G01N — Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
Способ определения дискретности фрикционного контакта
Номер патента: 1087838
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Васильев
МПК: G01N 19/02
Метки: дискретности, контакта, фрикционного
...вольт"амперная характеристика(ВАХ) контакта существенно нелинейна, поэтому и значения трибо-ЭДС,измеренные при различных внешнихэлектрических погрузках в цепи, будутразличны.Однако лри увеличении скоростискольжения наступает такой момент,когда время контактирования элементарных пятен контакта, определяемоеотношением диаметра пятна контактак скорости скольжения, окажется сравнимюм со временем, в течение которого электроны проводимости проходятпуть., равный половине расстояниямежду пятнами контакта.Это имеет место нри скорости Чцопределяемой из условия(1)2 Ч Чмингде Ч - дрейфовая скорость элекетронов вматериале-доноре;.а - диаметр элементарногопятна контакта;А - расстояние между пятнамиконт акта.При этой скорости скольжения...
Устройство для измерения коэффициента сцепления колеса с дорожным покрытием
Номер патента: 1087839
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Булах, Глуховский, Иваница, Титаренко
МПК: G01N 19/02
Метки: дорожным, колеса, коэффициента, покрытием, сцепления
...звездочками, упруго-деформирующим элементом,соединяющим балансир и раму, балансир выполнен в виде шарнирного че 35тырехзвенника, первое звено которогосоединено с подвижным элементом узлаизмерения коэффициента сцепления.На чертеже представлено устройстводпя измерения коэффициента сцепленияколеса с дорожным покрытием.Устройство содержит раму 1, балансир 1, узел 3 измерения коэффициентасцепления, измерительные колеса 4 и5, звездочки 6 и 7, упруго-деформи зрующий элемент 8. Балансир 2 выцолнен в виде шарнирного четырехзвенника (Г-образного) с тремя степенями свободы, первое звено 9 которогосоединено с подвижным элементом (не 50обозначен) узла 2, Балансир 2 включает, кроме звена 9, звенья 10-12, а также шарниры 13-15. Шарнир 13 соединяет...
Способ определения прочности сцепления слоев соединения
Номер патента: 1087840
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Ключников, Крылов, Ошеверов, Смирнов, Шапарев
МПК: G01N 19/04
Метки: прочности, слоев, соединения, сцепления
...параллельные поперечные надрезы 3заключающийся в том, что к соедине до подложки 1,ыиювыполненному в виде подложки Сущность способа заключается ви нанесенного на нее покрытия, при- следующем.кладывают растягивяацую нагрузку до 10 На поверхность подложки 1 наноразрушения покрытия, по величине ко- одним иэ известных методов испытуторой судят о прочности сцепления 111, покрытие 2, в котором выполняют дНедостатком этого способа является поперечных параллельных надреза 3низкая точность иэ-за отсутствия от до поверхности подложки 1, Полуслоения покрытия от подложки, ное соединение закрепляют в захваНаиболее близким к изобретению испытательной машины (не показанапо технической сущности.и достигае- и прикладывают к нему растягивающумому...
Кюветное устройство для фотометрирования
Номер патента: 1087841
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Скрипчук
МПК: G01N 21/05
Метки: кюветное, фотометрирования
...17 соединен с насосом 13, аштуцер 8 с сбросным клапаном 12.Датчик 19 отстоявшегося слоя, выполненный в виде дискретного датчика толщины слоя (электрическийили ультразвуковой)через релейныйблок 20 связан с исполнительными механизмами 21 и 22,Устройство работает следующимобразом.Исследуемая жидкость подается впроточную камеру 1 через штуцер 2,трубку 4 и выводится иэ кюветногоустройства через штуцер 3, сборникорганического растворителя и осадка11 и трубку 10 регулирования толщиныпоглощающего слоя жидкости. Одновременно из доэатора 7 на окно 5 подается в непрерывном режиме тяжелыйорганический растворитель с расходом 15 - 150 капель в минуту в зависимости от размеров и количествамеханических частиц в жидкости, Сжатый осадок с исследуемой...
Лазерный спектрофон
Номер патента: 1087842
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Жаров
МПК: G01N 21/37
Метки: лазерный, спектрофон
...микрофон 7, микрофон 8,Устройство работает следующим образом.Излучение от лазера 1 пропускается через измерительную камеру 2с исследуемым газом сквозь оптические окна 4, Часть мощности лазерногоизлучения поглощается газом и в результате безизлучательных переходовв камере 2 формируются акустическиеколебания, которые регистрируютсямикрофоном 7, Часть излучения попадает на стенки камеры, Причиной этого являются дифракционные эффектына входных элементах устройства,рассеяние и отражение излучения вокнах камеры, а также касание стеноккамеры "крыльями" лазерного пучка,нмекщего обычно в поперечном сечениигауссов профиль,Попадание излучения на стенки камеры вызывает их нагрев, который передается соприкасающейся со стенкой средеЕсли этой средой...
Поляризационный рефрактометр нарушенного полного внутреннего отражения (нпво)
Номер патента: 1087843
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Афанасенко, Мунасипов, Пеньковский, Хамелин
МПК: G01N 21/43
Метки: внутреннего, нарушенного, нпво, отражения, полного, поляризационный, рефрактометр
...(вследствие неравномерногонагрева их теплом, выделяющимся катушками с током). Это приводит к неконтролируемому изменению состояния ноляризации света и к дополнительным погрешностям измерений ф показателей преломления. Кроме того, значительные габариты и вес магнитооптических модуляторов (габариты не менее 50 х 50 хб 0 ммЗ ифф вес не менее 0,5 кг 1, усложняют конструкцию устройства и препятствует созданию малогабаритных портативиых рефрактометров, а наличие в рабочем пучке стеклянных стержней магнитооптических модуляторов увеличивает потери света, которые неизбежны на каждой границе воздух-стекло. Это вы-. нуждает увеличивать. мощность источника света,.что для портативных рефрактометров также нежелательно.Целью изобретения...
Способ определения показателей преломления жидких кристаллов
Номер патента: 1087844
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Кульша, Науменко, Яковенко
МПК: G01N 21/45
Метки: жидких, кристаллов, показателей, преломления
...по ле2 сИ;где М - округленный до бшжайшего це- лого значения порядок интерференцииед - толщина слоя жидкого кристалла.Для четырех интерференционных экстре. мумов выпсаняются следующие соотнсепения между оптической разностью хода и длиной водныЭгде д р о - толщина пленки жидкого кристалла и его показатель преломления на частоте 4К -порядок интерференции,Разложение дисперсионной формулы 5 Зельмейера дпя показателя преломления в ряд по частотам имеет видргВыражая п и о,через й, и пр и О через О с точностью до 9 р получаем10, (8)Вычитая (7) иэ (8), псаучаем формулу дпяДк дК 25 30 2 Н.где дКК.-"К,- К; йКр= К -КПоястааяяя ее в уравиейие (7 и решая полученное равенство относительно, после подстановки в формулу (4) по лучаем требуемое выражение...
Устройство для определения концентрации многокомпонентных растворов
Номер патента: 1087845
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Король, Кошкин, Кукушкин, Лобанов, Морошкин, Мясников
МПК: G01N 21/59
Метки: концентрации, многокомпонентных, растворов
...логарифмический усилитель 4, усилитель 15, усилитель16 мощности, выпрямитель 17, регистрирующйй прибор 18. В одном из каналов имеется вычитающее устройство 9,Иежду собой каналы измерения связаны с помощью аттенюатора 20.%Устройство работает следующим образом,Световой поток от источника све"тачерез входную щель 2 попадает45иа измерительную кювету 3, формируется в параллельный пучок коллиматорным объективом 4 и посылается надиспергирующий элемент 5, Далее излучение попадает на сферическое зеркало камерного объектива 6, котороефокусирует излучение на четырехще"левую диафрагму 8. Обтюратор 7 попарно пропускает световой поток опоеделенных длин волн в каналы измерения 1 и 12, где излучение, пройдя фокусирующие линзы 9, попадаетна фотоприемники...
Способ определения энергии триплетных уровней нефлуоресцирующих веществ в растворе
Номер патента: 1087846
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Гуринович, Кочубеева, Лосев, Сагун
МПК: G01N 21/64
Метки: веществ, нефлуоресцирующих, растворе, триплетных, уровней, энергии
...регистрации трипиет-тр 3 пц 3 етного поглощения донора и акпептора, что также оказывается не всегда возможным и:ма спектра 33 ьного перекрытия их спектров триплеъ-триплетного назощения. Укаэанные факты е 3 ачительно осложняют и увеличивают трудоемкость определения положения три 3 Ц 3 етного состояния исследуемого вещества, приводя к существенному ухудшению точности опредеяения величины Е (ошибка измерения составляет согласно известному способу 0кодл.о МОЬЬ )еЕсли равновесие в реакции (13 не успевает уста 33 овиться, например иэ-за малой концентрации ревгента, или иэ-эв малого времени жизни триплетных состоя ний одного иэ компоне 3 ггов, то существующий метод не позволяет провести измерения величи 33 ы ЮЕ ,3 и, следовательно, энергии...
Устройство для эмиссионного спектрального анализа
Номер патента: 1087847
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Аполицкий
МПК: G01N 21/68
Метки: анализа, спектрального, эмиссионного
...что в устройстве для эмиссионного спектрального анализа, состоящего из четырех электродов, соединенных с системами низковольтного питания дуги и поджигающих высоковольтных контуров, приспособление подачи порошкового материала в межэлектродное пространство, электроды установлены с нак лоном 45-55 относительно горизонтальоной плоскости и попарно между собойопод углом 45-60, а их концы расположены в одной плоскости, при этом системы низковольтного питания дуги подключены к каждой паре электродов, рас 2оложенных в перекрестном направлении,электрически не связаны между собой.На фиг.1 изображено схематическоепространственное расположение электроов; на фиг.2-электрическая схема предагаемого устройства,Устройство для эмиссионного...
Способ определения металлических примесей в органических средах
Номер патента: 1087848
Опубликовано: 23.04.1984
МПК: G01N 21/73
Метки: металлических, органических, примесей, средах
...в 2 смЭ 37%-ного раствора хлористоводородной кислоты и доводят до объема 100 см комбинированным растворителем, Концентрация желез в растворе 1000 мг/см.В две мерные колбы на 25 смЭ последовательно вводят по 10, 20 см моноэлементного раствора Со и 1,2 см моноэлементного раствора Ге, Затем в каждую колбу вводят по 0,5 см3 "контрольной пробы", которая представляет собой экстрагент, не проведенный через экстракцню, и доводят до метки комбинированным растворителем. В третью колбу добавляют только 0,5 см "контрольной пробы" и также доводят до метки комбинированным растворителем.Проведение анализа: анализ проводят эмиссионно-спектральным ме" тодом на плазменном спектроанапиза" торе РЧфирмы "Филипс" (Голландия), Используемые длины...
Способ определения энтеросептола
Номер патента: 1087849
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Артемченко, Петренко
МПК: G01N 21/78
Метки: энтеросептола
...99,89 Сравнительная характеристикабазового объекта и данного способаприведена в табл. 2. 1 3087Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способамколичественного определения энтеросептола-хлор-йод-оксихинолииа,применяемого в медицинской практи 5ке как антибактериальное и антипротозойное средство.Известен способ количественногоопределения энтеросептола, эаключащийся в обработке анализируемой10пробы 2 и. раствором едкого натран 5 г перманганата калий при нагревании в течение 20-30 мин с последующим прибавлением спирта, фильтрованием через стекловату и определением. В фильтрате определяют содержание хлоридов по Мору и йодидов обратным йодометрическим методом 1,1Недостатками способа являютсянизкая чувствительность...
Способ определения хинозола
Номер патента: 1087850
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Артемченко, Бурмистров, Петренко, Юрченко
МПК: G01N 21/78
Метки: хинозола
...0,5 г, и неспецифичность (едким натрои титруется большинство и,"епаратов кислотного характера).Наиболее блиэкии к изобретению по технической сущности и достигаемому результату является способ определения хинозола путем обработки раствора анализируемой пробы натриевой солью 2-карбэтокси-нитроиндандиона-,3 в среде диметилфориамида при нагревании на кипящей водяной бане в течение 20 мин с последующим спектрофотометрированием полученного окрашенного раствора 121.Недостатками известного способа являются относительно невысокая чувствительность (4,1 мкг/мл), сложность выполнения методики нагревание на кипящей водяной бане в течение 20 мин )и применение высокотоксичного растворителя - диметилформамида.Цель иэобрчувствительноП - оптическая...
Влагомер
Номер патента: 1087851
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Никитин, Романов, Троицкий
МПК: G01N 21/81
Метки: влагомер
...которого соединен с выходом порогового элемента непосредственно, а Й - входчерез линию задержки, причем выход резонансного усилителя соединен с входом порогового элемента.На фиг. 1 показана схема предлагаемого устройства; на фиг.2 и 3 эпюры выходных напряжений отдельных блоков; на фнг. 4 - вращающийся диск со светофильтрами.Устройство содержит источник 1 модулированного излучения, исследуемое вещество 2, приемник модулированного излучения с вращающимся диском 3, подключенный к входурезонансного усилителя 4, выход которого подключен к входам порогового элемента 5 и контрольно"регистриРующего устройства 6, выход порогового элемента 5 подключен через линию 7 задержки к К-входу синхротриггера 8 и Б-входу того же синхротриггера, выходы...
Рентгеновский спектрометр
Номер патента: 1087852
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Козорезов, Любезнова, Хельмер, Шуваев
МПК: G01N 23/20
Метки: рентгеновский, спектрометр
...цель достигается тем, что в рентгеновском спектрометре, содержащем источник рентгеновского излучения, держатель обраэца, а также кристалл-монохроматорс устройством для изгиба кристаллаи детектор, установленные с возможностью вращения вокруг оск, совпадающей с одной из образующих цилиндрической поверхности кристалла-монохроматора, причем детектор установленс возможностью вращения с удвоеннойскоростью вращения кристалла"монохроматора, устройство для изгиба крнсталла-монохроматора снабженоприводом и системой синхронизацииизгиба с поворотом кристалла-монохроматора.На чертеже показан предлагаежйспектрометр,Рентгейовский спектрометр содержит неподвижную рентгеновскуютрубку 1 с линейным фокусом Г, расположенным на окружности радиуса...
Способ контроля качества обработки поверхности
Номер патента: 1087853
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Турянский
МПК: G01N 23/20
Метки: качества, поверхности
...образца возникает дифрагированное излучение имеюшее ту же длину волны, что и первичное, но отличающееся от первичного по направлению, поэтому при фиксированном положении детектируюшего устройства углы рассеяния регистрируемых комптоновских квантов прямого и дифрагированного пучков и соответствующие значения д 3 или изменения энергии ЬЕ оказываются различными. Это приводит к появлению на комптоновском спектре дополнительных ликов, что позволяет судить о правильности установки образца. Кроме того, выход части интегрального потока комптоновских квантов через облучаемую поверхность наблюдается при любых направлениях падаюшего и дифрагированного пучков, что обеспечивает наличие достаточного для регистрации сигнала ггри различной толшине...
Способ рентгеновского контроля текстуры длинномерных изделий
Номер патента: 1087854
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Макаревич, Румак, Сакун, Сапожников, Скворцов, Тишкевич, Ярошевич
МПК: G01N 23/20
Метки: длинномерных, рентгеновского, текстуры
...текстуры длинномерных изделий, включающему облучение изделия пучком рентгеновских лучей и регистрацию интенсивности отраженного излучения, предварительно определяют угловые координаты и угловую ширину максимума полюсной плотности текстуры эталонного образца, размещают излучатель и детектор относительно изделия под углами, соответствующими полученным углом координатам максимума, проверяют наличие максимума интенсивности в искомой области совместным поворотом излучателя и детектора регистрируют интенсивность дифрагированного излучения в максимуме полюсной плотности текстуры исследуемого изделия, затем осуществляют поворот излучателя и детектора относительно изделия на угол, равный половине угловой ширины максимума полюсной плотности...
Способ изучения кинетики фазовых превращений в материалах
Номер патента: 1087855
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Бабенко, Райцес, Утенкова
МПК: G01N 23/20
Метки: изучения, кинетики, материалах, превращений, фазовых
...и приемный барабаны протяжного механизма при этом должны быть смонтированы вне нагревателя. После монтажа камеры, вакуумирования и нагрева нагревателя камеры до заданной температуры включают механизм поступательного перемещения образца и рентгеновский аппарат. Рентгенографирование образца и поступательное перемещение его относительно рентгеновского пучка проводят одновременно. Перемещение образца через нагреватель осуществляют посредством перемотки его с одного барабана на другой. Скорость поступательного перемещения образца через нагреватель должна быть пропорциональна скорости протекания структурного изменения в материале, Скорость структурного изменения материала определяют предварительно по диаграммам изотермического превращения,...
Способ определения рассеивающей способности вещества
Номер патента: 1087856
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Астахова, Григорьев, Конев, Рубцова, Суховольская
МПК: G01N 23/223
Метки: вещества, рассеивающей, способности
...для окисей железа и свинца; на фиг, 3 - спектры рассеянного излучения,Эксперимент выполнен на спектрометре ФРС - 7 при различных напряжениях (.) на рентгеновской трубке и двух режимах работы амплитудного анализатора импульсов (ААИ) - интегральном и дифференциальном (И и Д): кривая 1 -= 30 кВ, ААИ - И; кривая 2 - (.) = 30 кВ; ААИ - Д; кривая 3 - (.) = 50 кВ; ААИ - И, кривая 4 - (.) = 50 кВ; ААИ - Д; кривая 5 - ) = 70 кВ; ААИ - И; кривая 6 - (.) = 70 кВ, ААИ - Д.Монотонная зависимость параметраот Е (а это необходимое условие для реализации предлагаемого способа определения(2) где К эффек О с),б/дЯ ) наблюдается в интервале 11 = 1,0 5,0 мм при напряжении на рентгеновской трубке, превышающем потенциал возбуждения1 флуоресценции атомов...
Способ идентификации и определения содержаний химических соединений
Номер патента: 1087857
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Березкин, Волынец, Ильин
МПК: G01N 23/223
Метки: идентификации, содержаний, соединений, химических
...и регистрируя характеристическое рентгеновское излучение одного из элементов, входящих в определяемыЙ компонент,Кроме того, ширину пучка рентгеновского излучения выбирают не более 0,2 ширины зоны определяемого компонента, характеризующегося на хроматограмме наиболее узкой зоной, и производят интегрирование измеряемого сигнала с учетом формы зоны хроматограммы.В зависимости от содержания элемента в зоне сканирование хроматограммы может проводиться автоматически путем ее перемещения под рентгеновским зондом с одновременной записью интенсивности аналитической линии на диаграмме самопишущего потенциометра или (при малом содержании) путем установки отдельных точек хроматограммы под зонд и регистрации интенсивности за определенный...
Устройство для термического анализа
Номер патента: 1087858
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Кобылкин, Масленков, Ситников
МПК: G01N 25/02
Метки: анализа, термического
...из термопары, нагревателя, держателя образца и приводного охлаждающего медного стержня, стержень выполнен в виде стакана с отношением его глубины к радиусу, равным 3 - 10, установленного с возможностью надвигания его на образец, при этом на внешней стенке стакана с зазором от 40 45 50 55 нее закреплен экран, перекрывающий его торцовые части.Сущность предлагаемого технического решения заключается в том, что отвод тепла от образца производят как излучением в условиях, близких к условию черного тела, так и за счет теплопередачи теплопроводностью через слой гелия к холодным внутренним стенкам.На чертеже представлена схема устройства для термического анализа при высоких скоростях охлаждения.Устройство содержит нагреватель 1, тер. мопару...
Способ определения коэффициента температуропроводности электропроводящих твердых тел
Номер патента: 1087859
Опубликовано: 23.04.1984
МПК: G01N 25/18
Метки: коэффициента, твердых, тел, температуропроводности, электропроводящих
...Тираж 823 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4счет внешнего источника нагрева и пропускают через образец электрический ток, имеющий постоянную и высокочастотную составляющие, В зависимости от температуры образца (температуры отнесения) регистрируют К, К как функции времени, Расчет искомого коэффициента осуществляют по формуле (1).Пример. Проводят исследование температурной зависимости температуропроводности никеля в интервале температур 300 - 1000 К. В качестве образца берут цилиндр из % чистотой 99,99%, диаметром д = 3 мм и длиной 1 = 100 мм. Постоянный ток модулируется колебаниями с частотой 2...
Способ измерения влажности ферромагнитного сыпучего материала
Номер патента: 1087860
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Дикун, Кричевский, Терехов
МПК: G01N 27/02
Метки: влажности, сыпучего, ферромагнитного
...12 в 15,установленными в измерительной цепи, подключаемого к источнику 16 постоянного напряжения через переключатель 17,Способ осуществляется следующим образом.Годключают переключателем 17 блок 11управления к источнику 16 постоянного напряжения. При этом замыкается контакт 12и сигнал о влажности с первичного преобразователя 1, включенного в контур авто- генератора 6, преобразуется блоком 7 в постоянное напряжение, которое интегрируется в течение времени 1, и запоминается олоком 8. В момент окончания промежутка времени (, на выходе блока 8 формируется напряжение, пропорциональное влажности контролируемого материала. В этот же момент ио команде с блока 1 управления раз мыкается контакт 12 и замыкаютс контакты 13 и 15. При этом источник...
Датчик электропроводности твердых тел
Номер патента: 1087861
Опубликовано: 23.04.1984
Автор: Романов
МПК: G01N 27/02
Метки: датчик, твердых, тел, электропроводности
...из которых подпружинен к внешней стенке держателя, а другой, свободный, заострен, причем все зонды установлены на оси и изолированы друг от друга прокладками, диаметр которых соответствует диаметру зондов, ось сзондами закреплена в боковых стенках дер.жателя, а зонды подпружинены вдоль осиот боковых стенок.Разрешающая способность датчика электропроводности определяется толщиной зондов и расстоянием между пазами или сверлениями для зондов в держателе. Повышение разрешающей способности датчика за1 О счет уменьшения толщины зондов приводитк снижению надежности работы, а значительное уменьшение расстояния между пазами или сверлениями ограничивается технологией изготовления.В предлагаемом датчике за счет того, что15 зо ды выполнены в виде...
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов
Номер патента: 1087862
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Белый, Горбоконенко, Потапенко, Седов
МПК: G01N 27/22
Метки: диэлектрических, параметров
...конденсатора нанесены 45пленки: изоляционная 2, ферромагнитная 3и изоляционная 4 с отверстиями под токосъехн ьп зонды 5 и напыленными проводниками 6. Напряжение переменного тока подводится к входным клеммам 7 и 8, а напыленные проводники подсоединены к выводам9 и 10,Устройство работает следующим образом,Контролируемый материал 11, напримердиэлектрическая пленка, помещается междуобкладками измерительного конденсатора. 55При подаче напряжения к клеммам 7 и 8между обкладками 1, образующими измерительный конденсат, протекает ток, величина которого зависит от емкостного сопротивления, являющегося функцией параметров контролируемого материала: его толщины, диэлектрической проницаемости, влажности. Протекание тока по...
Устройство для измерения влажности материалов
Номер патента: 1087863
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Балюбаш, Комаров, Назимов, Резников, Селевцов
МПК: G01N 27/22
Метки: влажности
...электродами и электромагнитом, измерительный блок, блок управления электромагнитом и индикатор, связанный с измерительным блоком 2.Недостатками известного устройства являются возникновение воздушного зазора по окончании вибрации на границе электрод в проду, что приводит к дополнительной погрешности в измерениях, и неопределенность времени вибрации.Цель изобретения - повышение точности измерения путем ликвидации воздушного зазора на границе электрод - материал, а также ограничение времени вибрации установившимся значением емкости измерительной ячейки.Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения влажности мате риалов, содержащее емкостный вибрационный датчик с электромагнитом и вертикально расположенными...
Устройство для определения характеристик электропереноса в растворах электролитов
Номер патента: 1087864
Опубликовано: 23.04.1984
МПК: G01N 27/26
Метки: растворах, характеристик, электролитов, электропереноса
...и 7 (краны 3 и 8 открыты). Дополнительные электроды 10 и 11 помешают в сосуды 4.и 5. Одевают колпачок 13, кран 8 закрывают, в сосуд 5 подают сжатый воздух через трубку 12 для создания на Ч-образной ячейке перепада давления ь Р требуемой величины. Возникающую при этом разность потенциалов между электродами 10 и 1 измеряют микровольтметром с большим входным сопротивлением. После определения величины Ъ/ Р дополнительные электроды удаляют из сосудов, колпачок 13 снимают.Для определения величины электропереноса растворителя (воды) готовят раствор (второй) путем введения в первоначальный раствор небольшого количества Ра О или другой изотопной метки, причем необходимо, чтобы электроосмотические свойства первого и второго растворов были...
Электрохимический газоанализатор
Номер патента: 1087865
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Алхимов, Бадулин, Воронкова, Залмовер, Куркова
МПК: G01N 27/26
Метки: газоанализатор, электрохимический
...которому включена нагрузка,На чертеже изображена схема электрохимического газоанализатора.Устройство содержит корпус 1 с расположенными в нем электролитом 2 и электродами 3 и 4, между которыми включенацепь термокомпенсации, содержащая термонезависимую 5 и термозависимую 6 части.Параллельно последней включена цепь, содержащая последовательно соединенные переменный резистор и терморезистор 8. Нагрузка 9 включена параллельно терморезистору 8,Г 1 ри наличии анализируемого газа междуэлектродами 3 и 4 возникает ток, который 5 10 15 20 25 30 35 создает падение напряжения на всех элементах, вклюценных между ними. Величина этого тока существенно зависит от изменения температуры окружающей среды. Так, например, при увеличении температуры...
Электрохимическое устройство для измерения концентрации газообразных фтористых соединений
Номер патента: 1087866
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Гальцова, Кораблев, Кулаков, Морозов, Сагателян
МПК: G01N 27/26
Метки: газообразных, концентрации, соединений, фтористых, электрохимическое
...концентрации газообразных фтористых соединений; на фиг. 2 - кривая изменения ЭДС во времени при изменении концентрации газообразных фтористых соединений от 5 до 25 мг/м, на фиг. 3 - градуировочная характеристика электрохимического устройства для измерения концентрации газообразных фтористых соединений (диапазон измеряемых концентраций 0 - 1000 мг/мз, рабочая температура 40+ 5 С),Устройство содержит штуцер 1, соединенный с промежуточной емкостью 2, где стабилизируется температура рабочего раствора, фторидселективный электрод 3 с камерой 4 сравнения, соединенной с входом абсорбера 5, выполненного в виде диффузионного элемента со штуцером 6 для подачи анализируемого газа, штуцер 7 для вывода газа, дополнительный фторидселективный...
Способ анализа золота в электролитах золочения
Номер патента: 1087867
Опубликовано: 23.04.1984
Авторы: Боровский, Гулевич, Пономарева, Рахманько, Старобинец, Хананаев
МПК: G01N 27/26
Метки: анализа, золота, золочения, электролитах
...гидразина и едкого калия на точность и время отклика ионоселективного электрода на анион Лц(С 1 Ч), при анализе электролитов золочения с различным сроком эксплуатации.Положительный эффект от обраоотки аликвоты электролита сернокислым гидразином в сильнощелочной среде проявляется только через 2 ч, что значительно увеличивает время анализа. Только использование в совокупности добавления сернокислого гидразина в сильношелочной среде (рН12) и нагревания до кипения позволяет достичь положительный эффект за минимальное время.Пример. Определение золота в электролите золочения.Отбирают 1 мл электролита золочения в мерную колбу на 100 мл, добавляют 1 мл 20/О-ного раствора едкого кали, обеспечи 35 40 45 50 55 5 1 О 15 20 25 анион Ац(СМ) от...