G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

Страница 1129

Способ градуировки вискозиметров

Загрузка...

Номер патента: 1157406

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Ставров

МПК: G01N 11/14

Метки: вискозиметров, градуировки

...и т.п.), и известных схем кинематн157406 3 1ческой связи (рычагов, зубчатых,цепных и ременных передач и т.п.) .На фиг1 изображена конструкция устройства для градуировкиротационного вискоэиметра, вариант; на фиг.2 - то же, с плоскопараллельными плитами.Устройство содержит подвижныйизмерительный элемент 1 градуируемого визкозиметра, неподвижный измерительный элемент 2 градуируемоговискозиметра, сосуд 3 переменногообъема, подвижный элемент 4, изменяющий объем, выполненный в видепоршня, калиброванное отверстие 5в сосуде 3.П р и м е р 1, При градуировкеротационного вискозимера по предложенному способу гидравлическоесопротивление образцовой ющкости,эквивалентное гидравлическому сопротивлению испытываемого вязкоговещества, создают в эталонном...

Устройство для определения параметров массопереноса газа в жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1157407

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Большинский, Колосков, Лапченко, Литвинов, Первушин

МПК: G01N 13/00

Метки: газа, жидкости, массопереноса, параметров

...с очень тонкими слоями жидкости. При практических измерениях достаточно достичь условий, когда величины Ьи Р имеют один порядок. При этом результаты измерений при двух значениях жидких слоев, когда Х ( соотносятся следующим образом(13) 7 57407 8Иэ условия равновесия, когда в систе- Где и " концентрация исследуемдгоме отсутствуют токи частиц, следует, компонента в газовой полосй 1 т 1 й 1 2что поток через границу 1 =Бр - У и =рти мгв - конЦентРаЦиЯ Растворенногоция растворенного газа в жидкости компонента в потоке аидкосопределяется величиной ти м.р ФИ 11( иЕсли при фиксированном .1 провестии и 11 - гЕф2 рюенп 1 р ( = ) . (11) измеРения скорости изменения объема21 г 1 газовой полости при ее растворенииСледовательно, для определения 1 О в...

Устройство для измерения поверхностного натяжения жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1157408

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Безрядин, Павлова, Сотников, Шенфельд, Элькинд

МПК: G01N 13/02

Метки: жидкости, натяжения, поверхностного

...цифровыми устройствами. Регистрирующее устройство 39 снабжено счетчиком 41, регистром 42 результата, .блоком 43 задержки и регистром 44 памяти, соединенным с блоком 45 индикации, а также регист" ром 46 тарыя с кнопкой 47 ввода тары и вычитающим счетчиком 48, соединенным соответственно с регистрами результата 42 н памяти 44 регистрирующего устройства 39.Блок 40 регистрации скорости изменения нагрузки снабжен счетчиком 49, регистром 50 результата, реверсивным счетчиком 51, блоком 52 задержки и регистром 53 производной, выход 54 которого соединен с блоком 55 управления, двигателя 24, имеющего, кроме того, кнопку 56 ручной остановки.Делитель 57 служит для подачи частотыоо1,Кгде К и К - коэффициенты деления,на регистры 42 и 50...

Способ определения силы трения в подвижном сопряжении при заедании

Загрузка...

Номер патента: 1157409

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Заблоцкий, Лозовский, Павлова, Рябенко

МПК: G01N 19/02

Метки: заедании, подвижном, силы, сопряжении, трения

...фиг.1 и 2 показаны форма ихарактерные размера задира и эоныН, в которых измеряется микротвер дость материала в задире; на фиг. 35 - три этапа схемы развития эаедания в сопряжении с фиксированнымзазором и возникающие при этом силы;на фиг.б - характер изменения ор мальных сил (а) и сил тренияна трех этапах развития заеданияв сопряжении с Фиксированным зазором.Способ осуществляют следующим 50 образом.Определяется площадь нароста нзадире, коэффициент трения пматериалов деталей сопряжения в условиях, близких к реальным условиям 55 работы, но при отсутствии заеданиясмогут быть использованы аналогичныедетали или образцы, имеющие иалогичное состояние поверхности, или 3 1157409Изобретение относится к испытаниямматериалов трением и может...

Способ определения качества сцепления покрытия с подложкой

Загрузка...

Номер патента: 1157410

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Кордит, Якубович

МПК: G01N 19/04

Метки: качества, подложкой, покрытия, сцепления

...цель достигается тем,Я что согласно способу определения качества сцепления покрытия с подлож- коВ, эаключакщемуся в том, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой долокального отслоения покрытия и измеряютпараметр, характеризующий качество сцепления, нагрузку на инден"тор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а в качествепараметров регистрируют сигналы вкус.тической эмиссии при вдавливании индейтора в подложку и покрытие, посоотношению максимальных амплитудкоторых судят о качестве сцепленияпокрытия с подложкой.Способ осуществляют следующим образом.В поверхность подложки, предназначенной для напыления на нее покрытия, вдавливают под постоянной наг"рузкой...

Способ измерения влажности волокнистых материалов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1157411

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Смирнов, Федоров

МПК: G01N 19/10

Метки: влажности, волокнистых

...измерения влажности засчет устранения ошибки, связанной сплотностью материала в устройстве,при упрощении его конструкции.Поставленная цель достигаетсятем, что при способе измерения влажности волокнистых материалов, заключающемся в измерении электрофизических характеристик пробы материалапостоянной массы с постоянным уплотнением, пробу материала разрыхляют,перемешивают и помещают в контейнерс постоянными размерами, выравниваютпо высоте верхнюю поверхность материала и полученнь:й слой анализируемогоматериала варьирующейся толщины сжимают до получения толщины этого слояпостоянной заданной величины, послечего по измеренным электрофизическимхарактеристикам определяют искомыйпараметр.При этом устройство для измерениявлажности...

Способ определения добротности кристаллов искусственного кварца

Загрузка...

Номер патента: 1157412

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Дубовский, Романов, Семенов, Фотченков, Шапошников

МПК: G01N 21/00

Метки: добротности, искусственного, кварца, кристаллов

...является способопределения добротности Й кристалловискусственного кварца, включающий рризмерение поглощения кристалломИК-излучения и определение добротности по результатам измерений Я .Недостатком известного способаявляется низкая точность определения р 5добротности кристалловЦель изобретения - повышение точности определения добротности кристал.лов искусственного кварца,Поставленная цель достигается темчто согласно способу определениядобротности кристаллов искусственного кварца, включающему измерениепоглощения кристаллом ИК-излучения и определение добротности крис 35талла по результатам измерений,измеряют площадь диффузной полосыпоглощения кристалла с Максимумомв области 3400 см.Независящий от температуры уровеньакустических потеоь Й...

Устройство для регистрации фотоиндуцированного послесвечения

Загрузка...

Номер патента: 1157413

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Григорович, Конев, Мажуль, Мохорт, Слепцов, Строцкий

МПК: G01N 21/00

Метки: послесвечения, регистрации, фотоиндуцированного

.... быстродействия, надежности и упрощение конструкции,Поставленная цель достигается тем, что в устройстве, содержащем последовательно установленные источник света, систему светофильтров, установленный в корпус и соединенный с блоком управления блок световых затворов с рабочей камерой и фотоэлектрический. приемник излучения, соединенный с регистрирующим блоком, блок световых затворов выполнен в виде рамочной шторки с двумя неперекрывающимися окнами, расположенными на параллельных сторонах шторки, установленной подвижно в корпусе, включающем две, параллельные указанным сторонам шторки,. стенки с соосно расположенными окнами, плоскости которых перпендикулярны оптической оси устройства, причем корпус, рамочная шторка и рабочая камера...

Способ измерения разницы показателей преломления спеченных стекол

Загрузка...

Номер патента: 1157414

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Потапова, Седов, Цветков, Щавелев

МПК: G01N 21/41

Метки: показателей, преломления, разницы, спеченных, стекол

...измерения разницы показателей, преломления спеченных стекол, одно иэ которых поглощающее, включаюшем прспускание зондирующего и опорного пучков излучения через образцы, регистрацию пучков излучения, прошедщих через образец, и иэмерение угла отклонения зондирующего пучка излучения по отношению к опорному пучку, по которому судят с разнице показателя преломления спеченных стекол, зондирующий и опорный пучки излучения пропускают через образец, изготовленный иэ слоистой заготовки спеченных поглощающего и прозрачного стекол, так что плоскость спекания образует с входной и выходной гранями образца соответственно углы о и ов интервале 0Жр.90 , причем опорный пучок излучения пропускают только через один иэ спеченных слоев, при этом угол...

Фотоэлектрическое теневое устройство

Загрузка...

Номер патента: 1157415

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Королев, Красовский, Крастина, Матвеев, Наумов

МПК: G01N 21/41

Метки: теневое, фотоэлектрическое

...зеркального ножа 2 и кромка световоэнращающего зеркала 3 образуют световую диафрагму. Световоэвращающее зеркало 3 расположено в передней фокальной плоскости объектива 4 перпендикулярно его оптической оси, Оптический клин б устанонлен так, что ребро двугранного угла клина параллельно рабочей кромке зеркального ножа 2, а грань, соединяющая преломляюшие поверхности1574клина, расположена на оптическойоси, причем угол к между каждойиэ преломляющих граней клина иоптической осью объектива удовлетворяет условию 50 с с--- 1,,)где 1 - расстояние между оптическойосью и той границей зеркальной поверхности ножа 2 или 1 Осветовозвращающего зеркала3, которая расположена набольшем расстоянии от оптической оси,1 - фокусное расстояние объектива...

Многолучевой интерференционный эллипсометр

Загрузка...

Номер патента: 1157416

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Пилипко

МПК: G01N 21/45

Метки: интерференционный, многолучевой, эллипсометр

...фотоприемнику,измеритель частоты, подключенныйк электронному ключу, и преобразователь интервал времени - напряжение,вход которого подключен к формирователю интервалов времени, а выходк электронному ключу и одночастотному перестраиваемому лазеру, причем поляризаторы оптических развязоки дополнительный поляризатор установлены так, что оптические осиполяризаторов оптических развязоквзаимно ортогональны, а оптическаяось дополнительного поляризатораориентирована под углом к ним.На чертеже, изображена принципиальная схема предлагаемого устройства,Устройство содержит одночастотныйлазер 1, оптическую развязку, состоящую из поляризатора 2 и невэаимногофарадеевского вращателя 3, поляризатор 4, перестраиваемый одночастотный лазер 5 и...

Способ анализа веществ

Загрузка...

Номер патента: 1157417

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Байдиков, Бернер, Конопелько, Кустиков, Попазов

МПК: G01N 21/61

Метки: анализа, веществ

...исследуемого вещества в анализируемой смеси и при наличии исследуемого вещества 1,2 ь ф Недостатками известного способаявляются невысокая точность анализа,определяемая точностью установкинуля, а также сложность анализа, 45связанная с необходимостью настройкинуля и фазового сдвига.Цель изобретения - повьппениеточности, чувствительности и упрощениеанализа. ЯПоставленная цель достигаетсятем, что согласно способу анализавеществ, включающему пропусканиемодулированных со сдвигом фазы двухпотоков излучения через эталонную 5и анализируемую смеси, регистрациюрезультирующих сигналов в отсутствиии при наличии исследуемого вещества в анализируемой смеси, дополнительно, регистрируют сигналы от потоков из-лучения, прошедших через эталонную и...

Устройство для измерения фотоиндуцированной хемилюминесценции биологических объектов

Загрузка...

Номер патента: 1157418

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Белоиваненко, Владимиров

МПК: G01N 21/64

Метки: биологических, объектов, фотоиндуцированной, хемилюминесценции

...подключен к управляющему входу фотоприемника индуцированного излучения, причем выход формирователя стробирующих импульсов соединен с первыми входами логических элементов И и ИЛИ, а также с входом элемента задержки, выход которого соединен с вторыми входами логических элементов И и ИЛИ, выход логического элемента И соединен с управляющим входом основного ключевого элемента.На фиг,Показана блок-схема предлагаемого устройства; на фиг.2 - диаграммы работы формирователя стробирующих импульсов и ключевых элементов.3Устройство содержит источник 1 напряжения, источник 2 световых вспышек, оптически связанный через оптическую систему Э с фотоприемником 4 индуцированного излучения,. выход которого через ключевой элемент 5 соединен с...

Устройство для контроля жидкости в потоке на наличие механических частиц

Загрузка...

Номер патента: 1157419

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Викторов, Денежкин, Евстратов, Орлов, Филипин

МПК: G01N 15/00, G01N 21/85

Метки: жидкости, механических, наличие, потоке, частиц

...контроли 1руемого потока,Процесс контроля предусматривает обнаружение частиц размером порядка 5 мкм и выше (с учетом величинымаксимально допустимых для инъекционных растворов размеров частиц).На практике установлено, что величиназагрязненности растворов (количествочастиц в единице объема) колеблетсяв широких пределах (в одном литрераствора в пределах 1 О -10 частиц),а ьНижний предел диапазона указывает напригодность раствора к использованиюв .медицинских целях. Применение впредлагаемом устройстве фотоприемни- фка, например фотоэлектронного умножителя, обладающего интегральнымсвойством преобразования лучистойэнергии, требует наличия в зонеконтроля одной частицы(для превильной регистрации величины и количества посторонних механических...

Способ обнаружения поверхностных дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1157420

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Сумин

МПК: G01N 21/91

Метки: дефектов, обнаружения, поверхностных

...изделия и визу ально-оптического контроля 23,Недостатком известного способа является ограниченность его технологич ческих возможностей контролем только 55 сквозных трещин в непористых материалах и только по горизонтальным поверхностям изделий. 20 2Цель изобретения - обнаружение дефектов в пористых материалах иупрощение способа.Укаэанная цель достигается тем,что согласно способу обнаружения поверхностньм. дефектов путем нанесения на изделие пенетранта, нагрева его и визуально-оптического контроля, в качестве пенетранта используют парафин который нагревают до расплавления, выдерживают в нем изделие и, вынув, охлаждают изделие до застывания пенетранта, а о дефектах. судят по наличию белых линий или участков с мато" вым оттенком.П р...

Способ определения степени сшивки молекул полимеров

Загрузка...

Номер патента: 1157421

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Злотников, Мельников

МПК: G01N 23/00

Метки: молекул, полимеров, степени, сшивки

...сквозь исследуемый образец определяют располагая исследуемый образец в центральной части медного посеребренного волновода длиной 200 мм, прямоугольного сечения 12 х 28 мм. Образец ориентируется так, что он перекрывает все сечение волновода. Величины Ю и ч изиеряют с помощью ваттметра поглощающей мощности МЗ. Источником СВЧ- излучения служат генераторы ГЗА, ГЗи ГЗ. Затем определяют сте 1157421ЗО пень сшивки этих же,образцов методом экстрагирования в этиловом спирте в аппарате Сокслета в течение8 ч. Результаты измерений для эталонных образцов приведены в табл.1. 5Используя полученные данные, можно построить графическую зависимость 3 ев 2(К) или апроксимироватьполученные экспериментальные данныесоответствующими управлениями,г 1 риведены...

Автоматический малоугловой рентгеновский дифрактометр

Загрузка...

Номер патента: 1157422

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Асадчиков, Бухардинов, Дембо, Козелихин, Могилевский, Слепаков, Фейгин, Шилин

МПК: G01N 23/201

Метки: автоматический, дифрактометр, малоугловой, рентгеновский

...щения первой .поворотной платформы, рычажный привод и муфту сцепления с первой новорбтной платформой, причем держатель образца снабжен кронштейном для соединения его с второй М поворотной платформой.Введение второй поворотной плат-формы с червячным приводом позволяет 2повысить разрешающую способность устройства эа счет повышения точностиугловой установки детектора, а жест.1кое еоединение держателя образцас второй платформой с помощью кронштейна позволяет автоматически вращать образец вокруг вертикальной осис одновременным поворотом детекторавокруг той же оси, что расширяетфункциональные возможности прибора.На чертеже представлен предлагае-.мый дифрактометр.Днфрактометр включает источникизлучения, коллиматор 2 первичногопучка, неподвижную...

Способ определения поляризационных характеристик сегнетоэлектриков

Загрузка...

Номер патента: 1157423

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Гейфман

МПК: G01N 24/10

Метки: поляризационных, сегнетоэлектриков, характеристик

...измерение интенсивностей линий спектра ЭПР исследуемого образца при воз" 50 действии электрического поля, исследуемый образец переводят в сегнетоэлектрическую фазу и измеряют в ней отношение интенсивностей линий спектра ЭПР, помещают дополнительный образец, аналогичный исследуемому, в изменяющееся электрическое поле, одновременно измеряют интенсивности линий спектра ЭПР дополнительного иисследуемого образцовувеличиваютнапряженность электрического полядо значения, при котором отношенияинтенсивностей линий спектра ЭПРдополнительного и исследуемого образцов совпадают, и по величине напряженности электрического .поля определяют величину спонтанной поляризации исследуемого образца,Кроме того, перевод исследуемогообразца в...

Гомодинный радиоспектрометр электронного парамагнитного резонанса

Загрузка...

Номер патента: 1157424

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Линев, Мочальский, Муравский, Фурса

МПК: G01N 24/10

Метки: гомодинный, парамагнитного, радиоспектрометр, резонанса, электронного

...ЭПР.3 15 СВЧ-детектор 8, соединенный с выходом гомодинного канала 3 и третьим входом циркулятора 4, блок 9 регистрации и блок 10 автоматической подстройки частоты и фазы, подключен, ные к выходу СВЧ-детектора 8, блок 11 управления магнитным полем соединенный с электромагнитом 7, электронный фазовращатель 12, содержащий дополнительный циркулятор 13, вклю О ченный последовательно первым и третьим входами в гомодинный ка нал 3, и резонансную диафрагму 14 с р-д-п-диодом, подключенную СВЧ- входом к второму входу циркулятора 15 13, а выходомк четвертьволновому короткоэамкнутому отрезку волновода 15, блок 16 задания Фазы и схему 7 выборки-хранения, подключенные управляющими входами к бло ку 11 управления магнитным полем, а выходами через...

Способ определения содержания компонентов в композиционных полимерных материалах

Загрузка...

Номер патента: 1157425

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Венгер, Фрайман

МПК: G01N 25/02

Метки: композиционных, компонентов, материалах, полимерных, содержания

...при этой температуре до прекращения изменения массы образца, после чего производят их дальнейший нагрев до полного прекращения потери массы и по полученным термогравиметрическим кривым, совмещенным на одном графике, определяют начальное содержание компонентов. Уравнение баланса массы для любого значения температуры внутри тем1157пературного интервала разложения всех трех образцов имеет вид11 х + 1 с(1-х) = "где х - содержание наполнителя;И - текущее значение относительнной массы наполнителя;Ус- то же, связующего;Ук- то же композиционного материала.Отсюда начальное содержание напол О нителяИ -Ис Ах(1)От.е. искомая. величина находится иэ совмещенного графика термогравимет рических кривых как отношение расстояния А по иэотерме между...

Способ анализа термически неустойчивых и высококипящих простых виниловых эфиров

Загрузка...

Номер патента: 1157426

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Сусоров, Сухинин

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, виниловых, высококипящих, неустойчивых, простых, термически, эфиров

...образом, 55В металлический стакан дифференциального микракалориметра типа Кальне, например ДАК"1 Л, помещают 2-4 г трифторэтанола и запаянную стеклянную ампулу с 0,1-0,2 г анализируемой пробы. Стакан помещают в ячейку калориметра и термостатируют при 30-60 С. По установлении теплового равновесия ампулу разбивают, приводя пробу в контакт с трифторэтанолом. Теплота, выделяющаяся в процессе химического взаимодействия реагентов, вызывает изменение температурного хода калориметра, регистрируемое в виде кривой на ленте самописца потенциометра. Ход кривой, отвечающий тепловыделению, дигитализи-руется посредством прецизионного интегратора типа ИПс выводом данных расчета площади под кривой тепловыделения на самописец.Площадь, описываемая...

Способ определения внутренних напряжений в материалах

Загрузка...

Номер патента: 1157427

Опубликовано: 23.05.1985

Автор: Букатый

МПК: G01N 25/16

Метки: внутренних, материалах, напряжений

...в деформированном и недеФормированном состояниях, образцыматериала нагревают, измеряют температурные зависимости температурногокоэффициента линейного или объемногорасширения и судят об искомой величине, "опоставляя результаты испытанийе50В качестве материала в недеформированном состоянии используютиспытуемый материал, подвергнутый отжигу.Способ осуществляют следующим 5 образом.Иэ материала, из которого выполнена контролируемая деталь, изготовляют два образца, один из них подвергают отжигу до полного снятиявнутренних напряжений, Размеры и форма образцов должны удовлетворятьтребованиям оборудования, с помощьюкоторого будут проводиться дилатометрические исследования. Образцыматериала нагревают и определяюттемпературный коэффиияент...

Устройство для автоматического определения коэффициента теплопроводности жидкостей и газов

Загрузка...

Номер патента: 1157428

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Акимов, Булатова, Габитов, Тарзиманов

МПК: G01N 25/18

Метки: газов, жидкостей, коэффициента, теплопроводности

...измерениями содержит логический элемент 8 И, восемь входов которого соединены с восемью входами блока, один выход - с входами двух элементов И, выход первого элемента И соединен с третьим выходом блока, выход второ-го - с вторым выходом блока и одним входом формирователя, выход последнего - с вторым входом триггера, первый вход которого соединен с девятым входом блока, а первый и второй выходы - с первым и четвертым выходами блока. Блок синхронизации содержит три формирователя, входы двух из них соединены с четвертым входом блока, а выходы - с первым входом триггера, второй вход которага соединен с выходом третьего формирователя, вход которого соединен с первым входом блока, выход триггера соединен с первым входом элемента ЗИ, второй...

Способ определения коэффициента температуропроводности электропроводящих тел

Загрузка...

Номер патента: 1157430

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Гуревич, Носарь

МПК: G01N 25/18

Метки: коэффициента, тел, температуропроводности, электропроводящих

..." - магнитная постоянная,Ом с/м.Изменение электросопротивления проводника при небольших 1,порядка нескольких градусов , иэменениях температуры пропорционально изменению7430 зтемпературы, Вследствие этого электросопротивление К постоянному токуопределяется среднеобъемной температурой проводника, а активное электросопротивление Е переменному токувысокой частоты - температурой тонкого поверхностного слоя из-эа скинэффекта. Измерение сопротивления Ки одновременно сдвига фаз,между током и напряжением высокой частотыдает воэможность для цилиндрическихобразцов ( при монотонном нагреве ихс поверхности внешним радиальнымисточником тепла ) определить перепадмежду температурой тонкого поверхностного слоя (скин-слоя ) и среднеобъемной...

Кондуктометрический автогенератор

Загрузка...

Номер патента: 1157432

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Тимушкин, Щеголеватых, Ястребов

МПК: G01N 27/02

Метки: автогенератор, кондуктометрический

...и база которого соединены с базой и коллектором транзистора 4 соответственно, эмиттер которого через нагруэ 432 3ку связан с общей шиной источникапитания Е и выходом устройства 5.Соединение транзистора 3 с тран"зистором 4 обеспечивает положительнуюобратную связь. Реактивным элементом,дающим задержку электрического сигнала, является эквивалентное сопротивление кондуктометрической ячейки,т.е. параметры автоколебаний опреде"ляются параметрами кондуктометрической ячейки 1. Для обеспечения стабильности колебаний автогенератора в широком диапазоне изменения концентрациивеществ используется диод 2, включаемый между шиной источника питания иточкой соединения базы транзистора3 с коллектором транзистора 4. Нелинейность этого диода обеспечивает...

Кондуктометрический датчик

Загрузка...

Номер патента: 1157433

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Левцов, Платонов, Попов, Трохан

МПК: G01N 27/02

Метки: датчик, кондуктометрический

...малом локальном объеме.вТолщина покрытия 1"100 мкм позволя ет прсводить измерения пульсаций температуры до нескольких сотен герц. Покрытие толщиной менеемкм имеет низкую прочность, нанесение его на поверхность внутреннего электрода свя- звнО с большими технологическими трудностями. Толщина покрытия более 100 мкм имеет большую. тепловую инер" цию, поэтому использование такого по 1крытия нецелесообразно из-за невозмож 433 гности регистрации высокочастотных пульсаций температуры.На чертеже изображена конструкция датчика.Кондуктометрический датчик состоит из коаксиально установленных внешнего электрода 1, центрального электрода 2, на выступающую поверхность которого нанесен слой коррозионно-стойкого металла 3, изолятора-наполнителя...

Способ измерения влажности материалов

Загрузка...

Номер патента: 1157434

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Бобырин, Добрыдина, Протопопов, Феофилов

МПК: G01N 27/02

Метки: влажности

...чувствительности прибора вследствие большой по" логости характеристики на измеряемом участке.В этом случае, изменив полярность электродов,влагу перемещают в зону измерения до тех пор, пока она не достигнет заданного значения, фикси" руемого влагомером, и также по времени перемещения судят о первоначаль" ной влажности материала в целом.Таким образом, предлагаемый способ пригоден как для переувлажненных материалов, так и материалов с малой влажностью, где применять обычные электрические методы измерения эатруд" нительно, т.е. изобретение .обеспечивает возможность расширения диапазона измерения влажности в обе стороны,При этом свойства образца практически не нарушаются, так, как явление электроосмоса имеет место при маломз 115 токе "1...

Устройство для измерения удельной электропроводности жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1157435

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Аллахвердов, Измайлов, Исмаилов, Калинников, Корчебашев, Рогов

МПК: G01N 27/02

Метки: жидкости, удельной, электропроводности

...генераторсинусоидального напряжения, подключенный к входу первичного преобразователя, вьмод которого через функцио 40нальный преобразователь соединен сизмерителем. Первичный преобразователь выполнен в виде трехэлектроднойячейки, функциональный преобразователь содержит электронную следящую45систему динамического преобразования величины удельной электропроводности.в напряжение переменного токаи нормирующий усилитель, имеющий выход на измеритель. Особенности конст50рукции кондуктометрической ячейкив сочетании с электронной следящейсистемой позволяют исключить влияниенестабильного переходного сопротивления на границе электрод - жидкостьи повыситьКПД до 303 2.55 Поставленная цель достигается тем,что в устройстве для измерения...

Устройство для определения удельного электрического сопротивления порошковых материалов

Загрузка...

Номер патента: 1157436

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Краев, Крыжова, Райнус, Черный

МПК: G01N 27/02

Метки: порошковых, сопротивления, удельного, электрического

...мере на высоту электродов, производят определения электрического сопротивления слоя Г 21. Недостатком известного устройстваявляется то, что из-эа осаждения твердых частиц на торцовой поверхностицентрального электрода возникает контакт между электродами по поверхностиматериала, а не по его объему, гдесопротивление вьппе, что сказываетсяна точности измерений. Кроме того,при отборе пробы трудно добиться того, чтобы поверхность слоя пыли невыходила за пределы электродов. То"ки, протекающие через материал, оченьмалы и распределяются по всему объему, что затрудняет использованиерасчетных формул.Цель изобретения - овьппение точности определения удельного электрического сопротивления,Эта цель достигается тем, что вустройстве для определения...

Емкостный первичный преобразователь

Загрузка...

Номер патента: 1157437

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Салтанов, Степанов

МПК: G01N 27/22

Метки: емкостный, первичный

...для жесткой фиксациикрьппки"электрода 6 относительно дискового электрода 3, что обеспечивает постоянство электрического завора между ними, и для отделения . крышки-электрода 6 от затвердевшейисследуемой массы 9 по окончании 437 4процесса измерения. Оно состоит из наружной скобы 16 с тремя эахватамь17, внутри которой в осевом направлении с помощью специального винта18 перемещается внутренняя скоба 19 с тремя захватами 20, фиксируемаяот пр рота вокру н штифтом 21, размещенным на одном из захватов 17 скобы 16 и взаимодействующим с пазом на сопрягаемой захвате 20 скобы9.Специальный ключ.15 (фиг. 3)предназначен для сборки, разборки, помещения и извлечения первичного преобразователя .из термостатированного объема. При этом оператор...