G01N 27/62 — путем исследования ионизации газов; путем исследования характеристик электрических разрядов, например эмиссии катода

Номер патента: 1075141

Опубликовано: 23.02.1984

Авторы: Павловская, Примиский, Рыжков, Шаталов

МПК: G01N 27/62

Метки: газоанализатор, пламенно-ионизационный

...газоанализатор, содержащий камеру, в которой установлена водородная горелкасо штуцерами для подвода анализируемого газа, водорода и воздуха, потенциальный и коллекторный электроды,источник питания постоянного тока,соединенный через нагрузочное сопротивление с электродами, усилитель, 65 вход которого соединен с нагрузочным опротивлением, а выход - с выходным прибором, введены дополнительный источник питания постоянноготока, переменное и ограничительное сопротивления, причем отрйцательный полюс дополнительного источника питания через переменное и ограничительное сопротивления подсоединен к точке соединения входа усилителя с нагруэочным сопротивлением.На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого...

Номер патента: 1081525

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Второв, Калмановский, Чернокожин, Чернятин

МПК: G01N 27/62

Метки: детектор, электронно-захватный

...осуществляется егодетектирование. Затем анализируемоевещество поглощается в фильтре-поглотителе б и в ионизационную камеру3 поступает чистый гаэ-носитель.Иониэационный ток насыщения в измерительной 3 и ионизационной 2 камерах определяется выражением О 1= Щ 2 р; Ц)где К - коэффициент, определяющийгеометрические параметрыкамеры;Н - активность ионизирующегоисточника,9;6; - соответственно плотность иэффективное сечение иониэации-го компонента газовойсмеси, заполняющей камеру,При продувке измерительной и ионизационной камер газовой смесью, состав и плотность которой идентичны,один раз заданное оптимальное соот"ношение токов. насыщения измерительной и ионизационной камер (1и 1)сохраняет значение в случае фиксированных геометрических...

Номер патента: 824749

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Оганезов, Тимошенко, Цхакая

МПК: G01N 27/62

Метки: плазме, поля, распределения, электрического

...в стационарной плазме, не позволяя получать разрешенные ва времени распределения 1 30 электрического поля при исследовании колебаний нестационарной плазмы.Целью изобретения является расши-, рение Функциональных возможностей за счет получения разрешенных во времени в плазме распределений электрического поля.Цель достигается тем, что в устройство с блоком Формирования электронного луча, блоком регистрации распределения поля и высоковольтным выпрямителем вводят двухканальный генератор сигналов, канал опорного сигнала которого соединен с блоком Формирования плазмы, а канал задер- ,15 жанного сигнала - с блоком Формирования .электронного луча.На чертеже изображена блок-схема устройства.Выход опорного сигнала двухканального генератора 1...

Номер патента: 1157442

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Зюзин, Кочнев, Погуляевский, Чистяков

МПК: G01N 27/62, G01N 30/68

Метки: детектор, пламенно-ионизационный

...электри.ческая схема предлагаемого пламенно-ионизационного детектора.Пламенно-ионизационный детекторсодержит ионизационную камеру 1,которая имеет коллекторный электрод2, пламенную горелку 3, выполняющуюодновременно рольвторого электрода,спираль 4 поджига пламени, термо 35пару 5, входные штуцера 6 и 7, соединенные, соответственно, газовымилиниями с источниками водорода ианализируемого газа, штуцер 8, соединенный газовой линией с источникомвоздуха на горение и штуцер 9 сброса продуктов горения в атмосферу,газовый клапан 1 О, например электромагнитный или электропневматический,в линии подачи водорода, генератор11 прямоугольных импульсов, реле12 времени, источник 13 питания,компаратор 14, счетчик 15 импульсов,первый 16 и второй. 7...

Номер патента: 1165968

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Евстафьева, Маковеев, Черников

МПК: G01N 27/62

Метки: ионов, счета

...преобразователей. Устройство содержит также первое 12 и второе 13 пороговые1165968 3го амплитудно-временного преобразователя 10 соединен через второе пороговое устройство 13 с соответствующим входом блока 20 памяти, выходы которого соединены с дешифратором 19. Выходы дешифратора 19 соединены соответственно с соответствую щим входом схем И 14 - 16. Выход блока 24 временной вадержки соединен с камерой 1.Устройство работает следующим образом. 10В исходном состоянии после включения напряжения питания блок начальной установки вырабатывает импульс сброса (фиг. 2 а 1, приводящий счетчик 22 и блок 4 управления в исходное состояние, и запускающий блок 24 временной задержки. С выхода счетчика 22 поступает нулевой сигнал, закрывающий ключ 21....

Номер патента: 1045785

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Грибковский, Зубрицкий, Яблонский

МПК: G01N 27/62, H01L 21/66

Метки: кристаллографической, поверхностей, полупроводников, полярности

...поскольку используе -мые жидкости - серный эФир., этилоВый эФир уксусной кислота. и ацетонимели диэлектрическую проницаемость4, 2, 6 и 20 соответственно,Поверхностные стримерные разрядывозникают либо на основе 1, атомовметалла при отрицательной полярностилибо на стороне 8 атомов металлоицапри положительной полярности импульсов подаваемого напряжения т,е, поместочоложению наблюдаемой визуально картины поверхностных стримерньгх,разрядов судят о кристаллограФической полярности полупроводников.Реальная поверхность получаетсяв результате обработки кристалла1045в химически полирующем травителеили химико-механическим способом, В качестве диэлектрической жидкостииспользуют этиловый эфир уксусной кислоты.П р и м е р,...

Номер патента: 1185210

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Борисенко, Леписко, Моисеев, Подольский, Соболь, Темкин

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектоскоп, электроискровой

...дефектоскоп содержит блок 1 низковольтного стабилизированного питания от сетипеременного тока напряжением 220 В,высокочастотный генератор 2 с самовоэбужцением, высоковольтный выпрямитель 3 со схемой удвоения напряжения, подключенные к высоковольтному выпрямителю два щупа 4 и 5,один иэ которых предназначен длясканирования изоляционного покрытия, 20другой - для контактирования с ме,таллической основой изделия 6, КСцепочку, включенную параллельно выходу высоковольтного выпрямителя 3,состоящую из конденсатора 7 и резистора 8, последовательно соединенные триггер 9 Шмидта, усилитель 10мощности и дефектоотметчик 11,жесткосвязанный с первым щупом 4, сканирующим изделие 6, и пульт 12 управленияс системой...

Номер патента: 1201920

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Коляда, Комаров, Ташлыков, Ченакин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, послойного, твердых

...энергии ионно-лучевогоФлегирования, при котором разрешаетсямаксимум каналированных ионов (Е 2)с этой энергией и максимум неканали 35рованных ионов с максимальной энергией (Е 4) (см. фиг,2, энергии Еп иЕ 4При распылении поверхности ионнолегированного вещества наблюдается40 максимум потоков вторичных ионов,обусловленный окислением поверхности и насыщением ее ионами первичногопучка, После распыления слоя (обычно толщиной 500-1000 А) параметры45 потоков вторичных ионов стабилизируются. Следовательно, первый максимум распределения эталонного элемента должен находиться на глубинене меньшей этого слоя 81,.1201920 арасположен на глубине 1350 А. Такимобразом, расстояние между экстремумами и, соответственно, разрешениепо глубине составляет 250...

Номер патента: 1205319

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Егоров, Позигун, Суслов

МПК: G01N 27/62, H05F 1/00

Метки: газовых, ионов, концентрации, подвижности

...в ней электродами основного измерительного конденсатора, металлический полый цилиндр, установленный у оси конденсатора, механизм выдвижения цилиндра из межэлектродного промежутка. Цель изобретения - повьпнение точности измерений эа счет снижения влияния изменения емкости измеритель ного конденсатора при перемещении цилиндра из межэлектродного прО- межутка на результат измерений.Поставленная цель достигается тем, что устройство дляизмерения концентрации иподвнжности газовыхионов снабжено идентичнымиосновным идополнительным конденсаторамии металлическим цилиндром, при этом дополнительный конденсатор электрически соединен параллельно основному, электроды цополнительного конденсатора расположены в тех же плоскостях что и электроды...

Номер патента: 1211645

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: вторичной, ионной, компонентов, коэффициентов, образца, эмиссии

...очиЗ 5 щают поверхность от загрязнений,возникающих при контакте поверхности образца с окружающей средой впроцессе пробоподготовки и вакуумирования. После этого с помощью на гревателя с источником питания произ.водят кратковременный 1-2 минразогрев до 800 С для термическогообезгаживания поверхности образца.После остывания образца в камеру 45 напускают из баллонов с редукторамиактивную по отношению к железу газовую смесь - водород и азот, устанавливая парциальные давлениясоответственно 9 1 О и 3 10 Па.50 Выбор в качестве активного газаазотно-водородной смеси обусловлентем, что в зависимости от темпеО 15 20 25 ния определяется по значению токавторичных ионов в реперной (экстремальной) точке.Тип соединения опреде:,лением активного...

Номер патента: 1221689

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Аминев, Трошков, Шестаков

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: аэрозолей, воздухе, изучения, искусственных, распространения

...619ОктавинилоктасилсесквиоксанДекавинилдекасилсесквиоксан 735Декаэтилдекасилсесквиоксан 781Способ реализуют следующим образом.Помеченный веществом метки материал аэрозоля диспергируют в воздух. Пробоотбор осуществляют аспирацией воздуха через фильтры. Вещество-метку экстрагируют с фильтров, экстракт упаривают на подложке, подложку вво дят в устройство ввода и определяютколичество метки с помощью массспектрометра в режиме ионизации элек тронным ударом.Вещество регистрируют по одному 10 из высокомолекулярных интенсивныхионов с записью ионного тока на самописце, Измеряют площадь пика полезного сигнала и рассчитывают содержание метки на фильтре по фор муле: М = КоБК,где М - количество метки, г,Ко -...

Номер патента: 1224855

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Васильев, Емельянинков, Коляда, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, количественного, послойного, твердых

...анализа можноповысить, если для этих целей использовать отношение потоков одноатомныхк полиатомным ионам, поскольку частично сократятся погрешности, связанныес.нестабильностью условий анализа исредств измерений.ЮБомбардировка твердого вещества 2 О пучками первичных ионов может производиться как раздельно (в этомслучае для суждения о концентрацияхиспользуют потоки вторичных ионов,. создаваемые вторым пучком), так и 2 совместно (в этом случае используютротоки вторичных ионов, создаваемыеодновременно обоими пучками)Распыление твердого вещества пучком первичных ионов с Б 1 снижаетточность послойного анализа ввидунеблагоприятного воздействия бомбардировки на состояние поверхности, в .связи с чем влияние этого пучка минимизируют...

Номер патента: 1226554

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Васильев, Коляда, Черепин, Швецов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического, твердых

...меньшечем знаменатель зависит от состоянияповерхности в связи с чем 1 характеризует состояние поверхности, аизменение его - изменение состояния поверхности, чтс учитывают при получении и обработке результатов анализа и что является технической сущностью изобретения,В масс-спектрометрии вторичныхионов, ионном легировании, катодномраспылении материалов и других областях техники широко применяют пучки ионов различной массы и энергии,Изменяя последнюю достигают различных глубин проникновения ионов, скоростей распыления, выходов ионов илиизлучений из мишеней и т.д. Предлагаемый способ существенно отличается отизвестных тем, что позволяет контролировать состояние поверхности твердого вещества путем учета специфических особенностей...

Номер патента: 1228160

Опубликовано: 30.04.1986

Авторы: Газиев, Каратаев, Мамырин, Мельник, Петренко

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: аэрозоле, иодистого, серебра

...ана лиза.Температура сушки готового комплексного соединенияАд 1 + К 13 вдиапазоне 100-120 С обусловлена оптимальной скоростью процесса. Ниже 10 100 С сушка нецелесообразна, таккак увеличивается время процесса.При более высоких температурах возможно разложение комплексного соединения. Использование смеси для ана лиза без сушки ведет к сильному газоотделению и нарушению вакуума вмасс-спектрометре.Полученное таким способом комплек"сное соединение ГАдТ + КТ 1 дает масс+ 20 спектр, содержащий линии ионов АдКТ,Таким образом, каждый из признаковявляется необходимым, а все вместеони достаточны для повышения чувствительности.На чертеже представлены эависи 101 1 ф Фмости полного тока линии АК"К 1от времени нагрева проб комплексов(АТ + К 11 с...

Номер патента: 1233223

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Колотилин, Сафонов, Шеретов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/42

Метки: анализа, гиперболоидном, ионов, ловушки, масс-спектрометре, типа, трехмерной

...электродами выделяется зависимая от частоты разпость потенциалов.Вследствие наличия последней поле ванализаторе становится нс симметричным и уменьшается разрешающая способность и чувствительность прибора. Ктому же наличие геперцтора и дополнительных вакуумных выводов усложняет схему и уменьшает ее надежность.Причем при питании анализа,тора отгенератора высокой частоты с поста:пп 1 ой амплитудой сигнала в анализаторнельзя вводить ионы, образованныеизвне, что существенно сужает возможности масс-спектрометра.Цельизобретения - повышение чувствительности и разрешающеи способности, а также упрощение. схемы пи"ания.Указанная цель достигается темчто согласно способу, по которому в масс-анализатор вводят заряженныечастицы, разделяют их по...

Номер патента: 1245984

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Григоров, Шклярова

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектрального, полимеров, труднолетучих

...ПХИс средней мол. м,4 10 а.е.м измеренной методом светорассеивания, растворяют в гептане и 20готовят набор растворов с концентрацией 0,001-0,1 мас.7. Средний радиусмолекулярных клубков в растворе составляет 30 нм,Пластинку с напыленным слоем диоксида селена погружают в раствор полимера на 3 с, затем вынимают израствора и подсушивают на воздухе,позволяя испариться остаткам растворителя. Затем пластинку с молекуламиполимера, адсорбированными на поверхности диоксида селена, устанавливаютв ионном источнике масс-спектрометра и вакуумируют.После достижения рабочего вакуума в масс-спектрометре проводят масс- спектральный анализ состава газовой фазы над поверхностью пластинки, поддерживая ее температуру на таком уровне, чтобы давление паров...

Номер патента: 695446

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Багров, Гальченко, Солодовник

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62, H01J 37/08 ...

Метки: ионный, источник

...электрод и не столкнув"шихся с молекулами нейтрального газа, 50 ударяется о вытягивающий электрод илидаже проникает в анализатор масс. спектрометра. Оба эти фактора отри"цательно сказываются на работе ионного источника и масс-спектрометра в И целом, так как бомбардировка электронами вытягивающего электрода приводитк значительным локальным разогревам,влекущим за собой тепловые подвижкиЭлектроны, эмиттируемые раскален-зным катодом 3 под воздействием уско-,55 мряющего положительного потенциала з ВНИИПИ Заказ 4146/3 т аж 6 11 роизв.-полигр. нр-тие, г. Ужго 69544и нарушение юстировки, а проникновение быстрых электродов в анализаторвызывает возникновение рентгеновского излучения и ухудшает неконтролиру-.емым образом параметры...

Номер патента: 1260824

Опубликовано: 30.09.1986

Авторы: Албагачиев, Меделяев, Согомонов, Сорокин

МПК: G01N 27/62

Метки: металлов, поверхностного, потенциала

...к конденсатору 5 через переключатель 2. В этом случае импульсы после конденсатора 5 несут информацию о величине поверхностного потенциала у исследуемого образца, связанного известным соотношением с контактной разностью по.тенциалов Ч и поверхностным потенкциаломэталонного образцаз С=-А+Ч+А+Ч=А-А, +2 Ч 1 кк к Описанные процессы периодически (с частотой Р = . где- частотаКгенератора; К - коэффициент пере.счета делителя частоты) повторяются и за счет интегрирующих свойств фильтра происходит суммирование полученных сигналов. 10 С . +С, =А- А + 2 Ч + А. - А +2 Ч =4 Ч Б Йа к Фк 20 При достаточном делительном пе 1риоде 1 . наблюдается ь- , что всегЧ = ( - )/е,где е - заряд электрона.Причем к величине импульса, допустим, положительной...

Номер патента: 1262594

Опубликовано: 07.10.1986

Авторы: Коляда, Нагорная, Ченакин, Черепин

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, веществ, компонентов, содержания, твердых

...обусловленной влияниями легирования и внутреннего стандарта,Переменную составляющую потока вторичных ионов внутреннего стандарта получают отфильтрованием постоянной составляющей, Обе составляющие потока ионов с заданной массой измеряют одновременно,Предлагаемый способ анализа по принципу действия относится к дифференциальному методу измерений, основанному на сравнении исследуемой и стандартной величин. Дифференциальчныи метод в предлагаемом способе реализуется благодаря легированию твердого вещества внутренним стандартом в виде параллельных равноотстоящих полос и соизмеримости ширины полослегирования и расстояния между поло1262 55Способ анализа содержания компонентов твердых веществ, заключающийся в легировании твердого вещества сами...

Номер патента: 1265889

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Миркаримов, Пашкин, Пожаров, Хабибуллаев

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, газах, масс-спектрометрического, микропримесей

...и температура ней трального газа, электронная температура, концентрация заряженных частиц). Верхний предел ограничен искажениями измеряемых ионных токов,возникающими при столкновении между 15 ионами и нейтральными частицами впотоке газа через отверстие в выходной диафрагме масс-спектрометра.Конкретное значение давления внутри указанного интервала выбирается 20 исходя из того, что наибольшую точность дают измерения при Лл ре-рогде Л - характерный размер ЭРК (сточностью до постоянногокоэффициента, определяемогогеометрией ЭРК);Э - коэффициент диффузии йоново50при.единице давления.В этом случае оптимальное давлениеанализируемой смеси равно Э с Л хгде=1/1 сх- характерное времяреакциииона-реа-.гента с микропри-месью, с;к - константа...

Номер патента: 708794

Опубликовано: 15.11.1986

Авторы: Арифов, Джемилев, Курбанов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: вторично-ионной, масс-спектрометрии, твердого, тела

...элемента пропорционально амплитуде вторичногоионного тока.На фиг. 4 показана зависимостьраспределения по тощине слоев литияс эквивалентной толщиной 0,35, 0,72 40и 1,3 монослоя от времени бомбардировки ионами неона с энергией 13 кэВи плотностью тока на мишень 0,5х 0, 109 А/см . 1 ак видно,для представ-ленных кривых характерно экспоненци-. 45альное уменьшение интенсивности ионов 1 Эти результаты свидетельствуют о том, что осажденный слой лития присутствует только на поверхности пленки меди. Особенно это хорошо наблюдается для слоя с эквивалентной толщиной 0,35 монослоя. Однако дпя кривых 11 и 111 (эквивалентнаятолщина 0,72 и 1,3 монослоя) выходионов перестает меняться приблизительно после 200 и 340 с бомбардиров.ки соответственно,...

Номер патента: 1291864

Опубликовано: 23.02.1987

Автор: Виниченко

МПК: G01N 27/62

Метки: детектор, пламенно-ионизационный

...коаксиально горелке на уровне ее верхнего среза,при этом одни концы полуколец связаны с изолированными выводами 14и 15, а к другим концам полуколец присоединена спираль 16 зажигания.В крышке выполнен канал 7 для выходов продуктов горения, К изолированным выводам 14 и 15 подключен электрический переключатель 18, обеспечивающий поочередное подключение к по-.,лукольцам 12 и 13 электрода питания 35или напряжения зажигания ( 5-6 В),или стабилизированного напряжения питания детектора (+100-300 В),Пламенно-ионизационный детектор работает по известному принципу ионизации молекул органических веществ в пламени водорода. Водород по каналу 3 поступает в горелку 6, воздух для поддержания горения поступает из канала 4 и, пройдя диффузор 7,...

Номер патента: 1292071

Опубликовано: 23.02.1987

Авторы: Коваль, Литвинов, Физгеер

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализатора, вторичных, ионов, калибровки, шкалы, энергетической, энергомасс

...наблюдалось при различных температурах мишени и при различных парциальных давлениях химически активных газов в камере мишени (т.е. при различном физико-химическом состоянии поверхности).На чертеже приведены пронормированные по максимуму интенсивности энергетические спектрометры некоторых вторичных ионов, выбитых с поверхности различных материалов, и энергетический спектр термоионов калия.Энергетические спектры ионов К эмитируемых при нагревании различных.мишеней, и вторичных ионов Аг, выбитых из этих мишений, практически совпадают, хотя и не полностью идентичны (спектр; термоинов симметричен относительно положения макс,спектр вторичных ионов аргона имеет"хвост" в область больших энергий,что указывает на более сложный механизм...

Номер патента: 1296921

Опубликовано: 15.03.1987

Автор: Лысенко

МПК: G01N 27/62

Метки: адгезионной, прочности

...за счет исключениявлияния пробоя подложки на результатопределения адгезионной прочности.На чертеже представлена схемаустройства, используемого для реализации способа.Устройство состоит иэ подложки 1с электродами 2, покрытия 3, образующего с подложкой границу 4 раздела,источник 5 напряжения, На чертежепоказаны также дендрит 6, щель 7,каналы 8 скользящих разрядов.Способ реализуется следующим образом,На электроды 2 подают от источника 5 напряжение и повышают его в течение времени с до уровня Ц прикотором возникают частичные разрядыв образце, и вьдерживают неизменнымнекоторое время ЬГ, =с, - с,. Затемвновь повышают напряжение до Б влтечение времени Ьь = с- с с последующей вьдержкой на данной ступенидо с и т,д. вплоть до пробоя...

Номер патента: 1337934

Опубликовано: 15.09.1987

Авторы: Буряков, Крылов, Солдатов

МПК: G01N 27/62, H01J 49/26

Метки: анализа, газах, примесей

...формы, тоуравнение (6) имеет вид ЧА = --- -(с Е - г. Е, (7) К, ++ Подставляя условия (8) и (9) вуравнение (7) можно получить ЧЙ =К, (Е + 3 Е Е , - 2 Е, ) . (10) Чтобы найти максимум значения Чй,нужно продифференцировать и приравнятьнулю уравнение (10);+6 Ебг - 0 (11) Корнями этого квадратного уравнения являются величины а отношение этих корней 3+ф: -- - -.= 2+.ГЗ= 3 73. (13)Е 3 -13уТаким образом, согласно предлагае мому способу, заключающемуся в иониэации исследуемого газа, разделении образовавшихся ионов в электрическом поле, отборе и регистрации ионов при воздействии на них переменным периодическим несимметричным по полярности электрическим полем, отношение амплитуд образующего поля выбирают равным 3,73. где Е+, Е -...

Номер патента: 1345107

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Демичев, Котов, Чернышев

МПК: G01N 27/62

Метки: влажности, коронного, разряда

...5 тока короны, содержащийв своем составе электрометрическийусилитель, источник 6 дополнительного 30напряжения, с помощью которого создается тянущее поле напряженностью Евысоковольтный источник 7 стабилизированного напряжения. Такая конструкция гигрометра позволяет исключитьэлектронную составляющую тока короныи рассматривать систему коронирующихэлектродов 1 и 2) как регулируемыйисточник ионов, мощность которогояВляется устойчивой функцией влажности контролируемой газообразной среды.Число ионов Б, поставляемых даннымисточником к поверхности цилиндрарадиусом К, рассчитывается с помощьюсоотношения 45Ы=2 щГго+РдПк ЧК,где ДП - разность между величинойприложенного напряжения инапряжением начала развития короны Ук, 50Г,К - радиусы...

Номер патента: 1350590

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Блашенков, Лаврентьев

МПК: G01N 27/62

Метки: гетерогенных, ионизирующихся, каталитических, многоатомных, параметров, поверхности, реакций, соединений, твердого, тела

...плотность потока частиц на поверхность,К- коэффициент отражения частиц от поверхности;,Г - площадь эмиттера;е - заряд электрона;постоянная Больцмана,А - отношение;статистических 5 осумм, не зависящих от Т,"Ч - эффективная работа выхода;Р - напряженность внешнегоэлектрического поля;10 Ч - потенциал ионизации;Е - энергия активации распадана поверхности.Объединяя все члены, не зависящие от температуры и электрическогсполя имеем;Е 6М.1=С( - ) ехр, (Ю + 1 еЕ1 сТ 1 сТ ДПЯ ТОГО, чтобы из этОГО напрЯжения найти интересующие нас величины, т.е. В - число активных степенейсвободы," Е - энергию активации распада на поверхности и Ч - потенциалионизации, найдем сначала положениеточки максимума для этого выражения,Продифференцируем по Т и приравняем...

Номер патента: 1368735

Опубликовано: 23.01.1988

Авторы: Доровский, Мохов, Ширяев

МПК: G01N 21/66, G01N 27/62, G03B 41/00 ...

Метки: изображений, неоднородностей, образцах, пластинчатой, регистрации, формы, электрических

...питающего электрического поля по характеру проявления в электролюминесценции. Так, например, причастотах модуляции свыше 60 Гц газовые включения изображаются как высо- Вкоэлектропроводящие включения в связи с сильной ионизацией газа, в диапазоне частот 40-60 Гц наблюдаетсянеустойчивый режим люминесценции, ниже 40 Гц люминесценция не наблюдает сяПри охлаждении образца в газовыхвключениях происходит поочереднойпереход различных компонент газовойсмеси в жидкое состояние, что приво дит к резкому снижению интенсивностиэлектролюминесценции образца. По характеру зависимости интенсивностилюминесценции от температуры, обусловленной различной ионизацией газо вых включений, можно судить о суммарном и компонентном составах газовыхвключений....

Номер патента: 1374119

Опубликовано: 15.02.1988

Авторы: Домород, Кожаринов, Храповицкий

МПК: G01N 27/62

Метки: диэлектрических, объектов, оптически, прозрачных

...размера дефекта 6 При прохождении через объект 1 с дефектом 6 (газовой полостью) излучения лазера 5 поглощается дефектом 6 (в зависимости от размеров по лости и начальной проводимости газа в ней), температура, давление и частота столкновений в полости повышаются, и в результате сложных и взаимосвязанных процессов передачи энер гии излучения слабоионизованному газу в полости степень ионизации и яркость свечения газа возрастают. После окончания лазерного импульса (или группы импульсов) светящийся РазРяд в полости дефекта 6 существует еще некоторое время, в течение которого его и можно зарегистрировать с помощьи ЭОП 7. Длительность времени лослесвечения зависит от параметров дефекта 6 и величины приложенного к электродам 2,3...

Номер патента: 1376034

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Домород

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектов, материалах, обнаружения

...1 в жидкости3, находящейся в критическом (неустойчивом) состоянии, начинают образовываться и расти пузырьки 6, содержащирастворенный в жидкости 3 газ и парили газообразные продукты термического разложения жидкости 3 (например,для масла - водород), причем зародышами служат неровности и электрические неоднородности объекта 1, а ростпроисходит тем быстрее, чем большетемпературный напор, т.е. разностьлокальной температуры поверхности итемпературы жидкости. Под действиемприложенного высокого напряжения впарогазовых пузырьках, обычно уже содержащих заряженные частицы, развивается ионизация, как только онидостигают определенного минимальногообъема (так как давление, состав газа и приложенное напряжение известны). Удобно подобрать величину...