Патенты с меткой «дефектоскопического»

Номер патента: 199472

Опубликовано: 01.01.1967

МПК: G01N 27/84, G01N 27/90

Метки: дефектоскопического, неметаллических

...от известных тем, что, с целью повышения производительности и качества контроля, в проника.ющую жидкость добавляют присадку, повышающую ее электропроводность, напримерсмесь олеиновой кислоты с окисью магния, ивыявляют поверхностные дефекты с помощьютоковихревого дефектоскопа с накладнымили проходным датчиком.Сущность предлагаемого сется в следующем,На поверхность контролируемого изделиянаносят проникающую жидкость, напримеркеросин, в который добавляют присадку, повышающую его электропроводность. Послеудаления жидкости с контролируемой поверхности присадка остается в полости дефекта,При введении контролируемого изделия в проходной датчик токовихревого дефектоскопаили при сканировании накладного датчика поповерхности контролируемого...

Номер патента: 813202

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Горюнов, Дубицкий, Лонский, Розиньков

МПК: G01N 21/27

Метки: дефектоскопического, контроляпланарных, структур

...одновременное совмещение позитивного изображения контролируемой структуры с негативным изображением образцовой и негативного изображения контролируемой структуры с позитивным изображением образцбвой. При сложении обоих разностных изображений возникает полная разностная картина, характеризуюшая отличие изображений контролируемой структуры от образцовой. Для этой цели используется формирователь разностного изображения, состоящий из схем 7 и 8 совпадения инверторов 9 и 10 и схемы ИЛИ 11. На первую схему 7 совпадения подается сигнал, соответствующий позитивному изображению контролируемой структуры, и сигнал, соответствующий негативному изображению образцовой структуры. На выходе схемы совпадения образуется разностный сигнал,...

Номер патента: 1381731

Опубликовано: 15.03.1988

Авторы: Генералов, Киреев, Лопухин, Шелест, Шумилин, Явнов

МПК: H04N 7/18

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...окна одновременно. Совпадение топологически связанных сигналов о выделенных вертикальных и горизонтальных участкахконтура во времени дает информациюоб угловых элементах изображения.Это совпадение для угловых элементов изображения фиксируется параллельно по всей высоте электронногоокна с первой и второй групп элементов И 23-1 - 23-4 и 24-1 - 24=4. Ин 35формация о выделении угловых элементов раздельно по первому и второмувыходам анализатора 10 подается напервый и второй элементы ИЛИ 11-1и 1-2, которые определяют наличие 4 Оуглового элемента соответствующеготипа в текущем столбце электронногоокна, 11 олученная информация раздельно записывается в первый и второйрегистры 12-1 и 12-2 сдвига и под 45воздействием тактовых импульсов...

Номер патента: 1460610

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Бубнов, Гурылев, Комиссарик, Лопухин, Шелест, Явнов

МПК: G01B 21/00

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...коррекции изображения,6Коммутатор 13 (фиг. 4) выполненн виде первого и второго элементов И39 и 40 и элемента ИЛИ 41, выход ко 5торого является выходом коммутатора13, первый и нторой входы соединенысоответственно с выходами первого ивторого элементов И 39 и 40, первыйвход первого элемента И 39 являетсяпервым входом коммутатора, второйинверсный вход соединен с вторымвходом второго элемента И 40 и управляющим входом блока коммутатора13, первый вход второго элемента И40 является нторым входом коммутатора 13,Блок 14 горизонтальной коррекцииизображения (фиг, 5) выполнен в видепервого и второго счетчикон 42 и 43,20 первого и второго элементов И 44 и "45 и селектора мультиплексора 46,выход которого является выходом блока 14...

Номер патента: 1499195

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Бубнов, Гурылев, Колляков, Лопухин, Румас, Шелест, Явнов

МПК: G01N 21/27

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...форму уголка, которое зв время кадра поСледовательно пробегает все элементыразложения. Работа Р-триггера обеспечивается генератором 7 тактовых импульсов, который синхронизируется1 О 20 25 30 35 40 45 50 кадровыми и строчными синхроимпульсами по соответствующим входам. При .этом синхроимпульсы подаются на двавхода элемента ИЛИ 15, где они смешиваются и по первому входу стробируют собственно генератор, собранный на двухвходовом элементе И-НЕ 16, инверторе 17, резисторе 18 и конденсаторе19, величины параметров которых определяют рабочую частоту генератора 7 тактовых импульсовСигнал разрешения измерения, поступающий на устройство, открывает входные элементы И 49 и 50, через ко торые в блок 14 управления проходят кадровые и строчные...

Номер патента: 1684597

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Комиссарик, Лопухин, Семин, Телешов, Шелест

МПК: G01B 21/00

Метки: дефектоскопического, планарных, структур

...попасть на выход коммутатора 11 независимо от того, какой сигнал, присутствует на втором входе коммутатора11.С выхода коммутатора 11 видеосигналпоступает на второй вход блока 14, в котором осуществляется одновременное совмещение позитивного изображения КПС снегативным изображением ЭПС. При сложении обоих разностных изображений возникает полная разностная картина,характеризующая отличие изображенияКПС от ЭПС, при этом будут выделены дефекты как на самой металлизации, так и научастках между металлизацией,Генератор 5 тактовых импульсов генерирует тактовые импульсы частотой 10 МГц.В генераторе 5 осуществляется принудительная синхронизация тактовых импульсов кадровыми и строчнымисинхроимпульсами, поступающим на егокадровый и строчной...

Номер патента: 1795360

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Абакумов, Вершинин, Мукаев, Ясовеев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопического, магнитных, полей, ферромагнитных

...сигнальной обмотке 8, 9. Концы обмоток 6, 7 подключены к генератору 10 импульсов, а концы обмоток 8, 9 - к входам соответствующих усилителей-формирователей 11, 12 импульсов считывания. Их входы подключены соответственно последовательно включенным детекторам 13, 14, пропускающим положительные импульсы, блокам 15, 16,памяти, выполненным на основе сдвиговых регистров, блоку 17 суммирования, видеоусилителю 18 и видеоконтрольному устройству 19(телевизору без антенн, канала звука и высокочастотных узлов). блок 20 управления соединен с вторыми входами генератора 10 импульсов, блоков 15, 16 памяти, видеоконтрольного устройства 19 и представляет собой совокупность логических устройств, генераторов строчной и кадровой разверток, управляемых...

Номер патента: 1533456

Опубликовано: 20.10.1996

Авторы: Григоров, Гудков, Кулик, Новиков, Островский, Поскачей, Токарев

МПК: G01B 11/30

Метки: дефектоскопического, зоны, околошовной, сварного, шва

Способ дефектоскопического контроля сварного шва и околошовной зоны, заключающийся в том, что исследуемую поверхность освещают излучением и визуально определяют дефекты, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля и снижения его трудоемкости, излучение раскладывают в спектр, освещение производят излучением, разложенным в спектр, осуществляют продольное и поперечное перемещение разложенного в спектр излучения относительно сварного шва со скоростью 3 6 м/ч, а дефекты определяют по локальному поглощению спектральных составляющих излучения.