем,что согласно способу обнаружения поверхностньм. дефектов путем нанесения на изделие пенетранта, нагрева его и визуально-оптического контроля, в качестве пенетранта используют парафин который нагревают до расплавления, выдерживают в нем изделие и, вынув, охлаждают изделие до застывания пенетранта, а о дефектах. судят по наличию белых линий или участков с мато" вым оттенком.П р...
Способ определения степени сшивки молекул полимеров
Номер патента: 1157421
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 23/00
Метки: молекул, полимеров, степени, сшивки
...сквозь исследуемый образец определяют располагая исследуемый образец в центральной части медного посеребренного волновода длиной 200 мм, прямоугольного сечения 12 х 28 мм. Образец ориентируется так, что он перекрывает все сечение волновода. Величины Ю и ч изиеряют с помощью ваттметра поглощающей мощности МЗ. Источником СВЧ- излучения служат генераторы ГЗА, ГЗи ГЗ. Затем определяют сте 1157421ЗО пень сшивки этих же,образцов методом экстрагирования в этиловом спирте в аппарате Сокслета в течение8 ч. Результаты измерений для эталонных образцов приведены в табл.1. 5Используя полученные данные, можно построить графическую зависимость 3 ев 2(К) или апроксимироватьполученные экспериментальные данныесоответствующими управлениями,г 1 риведены...
Автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр
Номер патента: 1157422
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Асадчиков, Бухардинов, Дембо, Козелихин, Могилевский, Слепаков, Фейгин, Шилин
МПК: G01N 23/201
Метки: автоматический, дифрактометр, малоугловой, рентгеновский
...щения первой .поворотной платформы, рычажный привод и муфту сцепления с первой новорбтной платформой, причем держатель образца снабжен кронштейном для соединения его с второй М поворотной платформой.Введение второй поворотной плат-формы с червячным приводом позволяет 2повысить разрешающую способность устройства эа счет повышения точностиугловой установки детектора, а жест.1кое еоединение держателя образцас второй платформой с помощью кронштейна позволяет автоматически вращать образец вокруг вертикальной осис одновременным поворотом детекторавокруг той же оси, что расширяетфункциональные возможности прибора.На чертеже представлен предлагае-.мый дифрактометр.Днфрактометр включает источникизлучения, коллиматор 2 первичногопучка, неподвижную...
Способ определения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков
Номер патента: 1157423
Опубликовано: 23.05.1985
Автор: Гейфман
МПК: G01N 24/10
Метки: поляризационных, сегнетоэлектриков, характеристик
...измерение интенсивностей линий спектра ЭПР исследуемого образца при воз" 50 действии электрического поля, исследуемый образец переводят в сегнетоэлектрическую фазу и измеряют в ней отношение интенсивностей линий спектра ЭПР, помещают дополнительный образец, аналогичный исследуемому, в изменяющееся электрическое поле, одновременно измеряют интенсивности линий спектра ЭПР дополнительного иисследуемого образцовувеличиваютнапряженность электрического полядо значения, при котором отношенияинтенсивностей линий спектра ЭПРдополнительного и исследуемого образцов совпадают, и по величине напряженности электрического .поля определяют величину спонтанной поляризации исследуемого образца,Кроме того, перевод исследуемогообразца в...
Гомодинный радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса
Номер патента: 1157424
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Линев, Мочальский, Муравский, Фурса
МПК: G01N 24/10
Метки: гомодинный, парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного
...ЭПР.3 15 СВЧ-детектор 8, соединенный с выходом гомодинного канала 3 и третьим входом циркулятора 4, блок 9 регистрации и блок 10 автоматической подстройки частоты и фазы, подключен, ные к выходу СВЧ-детектора 8, блок 11 управления магнитным полем соединенный с электромагнитом 7, электронный фазовращатель 12, содержащий дополнительный циркулятор 13, вклю О ченный последовательно первым и третьим входами в гомодинный ка нал 3, и резонансную диафрагму 14 с р-д-п-диодом, подключенную СВЧ- входом к второму входу циркулятора 15 13, а выходомк четвертьволновому короткоэамкнутому отрезку волновода 15, блок 16 задания Фазы и схему 7 выборки-хранения, подключенные управляющими входами к бло ку 11 управления магнитным полем, а выходами через...
Способ определения содержания компонентов в композиционных полимерных материалах
Номер патента: 1157425
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 25/02
Метки: композиционных, компонентов, материалах, полимерных, содержания
...при этой температуре до прекращения изменения массы образца, после чего производят их дальнейший нагрев до полного прекращения потери массы и по полученным термогравиметрическим кривым, совмещенным на одном графике, определяют начальное содержание компонентов. Уравнение баланса массы для любого значения температуры внутри тем1157пературного интервала разложения всех трех образцов имеет вид11 х + 1 с(1-х) = "где х - содержание наполнителя;И - текущее значение относительнной массы наполнителя;Ус- то же, связующего;Ук- то же композиционного материала.Отсюда начальное содержание напол О нителяИ -Ис Ах(1)От.е. искомая. величина находится иэ совмещенного графика термогравимет рических кривых как отношение расстояния А по иэотерме между...
Способ анализа термически неустойчивых и высококипящих простых виниловых эфиров
Номер патента: 1157426
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, виниловых, высококипящих, неустойчивых, простых, термически, эфиров
...образом, 55В металлический стакан дифференциального микракалориметра типа Кальне, например ДАК"1 Л, помещают 2-4 г трифторэтанола и запаянную стеклянную ампулу с 0,1-0,2 г анализируемой пробы. Стакан помещают в ячейку калориметра и термостатируют при 30-60 С. По установлении теплового равновесия ампулу разбивают, приводя пробу в контакт с трифторэтанолом. Теплота, выделяющаяся в процессе химического взаимодействия реагентов, вызывает изменение температурного хода калориметра, регистрируемое в виде кривой на ленте самописца потенциометра. Ход кривой, отвечающий тепловыделению, дигитализи-руется посредством прецизионного интегратора типа ИПс выводом данных расчета площади под кривой тепловыделения на самописец.Площадь, описываемая...
Способ определения внутренних напряжений в материалах
Номер патента: 1157427
Опубликовано: 23.05.1985
Автор: Букатый
МПК: G01N 25/16
Метки: внутренних, материалах, напряжений
...в деформированном и недеФормированном состояниях, образцыматериала нагревают, измеряют температурные зависимости температурногокоэффициента линейного или объемногорасширения и судят об искомой величине, "опоставляя результаты испытанийе50В качестве материала в недеформированном состоянии используютиспытуемый материал, подвергнутый отжигу.Способ осуществляют следующим 5 образом.Иэ материала, из которого выполнена контролируемая деталь, изготовляют два образца, один из них подвергают отжигу до полного снятиявнутренних напряжений, Размеры и форма образцов должны удовлетворятьтребованиям оборудования, с помощьюкоторого будут проводиться дилатометрические исследования. Образцыматериала нагревают и определяюттемпературный коэффиияент...
Устройство для автоматического определения коэффициента теплопроводности жидкостей и газов
Номер патента: 1157428
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Акимов, Булатова, Габитов, Тарзиманов
МПК: G01N 25/18
Метки: газов, жидкостей, коэффициента, теплопроводности
...измерениями содержит логический элемент 8 И, восемь входов которого соединены с восемью входами блока, один выход - с входами двух элементов И, выход первого элемента И соединен с третьим выходом блока, выход второ-го - с вторым выходом блока и одним входом формирователя, выход последнего - с вторым входом триггера, первый вход которого соединен с девятым входом блока, а первый и второй выходы - с первым и четвертым выходами блока. Блок синхронизации содержит три формирователя, входы двух из них соединены с четвертым входом блока, а выходы - с первым входом триггера, второй вход которага соединен с выходом третьего формирователя, вход которого соединен с первым входом блока, выход триггера соединен с первым входом элемента ЗИ, второй...
Способ определения коэффициента температуропроводности электропроводящих тел
Номер патента: 1157430
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 25/18
Метки: коэффициента, тел, температуропроводности, электропроводящих
..." - магнитная постоянная,Ом с/м.Изменение электросопротивления проводника при небольших 1,порядка нескольких градусов , иэменениях температуры пропорционально изменению7430 зтемпературы, Вследствие этого электросопротивление К постоянному токуопределяется среднеобъемной температурой проводника, а активное электросопротивление Е переменному токувысокой частоты - температурой тонкого поверхностного слоя из-эа скинэффекта. Измерение сопротивления Ки одновременно сдвига фаз,между током и напряжением высокой частотыдает воэможность для цилиндрическихобразцов ( при монотонном нагреве ихс поверхности внешним радиальнымисточником тепла ) определить перепадмежду температурой тонкого поверхностного слоя (скин-слоя ) и среднеобъемной...
Кондуктометрический автогенератор
Номер патента: 1157432
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Тимушкин, Щеголеватых, Ястребов
МПК: G01N 27/02
Метки: автогенератор, кондуктометрический
...и база которого соединены с базой и коллектором транзистора 4 соответственно, эмиттер которого через нагруэ 432 3ку связан с общей шиной источникапитания Е и выходом устройства 5.Соединение транзистора 3 с тран"зистором 4 обеспечивает положительнуюобратную связь. Реактивным элементом,дающим задержку электрического сигнала, является эквивалентное сопротивление кондуктометрической ячейки,т.е. параметры автоколебаний опреде"ляются параметрами кондуктометрической ячейки 1. Для обеспечения стабильности колебаний автогенератора в широком диапазоне изменения концентрациивеществ используется диод 2, включаемый между шиной источника питания иточкой соединения базы транзистора3 с коллектором транзистора 4. Нелинейность этого диода обеспечивает...
Кондуктометрический датчик
Номер патента: 1157433
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Левцов, Платонов, Попов, Трохан
МПК: G01N 27/02
Метки: датчик, кондуктометрический
...малом локальном объеме.вТолщина покрытия 1"100 мкм позволя ет прсводить измерения пульсаций температуры до нескольких сотен герц. Покрытие толщиной менеемкм имеет низкую прочность, нанесение его на поверхность внутреннего электрода свя- звнО с большими технологическими трудностями. Толщина покрытия более 100 мкм имеет большую. тепловую инер" цию, поэтому использование такого по 1крытия нецелесообразно из-за невозмож 433 гности регистрации высокочастотных пульсаций температуры.На чертеже изображена конструкция датчика.Кондуктометрический датчик состоит из коаксиально установленных внешнего электрода 1, центрального электрода 2, на выступающую поверхность которого нанесен слой коррозионно-стойкого металла 3, изолятора-наполнителя...
Способ измерения влажности материалов
Номер патента: 1157434
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Бобырин, Добрыдина, Протопопов, Феофилов
МПК: G01N 27/02
Метки: влажности
...чувствительности прибора вследствие большой по" логости характеристики на измеряемом участке.В этом случае, изменив полярность электродов,влагу перемещают в зону измерения до тех пор, пока она не достигнет заданного значения, фикси" руемого влагомером, и также по времени перемещения судят о первоначаль" ной влажности материала в целом.Таким образом, предлагаемый способ пригоден как для переувлажненных материалов, так и материалов с малой влажностью, где применять обычные электрические методы измерения эатруд" нительно, т.е. изобретение .обеспечивает возможность расширения диапазона измерения влажности в обе стороны,При этом свойства образца практически не нарушаются, так, как явление электроосмоса имеет место при маломз 115 токе "1...
Устройство для измерения удельной электропроводности жидкости
Номер патента: 1157435
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Аллахвердов, Измайлов, Исмаилов, Калинников, Корчебашев, Рогов
МПК: G01N 27/02
Метки: жидкости, удельной, электропроводности
...генераторсинусоидального напряжения, подключенный к входу первичного преобразователя, вьмод которого через функцио 40нальный преобразователь соединен сизмерителем. Первичный преобразователь выполнен в виде трехэлектроднойячейки, функциональный преобразователь содержит электронную следящую45систему динамического преобразования величины удельной электропроводности.в напряжение переменного токаи нормирующий усилитель, имеющий выход на измеритель. Особенности конст50рукции кондуктометрической ячейкив сочетании с электронной следящейсистемой позволяют исключить влияниенестабильного переходного сопротивления на границе электрод - жидкостьи повыситьКПД до 303 2.55 Поставленная цель достигается тем,что в устройстве для измерения...
Устройство для определения удельного электрического сопротивления порошковых материалов
Номер патента: 1157436
Опубликовано: 23.05.1985
Авторы: Краев, Крыжова, Райнус, Черный
МПК: G01N 27/02
Метки: порошковых, сопротивления, удельного, электрического
...мере на высоту электродов, производят определения электрического сопротивления слоя Г 21. Недостатком известного устройстваявляется то, что из-эа осаждения твердых частиц на торцовой поверхностицентрального электрода возникает контакт между электродами по поверхностиматериала, а не по его объему, гдесопротивление вьппе, что сказываетсяна точности измерений. Кроме того,при отборе пробы трудно добиться того, чтобы поверхность слоя пыли невыходила за пределы электродов. То"ки, протекающие через материал, оченьмалы и распределяются по всему объему, что затрудняет использованиерасчетных формул.Цель изобретения - овьппение точности определения удельного электрического сопротивления,Эта цель достигается тем, что вустройстве для определения...
Емкостный первичный преобразователь
Номер патента: 1157437
Опубликовано: 23.05.1985
МПК: G01N 27/22
...для жесткой фиксациикрьппки"электрода 6 относительно дискового электрода 3, что обеспечивает постоянство электрического завора между ними, и для отделения . крышки-электрода 6 от затвердевшейисследуемой массы 9 по окончании 437 4процесса измерения. Оно состоит из наружной скобы 16 с тремя эахватамь17, внутри которой в осевом направлении с помощью специального винта18 перемещается внутренняя скоба 19 с тремя захватами 20, фиксируемаяот пр рота вокру н штифтом 21, размещенным на одном из захватов 17 скобы 16 и взаимодействующим с пазом на сопрягаемой захвате 20 скобы9.Специальный ключ.15 (фиг. 3)предназначен для сборки, разборки, помещения и извлечения первичного преобразователя .из термостатированного объема. При этом оператор...