G01N 27/62 — путем исследования ионизации газов; путем исследования характеристик электрических разрядов, например эмиссии катода

Номер патента: 426181

Опубликовано: 30.04.1974

Авторы: Виценко, Ефременко, Изобретени, Михайлусь

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектоскоп, электроискровой

...источник питания 1, обмотки 2 низкого напряжения, бесконтактный пороговый ключ 3, тиристор 4, КС-двухполюсник 5, обмотку 6 высокого напряжения, индикатор 7 электроискрового пробоя, щуп 8, устанавливаемый на контролируемой поверхности 9,Высоковольтный трансформатор содержит ферритовый стержневой магнитопровод, на поверхности которого расположена однорядовая (виток к витку) обмотка высокого напряжения, на конце стержня запрессован высоковольтный щуп, соединенный с выводом обмотки, обмотку высокого напряжения обхватывает фторопластовая гильза, на поверхности которой расположена обмотка низкого напряжения.Импульсное напряжение источника питания 1 возбуждает ключ 3, причем порог срабатывания ключа определяется амплитуднофазовым...

Номер патента: 427275

Опубликовано: 05.05.1974

Авторы: Афросимов, Гладковский, Петров

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализатор, атомных, многоканальный, частиц

...влияние электромагнитного излучения плазмы на засветку детекторов.Целью изобретения является уменьшениепотерь частиц в процессе анализа; увеличение относительной светосилы в области высокоэнергетичной части спектра; обеспечение защиты детекторов от влияния электромагнитного излучения плазмы.Сущность изобретения заключается в том,что между электростатическим анализирующим конденсатором частиц по энергиям и системои детектирования иыконцентрически изогнутыеняющие пластины с ради рским полем.5 На чертеже показан пятиканальный анализатор атомных частиц,Анализатор состоит из источника ионов 1,электростатического анализирующего конденсатора 2, одна пластина которого параллель 0 на оси источника ионов, а другая расположена под углом к этой...

Номер патента: 430314

Опубликовано: 30.05.1974

Авторы: Гуй, Зьков, Кельман

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...повышается стоимость масс-спектрометра,Цель изобретения - упрощение конструкции прибора, уменьшение мощности и габаритов отклоняющих магнитов и облегчение эксплуатации,Это лостигаегся тем, чтоская часть масс-спектрометрвиде лвух цилиндрических спектрометр солержпт источник 1войную электростатическую систему ю магнитную систему 3 и приемни ионов, д2, лвойнук4 ионов.15 В перовом варианте преллагаемого массспектрометра (фиг. 1) пучок ионов, выхолящий из источника 1, попалает в двойную электростатическую систему 2. Последняя разЛеляет ионы по энергии и фпкусирует пучок 20 ионов с выбранной энергией в месте расположения энергетической щели 5, которая, таким ооразом, пропускает только ионы с энергией, лежащей в определенном интервале...

Номер патента: 433917

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Багров, Изобретени, Моталова

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализатор, масс-спектрометраа, однопольного, упипсз

...ионы, инжектн руемые в анализатор перпендикулярно к полю, при прохождении анализатора испытывают периодическое воздействие электрического поля. Проходя диск с отрицательным потенциалом, ионы фокусируются вдоль оси ОУ, 20 а проходя диск с положительным потенциалом - расфокуспруются в направлении оси ОХ. Благодаря отрицательному смещеничо более жесткая фокусировка осуществляется вдоль оси 01.25 Как и в известном устройстве, ионы, двигаясь в электрическом поле с переменным потенциалом, совершают колебания с различной амплитудой, величина которой определяется напряженностью поля, его частотой, массой и зо зарядом. Всю длину анализатора при задан433917 Составитель Ю. Сухарев Техред Г. Дворина Корректор О. Усов едактор И. Орлов Тираж...

Номер патента: 433918

Опубликовано: 30.06.1974

Авторы: Занский, Матвеев, Самодуров, Шеретов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: датчик, квадрупольного, масс-спектрометра, трехмерного

...от использования электронных умножителей открытого типа и переходить на применение преобразовательного устройства с фотоэлектронным умножителем. При этом площадь входного окка фотоумножителя для увеличения чувствительности приходится увеличивать, что также приводит к увеличению габаритов датчика. С целью увеличения чувствительности,устойчивости работы датчика при повышенных давлениях и уменьшения его габаритовв предлагаемом датчике между выходным5 торцевым электродом и приемником ионоврасполагают систему соосных усеченных конусов, причем конус с наибольшим диаметромимеет выступ в сторону приемного устройства. Это обеспечивает фокусировку вторичных10 электронов к центру симметрии системы.Предлагаемый датчик изображен на чертеже,...

Номер патента: 435841

Опубликовано: 15.07.1974

Авторы: Гриб, Лифарь, Попов, Чеканов

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: u-электричества, количества, масс-спектра, пиках, регистрации

...Л 1 с сопротивлением в катоде Я 10, задающим режим работы, и колебательным контуром 1.С 4 сеточной цепи. Положительная обратная связь осуществляется индуктивностью 1,включенной в анодную цепь лампы.Колебательный контур через переходную емкость СЗ подключен к нагрузке пропускателя й 9.Усилитель синусоидальных колебаний регенератора выполнен на лампе ЛС с аноднокатодными сопротивлениями Р 12, 013, управляющая сетка подключена через переходную цепь С 5, Я 11 к аноду Л 1,Диодный ограничитель подключен к аноду Л 2 через разделительную емкость Сб и содержит ограничительное сопротивление Р 14, диод Д 5 и параллельно подключенный к нему стабилитрон Дб,Имеется также эмиттерный повторитель на триоде Т 4. База триода подключена к выходу...

Номер патента: 438431

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Ануфриев, Мамырин

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...конденсатор 6. При помощи последнего луч направляется в выходную щель 10, далее в выводящий конденсатор 9 и на первый диод вторичного электронного умножителя (ВЭУ) . Выходной сигнал ВЭУ подается на вход регистрирующего устройства 12.В динамическом режиме работы на модулятор 3 подается высокочастотное напряжение. С корректирующего конденсатора 6 снято постоянное напряжение. Ионный луч от источника 2 попадает в модулятор 3, получает приращение энергии и, огибая конденсатор 6, проходит щель дрейфа 13. Затем вновь попадает в модулятор 3, где получает вторичное приращение энергии, позволяющие ионам пройти выходную щель 10. Дальнейшая траектория ионов и регистрация сигнала такие же, как в статическом режиме.Предложенный масс-спектрометр,...

Номер патента: 438921

Опубликовано: 05.08.1974

Авторы: Комаров, Реута

МПК: G01N 27/62

Метки: атмосферных, заряда, ионов, концентрации, объемного, спектра

...электроды устанавливают так, что между ними в продольномнаправлении создается зазор для прохождения воздуха без нарушения ламинарности потока. Легко сосчитать, на какую величинуможно уменьшить зазор между электродамибез потери информации. Пусть длина первогособирающего электрода равна Х. Она определяется из условия осаждения на первомэлектроде ионов с предельной подвижностьюК С - скорость нарастания потенциала напервом разрезном высоковольтном электроде.у, = Ш, )/ ф - 1, 2)где д - зазор между электродами,Время движения иона на расстояние Х, отвхода равно: За это время ион с любой подвижностью пройдет путь по координате д= (д - 4) за время Приравняв (3) и (4), найдем: 15 Если минимальная измеряемая подвижностьионов Кмид, то расстояние...

Номер патента: 444101

Опубликовано: 25.09.1974

Авторы: Лебедев, Морозов

МПК: G01N 27/62

Метки: ионных, массам, пучков, сепарации

...д, , условия равновесия выполняться не будут, и. они будут смещаться в зависимости. от массы либо на большие, либо на меньшие радиусы.1 аким образом, осуществляется сепарация ионов по массам. датем для того, чтобы компенсировать закрутку, йриобретенную ионами в радиальном магнитном доле, их вновь пропускают через радиальное магнит. ное поле, равное первому по величине, но противополоао направленное. В результате получают ионы без азимутальной скорости, но уже разделенные по массам.При оолее точном РассмотренииСоставитель Г, Йв т Ро ВЗ.РедакторЗ 1 Ъердохлеоова ТехредА.Чавутньяк Корректор.11,6 елр 8 сор Изд Мй/2 Тираж Яф Заказ 5Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, 113 О...

Номер патента: 445899

Опубликовано: 05.10.1974

Авторы: Калабина, Шмидель

МПК: G01N 27/62

Метки: датчик, ионизационный

...2, являющуюся потенциальным электродом, изолятор 3, измерительный электрод 4, выполненный в виде цилиндра, изолированного от камеры изолятором 5, насадку 6, представляющую собой цилиндр из изоляционного материала, на внутреннюю поверхность которого нанесена соль щелочного металла.Такая конструкция исключает утечку зарядов на корпус камеры и обеспечивает таким образом полный сбор ионов на измерительном электроде. Так как образованные в насадке иОны экранируотся ОГ корпуса камсры самой насадкОЙ, то Они движутся только к измерительному электроду.Работает датчик следующим образом.Между соплом горелки 2, являющейся потенциальным электродом. и измерительным электродом 4 за счет ионизации в водородном пламени и приложенного напряжения в...

Номер патента: 452784

Опубликовано: 05.12.1974

Авторы: Иванченко, Калениченко

МПК: G01N 27/62

Метки: анализатора, газов

...с термостатированной емкостью, заполненной эта 15 лонной средой.Если необходимо, чтобы давление эталонного газа изменялось в соответствии сизменением давления анализируемого газа,то одну из стенок буферной, емкости выпол 20 няют, например, в виде гибкой мембраны.Стабилизация давления газа внутри опор.ного датчика при изменении температуры; анализируемой смеси исключает дополни, тельную погрешность и повышает точность25анализа состава газа,На чертеже схематично показано предложенное устройство, состоящее из опорного датчика 1, помещенного в исследуемую.среду рядом с измерительным датчиком 2,емкости 3 с мембраной 4.При повышении температуры анализиру-5емой смеси часть эталонного газа из опорного датчика по переточномуканалу 5...

Номер патента: 463055

Опубликовано: 05.03.1975

Авторы: Александров, Кузьмин, Павленко

МПК: G01N 27/62

Метки: квадрупольный, масс-спектрометр

...цз источника ионов в квад- О рупольцую систему при определенных значениях фаз высокочастотной составляющей потенциала, вызывают понцзаццю внутри квадрунольцой системы цо всей се длине.Часть возникших прц этом ионов цс успев ют совершить необходимого числа колебаний,чтобы достичь электродов квадрупольцой системы, попадает ца приемник ионов и регистрируется в виде фона. Наличие фона снижает чувствительность квадрупольного масс-спект- ЗО ромстра и усложняет регцстрацшо масс-спект 463055ров. Установка экрана вокруг электродов квадрупольного анализатора устраняет этот фон, но при этом оказывает вли)н 1 Ее на распределенис электрического поля внутри квддрупольной системы, и оптимальнос расстоя- НИЕ МЕжду ЭЛЕКтрсдаЕсИ КруГОВОГО СЕЧЕНИЯ,...

Номер патента: 481826

Опубликовано: 25.08.1975

Авторы: Волков, Шерешевский

МПК: G01N 27/62

Метки: масс-спектрометр

...персонала.Цель изобретения - обеспечение стабильности ускоряющего напряжения, подаваемого на ионизационную камеру.Достигается это тем, что в диэлектрическую трубку, выполйенную из стеклаили керамики, вводится дополнительныйэлектрод, представляющий собой электрически йзолированную от ионизационнойкамеры металлическую втулку (трубку),на которую от дополнительного источнйка питания подается напряжение, близкое по величине напряжению, подаваемому на ионизационную камеру источника,ионов. К источнику питания не предьяв.ляются требования высокой стабильности48 Т 826 Составитель Б ЛУКЬяЫОВдактор Я ОНЧар Текред Я, )(д/еще Корректор Я ОДО краж Щ Подннсно 5 Изд. И ДЯ НИИПИ Государственного комитета Совета Министр яо дедам...

Номер патента: 483617

Опубликовано: 05.09.1975

Авторы: Гефтер, Локшина

МПК: G01N 27/62

Метки: волокон, двухкомпонентной, количественного, смеси, соотношения

...компонентной смеси волокон, который позволяет избежать этих недостатков и быстро (в течение 5 - 10 мин) определить долю волокон в смеси. Осуществление этого способа возможно благодаря тому, что электрическое сопротивление волокон различных видов изменяется в широком диапазоне (от долей ома для металлизированных волокон до 10" ом для тщательно очищенных синтетических волокон).Измеряют электрическое сопротивление смеси волокон и по предварительно измеренному электрическому сопротивлению одного из компонентов смеси определяют по формулам долю первого и второго компонентов в смеси. тежо м.вленпе смеси волокон ления составляющих т их количественного ентально было уста- электрического сопров зависимости от соносит экспоненциальыть в общем...

Номер патента: 488132

Опубликовано: 15.10.1975

Авторы: Озеров, Павленко, Пушкина, Слуцкий

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, дуплетов, масс, масс-спектрометрического, мультиплетов

...для анализируемых компонентов путем усиления или ослабления известных факторов откачки.В магниторазрядном насосе откачка осуществляется вследствие нескольких различных по своей природе процессов.Инертные газы откачиваются, в488132 Составитель Н. АлимоваРедактор И, Шубина Техред М. Левицкая Корректор Н. Лебедева Заказ 3117/16 Изд. Хе 1869 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 замуровыванием при распылении реактивного металла катодов. Активные газы откачиваются за счет образования химических соединений с распыленными реактивными металлами.Скорость откачки малоактивных газов определяется обоими факторами....

Номер патента: 489031

Опубликовано: 25.10.1975

Автор: Каплин

МПК: G01N 27/62

Метки: масс, масс-спектра, радиочастотном, развертки, спектрометре

...тока под магничивания, модулятор 3 высокочастотного генератора, устройство автоматической регулировки 4 уровня выходного напряже иия генератора высокой частоты.Устройство работает следующим образом, Линейно-изменяющее напряжение с выхода фантастронного генератора на Л -Л 3 поступает на анализатор РМС и через пере. ключатель (положение 1) на вкод модулято ра 2 тока подмагничивания, который вылов няется по скеме однолампового усилителя постоянного тока, в анодную цепь которого включена рбмотка модулятора 3 высокочастотного генератора, посредством которого осуществляется синкронная с линейно изменяющимся напряжением фантастрона перестройка частоты генератора модулирующего потенциала, Генератор выполнен по скеме емкостной трехточки....

Номер патента: 493723

Опубликовано: 30.11.1975

Автор: Слободенюк

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, ионов, масс-спектрометрический

...в достаточно хорошем приближении будут иметь вид: х = З 1 п п (. - Со) 1 (1-оХохо) (1) у:, з 1 п 6, ( - ,) Рг (А Уо Уо), (2) где о - начальный момент влета иона в анализатор,- текущее безразмерное время, Хо, Уо, Хо, Уо - начальные условия влета иона в анализатор 6,1, й,1, Ь 1 ММг, Рь и Рг - сложные периодические функции времени т. е. коэффициенты, изменяющиеся с частотой В.Ч. электрического поля, присутствующего в межэлектродном пространстве анализатора. ь 1 исленный расчет коэффициентов Й и Ь, показал, что они находятся в отношении друг к другу, кратном 7:5, т. е. Й,/6,=7:5. Полученный результат означает, что при выборе строго определенной длины анализатора, рав- ной в первом приближении будет иметь место соотношение 81 п 61 (-. -...

Номер патента: 504145

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Виценко, Демков, Ефременко, Михайлусь

МПК: G01N 27/62

Метки: дефектоскоп, электроискровой

...основах. высокочастотный дроссель 7, подвижныйИзвестный электроискровой дефектоскоп шуп 8, соприкасающийся с контролируемылто авт, св. Ы 426181 содержит высоко- слоем 9 на металлической основе 10, индивольтный трансформатор, шуп, подключенный катор 11 постоянного тока, диод 12 и шунк обмотке высокого напряжения, бесконтакт-, тируюший конденсатор 13.ный пороговый ключ, включенный в цепь об При стационарном режиме (дефекты вмотки низкого напряжения, и индикатор пос- , слое 9 отсутствуют) величина реактивноготоянного тока, включенный в цепь заземлен-тока определяется толщиной диэлектрическоного вывода обмотки высокого напряженияго слоя и по индикатору 1 1 регистрируюттрансформатора. по падению напряжения на дросселе 7...

Номер патента: 505956

Опубликовано: 05.03.1976

Авторы: Калабина, Шмидель

МПК: G01N 27/62

Метки: датчик, ионизационный

...оптнмальнгяе условия захвата и регистрации. Формирование полезного сигнала при наличии начального тока ограничивает пропорциональную область реакции в отсутствие анализируемой примеси, при данных условиях ана лиза устанавливается определенное распределение заряда в чувствительном объеме ионизационной камеры, Появление в чувствительном объеме анализируемой примеси нарушает установившееся распределение заря да. Время восстановления определенного распределения заряда достаточно велико, что приводит к существенной нестабильности и инерционности.Целью изобретения является повышение 15 эффективности датчика путем устранения указанных недостатков. Поставленная цель достигается за счет того, что источник ионизации устанавливается в...

Номер патента: 506795

Опубликовано: 15.03.1976

Авторы: Агольцов, Горбанский, Щавелев

МПК: G01N 27/62

Метки: вакууме, высоком, газоотделения, исследования

...варьирования методов контроля без полной переналадки установки, что не позволяет использовать его для исследования разнородных материалов,Целью изобретения является рафункциональных возможностей устантем совмещений методов измерениянагрузки., стройстве диафрагма подключемутатор к источнику питания.На чертеже изображена принцисхема предлагаемой установки.Установка состоит из рабочен ксоединенной измерительным каналом аботает следующим образом.и 4 осуществляют откачку установленным в рабочей камере 1о требуемого по условиям проного давления через отверстия6 пушки 5 и диафрагме 7,506795 Редактор И. Шу СоставителТехред О. Куд ПодписноСССР Изд, Мо 1172 Государственного комитет по делам изобретений 13035, Москва, Ж, РаушТираж 1029...

Номер патента: 512419

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Борнгардт, Ланин, Павленко, Разников, Тальрозе, Фридлянский, Шутов

МПК: G01N 27/62

Метки: высокого, масс-спектра, массы, пиков, разрешения

...автономной регистрации спектров на магнитной ленте, накопители 27, 28 на магнитной ленте, ЭВМ 29, блок 30 программного управления устройством.Устройство работает следующим образом.Анализируемое вещество вводится с помощью устройства 4 прямого ввода пробы в источник 5 ионов, ионизируется электронным ударом и в виде пучка ионов направляется в масс-анализатор 6, где происходит разложение пучка на компоненты с одинаковым отношением массы к заряду. Ионы регистрируются системой 7 регистрации ионных токов, а в массовое число определяется при этом датчиком 8 масс. Высокий вакуум в масс-анализаторе поддерживается вакуумной системой 3, управляемой от пульта 2 автоматического управления, через который по сигналу от блока 30 программного управления...

Номер патента: 518710

Опубликовано: 25.06.1976

Авторы: Блажкевич, Воробкевич, Дмитриев, Ларченко, Медяновский, Шиманов

МПК: G01N 27/62

Метки: детектирования, пламенно-ионизационного

...и эмиссия споверхности разогретых)электродов отсутствует; питание устройства поляризующимнапряжением производится от одного источника8710 4эационных токов. 1 и 1 , а следовательно, измеряемой концентрации,Предлагаемое устройство позволяет повысить точность измерений, оно выдерживает значительные перегрузки при резком. увеличении концентрации измеряемого компонента, Перегрузочная способность устройства практически определяется допустимойплотностью тока входных обмоток модуля тора. На чертеже изображена схема устройства для пламенно-ионизационного детектирования.Устройство содержит двухпламенныйионизационный детектор , состоящий иэрабочей ячейки 2 и сравнительной ячейки 3с другой стороны листа,Предлагаемое устройство работает...

Номер патента: 528492

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Гусева, Дубровин, Максимов

МПК: G01N 27/62

Метки: атомов, интенсивности, концентрации, малой, пучке

...металла на изоляторах; для привода обтюратора необходима передача механического движения в вакуумную си стему, что усложняет ее конструкцию; точность измерений в режимах без модуляции пучка невысока.Для повышения точности в режимах измерений без механической модуляции пучка 20 предлагаемое устройство снабжено идентичными упомянутым дополнительными системой линз для формирования и ускорения второго пучка электронов, коллетором ноно и 1 оллектором ероно, а система измерений 25 выполнена в виде измерителя разности сигналов на коллекторах ионов.На чертеже приведена схема описываемогоустройства, содержащего термокатод 1, две системы электронных линз 2 и 3, формирую щпх два электронных пучка, два коллектораэлектронов 4 и 5, два коллектора...

Номер патента: 543864

Опубликовано: 25.01.1977

Авторы: Борисов, Воронин, Слободенюк

МПК: G01N 27/62

Метки: квадрапульного, масс-спектрометра, напряжений, стабилизации, стержнях

...илиизменяться во времени под действием сигнала, поступающего на управляющий вход генератора 1 с выхода усилителя 2, Напряжение от источника управляющего напряжения 7через дифференциальный усилитель 3 управляет выходными напряжениями управляемогоисточника постоянного напряжения 6, возникающих на идентичных друг другу нагрузочных сопротивлениях 8 и 9, Полученные,таким образом, выходные напряжения+Ги "0через развязывающие цепи (например в, ч,дроссели 10) поданы на соответствующиепары стержней квадрупольного масс:пектрометра. Они образуют вместе с выходныминапряжениями генератора 1+ Ч Сова 1на стержнях КМ напряжения вида:(+О+ЧСо 8 юй)и(-0-ЧьоваЦ относительно корпуса прибора. ф 0 Разность напряжений с выхода источникауправляющего...

Номер патента: 544900

Опубликовано: 30.01.1977

Авторы: Дмитриевский, Зельвенский, Катальников, Соколов

МПК: G01N 27/62

Метки: изотопного, масс-спектрометрического, никеля, состава

...ктрометрического опредестава никеля с использоо тетракарбонпла никеля, тем, что, с целью увелпчеся форвакуум5) 10 - еммр Изобретение отн го анализа элеме м ким методом,В современных работах рическому определению никеля используется или хлорид никеля.Практически единстве соединением никеля, кот пользовано для целей м кого анализа, является т %(СО) 4Известны попытки исп бонила никеля для масс- измерения его изотопног билизации его добавками нашедшие применения из ного разложения % (СО) н апуска масс-спектрометрЦелью изобретения яв стабилизация интенсивно также увеличение произ ст. Затем к системе напуска присоединяют ампулу с элементарным хлором, содержащую 10 см С 1 при давлении 100 мм. рт. ст, или больше. Хлор пропускается через...

Номер патента: 556375

Опубликовано: 30.04.1977

Автор: Шадский

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, карбонилов, масс-спектрометрического, металлов

...памяти до допустимого уровня при пре цизион;о Масс-спект 1)омет 1)11 еском измерении устойпого состаВ 2 жсле 32 на Основе пентокарбопнла железа, ребуется производить прогрев с параллельным вакуумированием в теченпе приблизительно 20 час. 20Известсп также способ масс-спектрометрического анализа, включающий предварительную обработку системы нагуска и камеры анализатора газом при нагреве. Способ является наиболее близким к изобретеш ю по технпче ской сущности и достигаемому результату.Этот способ также приведет к полному устранснпю памяти, так как г 1 рименяемые инертные газы не обладают достаточной реакционной способностью. 30 Цель изобретения - увеличение точности и производительности анализа за счет уменьшения эффекта памяти без...

Номер патента: 557302

Опубликовано: 05.05.1977

Авторы: Захарян, Торунян, Цатурян

МПК: G01N 27/62

Метки: качества, сигналы, электрические, электроразрядный

...паралиепьно камере коронного раз Иа чертеже представлена упрошенная блоксхема преобразователя.Преобразователь содержит камеру 1 коронного разряда с двумя электродами - плсокнм 2 н остроконечным 3, между которым располагают контролируемый материал, камв ру 4 эпехтроискрового разряда с двумя шарообразными электродами 5 и 6, й С ячейку 7 и источник 8 высокого напряжения.Преобразователь функииоттирует следующим образом.В камере 1 коронного разряда распопага ют контролируемъ 1 й днсперсный материал и включают источник 8, тохом которого заряжается емкость ячейки 7. Г 1 ри определенном напряжении на емкости возникает коронный разряд в камере 1, параметры которого зависят от удельной поверхности материала. Когда напряжение на емкости...

Номер патента: 559162

Опубликовано: 25.05.1977

Авторы: Гончаров, Левитов

МПК: G01N 27/62

Метки: гелии, жидком, загрязнений, наличия, обнаружения

...зависит от чистоты измеряемойсреды 2,Указанный способ не подходит дпя обнаружения загрязнений в жидком гелии, вопервых, вследствие большой величины разброса значений пробивных напряжений жидкого гелия для оценки его электрическойг ъпрочности необходимо пров, танке много тнсленных испытаний, во-вторых, указанныйта способ не пригоден в условиях длительнойработы высоковольтных сверхпроводяшихаппаратов, поскольку в этом случае нарушается электрическая прочность изоляции,1 а Целью настоящего изобретения являетсяисключение нарушенияэлектрической прочности среды.Поставленная цель достигается за счеттого, что повышают прикладываемое нанря жанне до момента возникновения коронногоразряда, затем снижают напряжение до угасаши разряда, и по...

Номер патента: 587384

Опубликовано: 05.01.1978

Авторы: Зеликман, Машбиц

МПК: G01N 27/62

Метки: детектор, пламенно-ионизационный

...также алемент сравнения 25, положительнаяи отрицательная камеры которого подключенысоответственно к выходам дросселей 23 и24, и пневматический индикатор 26, установленный на выходе элемента сравнения 25,Выход алемента сравнения 26, являющийсявыходом влагомера 16 через нормальнозамкнутый пневмоконтакг 27 связан суправляющей камерой клапана 28, установленного в линии подачи водорода в сопло 10,Управляющие камеры клапана 28 и пневмоэлектропреобраэователя 14 через нормальноразомкнутые соответствующие пневмсконтакты 29 и 30 связаны с источником 6 сжатого воздуха,Управляющие входы пневмоконтактов 27,29, и 30 связаны с источником Р командного сигнала.Работа устройства происходит следующимобразом,При кратковременной подаче команды...

Номер патента: 589573

Опубликовано: 25.01.1978

Авторы: Зенкин, Краснощеков, Сафонов, Шеретов

МПК: G01N 27/62

Метки: датчик, квадрупольного, масс-спектрометра, рехмерного

...(1)где ф (Х, У, 2. ) - потенциал в точке(Х, У, Е ), отнесенныйк потенциалув центре датчика,Постоянные 1 сСх , о, и с. связаны соотношениемвытекающим из уравнения Лапласао(. + с 4 + А О(2Выражение (1) является общим для всехквадрупольных систем, Так, при сА0соотношений (1) описывает распределениепотенциала в датчике квадрупольного фильтра масс, при сСо, - в датчике трехмерного квадрупольного масс-спектрометра,электродная система которого выполненалв виде гиперболоидов вращения. Для предлагаемого датчиках Уф х фоВ соответствии с выражениями (1) и(3) уравнение движения по координатамХ, У, Е различны и, следовательно,различно положение рабочих точек на диаграмме стабильности для одной и той же, частицы и различны амплитуды ее...